​​エヌピイエス株式会社公式サイト | NPS,Inc. | 半導体検査測定機器 | 4探針ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 抵抗率測定器 | 高周波ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | RFﾌﾟﾛｰﾌﾞ | ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 米国GGB社総代理店 ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 高周波プローブ ４探針プローブ ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 1/6 新精密技術を追求する！ 　半導体や電子工業分野で求められる検査測定機器や製造装置の輸出入、製造・販売を行っています。 　「新技術」から生まれる「精密さ」にこだわり、その追求を通じてお客様に最高の価値を提供いたします。 　当社の製品は、半導体や液晶関連など、特に高い精度が要求される分野で広く活用されています。 4-Point Probe N ews お知らせ 26/09/16　MWE 2026出展のお知らせ 26/08/04　TWHM 2026出展のお知らせ 26/07/01　夏季休業のお知らせ 26/04/13　 GW休業のお知らせ 26/01/01　設立55周年のご挨拶と御礼 「トランジスタ技術」「インターフェース」掲載内容について セール品の販売について 「Metoree」当社掲載内容について ※2025年のお知らせ P roducts 製品 抵抗率測定器 ４探針法を用いて金属薄膜等のシート抵抗、または抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。 ４探針プローブ ４探針プローブの取扱い開始から半世紀、抵抗率を測定するための高精度な半導体プローブとして、世界的に認められております。 IC用ピコプローブ 測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。 マイクロ波用ピコプローブ 米国GGB社独自の連続式同軸構造による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。 ➤ 製品一覧はこちら マイクロ波テスト台 マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 プローブニードル パラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。タングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 SEMICON JAPAN 1977-2026 　当社は、半導体製造･検査装置の総合展示会 SEMICON JAPAN（セミコンジャパン）に第１回より出展しています。 Learn More ➤SEMICON JAPAN

NEWS(2026/09/16更新) MWE 2026(マイクロウェーブ展)出展のご案内 　当社 は、2026年11月25日（水）から27日（金）までパシフィコ横浜にて開催されるマイクロウェーブ展（MWE）2026に出展いたします（ブース番号：D-12）。 　本展示会では、主にマイクロ波用プローブの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: マイクロ波用プローブ、高周波プローブなど、業界をリードするソリューションを展示。 実演デモンストレーション: 実際の動作環境下での性能をご覧いただける実機展示を実施予定。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社の技術的課題に対する最適な解決策をご提案。 　マイクロウェーブ展は、産学連携と技術革新の場として、未来の通信技術を形作る重要な機会です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 https://apmc-mwe.org/mwe2026/kigyo/data/A02300.html TWHM2026出展のお知らせ 　8月に島根県松江市で行われるTopical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM 2026)に出展します。 【16th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics】 　日時：2026年8月24日(月)～27日(木) 　場所：ホテル一畑（〒690-0852 島根県松江市千鳥町30） 【TWHM情報】 　TWHM2026 夏季休業のお知らせ 　平素より大変お世話になっております。 　誠に勝手ながら、弊社では下記の期間において夏季休業とさせていただきます。お客様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。 【休業期間】 202６年8月1０日（月）～2025年8月1４日（金） 【休業中の対応について】 　休業期間中のご注文、お問い合わせ等は、202６年8月1７日（月）以降に順次対応させていただきます。 　なお、休業期間中のメールやフォームからのお問い合わせは受け付けておりますが、回答は8月1７日以降となりますので、予めご了承ください。 　今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。 GW休業のお知らせ 　平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 　当社のGW 休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 　2026年4月29日(水･祝) ～ 2026 年5月6日(水) 設立55周年のご挨拶と御礼 　おかげさまで、エヌピイエス株式会社は2026年をもちまして、設立55周年を迎えることができました。 　1971年の創業以来、私たちは半導体関連機器をはじめとする先端技術を通じ、日本のものづくりを支えることを使命として歩んでまいりました。これもひとえに、長年支えてくださったお客様、お取引先様、そして地域の皆様の温かいご支援の賜物と、心より深く感謝申し上げます。 　 　この節目を機に、社員一同、改めて創業の原点に立ち返り、さらなる技術革新とサービスの向上に努めてまいる所存です。今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、お願い申し上げます。

主な取扱製品 1. 半導体、薄膜層などの抵抗率測定器用4探針プローブ及び関連機器 2. 半導体、液晶薄膜シート抵抗率測定器 3. 半導体IC(ULSI、VLSIなど)の特性評価用高性能プローブ 4. マイクロ波計測用プローブ及び測定用装置 5. 計測用、実験用、手動及び電動の直線、回転形各種スライド製品 6. プローブニードル、スクライプポイント 7. レーザー干渉計システム 製品 アンカー：半導体電子材料関連 半導体・電子材料関連 半導体・液晶 前工程（検査） アンカー：前工程 抵抗率測定器 4探針プローブ P/N判定器 レーザー干渉計測器 ※前・後工程両方で使用 半導体・液晶 後工程（検査） アンカー：後工程 IC用ピコプローブ 50Ω同軸プローブ マイクロポジショナー プローブニードル アンカー：マイクロ波計測・関連部材 マイクロ波計測 マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波テスト台 その他関連部材 キャピラリー素材 ダイヤモンドスクライプ アンカー：位置決め精密機械 位置決め精密機械 精密XYスライダーテーブル 精密治具SSマグネット

Main Products ･4-point probes and related equipment for resistivity measurement of semiconductors, thin film layers, etc. ･semiconductor and liquid crystal thin film sheet resistivity measurement equipment ･high performance probes for characterization of semiconductor ICs (ULSI, VLSI, etc.) ･microwave measurement probes and measurement equipment ･various types of linear and rotary slides, manual and motorized, for measurement and laboratory use ･probe needles and scripe points Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product List 1. Pre-Process Semiconductors and Electronic Materials Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Resistivity Processor P/N Checker 4-Point Probe Laser Interferometry Tools *Usable for both pre and post process 2. Post-Process Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC Micro Positioner 50Ω Coaxial Probe IC Contact Probe Probe Needle 3. Microwave&Other Microwave Measurement Picoprobe for Microwave Jig tool for Microwave Testing Other Products Capillary Blank Diamond Scribe 4. Positioning Precision Positioning Precision Machinery X-Y Slider Tables SS Magnet

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　雷射干涉儀 雷射干涉儀 半導體・液晶 前置作業檢查 半導体・液晶 作業後的檢查 作為EXCEL PRECISION（EXCEL PRECISION，USA）在日本的經銷商，我們代理電射干涉儀設備， 結合使用穩定塞曼效應和光學外差探測/信號處理器的雙頻He - Ne雷射系統，可以測量0.3納米的最小讀數分辨率的高度準確和可靠的測量，並且還可以實現低成本系統。EXCEL PRECISION有限公司作為獨立設計和製造的雷射干涉測量儀器的行業中建立了自己的地位。 我們在全球擁有超過5000台以上的實績。 我們不僅製造標準正規產品，依客戶的要求接受訂製的系統。第三選擇。EXCEL PRECISION公司的雷射干涉儀 您的機器。 會發出怪聲音嗎？ 如果您有EXCEL PRECISION以司的雷射干涉儀，您可以檢查納米級別的精度。 ■1100B 6元素校正系統 1100 B雷射校正系統主要用於機械的質量管理。 一次最多可以檢測到5個元素，並且檢測後形成表格化。 ■1550角度感測器 1550A角度感測器可以測量表面和Z驅動部件的微小位移，不會受到顏色和反射率的影響。

It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe design and manufactured by  GGB Industries,Inc(US) can be installed. 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 微定位器 微定位器 半導体・液晶 作業後的檢查 微动定位装置采用千分尺驱动结构，可实现高精度定位。配备专用适配器，可安装美国GGB公司生产的Pico探针。MODEL800系列是专为Pico探针设计的高性能微探针定位器（操纵器）。通过实用新型定位机构与三轴一体化微定位方式，可实现高精度探测。 【相关产品】IC用Pico探针 ·微波用Pico探针 ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series MODEL800.pdf

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 公司簡介 聯繫我們 產品的相關資訊，請聯繫我們 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司簡介 經營項目（主要產品） 1.用於電阻率測量儀器如半導體和薄膜層的四點探針相關器材 2.半導體，液晶薄膜的片電阻率測量儀 3.用於半導體IC（ULSI，VLSI等）的高性能探頭 4.微波測量探頭和測量裝置 5.測量，實驗，手動和電動，直線旋轉式滑動產品 6.探針，畫線點 7.雷射干涉儀系統 經營理念 我們精心挑選我國工業技術的發展和不可或缺的高科技設備和材料為您服務。 此外，我們會努力聽取客戶的意見和要求，為近年來的行業發展作出貢獻。 作為小生意夥伴，我們將隨時注意產業發展趨勢，實現合理化，降低成本。 我們將以“更優惠的價格，快速的交貨日期提供更優質的服務並且希望我們的客戶意識到我們重要性，讓我們為社會做出貢獻。 代表董事 中村勇人

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・液晶 前置作業檢查 　>　電阻率測定儀(薄膜電阻測定器) 電阻率測定儀(薄膜電阻測定器) 半導體・液晶 前置作業檢查 專業工程師的高性能工具。 它能夠使用四點探針方法輕鬆且高準確度的測量太陽能薄膜電池上的矽導電膜的電阻或電阻率。 它對應於低電阻到高電阻測量。 <用途> 1）矽鐵錠製造→矽晶片製造檢測（包括成膜等各種工方法） 2）液晶面板（LCD）製造：用於成膜時的產品檢查 3）在檢查各種導電材料的製作過程 使用我們公司配置的“四點探針”可以測量。 【相關產品】四點探針法 ■ Model sigma-5+ 我們可以準確地測量矽晶片的電阻率。也對應太陽能電池的探測器。 它是一個利用20年以上的測量技術而設計和開發的高精度電阻率測量儀器。 在半導體基板，導電薄膜基板等的研發和檢測過程中，可以精確的評估薄層電阻和電阻率值。 ※該照片是與樣品架RG-5的組合。 [基本規格] [特點] ·可以正確的設置智慧開關功能面板 ·桌上型尺寸設計 ·低阻力至高阻力的寬範圍測量 ·電流極性切換測量可抑制整流造成的誤差 ·開始測量時自動歸零功能 ·自動量程功能自動設置最佳電流 ·樣品厚度校正功能 ·平均測量值顯示和印刷機平均值計算功能 ·半導體溫度校正功能 ·各種溫度校正的輸入功能 ·與數據印表機接口 ·與數據連接用接口 ·可以選擇樣品表<基本規格> ■手持式·表面電阻測量儀/電阻率測量儀 使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。 ■手持式·電阻率測量儀 使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。

Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, and specifications of our products. 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 Contact us ※Please use this contact form as sending a direct email may be treated as spam. Send 　 Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 主頁 產品 公司簡介 English 日本語サイト 追求新的精密技術 1/6 我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。 我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。 我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 ➤ 查詢 4-Point Probe Products 產品 更多資訊 電阻率測量儀器 　手動式測量儀器，使用四探針方法簡單精確地測量金屬薄膜等的薄片電阻或電阻率。 用於集成電路的Pico探針 　可以在測量裝置負載最小的情況下進行測量，從而確保數位波形的忠實再現。 更多資訊 4-探頭針 在開始處理四點式探針半個世紀後，四點式探針已成為全球公認的高精度半導體電阻率測量探針。 更多資訊 更多資訊 微波用Pico探针 　美国GGB公司采用其独特的连续式同轴结构，开发出兼具低损耗与高耐久性的微波设备用测试探针。 微波测试台 　该测试夹具用于将采用微波作为传输介质的小型电路板及零部件等固定安装，并进行特性评估。 更多資訊 精密定位平台 本精密平台可作为微动定位及检测用工作台使用。根据型号不同，提供XYZ轴、电动驱动、手动操作等丰富种类。 更多資訊 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 「SEMICON JAPAN」 是半導體製造與測試設備的綜合展覽會，我們自開展以來一直參展。在此，我們要感謝多年來對我們不離不棄的眾多客戶。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　P/N决定器 P/N决定器 半导体・液晶 前置作业检查 P / N决定器是一种能够通过整流方法或热电动势，容易地判断硅半导体的PN的类型测试器。 P型 - N型硅晶片可以很容易地判断，并且可以对样品例如N上的P进行判断。 简单的手动型，结合硅晶片和硅锭，特色是价格低廉。 <如何使用> ・对于晶圆：将要确定的晶圆表面放置在平台上，轻轻按下，不会损坏晶圆，您可以轻鬆判断PN。 ・对于铁锭：只需将热探针按压在样品表面，便可轻鬆判断PN。

　我が国における工業技術の進歩に不可欠なハイテク機器並びに素材等を広く内外から厳選し、お客様に情報とともにご提供させていただきます。また、近年の産業発展に寄与すべくお客様のご意見やご要望に耳を傾けて最善のご協力するよう努力いたします。 　当社は小回りのきくビジネスパートナーとして、常に世の中の情勢を見極め、合理化とコストダウンに努めてまいります。 会社案内 会社概要 地図を拡大して見る 総武線亀戸駅より徒歩5分／都営新宿線西大島駅より徒歩15分 会社案内 会社案内 2025.pdf 営業品目（主な取扱製品） 1. 半導体、薄膜層などの抵抗率測定器用4探針プローブ及び関連機器 2. 半導体、液晶薄膜シート抵抗率測定器 3. 半導体IC(ULSI、VLSIなど)の特性評価用高性能プローブ 4. マイクロ波計測用プローブ及び測定用装置 5. 計測用、実験用、手動及び電動の直線、回転形各種スライド製品 6. プローブニードル、スクライプポイント 7. レーザー干渉計システム 経営方針 　我が国における工業技術の進歩に不可欠なハイテク機器並びに素材等を広く内外から厳選し、お客様に情報とともにご提供させていただきます。 また、近年の産業発展に寄与すべくお客様のご意見やご要望に耳を傾けて最善のご協力するよう努力いたします。 　当社は小回りのきくビジネスパートナーとして、常に世の中の情勢を見極め、合理化とコストダウンに努めてまいります。 　「早い納期でより良いものをより低価格で」をモットーに堅実経営を推進するとともに、お客様の御発展をもって当社の存在意義と繁栄があるものとし、全社一丸となって貢献いたしたいと思っております。 代表取締役　中村　勇人