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2025年 NEWS 年末年始休業のお知らせ 　平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 　当社の年末年始休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 　2025年12月27日(土) ～ 2026 年1月4日(日) SEMICON Japan 2025 出展のご案内 　当社は、2025年12月17日（水）から19日（金）まで東京ビッグサイトにて開催されるSEMICON Japan 2025に出展いたします（ブース番号：W2534 ）。 　本展示会では、主に半導体テスト・測定向けの高精度プローブおよび高周波対応ソリューションの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: 高周波プローブ、RFプローブ、4探針プローブなど、半導体製造・検査プロセスを支える業界トップクラスの製品を展示。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社のウェハテスト、高周波特性評価、信頼性試験などの技術的課題に対し、最適なプローブソリューションをご提案いたします。 　 　SEMICON Japanは、半導体製造サプライチェーンが一堂に会する日本最大級のイベントであり、次世代AI、自動車、IoTをはじめとするスマートアプリケーションを支える技術革新の場です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 SEMICON Japan 2025 MWE 2025(マイクロウェーブ展)出展のご案内 　当社 は、2025年11月26日（水）から28日（金）までパシフィコ横浜にて開催されるマイクロウェーブ展（MWE）2025に出展いたします（ブース番号：A-12）。 　本展示会では、主にマイクロ波用プローブの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: マイクロ波用プローブ、高周波プローブなど、業界をリードするソリューションを展示。 実演デモンストレーション: 実際の動作環境下での性能をご覧いただける実機展示を実施予定。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社の技術的課題に対する最適な解決策をご提案。 　マイクロウェーブ展は、産学連携と技術革新の場として、未来の通信技術を形作る重要な機会です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 https://apmc-mwe.org/mwe2025/kigyo/data/A02400.html 夏季休業のお知らせ 　平素より大変お世話になっております。 　誠に勝手ながら、弊社では下記の期間において夏季休業とさせていただきます。お客様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。 【休業期間】 2025年8月12日（火）～2025年8月15日（金） 【休業中の対応について】 　休業期間中のご注文、お問い合わせ等は、2025年8月18日（月）以降に順次対応させていただきます。 　なお、休業期間中のメールやフォームからのお問い合わせは受け付けておりますが、回答は8月18日以降となりますので、予めご了承ください。 　今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。 「Metoree(メトリー)」当社掲載内容について 　産業用製品メーカー比較サービスの「Metoree(メトリー)」に2025年７月１７日から、当社の会社情報と製品情報を掲載していただいております。 　「Metoree(メトリー)」は ZAZA株式会社が運営するエンジニア・研究者・購買担当者の方のための産業用製品メーカー比較検索サービスです。測定器・センサ・プリンティング機械・工具・電気電子部品・建材など7,000以上のカテゴリー、産業用製品メーカー・代理店80,000社の情報が掲載されています。 【Webページ】 Metoree(メトリー) ■ Metoree(メトリー)掲載の製品情報 【Webページ】 抵抗率測定器 Σ-5＋| Metoree マイクロ波用ピコプローブ| Metoree 精密位置決めステージ| Metoree エヌピイエスの半導体検査装置3製品 ・人気ランキング | Metoree 「トランジスタ技術」「インターフェース」(CQ出版社)当社掲載内容について 　月刊「トランジスタ技術」、月刊「インターフェース」2025年1月号から、当社の製品情報と採用情報を掲載していただいております。 　月刊「トランジスタ技術」は実用性を重視したエレクトロニクス技術の専門誌、月刊「インターフェース」はコンピュータ・サイエンス＆テクノロジ専門誌です。 【Webページ】 トランジスタ技術 インターフェース セール品の販売について 下記型番マイクロ波プローブにつきセール価格にて提供致します。 ➤ 40A-GSG-300/40A-GSG-300/D-DP-N　¥130,000　残数2 ➤ 50A-GSG-250-P　¥90,000　残数2 ➤ 40A-GS-550-LP-NM　¥70,000　残数1　　　　 　　※在庫につきましては弊社営業までお問い合わせください。　　 　　　　　　 ➤その他、在庫処分セール品一覧

​​エヌピイエス株式会社公式サイト | NPS,Inc. | 半導体検査測定機器 | 4探針ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 抵抗率測定器 | 高周波ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | RFﾌﾟﾛｰﾌﾞ | ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 米国GGB社総代理店 ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 高周波プローブ ４探針プローブ ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 1/6 新精密技術を追求する！ 　半導体や電子工業分野で求められる検査測定機器や製造装置の輸出入、製造・販売を行っています。 　「新技術」から生まれる「精密さ」にこだわり、その追求を通じてお客様に最高の価値を提供いたします。 　当社の製品は、半導体や液晶関連など、特に高い精度が要求される分野で広く活用されています。 4-Point Probe N ews お知らせ 26/01/01　設立55周年のご挨拶と御礼 ➤ 2025年のお知らせ 「トランジスタ技術」「インターフェース」掲載内容について　　 「Metoree」当社掲載内容について セール品の販売について P roducts 製品 抵抗率測定器 ４探針法を用いて金属薄膜等のシート抵抗、または抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。 ４探針プローブ ４探針プローブの取扱い開始から半世紀、抵抗率を測定するための高精度な半導体プローブとして、世界的に認められております。 IC用ピコプローブ 測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。 マイクロ波用ピコプローブ 米国GGB社独自の連続式同軸構造による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。 ➤ 製品一覧はこちら マイクロ波テスト台 マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 精密位置決めステージ 微動位置決め・検査用テーブルとして使用できる精密ステージです。モデルにより、XYZ、電導、手動など豊富な種類を用意しております。 SEMICON JAPAN 1977-2026 　当社は、半導体製造･検査装置の総合展示会 SEMICON JAPAN（セミコンジャパン）に第１回より出展しています。 Learn More ➤SEMICON JAPAN

最新情報 2025年のNEWS

NEWS(2026/01/01更新) 設立55周年のご挨拶と御礼 　おかげさまで、エヌピイエス株式会社は2026年をもちまして、設立55周年を迎えることができました。 　1971年の創業以来、私たちは半導体関連機器をはじめとする先端技術を通じ、日本のものづくりを支えることを使命として歩んでまいりました。これもひとえに、長年支えてくださったお客様、お取引先様、そして地域の皆様の温かいご支援の賜物と、心より深く感謝申し上げます。 　 　この節目を機に、社員一同、改めて創業の原点に立ち返り、さらなる技術革新とサービスの向上に努めてまいる所存です。今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、お願い申し上げます。

当社は、半導体製造・検査装置の総合展示会である「セミコンジャパン」に第一回目より出展を行なっております。また、マイクロ波テクノロジーに特化した「マイクロウェーブ展」にも出展しております。 　当社は、半導体製造・検査装置の総合展示会である「セミコンジャパン」に第１回より出展を行なっております。 また、マイクロ波テクノロジーに特化した「マイクロウェーブ展」にも出展しております。 SEMICON JAPAN ■ SEMICON JAPAN 1977 第一回は晴海展示場のドーム館で開催。当時は、ドーム館も埋らない程の出展社数でした。 当時の出展社（敬称略） アステック㈱/ ㈱アドバンテスト/ アプライドマテリアルズジャパン㈱/ 安藤電気㈱/ ウエストボンド社/ エス・シー・セミコンテクノロジー㈱/ 兼松デバイス㈱/ ㈱完エレクトロニクス/キヤノン販売㈱/ サンゴバン・ノートン㈱/ シプレイ・ファーイースト㈱/スピードファム㈱/大日商事㈱/㈱ディスコ/ 大日本スクリーン製造㈱/ テンプトロニクス社/ 東京エレクトロン㈱/ 日本アエラ㈱/ 日本エーディーイー㈱/ 日本エスエスエム㈱/ 日本エムケーエス㈱/ 日本スウェージロック㈱/ ㈱日本マイクロニクス/ 野村マイクロサイエンス㈱/ 伯東㈱/ ㈱ 日立国際電気/ ㈱日立ハイテクノロジーズ/ ㈱フジミインコーポレーテッド/ フロロウェア・バルカージャパン㈱ ➤最新の様子 東京ビッグサイトで開催された「SEMICON JAPAN」当社ブースです。 マイクロウェーブ展 パシフィコ横浜で開催された「マイクロウェーブ展」当社ブースです。

MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes.  Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are  required lab systems which have the versatility as test fixtu Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Jig tool for Microwave Testing Jig tool for Microwave Testing Microwave Measurement MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes. Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are required lab systems which have the versatility as test fixtures. 【Related products】Picoprobe for I.C ・ Picoprobe for Microwave ■ Simple test stand MTF-100 The MTF-100 series is a test jig for evaluating characteristics by fixing and mounting small circuit boards and parts with microwave transmission lines. It is designed to be small but high precision and strong structure, and microwave evaluation test with low loss microwave probe set to 2 ports can be performed. Moreover, it is a small space design and you can carry around, and you use it anywhere. Probe used for the MTF-100 series select the pitch between the signal and the ground in the range of 50 microns to 2540 microns in order to correspond to the micro - electrode part. You are able to have a test of the frequency band up to 67 GHz by system up of the network analyzer. MTF-100.pdf GT-1100 (4 "compatible) GT-1100.pdf MODEL GT-1100 is a table-size standard test table which equips a low-loss microwave probe for measuring electrical characteristics of transmission circuit components in the microwave range (dc - 40 GHz) and a vacuum chuck that can fine - position the sample. You can conduct a measurement (50 - 110GHz) with optional probes. Because the MODEL GT-1100 is set with high-performance accessories such as probes required for measurement, it is excellent in cost performance and is the optimum measurement system in the research and development field. ■ Test stand for waveguide probe (GT-3000) ■ Test stand for tuner (GT-1502) The GT-3000 and GT-1500 series are test beds designed for efficient measurement using waveguide probes. The connection between the waveguide probe (millimeter wave band) and the tuner equipment etc. can be done at the shortest position, and you can reduce the loss. Also, since you can move the probe and instrument at the same time, it is suitable for the measurement using a waveguide probe. Custom-made is also welcome.

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for IC Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC By using the Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for IC, the internal voltage of the IC can be measured accurately.Picoprobe is for IC voltage measurement which keeps the stray capacitance value of the probe itself to the utmost limit and further bring the impedance close to the infinite value. This minimizes the load on the measuring device and enables measurement to be performed faithfully. Not only Models 35 which is the world's fastest FET probe, but also we prepare many other models corresponding to each measurement mode. Picoprobe is a worldwide standard instrument as a tool for analytical measurement in integrated circuit design field.We will also correspond with adapters etc. so that they can be used with probers of each manufacturer. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioners [Function comparison table for Picoprobe (FET probe)]

MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes.  Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are  required lab systems which have the versatility as test fixtu 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 微波测试治具 微波测试台 微波测量 MTF-100及GT-1100是可测量微波基板的小型简易测试台（探针台）。支持使用同轴型射频探针及可选直流探针，便于携带，可在任意地点进行测量作业。两者均为具备测试台通用性的实验室需求系统。 【相关产品】IC用Pico探针 ·微波用Pico探针 ■ 简单测试台 MTF-100 　MTF-100系列是用于固定安装微波传输线路的小型电路板及元件，并对其特性进行评估的测试治具。 该设备虽体积小巧，却采用高精度且坚固的结构设计，可通过在双端口安装低损耗微波探针进行微波评估测试。其紧凑型设计便于携带，不受测量场所限制。 　MTF-100系列配套探针为适配微型电极结构，信号与接地间距可在50微米至2540微米范围内自由选择。配合网络分析仪系统配置，可实现最高67GHz频率范围内的测试。 MTF-100.pdf GT-1100 (4 "compatible) 　MODEL GT-1100是一款台式测试平台，标配低损耗微波探针（用于测量直流至40GHz频段传输电路元件的电气特性）及可实现样品微动定位的真空吸盘。通过选配探针，还可扩展至50～110GHz的测量范围。 　MODEL GT-1100将测量所需的高性能探针等附件整合为套装，具备卓越的性价比，是研发领域最优的测量系统。 GT-1100.pdf ■ Test stand for waveguide probe (GT-3000) ■ Test stand for tuner (GT-1502) 　GT-3000、GT-1500系列测试台专为高效使用波导管探头进行测量而设计。 　该测试台可实现导波管探头（毫米波段）与调谐器等设备的最短距离连接，有效降低信号损耗。同时支持探头与设备同步移动，特别适用于导波管探头测量场景。我们亦欢迎定制化订单。

我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 主頁 產品 公司簡介 English 日本語サイト 追求新的精密技術 1/6 我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。 我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。 我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 ➤ 查詢 4-Point Probe Products 產品 更多資訊 電阻率測量儀器 　手動式測量儀器，使用四探針方法簡單精確地測量金屬薄膜等的薄片電阻或電阻率。 用於集成電路的Pico探針 　可以在測量裝置負載最小的情況下進行測量，從而確保數位波形的忠實再現。 更多資訊 4-探頭針 在開始處理四點式探針半個世紀後，四點式探針已成為全球公認的高精度半導體電阻率測量探針。 更多資訊 更多資訊 微波用Pico探针 　美国GGB公司采用其独特的连续式同轴结构，开发出兼具低损耗与高耐久性的微波设备用测试探针。 微波测试台 　该测试夹具用于将采用微波作为传输介质的小型电路板及零部件等固定安装，并进行特性评估。 更多資訊 精密定位平台 本精密平台可作为微动定位及检测用工作台使用。根据型号不同，提供XYZ轴、电动驱动、手动操作等丰富种类。 更多資訊 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 「SEMICON JAPAN」 是半導體製造與測試設備的綜合展覽會，我們自開展以來一直參展。在此，我們要感謝多年來對我們不離不棄的眾多客戶。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェーハや基板金属薄膜等のシート抵抗、または、抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲測定に対応しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　抵抗率測定器 抵抗率測定器（シート抵抗測定器） 半導体・液晶 前工程（検査） 　プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェハやLCD基板、金属薄膜等のシート抵抗、または、体積抵抗を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲な測定に対応しています。 <用途> 1) シリコンインゴット製造 　➤ウェハ製造工程（膜形成等様々な処理工程）における製品検査用　 2) 液晶パネル（LCD基板）製造：成膜時の製品検査用 3) 幅広い電気導電性部材の製造過程での製品検査用 ※当社の 「4探針プローブ」を用いて測定が可能です。 【関連製品】4探針プローブ Model Σ- ∞ (sigma eight) Model sigma-5+ 　シリコンウェハ等の抵抗率を正確に測定することができます。 　 　抵抗率測定に関する20年以上のノウハウと技術を活かし設計開発された高精度な抵抗率測定器です。 　半導体基板並びに導電性薄膜基盤等の研究開発・検査工程、または製造ラインにおいての、シート抵抗値や体積抵抗値を高確度に求め、評価することが出来ます。 ※写真は試料台RG-5との組合せです。 【カタログ】sigma-5+ [基本仕様] [特長] ・細かい設定が可能なスイッチ機能のインテリジェントパネル ・デスクサイズのコンパクト設計 ・低抵抗〜高抵抗対応のワイド測定レンジ ・整流性による誤差を抑える電流極性切替え測定 ・測定開始毎の自動ゼロ調整機能 ・最適な電流を自動設定するオートレンジ機能 ・試料の厚み補正機能 ・測定値平均値表示とプリンタ平均値演算機能 ・半導体用の温度補正機能 ・各種温度補正係数入力機能 ・データプリンタ用インターフェース付 ・データ接続用インターフェース付 ・試料テーブルの選択が可能 <基本仕様> ■ 薄膜向けハンディタイプ・シート抵抗測定器/抵抗率測定器 ※この製品は現在販売を停止しております ハンディタイプ・シート抵抗測定器SRM-232は４探針プローブを使用して、絶縁物上の導電性薄膜シート抵抗を測定することができます。また、抵抗率測定器PV-628は太陽電池基板等のSi半導体の抵抗率測定が可能です。いずれもの機種もデータセーブ・パソコンへのデータ出力ができ、電源は電池式のオートパワーオフ機能付です。 【カタログ】ハンディタイプ ■ ハンディタイプ ・抵抗率測定器　Model　PV-628 MODEL PV-628は太陽光発電用シリコン等の抵抗率測定に特化させたハンディタイプの4探針法測定器です。電源に電池を使用しているため持ち運びが容易で、測定物の形状や大きさの制限がなく、手軽に測定を行うことができます。 【カタログ】PV-628

エヌピイエス株式会社では、小学校向けの半導体出前授業を無償で実施しております。 半導体 小学校出前授業 半導体でつながる。キミの世界、ミライの社会 ――出前授業で未来を届ける―― 未来を動かすのは まだ小さな、あの子の手かもしれない エヌピイエス株式会社では 小学校向けの 半導体出前授業を行っています。 半導体が支える未来のくらしや ものづくりの楽しさ、働くことの意義を学び 子どもたちが 「自分で考えて、創り出す力」を 育むことができる授業を実践しています。 - 2026.4.1 START - 出前授業　低学年向け　指導計画 身近にある半導体を見つけよう 出前授業　中学年向け　指導計画 電気と半導体 - 東京のものづくり- 出前授業　高学年向け　指導計画 半導体と工業 -技術と未来の発明-

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关 　>　电阻率测量仪 电阻率测定仪(薄膜电阻测定器) 半导体・液晶 前置作业检查 专业工程师的高性能工具。 它能够使用四点探针方法轻松且高准确度的测量太阳能薄膜电池上的矽导电膜的电阻或电阻率。 它对应于低电阻到高电阻测量。 <用途> 1）硅铁锭製造→硅晶片製造检测（包括成膜等各种工方法） 2）液晶面板（LCD）製造：用于成膜时的产品检查 3）在检查各种导电材料的製作过程 使用我们公司配置的“四点探针”可以测量。 【相关产品】四点探针探测器 ■ Model sigma-5+ 我们可以准确地测量矽芯片的电阻率。也对应太阳能电池的探测器。 它是一个利用20年以上的测量技术而设计和开发的高精度电阻率测量仪器。 在半导体基板，导电薄膜基板等的研发和检测过程中，可以精确的评估薄层电阻和电阻率值。 ※该照片是与样品架RG-5的组合。 [基本规格] [特点] ·可以正确的设置智能开关功能面板 ·小型的桌面尺寸设计 ·阻力小~阻力高的宽范围测量 ·电流极性切换测量可抑制整流造成的误差 ·开始测量时自动调零功能 ·自动量程功能自动设置最佳电流 ·样品厚度校正功能 ·平均测量值显示和印刷机平均值计算功能 ·半导体温度校正功能 ·各种温度校正的输入功能 ·与数据打印机接口 ·与数据连接用接口 ·可以选择样品表<基本规格> ■手持式·表面电阻测量仪/电阻率测量仪 使用四探针于方便型 SRM-232 可测量绝缘材料上金属薄膜的板电阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 测量硅晶片的电阻率, 如也可以测量太阳能电池基板。 每个设备都允许您将资料输出到电脑, 并且电源具有自动断电功能。 ■方便型·电阻率测量仪 MODEL PV-628是一款专门用于太阳能发电硅等电阻率测量的便携式四点探针测量仪器。 由于电池用作电源，因此携带方便，对待测物体的形状和大小没有限制，使测量变得简单。