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​​エヌピイエス株式会社公式サイト | NPS,Inc. | 半導体検査測定機器 | 4探針ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 抵抗率測定器 | 高周波ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | RFﾌﾟﾛｰﾌﾞ | ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 米国GGB社総代理店 ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 高周波プローブ ４探針プローブ ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 1/6 新精密技術を追求する！ 　半導体や電子工業分野で求められる検査測定機器や製造装置の輸出入、製造・販売を行っています。 　「新技術」から生まれる「精密さ」にこだわり、その追求を通じてお客様に最高の価値を提供いたします。 　当社の製品は、半導体や液晶関連など、特に高い精度が要求される分野で広く活用されています。 4-Point Probe N ews お知らせ 26/08/04　TWHM 2026出展のお知らせ 26/07/01　夏季休業のお知らせ 26/06/26　MWE2026(マイクロウェーブ展)出展のご案内 26/04/13　 GW休業のお知らせ 26/01/01　設立55周年のご挨拶と御礼 「トランジスタ技術」「インターフェース」掲載内容について 「Metoree」当社掲載内容について セール品の販売について ※2025年のお知らせ P roducts 製品 抵抗率測定器 ４探針法を用いて金属薄膜等のシート抵抗、または抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。 ４探針プローブ ４探針プローブの取扱い開始から半世紀、抵抗率を測定するための高精度な半導体プローブとして、世界的に認められております。 IC用ピコプローブ 測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。 マイクロ波用ピコプローブ 米国GGB社独自の連続式同軸構造による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。 ➤ 製品一覧はこちら マイクロ波テスト台 マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 プローブニードル パラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。タングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 SEMICON JAPAN 1977-2026 　当社は、半導体製造･検査装置の総合展示会 SEMICON JAPAN（セミコンジャパン）に第１回より出展しています。 Learn More ➤SEMICON JAPAN

NEWS(2026/08/04更新) TWHM2026出展のお知らせ 　8月に島根県松江市で行われるTopical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM 2026)に出展します。 【16th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics】 　日時：2026年8月24日(月)～27日(木) 　場所：ホテル一畑（〒690-0852 島根県松江市千鳥町30） 【TWHM情報】 　TWHM2026 夏季休業のお知らせ 　平素より大変お世話になっております。 　誠に勝手ながら、弊社では下記の期間において夏季休業とさせていただきます。お客様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。 【休業期間】 202６年8月1０日（月）～2025年8月1４日（金） 【休業中の対応について】 　休業期間中のご注文、お問い合わせ等は、202６年8月1７日（月）以降に順次対応させていただきます。 　なお、休業期間中のメールやフォームからのお問い合わせは受け付けておりますが、回答は8月1７日以降となりますので、予めご了承ください。 　今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。 MWE 2026(マイクロウェーブ展)出展のご案内 　当社 は、本年も202６年11月2５日（水）から2７日（金）までパシフィコ横浜にて開催されるマイクロウェーブ展（MWE）202６に出展いたします。 　本展示会では、主にマイクロ波用プローブの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: マイクロ波用プローブ、高周波プローブなど、業界をリードするソリューションを展示。 実演デモンストレーション: 実際の動作環境下での性能をご覧いただける実機展示を実施予定。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社の技術的課題に対する最適な解決策をご提案。 　マイクロウェーブ展は、産学連携と技術革新の場として、未来の通信技術を形作る重要な機会です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【MWE情報】 MWE 2026 GW休業のお知らせ 　平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 　当社のGW 休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 　2026年4月29日(水･祝) ～ 2026 年5月6日(水) 設立55周年のご挨拶と御礼 　おかげさまで、エヌピイエス株式会社は2026年をもちまして、設立55周年を迎えることができました。 　1971年の創業以来、私たちは半導体関連機器をはじめとする先端技術を通じ、日本のものづくりを支えることを使命として歩んでまいりました。これもひとえに、長年支えてくださったお客様、お取引先様、そして地域の皆様の温かいご支援の賜物と、心より深く感謝申し上げます。 　 　この節目を機に、社員一同、改めて創業の原点に立ち返り、さらなる技術革新とサービスの向上に努めてまいる所存です。今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、お願い申し上げます。

製品の技術相談・機種選定・仕様など、お気軽にお問い合わせください。 　お問い合わせいただき誠にありがとうございます。担当者確認の上、追ってご連絡いたしますので、今しばらくお待ちいただきますようお願いいたします。 　Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

4-point probe is a high accuracy probe for measurement of resistivity. DC Four Point Probe systems is one of the most reliable methods for resistivity or sheet resistance measuring of conductive materials. It is a well known fact among engineers that the quality of the probing apparatus greatly affe Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　4-Point Probe 4-Point Probe [NPS Version] Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) NPS 4-point probes are manufactured and assembled in Japan to ensure stable supply and measurement accuracy. A 4-point probe is like the sensor part of a machine. Needless to say, the performance of this sensor part affects the measurement results. The reliability of our 4-point probes has been recognized by many users. We have our own measuring instruments available, but other manufacturers' resistance measuring instruments can also be used. (In this case, a banana plug or similar device must be attached as a connector. The newly developed needle has a one-piece structure made of highly durable metal, and uses a low-resistance metal for the connection part to maintain good electrical conductivity, We ensure the accurate measurement of variety samples by conducting NPS's unique "Micro-edge contact" treatment. (IP=Ion implantation wafer, MT=Metal wafer, SB=Substrate silicon wafer, EP=Epitaxial wafer etc. for types of wafers ) We possesses a lot of experiences and solid accomplishments in this field. high accuracy, hight durability, world standard instrument, quick repair, unique design, etc. 【Related products】Sheet Resistance Measuring Instruments ■ 4-point probe 4-POINT PROBE with no fatal flaws！ More than half a century has passed since the first 4-point probe head was introduced to the world, and today it has become a universal standard in semiconductor inspection. With over 50 years of sales experience in Japan, NPS four probe heads have evolved to become higher-performance probes than the commonly sold four probe heads. We offer highly reproducible four probe heads that are compatible with NAPSON, MPP, JANDEL, KLA, and other point probes and overcome technical shortcomings. If you are not satisfied with your current four point probe head , please try our four point probe heads. The new 4-point probes have the following features. Major improvements and features: Accuracy improvement Durability improvement Cost reduction improvement of fatal defects of conventional products) Made in Japan and Japan Quality. Technical information ■ 4-Point Probe Please ask us about the 4-point probe ! Because we have 50 years of handling experience. Each part constituting the 4-point probe is made from the development and production of dedicated processing machines. By doing quality control from manufacturing to shipping by full-time technical staff, it is possible to provide high-precision, high-durability 4-point probes. In addition, in order to respond to requests from domestic users and with years of our experience, we set up our own specifications and assemble them. The NP type which NPS supplies is 4-point probe of the world highest quality. We also offer repair or modification of various 4-point probes. Please feel free to contact us for more information. Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. Repairable Probe Type Napson　 KLA Tencor MPP FELL About Repair ■Square probe 4-point probe head The name is derived from the square shape of the electrodes, which are equally spaced. Standard sheet resistance measurement of electronic materials is performed using the four probe method with electrode tips in series, but here we provide information on sheet resistance measurement using square probes with electrode tips arranged in a square shape. ■ Hand-Probe It is a handy type 4-point probe which can be easily measured on hand. It can be used for ingots etc. ■ 0.1mm Pitch MODEL SEP-4 is a 4-point probe for measuring sheet resistance with a needle spacing of 0.1 mm pitch. Since the distance between the four needles is as small as 0.3 mm (linear), the influence range of electric field energy is small, and even in the case of a pad with a small area of 5 × 5 mm, sheet resistance measurement is not affected by electric field power from the edge to around 0.5 mm. Can be mounted and fixed to our micro positioner 800MRF. Tip material Tungsten (W), Beryllium copper (BeCu) Tip shape Flat (F), Round (R) Needle spacing 0.1 mm (total distance 0.3 mm) or 0.3 mm (0.6 mm) Lead wire 90cm Banana plug, etc. can be attached as an option. ■ Reference Sample We also provide standard samples to check if the 4-point probes currently in use are functioning properly. When measuring by the DC four point probe method, regular probe maintenance and calibration are essential. A standard sample can help with this. This sample is not a traceable standard, it is a reference sample. Accessories include a protective case and a certificate of measurement of sample. Specification Chromium Thin Film　 Film thickness 1000Å Square about 1inch(25mmx25mm) Surface resistivity is 23Ω/□ Data from 5 repeatability measurements of the center of a r eference sample.(Measured with a standard 1mm pitch 4 probe) Reference samples are measured under the same conditions when shipped. 4-Point Probe Various specifications Wiring Diagrams Various compatible models (our specifications)

プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェーハや基板金属薄膜等のシート抵抗、または、抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲測定に対応しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　抵抗率測定器 抵抗率測定器（シート抵抗測定器） 半導体・液晶 前工程（検査） 　プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェハやLCD基板、金属薄膜等のシート抵抗、または、体積抵抗を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲な測定に対応しています。 <用途> 1) シリコンインゴット製造 　➤ウェハ製造工程（膜形成等様々な処理工程）における製品検査用　 2) 液晶パネル（LCD基板）製造：成膜時の製品検査用 3) 幅広い電気導電性部材の製造過程での製品検査用 ※当社の 「4探針プローブ」を用いて測定が可能です。 【関連製品】4探針プローブ Model Σ- ∞ (sigma eight) 変わらない安心と精度、そして無限(∞)の可能性へ 「Sigma-5＋」の確かな実績を継承し、測定の極限へ挑むフラッグシップモデル誕生 　シリコンウェハ等の抵抗率を正確に測定することができます。 　 　抵抗率測定に関する30年以上のノウハウと技術を活かし設計開発された高精度な抵抗率測定器です。 　半導体基板並びに導電性薄膜基盤等の研究開発・検査工程、または製造ラインにおいての、シート抵抗値や体積抵抗値を高確度に求め、評価することが出来ます。 ※写真は試料台RG-5との組合せです。 完全な上位互換性（安心のシームレス移行） 既存の測定治具（プローバー）や測定プログラムの再設計・大幅変更は不要です。既存環境へそのまま導入していただけます。 「∞（インフィニティ）」がもたらす極限の安定性と高耐久 連続評価試験においても熱ドリフトや接触不良を抑え、再現性の高い測定データを提供し続けます。 極限まで高められた伝送クオリティ 広帯域にわたる低挿入損失（Low Insertion Loss）と優れた反射損失（Return Loss）特性を実現。高周波測定におけるノイズ要因を削ぎ落とし、デバイス本来の特性を鮮明に描き出します。 最新のグローバル環境規制に適合 最新の環境コンプライアンスにも対応し、製造ライン・研究開発の双方で長く安心してお使いいただけます。 Model sigma-5+ [基本仕様] [特長] ・細かい設定が可能なスイッチ機能のインテリジェントパネル ・デスクサイズのコンパクト設計 ・低抵抗〜高抵抗対応のワイド測定レンジ ・整流性による誤差を抑える電流極性切替え測定 ・測定開始毎の自動ゼロ調整機能 ・最適な電流を自動設定するオートレンジ機能 ・試料の厚み補正機能 ・測定値平均値表示とプリンタ平均値演算機能 ・半導体用の温度補正機能 ・各種温度補正係数入力機能 ・データプリンタ用インターフェース付 ・データ接続用インターフェース付 ・試料テーブルの選択が可能 <基本仕様> ■ 薄膜向けハンディタイプ・シート抵抗測定器/抵抗率測定器 ※この製品は現在販売を停止しております ハンディタイプ・シート抵抗測定器SRM-232は４探針プローブを使用して、絶縁物上の導電性薄膜シート抵抗を測定することができます。また、抵抗率測定器PV-628は太陽電池基板等のSi半導体の抵抗率測定が可能です。いずれもの機種もデータセーブ・パソコンへのデータ出力ができ、電源は電池式のオートパワーオフ機能付です。 【カタログ】ハンディタイプ ■ ハンディタイプ ・抵抗率測定器　Model　PV-628 MODEL PV-628は太陽光発電用シリコン等の抵抗率測定に特化させたハンディタイプの4探針法測定器です。電源に電池を使用しているため持ち運びが容易で、測定物の形状や大きさの制限がなく、手軽に測定を行うことができます。 【カタログ】PV-628

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト We have participated in SEMICON Japan which is a comprehensive exhibition of semiconductor manufacturing and inspection equipment from the first time. We appriciate for our customers who have taken care of us for many years. We have also participated in an exhibision "Microwave Exhibition" speciallized in microwave technology. SEMICON JAPAN ■ SEMICON JAPAN 1977 The first meeting was held at Dome Hall of Harumi Exhibition Hall. Exhibitors at the time Astec Co., Ltd. / Advantest Corporation / Applied Materials Japan Co., Ltd. / Ando Electric Co., Ltd. / Westbond Company / SDC Semicon Technology Co., Ltd. / Kanematsu Device Co., Ltd. / Complete Electronics / Canon Sales Co., Ltd. / Saint-Gobain Norton Corporation / Shipley · Far East Co., Ltd. / Japan Speedfam Co., Ltd. / Dainichisei Corporation / Disco / Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. / Tempronics Corporation / Tokyo Electron Co., Ltd. / Japan AERA Co., Ltd. / Japan AD Inc. / Japanese SMS Co., Ltd. / Japan MKS Corporation / Japan Swagelok Corporation / Nippon Micronics Co., Ltd. / Nomura Micro Science Co., Ltd. / Hakuto Co., Ltd. / Hitachi Kokusai Electric / Hitachi High-Technologies Corporation / Fujimi Incorporated / Fluoroware · Valkar Japan Co., Ltd. ■ Latest appearance It is our booth at SEMICON JAPAN held at Tokyo Big Sight. Microwave Exhibition It is our booth at Microwave Exhibition held at Pacifico Yokohama.

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　四點探針 四點探針探測器 [NPS Version] 半導體・液晶 前置作業檢查 它是用於測量電阻率的高精度探頭。 目前，直流四點探針法是測量導電材料電阻值最可靠的方法。 許多測量工程師認定測量中使用的探頭的機械性能極大地影響了測量的準確性。 特別是在測量半導體材料時，會出現精度和耐久性問題。 擁有多年經驗和良好記錄的NPS 四點探針在全球被公認為高精度探頭，並被測量儀器製造商用作標準探頭。針部分使用耐用的金屬在金屬和遠端的低導體電阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接觸 " 處理 (IP, MT, 某人, 通過執行 EP 等), 保證了多種不同樣品的穩定測量。 (日本國內組裝產品、調整和售後產品) NPS 是40年來的探針專家, 另外還為探頭、探針修復和測試以及其他公司所做的其他探針提供技術諮詢。 (對於 Napson, 其他測量儀器) <主要功能> 高精度·高耐久性·世界標準裝備·低價格·短期維修再生（FELL型）從針尖到連接器的連續連接，通過專利的板叠板式弹簧，專用針規格， 採購，裝配，性能管理 【相關產品】電阻率測量儀 ■ 四點探針探測器 構成四點探針的每個部件都是由專用加工機器的開發和生產製造的，從製造到出貨的品質控制都是由專職技術人員進行，由此可以提供具有高精度和高耐用性產品 。 此外，為了滿足國內用戶的要求，我們制定了自己的規格並進行組裝。此外，我们还可以灵活应对各种厂家的4点探针的维修和定制（部件更换和大修）要求。 请随时与我们联系以获取更多信息。 ■ 袖珍型探測器 這是一個手持式測量的四點探針。它可以用於矽鐵錠等 ■ 0.1mm間隔 MODEL SEP-4是一個四點探針，用於測量針距為0.1 mm間距的薄層電阻。 由於四根針之間的距離小至0.3mm（線性），因此電場能量的影響範圍很小，並且即使在面積為5×5mm的小面積的焊盤的情況下，電阻測量也不受電場電力的影響。

首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 微波用Pico探针 微波用Pico探针（射频探针） 微波测量 美国GGB公司生产的微波用Pico探针（RF探针）是采用GGB公司独创的连续式同轴结构（已获专利）的微波器件测试探针，兼具低损耗与高耐久性。此外，其多触点探针可与直流探针组合使用，通过电容器与电阻的混合结构（已获专利）实现了发射等低损耗测量。 　该高频探针深受追求严苛测量数据的技术人员青睐。 　板簧式接地片结构与边缘接触方式实现了低接触电阻与优异的测量重复性，同时可定制镍材质针尖。此外，100μm以下间距规格及车载电子设备用大电流探针等定制需求亦可垂询。 产品兼具低损耗、高复现性与高耐久性，通过专利同轴结构与专利旁路电容方案等技术确保卓越性能。 【相关产品】微波测试治具·微定位器 [特点] ■坚固结构与高性能 　Pico探针的信号部分采用从连接器到针尖的连续同轴结构。这种连续同轴结构具有卓越的信号传输特性，能够将信号可靠地传输至峰值频率范围。此外，接触中的针尖不易受外部振动引起的共振影响，其结构设计在针尖接触时的过载情况下也具有极强的抗性。 ■多样化探针款式 　为适配平面基板、封装件等各类样品形态的测量需求，Pico探针提供多种款式选择。 ■便捷的针尖定位 　与被测物接触的接地针尖采用弹簧结构，通过与固定信号线针尖及接地针部保持恒定间隙，可依据该间隙进行精准定位，确保接触始终稳定。 ■点接触设计 　Pico探针针尖采用点接触结构，确保稳定接触。该设计能有效排斥被测物氧化层，实现良好接触，同时显著降低接触时产生的位置偏差误差，保障测量精度。 微波用Pico探针功能对比表

我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 主頁 產品 公司簡介 English 日本語サイト 追求新的精密技術 1/6 我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。 我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。 我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 ➤ 查詢 4-Point Probe Products 產品 更多資訊 電阻率測量儀器 　手動式測量儀器，使用四探針方法簡單精確地測量金屬薄膜等的薄片電阻或電阻率。 用於集成電路的Pico探針 　可以在測量裝置負載最小的情況下進行測量，從而確保數位波形的忠實再現。 更多資訊 4-探頭針 在開始處理四點式探針半個世紀後，四點式探針已成為全球公認的高精度半導體電阻率測量探針。 更多資訊 更多資訊 微波用Pico探针 　美国GGB公司采用其独特的连续式同轴结构，开发出兼具低损耗与高耐久性的微波设备用测试探针。 微波测试台 　该测试夹具用于将采用微波作为传输介质的小型电路板及零部件等固定安装，并进行特性评估。 更多資訊 精密定位平台 本精密平台可作为微动定位及检测用工作台使用。根据型号不同，提供XYZ轴、电动驱动、手动操作等丰富种类。 更多資訊 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 「SEMICON JAPAN」 是半導體製造與測試設備的綜合展覽會，我們自開展以來一直參展。在此，我們要感謝多年來對我們不離不棄的眾多客戶。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

We prepare material for capillary used as IC bonding tool. The material is tungsten carbide. We also accept custom made capillary production on request. We can also produce assemblies such as ceramic, nozzle using TC material, wire guide etc. It is also used for coating carbide nozzles and pickup tools. 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 毛细管材料 毛细管材料 其他相关部件 　我们备有用于IC键合工具的毛细管专用材料。 　材料为碳化钨。可根据需求定制规格的毛细管。 　同时承接陶瓷、TC材料制成的喷嘴、导线导管等组装产品的定制加工。 例：涂装用超硬喷嘴、焊球分配器、拾取工具。 <规格> 长度L=12mm　直径Dia=1.58mm　d1=1.0mm 其他尺寸请垂询。

適格請求書発行事業者登録番号について 　インボイス制度の適格請求書発行事業者登録をいたしました。 登録番号 T9010601024421 　「国税庁インボイス制度適格請求書発行事業者公表サイト 」からもご確認いただけます。

MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes.  Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are  required lab systems which have the versatility as test fixtu Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Jig tool for Microwave Testing Jig tool for Microwave Testing Microwave Measurement MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes. Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are required lab systems which have the versatility as test fixtures. 【Related products】Picoprobe for I.C ・ Picoprobe for Microwave ■ Simple test stand MTF-100 The MTF-100 series is a test jig for evaluating characteristics by fixing and mounting small circuit boards and parts with microwave transmission lines. It is designed to be small but high precision and strong structure, and microwave evaluation test with low loss microwave probe set to 2 ports can be performed. Moreover, it is a small space design and you can carry around, and you use it anywhere. Probe used for the MTF-100 series select the pitch between the signal and the ground in the range of 50 microns to 2540 microns in order to correspond to the micro - electrode part. You are able to have a test of the frequency band up to 67 GHz by system up of the network analyzer. MTF-100.pdf GT-1100 (4 "compatible) GT-1100.pdf MODEL GT-1100 is a table-size standard test table which equips a low-loss microwave probe for measuring electrical characteristics of transmission circuit components in the microwave range (dc - 40 GHz) and a vacuum chuck that can fine - position the sample. You can conduct a measurement (50 - 110GHz) with optional probes. Because the MODEL GT-1100 is set with high-performance accessories such as probes required for measurement, it is excellent in cost performance and is the optimum measurement system in the research and development field. ■ Test stand for waveguide probe (GT-3000) ■ Test stand for tuner (GT-1502) The GT-3000 and GT-1500 series are test beds designed for efficient measurement using waveguide probes. The connection between the waveguide probe (millimeter wave band) and the tuner equipment etc. can be done at the shortest position, and you can reduce the loss. Also, since you can move the probe and instrument at the same time, it is suitable for the measurement using a waveguide probe. Custom-made is also welcome.