​​エヌピイエス株式会社公式サイト | NPS,Inc. | 半導体検査測定機器 | 4探針ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 抵抗率測定器 | 高周波ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | RFﾌﾟﾛｰﾌﾞ | ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 米国GGB社総代理店 ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 高周波プローブ ４探針プローブ ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 1/6 新精密技術を追求する！ 　半導体や電子工業分野で求められる検査測定機器や製造装置の輸出入、製造・販売を行っています。 　「新技術」から生まれる「精密さ」にこだわり、その追求を通じてお客様に最高の価値を提供いたします。 　当社の製品は、半導体や液晶関連など、特に高い精度が要求される分野で広く活用されています。 4-Point Probe N ews お知らせ 26/09/16　MWE 2026出展のお知らせ 26/08/04　TWHM 2026出展のお知らせ 26/07/01　夏季休業のお知らせ 26/04/13　 GW休業のお知らせ 26/01/01　設立55周年のご挨拶と御礼 「トランジスタ技術」「インターフェース」掲載内容について セール品の販売について 「Metoree」当社掲載内容について ※2025年のお知らせ P roducts 製品 抵抗率測定器 ４探針法を用いて金属薄膜等のシート抵抗、または抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。 ４探針プローブ ４探針プローブの取扱い開始から半世紀、抵抗率を測定するための高精度な半導体プローブとして、世界的に認められております。 IC用ピコプローブ 測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。 マイクロ波用ピコプローブ 米国GGB社独自の連続式同軸構造による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。 ➤ 製品一覧はこちら マイクロ波テスト台 マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 プローブニードル パラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。タングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 SEMICON JAPAN 1977-2026 　当社は、半導体製造･検査装置の総合展示会 SEMICON JAPAN（セミコンジャパン）に第１回より出展しています。 Learn More ➤SEMICON JAPAN

NEWS(2026/09/16更新) MWE 2026(マイクロウェーブ展)出展のご案内 　当社 は、2026年11月25日（水）から27日（金）までパシフィコ横浜にて開催されるマイクロウェーブ展（MWE）2026に出展いたします（ブース番号：D-12）。 　本展示会では、主にマイクロ波用プローブの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: マイクロ波用プローブ、高周波プローブなど、業界をリードするソリューションを展示。 実演デモンストレーション: 実際の動作環境下での性能をご覧いただける実機展示を実施予定。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社の技術的課題に対する最適な解決策をご提案。 　マイクロウェーブ展は、産学連携と技術革新の場として、未来の通信技術を形作る重要な機会です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 https://apmc-mwe.org/mwe2026/kigyo/data/A02300.html TWHM2026出展のお知らせ 　8月に島根県松江市で行われるTopical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM 2026)に出展します。 【16th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics】 　日時：2026年8月24日(月)～27日(木) 　場所：ホテル一畑（〒690-0852 島根県松江市千鳥町30） 【TWHM情報】 　TWHM2026 夏季休業のお知らせ 　平素より大変お世話になっております。 　誠に勝手ながら、弊社では下記の期間において夏季休業とさせていただきます。お客様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。 【休業期間】 202６年8月1０日（月）～2025年8月1４日（金） 【休業中の対応について】 　休業期間中のご注文、お問い合わせ等は、202６年8月1７日（月）以降に順次対応させていただきます。 　なお、休業期間中のメールやフォームからのお問い合わせは受け付けておりますが、回答は8月1７日以降となりますので、予めご了承ください。 　今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。 GW休業のお知らせ 　平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 　当社のGW 休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 　2026年4月29日(水･祝) ～ 2026 年5月6日(水) 設立55周年のご挨拶と御礼 　おかげさまで、エヌピイエス株式会社は2026年をもちまして、設立55周年を迎えることができました。 　1971年の創業以来、私たちは半導体関連機器をはじめとする先端技術を通じ、日本のものづくりを支えることを使命として歩んでまいりました。これもひとえに、長年支えてくださったお客様、お取引先様、そして地域の皆様の温かいご支援の賜物と、心より深く感謝申し上げます。 　 　この節目を機に、社員一同、改めて創業の原点に立ち返り、さらなる技術革新とサービスの向上に努めてまいる所存です。今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、お願い申し上げます。

主な取扱製品 1. 半導体、薄膜層などの抵抗率測定器用4探針プローブ及び関連機器 2. 半導体、液晶薄膜シート抵抗率測定器 3. 半導体IC(ULSI、VLSIなど)の特性評価用高性能プローブ 4. マイクロ波計測用プローブ及び測定用装置 5. 計測用、実験用、手動及び電動の直線、回転形各種スライド製品 6. プローブニードル、スクライプポイント 7. レーザー干渉計システム 製品 アンカー：半導体電子材料関連 半導体・電子材料関連 半導体・液晶 前工程（検査） アンカー：前工程 抵抗率測定器 4探針プローブ P/N判定器 レーザー干渉計測器 ※前・後工程両方で使用 半導体・液晶 後工程（検査） アンカー：後工程 IC用ピコプローブ 50Ω同軸プローブ マイクロポジショナー プローブニードル アンカー：マイクロ波計測・関連部材 マイクロ波計測 マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波テスト台 その他関連部材 キャピラリー素材 ダイヤモンドスクライプ アンカー：位置決め精密機械 位置決め精密機械 精密XYスライダーテーブル 精密治具SSマグネット

今回は4探針プローブを取上げてみました。"40年以上使用されている標準器具" ４探針プローブは半導体材料の電気抵抗を測定するための電極として、１９６０年代にイギリスのA&M FELL 氏により開発されました。その後、その性能に目をつけたアメリカの現半導体装置メーカーであるキューリック＆ソファ社が買収し販売を開始したことで広く使用されるツールとなりました。 4探針プローブとは 【 40年以上使用されている標準器具 】 　４探針プローブは半導体材料の抵抗率測定を行うための電極として、1960年代にイギリスのA&M FELL氏によりFELLプローブが開発されました。 　その後、その性能に目をつけたアメリカの現半導体装置大手メーカーであるキューリック＆ソファ社が会社を買収し、販売を開始したことで世界的に広く使用されるツールとなりました。 　 　日本では1971年にNPS株式会社（旧社名：ナカムラセイミツ商会）が販売を開始し、全国の半導体メーカーや装置メーカーにご紹介させていただきました。 　当時は「シリコンウェーハの抵抗率を簡易的に安定して測定するにはどうしたら良いか」という状況下で、測定器の開発と共に技術者たちはFELLプローブを半導体抵抗率測定用の重要ツールといち早く評価し今日に至っております。 　FELLプローブが完成するまで何度も試作品製作を繰り返し、数十年後を予測した設計思想と高精度測定が可能となる理論的構造を確立させ、今日の多様化する被測定物にも対応可能な4探針プローブを製造することに成功しました。 　その後、特許化されたFELLプローブは世界的標準器具として半導体メーカー、デバイスメーカー等で使用されるようになりました。 （当時作られた試作品レベルのプローブでもまずまずの出来であったため、開発に携わった技術者たちが別会社を創り販売し出すというエピソードもありましたが、結局は性能と耐久性面で大差があり産業用のツールとしては使用に耐えられなかったということです。） 　4探針プローブは単に針が4本付いた4端子プローブとは異なり、「半導体コンタクトの科学と技術」により生まれた高性能プローブです。 　例えば、針を加圧する内部スプリング（特許部）をとっても数十種類の試作品の中から決定された形であり性能を得る上では根拠のある仕様となっています。 　また、メカ的な部分では、50年前当時は唯一最先端であった古典的な時計製作技術であるルビー摺動を取り入れ針のガイド部の精度を追求しました。 （ルビー摺動部は現在もFELLタイププローブの一部に採用していますが、精度管理と機能上の問題から新型プローブ等については近年の新素材と製造技術により製作された部品を用いています。） 　特に被測定物と接触するニードル部分は、物理的要素や電気的要素を考慮し、被測定物の種類に対応すべく先端構造を形成させています。これらの技術的なこだわりが、測定確度、耐久性、測定能力、等に大きく影響してきます。 　当社代表の中村勇人は、1970年代にA&M FELLのイギリス工場において４探針プローブに関する製造技術とノウ・ハウを習得するための長期間のトレーニングを受け、当時の技術者から直接承継した技術を現在の4探針プローブに生かしご提供させて頂いております。 中村＠NPS

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关 　>　电阻率测量仪 电阻率测定仪(薄膜电阻测定器) 半导体・液晶 前置作业检查 专业工程师的高性能工具。 它能够使用四点探针方法轻松且高准确度的测量太阳能薄膜电池上的矽导电膜的电阻或电阻率。 它对应于低电阻到高电阻测量。 <用途> 1）硅铁锭製造→硅晶片製造检测（包括成膜等各种工方法） 2）液晶面板（LCD）製造：用于成膜时的产品检查 3）在检查各种导电材料的製作过程 使用我们公司配置的“四点探针”可以测量。 【相关产品】四点探针探测器 ■ Model sigma-5+ 我们可以准确地测量矽芯片的电阻率。也对应太阳能电池的探测器。 它是一个利用20年以上的测量技术而设计和开发的高精度电阻率测量仪器。 在半导体基板，导电薄膜基板等的研发和检测过程中，可以精确的评估薄层电阻和电阻率值。 ※该照片是与样品架RG-5的组合。 [基本规格] [特点] ·可以正确的设置智能开关功能面板 ·小型的桌面尺寸设计 ·阻力小~阻力高的宽范围测量 ·电流极性切换测量可抑制整流造成的误差 ·开始测量时自动调零功能 ·自动量程功能自动设置最佳电流 ·样品厚度校正功能 ·平均测量值显示和印刷机平均值计算功能 ·半导体温度校正功能 ·各种温度校正的输入功能 ·与数据打印机接口 ·与数据连接用接口 ·可以选择样品表<基本规格> ■手持式·表面电阻测量仪/电阻率测量仪 使用四探针于方便型 SRM-232 可测量绝缘材料上金属薄膜的板电阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 测量硅晶片的电阻率, 如也可以测量太阳能电池基板。 每个设备都允许您将资料输出到电脑, 并且电源具有自动断电功能。 ■方便型·电阻率测量仪 MODEL PV-628是一款专门用于太阳能发电硅等电阻率测量的便携式四点探针测量仪器。 由于电池用作电源，因此携带方便，对待测物体的形状和大小没有限制，使测量变得简单。

We specialize in the import, export, manufacturing, and sales of inspection, measurement, andmanufacturing equipment essential for the semiconductor and electronics industries. With a focus on the "precision" born from "new technology," we are committed to delivering the highest value to our customers through relentless pursuit of excellence. Our products are widely utilized in fields requiring exceptional accuracy, such as semiconductors and liquid crystal displays. Home Product About Us English 日本語サイト Microwave Picoprobe Microwave Picoprobe 4 Point probe Microwave Picoprobe 1/6 Pursuing new precision technology! 　We specialize in the import, export, manufacturing, and sales of inspection, measurement, and manufacturing equipment essential for the semiconductor and electronics industries. 　With a focus on the "precision" born from "new technology," we are committed to delivering the highest value to our customers through relentless pursuit of excellence. 　Our products are widely utilized in fields requiring exceptional accuracy, such as semiconductors and liquid crystal displays. ➤ Contact Us 4-Point Probe Products Resistivity measuring instrument This is a manual type measuring instrument that can measure sheet resistance or resistivity of metallic thin films, etc. easily and precisely using the 4-point probe method. 4-Point Probe Half a century has passed since we started handling 4-point probes, and they are recognized worldwide as high-precision semiconductor probes for resistivity measurement. Picoprobe for IC The measurement can be performed with minimal load on the measurement device, thus reproducing digital waveforms with high fidelity. Microwave Picoprobe A test probe for microwave devices that combines low loss and high durability with GGB's unique continuous coaxial construction. Microwave Test Stand This is a test fixture for fixing and mounting small circuit boards and components that use microwaves as transmission paths to evaluate their characteristics. Precision X-Y Slider Table Precision slider that can be used as a table for fine positioning and inspection. XYZ, conductive, manual, and a wide variety of types are available depending on the combination. > Products ➤ Contact Us SEMICON JAPAN 1977-2024 　 We have been exhibiting at SEMICON JAPAN, a comprehensive exhibition for semiconductor manufacturing and testing equipment, since the first exhibition. Learn More ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

エヌピイエス株式会社では、小学校向けの半導体出前授業を無償で実施しております。 -実践事例- 　地域社会への貢献 と未来のモノづくりを担う子どもたちの育成を目指し、小学校で「半導体出前授業」を実施いたしました。当日の授業内容と子どもたちの様子をレポートします。 日時：2026年３月 対象：東京都江東区立枝川小学校　3年生（約１２０名） 　スマートフォンやゲーム機、家電製品など、私たちの暮らしに欠かせない「半導体」。しかし、目に見えないほど小さく、子どもたちにとっては少し遠い存在です。小学校3年生の理科や社会の学びに合わせ、身の回りの電化製品の中に隠された「技術のすごさ」を楽しく体感してもらう特別授業を企画しました。 導入：半導体ってなんだろう？ 　授業の始まりは、「教室にあるもので、電気で動くものはなに？」という質問から。ゲーム機やテレビなど、たくさんの手が挙がりました。それらすべての中で、電気をコントロールする「頭脳」の役割をしているのが半導体であることを、クイズを交えて分かりやすく解説しました。 展開：半導体ができるまで 　半導体の製造工程を学び、実際のシリコンインゴットやシリコンウェーハに触れました。小さなチップを覗き込んだ子どもたちからは、「うわぁ、細かい線がたくさん見える！」「これが全部動いてるの！？」と驚きの声が。五感を使って技術に触れる、一番の盛り上がりを見せた時間でした。 まとめ：モノづくりへの興味のタネ 　「半導体がどんな未来をつくるか」をテーマに、未来のものづくりへの夢を話し合いました。最後までみんなの目がキラキラと輝いていたのが印象的でした。 児童の感想： 「シリコンウェーハがキラキラしてきれいだった！タブレットや機械を分解して、本物の半導体を見てみたい」（3年生・男子） 「ちいさな部品のなかに、たくさんの機能がつまっていると知ってびっくりしました」（3年生・女子） 先生からのコメント： 「教科書だけでは伝えきれない『生きた技術』に触れる素晴らしい機会になりました。子どもたちの半導体や理科への関心が一気に高まったのを感じます」 　小学生を対象とした出前授業や工場見学の受け入れを随時ご相談させていただいております。ご興味のある方は、お気軽に「出前授業申し込み」よりご連絡ください。

MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes.  Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are  required lab systems which have the versatility as test fixtu 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 微波测试治具 微波测试台 微波测量 MTF-100及GT-1100是可测量微波基板的小型简易测试台（探针台）。支持使用同轴型射频探针及可选直流探针，便于携带，可在任意地点进行测量作业。两者均为具备测试台通用性的实验室需求系统。 【相关产品】IC用Pico探针 ·微波用Pico探针 ■ 简单测试台 MTF-100 　MTF-100系列是用于固定安装微波传输线路的小型电路板及元件，并对其特性进行评估的测试治具。 该设备虽体积小巧，却采用高精度且坚固的结构设计，可通过在双端口安装低损耗微波探针进行微波评估测试。其紧凑型设计便于携带，不受测量场所限制。 　MTF-100系列配套探针为适配微型电极结构，信号与接地间距可在50微米至2540微米范围内自由选择。配合网络分析仪系统配置，可实现最高67GHz频率范围内的测试。 MTF-100.pdf GT-1100 (4 "compatible) 　MODEL GT-1100是一款台式测试平台，标配低损耗微波探针（用于测量直流至40GHz频段传输电路元件的电气特性）及可实现样品微动定位的真空吸盘。通过选配探针，还可扩展至50～110GHz的测量范围。 　MODEL GT-1100将测量所需的高性能探针等附件整合为套装，具备卓越的性价比，是研发领域最优的测量系统。 GT-1100.pdf ■ Test stand for waveguide probe (GT-3000) ■ Test stand for tuner (GT-1502) 　GT-3000、GT-1500系列测试台专为高效使用波导管探头进行测量而设计。 　该测试台可实现导波管探头（毫米波段）与调谐器等设备的最短距离连接，有效降低信号损耗。同时支持探头与设备同步移动，特别适用于导波管探头测量场景。我们亦欢迎定制化订单。

先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　ダイヤモンドスクライプ ダイヤモンドスクライプ その他関連部材 　先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 シャンク：Steel 3.175mm　x 25mm or 38mm 先端半径：5-micron point, 12-micron point

GGB社のマイクロ波プローブは他社製のマイクロ波プローブと異なり、触針先端までが同一導線による完全同軸構造により製作されております。 （GGB社特許） グランド、シグナル部の触針先端はエッジコンタクト式となっており、酸化膜や硬度のある接触面に良好な接触が実現できるため、オンウェーハ等のアルミ電極においても低接触抵抗による高精度測定が可能となります。 この触針構造によりあらゆる形体のパッケージやDUTに対応すべく形状（例VPスタイル）を用意しております。 特注対応での非磁気性構造(非磁性)仕様のタイプも製作しております。 マイクロ波用ピコプローブとは 　GGB社のマイクロ波用ピコプローブは他社製のマイクロ波用プローブと異なり、触針先端までが同一導線による完全同軸構造により製作されています。 （GGB社特許） 　 　グランド(G)、シグナル(S)部の触針先端はエッジコンタクト式となっており、酸化膜や硬度のある接触面に良好な接触が実現できるため、オンウェーハ等のアルミ電極においても低接触抵抗による高精度測定が可能です。 　 　この触針構造によりあらゆる形体のパッケージやDUTに対応すべく形状（例VPスタイル）を用意しています。また、 特注対応での非磁気性構造(非磁性)仕様のタイプも製作しています。 　マイクロ波用プローブと共に使用されるDC用マルチコンタクトについては高周波測定における共振等の影響を考慮するため、触針直近にチップコンデンサーや抵抗を配置し取付けるGGB社の特許方式により製作されております。 中村＠NPS

It is a needle for electrical characteristics inspection made with optimum alloy of noble metal type mainly composed of palladium, as the contact material for current application. It has the same mechanical characteristics as tungsten and has superior electrical characteristics to beryllium copper, so stable contact is Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Probe Needle Probe Needle Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is a needle for electrical characteristics inspection made with optimum alloy of noble metal type mainly composed of palladium, as the contact material for current application. It has the same mechanical characteristics as tungsten and has superior electrical characteristics to beryllium copper, so stable contact is obtained. More than ten kinds of thickness are prepared between 0.2 mm and 0.7 mm. In addition, osmium alloy for LED, usually needle for tungsten and tungsten carbide material for semiconductor electrode. Especially the standard stock tungsten needle is very recommended at low price. 【Related products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioner ■ P needle (palladium alloy needle) P needle is precision machined in Japan using Paliney 7 as a material. Paliney 7 is excellent in low wear resistance, low contact resistance and high durability. It has been used as an electrode material for more than 50 years, and it is used in many fields due to its material properties. Paliney 7 is an electrode material conforming to ASTM B 540. Containing metal (approx.): Palladium (35%) Silver (30%) Gold (10%) Platinum (10%) Copper (14%) others (1%) Individual resistivity: 30 μΩcm- Conductivity: 5.5 (% l ACS) Knoop hardness: 350-410 Melting temperature: 1015 ° C ■ T-4 needle (for submicron) T-4 needle was manufactured for general probing. Since the whisker needle for the pico probe is used, the submicron hole on the SiO2 opened by the laser cutter can also be attached without damage of the circuit. A shaft part of φ 0.5 mm can be bent by hand and it can be used by processing it into an arbitrary shape. We offer one set of 5 bottles at an affordable price. ■ Push-up pin We are manufacturing push-up pins for parts such as IC chips with tungsten carbide and piano wire at low price. Material: tungsten carbide, stainless steel, piano wire etc. We polish various materials uniformly and offer high quality pins. It can also be used for cutting small parts.

Main Products ･4-point probes and related equipment for resistivity measurement of semiconductors, thin film layers, etc. ･semiconductor and liquid crystal thin film sheet resistivity measurement equipment ･high performance probes for characterization of semiconductor ICs (ULSI, VLSI, etc.) ･microwave measurement probes and measurement equipment ･various types of linear and rotary slides, manual and motorized, for measurement and laboratory use ･probe needles and scripe points Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product List 1. Pre-Process Semiconductors and Electronic Materials Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Resistivity Processor P/N Checker 4-Point Probe Laser Interferometry Tools *Usable for both pre and post process 2. Post-Process Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC Micro Positioner 50Ω Coaxial Probe IC Contact Probe Probe Needle 3. Microwave&Other Microwave Measurement Picoprobe for Microwave Jig tool for Microwave Testing Other Products Capillary Blank Diamond Scribe 4. Positioning Precision Positioning Precision Machinery X-Y Slider Tables SS Magnet