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通電用コンタクト素材としてパラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のニードルです。 タングステンと同等の機械特性を持ち、ベリリウム銅より優れる電気特性を有しているため、安定した接触が得られます。 太さは0.2mm～0.7mmの間で十数種類用意されております。 その他、LED用にオスミウム合金、通常半導体電極用としてタングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 特に標準在庫品のタングステンニードル,　ブレードニードルは低価格で大変お奨めです。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　プローブニードル プローブニードル 半導体・液晶 後工程（検査） 　通電用コンタクト素材としてパラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。 　タングステンと同等の機械特性を持ち、ベリリウム銅より優れる電気特性を有しているため、安定した接触が得られます。 　太さは0.2mm～0.7mmの間で十数種類用意されております。 　その他、通常半導体電極用としてタングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。特に標準在庫品のタングステンニードル,　ブレードニードルは低価格で大変お奨めです。 ※オスミウム(S)素材のニードルにつきましては、販売を終了しております。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー Pニードル (パラジウム合金針) 　Pニードルは素材となるパリネイ7を使用して国内で精密加工しております。 　低摩耗、低接触抵抗、耐久性に優れたパリネイ7は50年以上前から電極素材として用いられており、その素材特性から多くのフィールドで使用されております。 パリネイ7はASTM B540に準拠した電極素材です。 含有金属(約)：パラジウム(35％) 　　　　　　　銀(30％) 　　　　　　　金(10％) 　　　　　　　プラチナ(10％) 　　　　　　　銅(14％) 　　　　　　　他(1％) 個体抵抗率：30μΩcm- 伝導率：5.5（％ l ACS） ヌープ硬度：350-410 溶解温度：1015℃ プローブニードル.pdf T-４ニードル (サブミクロン用) 　一般的なプロービングに使用できるように製作されたT-4ニードルです。 　ピコプローブ用のウィスカーニードルを使用しているため、レーザーカッターにより開けられたSiO2上のサブミクロンホールにも回路の損傷なく針当てができます。 　主にFIB（集束イオンビーム）で作られた集積回路、電極、ミニ電極のポイント測定によく使用されます。その中でも、T-4-10とT-4-22はウィスカー径が細く、曲げ弾性に優れているため、チップ電極へのダメージを軽減し、振動環境下でも電極との接触が良好であるためお客様からの評価が高いモデルです。 　直径0.5mmの軸部は手で曲げることができ、任意の形状に加工して使用できます。1セット5本入りでお求めやすい価格で提供しております。 　T-4ニードルは標準的な市販のマイクロポジショナーで集積回路、パッド、ラインのプロービングに使用できます。各ニードルはGGB社の12Cピコプローブと同じ直径10、22、35、60、125ミクロンのタングステン・ワイヤーを使用しています。 　一部のユーザーから指摘されている10ミクロンと22ミクロンのモデルの利点はタングステン・プロービング・ワイヤーが細く柔軟であるため、集積回路へのダメージを最小限に抑えより長い時間デバイスをプロービングできることです。フレキシブルなT-4ニードルは作業台の振動があっても回路との接触状態を維持します。 　T-4ニードルは静電容量負荷が問題となるような高感度ノードへの使用は推奨されません。代わりに高インピーダンスピコプローブをご使用ください。 T-4ニードル.pdf 突き上げピン 　ICチップなどの部品用の突き上げピンをタングステンカーバイトやピアノ線で低価格にて製作しております。 素材：タングステンカーバイト・ステンレス・ピアノ線等（素材はご相談ください） 　各種素材を均一に研磨加工し、高品質のピンをご提供しております。微小部のカッティング等にもご使用いただけます。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　探針 探針 半導体・液晶 作業後的檢查 它是以鈀和銀為主要成分的貴金屬系列，合金製成的電氣特性檢測用針，作為目前應用的接觸材料。 它具有與鎢相同的機械特性，並且具有優於鈹銅的電氣特性，因此可以獲得穩定的接觸。 提供有0.2毫米到0.7毫米十種的厚度。另外，用於LED的鋨合金，半導體電極，材料都為鎢和碳化鎢。 特別推薦低價格的標準鎢針和刀片針。 【相關產品】微定位器 ■ P針（鈀合金探針） P針在日本使用Paliney 7作為材料進行精密加工。具有低耐磨性，低接觸電阻和耐久性優異的Paliney 7已經被用作電極材料超過50年，並且由於其材料特性而被用於許多領域。Paliney 7是符合ASTM B 540的電極材料。 含金屬（約）：鈀（35％）銀（30％）金（10％）鉑（10％）銅（14％）其他（1％ 獨立電阻率：30μΩcm- 電導率：5.5（％ACS） 硬度：350-410 熔化溫度：1015℃ ■ T針 它是一般探測製造的T-4針。 由於使用了pico探針的晶須針頭，因此可以將針頭放在由激光切割機打開的SiO2上的微米孔上，而不會損壞電路。 φ0.5 mm的軸部分可以用手彎曲，可以通過將其加工成任意形狀來使用。 我們以合理的價格提供一套5瓶裝。 ■ 勾針 IC芯片等部件的上推銷採用碳化鎢和鋼琴絲以低成本製造。 材質：碳化鎢，不銹鋼，鋼琴絲等（材質請諮詢） 我們均勻拋光各種材料並提供高質量的針腳。 它也可以用於需要切割的小零件。

Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, and specifications of our products. 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 Contact us ※Please use this contact form as sending a direct email may be treated as spam. Send 　 Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

2025年 NEWS 年末年始休業のお知らせ 　平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 　当社の年末年始休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 　2025年12月27日(土) ～ 2026 年1月4日(日) SEMICON Japan 2025 出展のご案内 　当社は、2025年12月17日（水）から19日（金）まで東京ビッグサイトにて開催されるSEMICON Japan 2025に出展いたします（ブース番号：W2534 ）。 　本展示会では、主に半導体テスト・測定向けの高精度プローブおよび高周波対応ソリューションの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: 高周波プローブ、RFプローブ、4探針プローブなど、半導体製造・検査プロセスを支える業界トップクラスの製品を展示。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社のウェハテスト、高周波特性評価、信頼性試験などの技術的課題に対し、最適なプローブソリューションをご提案いたします。 　 　SEMICON Japanは、半導体製造サプライチェーンが一堂に会する日本最大級のイベントであり、次世代AI、自動車、IoTをはじめとするスマートアプリケーションを支える技術革新の場です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 SEMICON Japan 2025 MWE 2025(マイクロウェーブ展)出展のご案内 　当社 は、2025年11月26日（水）から28日（金）までパシフィコ横浜にて開催されるマイクロウェーブ展（MWE）2025に出展いたします（ブース番号：A-12）。 　本展示会では、主にマイクロ波用プローブの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: マイクロ波用プローブ、高周波プローブなど、業界をリードするソリューションを展示。 実演デモンストレーション: 実際の動作環境下での性能をご覧いただける実機展示を実施予定。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社の技術的課題に対する最適な解決策をご提案。 　マイクロウェーブ展は、産学連携と技術革新の場として、未来の通信技術を形作る重要な機会です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 https://apmc-mwe.org/mwe2025/kigyo/data/A02400.html 夏季休業のお知らせ 　平素より大変お世話になっております。 　誠に勝手ながら、弊社では下記の期間において夏季休業とさせていただきます。お客様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。 【休業期間】 2025年8月12日（火）～2025年8月15日（金） 【休業中の対応について】 　休業期間中のご注文、お問い合わせ等は、2025年8月18日（月）以降に順次対応させていただきます。 　なお、休業期間中のメールやフォームからのお問い合わせは受け付けておりますが、回答は8月18日以降となりますので、予めご了承ください。 　今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。 「Metoree(メトリー)」当社掲載内容について 　産業用製品メーカー比較サービスの「Metoree(メトリー)」に2025年７月１７日から、当社の会社情報と製品情報を掲載していただいております。 　「Metoree(メトリー)」は ZAZA株式会社が運営するエンジニア・研究者・購買担当者の方のための産業用製品メーカー比較検索サービスです。測定器・センサ・プリンティング機械・工具・電気電子部品・建材など7,000以上のカテゴリー、産業用製品メーカー・代理店80,000社の情報が掲載されています。 【Webページ】 Metoree(メトリー) ■ Metoree(メトリー)掲載の製品情報 【Webページ】 抵抗率測定器 Σ-5＋| Metoree マイクロ波用ピコプローブ| Metoree 精密位置決めステージ| Metoree エヌピイエスの半導体検査装置3製品 ・人気ランキング | Metoree 「トランジスタ技術」「インターフェース」(CQ出版社)当社掲載内容について 　月刊「トランジスタ技術」、月刊「インターフェース」2025年1月号から、当社の製品情報と採用情報を掲載していただいております。 　月刊「トランジスタ技術」は実用性を重視したエレクトロニクス技術の専門誌、月刊「インターフェース」はコンピュータ・サイエンス＆テクノロジ専門誌です。 【Webページ】 トランジスタ技術 インターフェース セール品の販売について 下記型番マイクロ波プローブにつきセール価格にて提供致します。 ➤ 40A-GSG-300/40A-GSG-300/D-DP-N　¥130,000　残数2 ➤ 50A-GSG-250-P　¥90,000　残数2 ➤ 40A-GS-550-LP-NM　¥70,000　残数1　　　　 　　※在庫につきましては弊社営業までお問い合わせください。　　 　　　　　　 ➤その他、在庫処分セール品一覧

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for Microwave Picoprobe for Microwave Microwave Measurement Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for microwave (RF probe) is a test probe for microwave devices combining low loss and high durability by GGB's unique continuous coaxial structure (patented). Also, with multi-contact probes that can be arranged with DC probes, it is now possible to reduce transmission measurements such as transmission by using a hybrid configuration of capacitors and resistors (patented). Picoprobe is widely adopted for engineers sticking to severe data measurement. With the leaf spring type ground chip structure and edge contact method, low contact resistance can be realized and good measurement reproducibility is obtained, and needle tip made of nickel material can be manufactured. Please contact us for pitch of 100 μm or less, large current probe for car electronics etc. It has low loss, high repeatability and high durability, and has its own performance by patented coaxial structure and patented bypass capacitor method etc. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioner [Features] ■ Strong structure and high performance The signal part of the Picoprobe has a continuous coaxial structure from the connector part to the needle tip. This continuous coaxial structure is excellent in signal transmission characteristics and can reliably transmit a signal to the peak frequency region. In addition, the attached needle tip is hardly affected by the resonance caused by external vibration, and is also strong against overloading when attaching to the needle tip. ■ Various styles Several styles are available for the Picoprobe for measuring various sample shapes such as flat board and package. ■ Easy needle probe The tip of the grant attaching to the DUT of the Picoprobe has a spring-like structure. In contrast, a fixed gap is made between the fixed signal line needle tip and the ground needle portion. Because this gap can be used as a guideline for needle guarding, you can always contact in a stable state. ■ Point contact The tip of the Picoprobe has a point shape so that stable contact is always obtained. It ensures the reliable measurement because it repels the oxide film of the object and reduces misalignment error occurring when contacting the needle tip. Function comparison table of picoprobles for microwave

プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェーハや基板金属薄膜等のシート抵抗、または、抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲測定に対応しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　抵抗率測定器 抵抗率測定器（シート抵抗測定器） 半導体・液晶 前工程（検査） 　プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェハやLCD基板、金属薄膜等のシート抵抗、または、体積抵抗を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲な測定に対応しています。 <用途> 1) シリコンインゴット製造 　➤ウェハ製造工程（膜形成等様々な処理工程）における製品検査用　 2) 液晶パネル（LCD基板）製造：成膜時の製品検査用 3) 幅広い電気導電性部材の製造過程での製品検査用 ※当社の 「4探針プローブ」を用いて測定が可能です。 【関連製品】4探針プローブ Model Σ- ∞ (sigma eight) Model sigma-5+ 　シリコンウェハ等の抵抗率を正確に測定することができます。 　 　抵抗率測定に関する20年以上のノウハウと技術を活かし設計開発された高精度な抵抗率測定器です。 　半導体基板並びに導電性薄膜基盤等の研究開発・検査工程、または製造ラインにおいての、シート抵抗値や体積抵抗値を高確度に求め、評価することが出来ます。 ※写真は試料台RG-5との組合せです。 【カタログ】sigma-5+ [基本仕様] [特長] ・細かい設定が可能なスイッチ機能のインテリジェントパネル ・デスクサイズのコンパクト設計 ・低抵抗〜高抵抗対応のワイド測定レンジ ・整流性による誤差を抑える電流極性切替え測定 ・測定開始毎の自動ゼロ調整機能 ・最適な電流を自動設定するオートレンジ機能 ・試料の厚み補正機能 ・測定値平均値表示とプリンタ平均値演算機能 ・半導体用の温度補正機能 ・各種温度補正係数入力機能 ・データプリンタ用インターフェース付 ・データ接続用インターフェース付 ・試料テーブルの選択が可能 <基本仕様> ■ 薄膜向けハンディタイプ・シート抵抗測定器/抵抗率測定器 ※この製品は現在販売を停止しております ハンディタイプ・シート抵抗測定器SRM-232は４探針プローブを使用して、絶縁物上の導電性薄膜シート抵抗を測定することができます。また、抵抗率測定器PV-628は太陽電池基板等のSi半導体の抵抗率測定が可能です。いずれもの機種もデータセーブ・パソコンへのデータ出力ができ、電源は電池式のオートパワーオフ機能付です。 【カタログ】ハンディタイプ ■ ハンディタイプ ・抵抗率測定器　Model　PV-628 MODEL PV-628は太陽光発電用シリコン等の抵抗率測定に特化させたハンディタイプの4探針法測定器です。電源に電池を使用しているため持ち運びが容易で、測定物の形状や大きさの制限がなく、手軽に測定を行うことができます。 【カタログ】PV-628

MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes.  Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are  required lab systems which have the versatility as test fixtu Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Jig tool for Microwave Testing Jig tool for Microwave Testing Microwave Measurement MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes. Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are required lab systems which have the versatility as test fixtures. 【Related products】Picoprobe for I.C ・ Picoprobe for Microwave ■ Simple test stand MTF-100 The MTF-100 series is a test jig for evaluating characteristics by fixing and mounting small circuit boards and parts with microwave transmission lines. It is designed to be small but high precision and strong structure, and microwave evaluation test with low loss microwave probe set to 2 ports can be performed. Moreover, it is a small space design and you can carry around, and you use it anywhere. Probe used for the MTF-100 series select the pitch between the signal and the ground in the range of 50 microns to 2540 microns in order to correspond to the micro - electrode part. You are able to have a test of the frequency band up to 67 GHz by system up of the network analyzer. MTF-100.pdf GT-1100 (4 "compatible) GT-1100.pdf MODEL GT-1100 is a table-size standard test table which equips a low-loss microwave probe for measuring electrical characteristics of transmission circuit components in the microwave range (dc - 40 GHz) and a vacuum chuck that can fine - position the sample. You can conduct a measurement (50 - 110GHz) with optional probes. Because the MODEL GT-1100 is set with high-performance accessories such as probes required for measurement, it is excellent in cost performance and is the optimum measurement system in the research and development field. ■ Test stand for waveguide probe (GT-3000) ■ Test stand for tuner (GT-1502) The GT-3000 and GT-1500 series are test beds designed for efficient measurement using waveguide probes. The connection between the waveguide probe (millimeter wave band) and the tuner equipment etc. can be done at the shortest position, and you can reduce the loss. Also, since you can move the probe and instrument at the same time, it is suitable for the measurement using a waveguide probe. Custom-made is also welcome.

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 公司简介 联繫我们 产品的相关资讯，请联繫我们 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司简介 经营项目（主要产品） 1.用于电阻率测量仪器如半导体和薄膜层的四点探针相关器材 2.半导体，液晶薄膜的片电阻率测量仪 3.用于征半导体IC（ULSI，VLSI等）的高性能探头 4.微波测量探头和测量装置 5.测量，实验，手动和电动，直线旋转式滑动产品 6.探针，划线点 7.激光干涉仪系统 经营理念 我们精心挑选我国工业技术的发展和不可或缺的高科技设备和材料为您服务。 此外，我们会努力听取客户的意见和要求，为近年来的行业发展作出贡献。 作为小生意伙伴，我们将随时注意产业发展趋势，实现合理化，降低成本。 我们将以“更优惠的价格，快速的交货日期提供更优质的服务并且希望我们的客户意识到我们重要性，让我们为社会做出贡献。 代表董事 中村勇人

​私たちは、専門知識、技術、技能を持ったバイタリティあふれる経験者の方を求めています。 自由な社風の中であなたの能力を発揮してください。 採用情報 採用情報 　当社の採用情報ページをご覧いただき、誠にありがとうございます。 　私たちは、革新と協力を通じて未来を切り開く、意欲的な人材を求めております。多様なバックグラウンドを持つ社員が一丸となり、挑戦を力に変える環境を整えております。 　あなたの専門性と情熱を活かし、私たちと共に新たな価値を創出する一員となりませんか。皆様のご応募を心よりお待ち申し上げております。 企業名 エヌピイエス株式会社 募集職種・業務内容 営業技術部　２名 　 ・自社製品の電気・電子回路設計・製造技術管理、取扱い製品に関す る 技術的な業務のバックアッ プ。 ※主に半導体部品やマイクロ波部品等の検査測定で使用する器具 ・ 大手電機メーカー、大学、研究機関等のお客様との折衝 勤務時間 9:00-18:00（亀戸本社） 休憩時間は労基法に基づき1時間 研修期間はフレックス可 雇用形態 正社員 勤務地 ＜東京：本社＞ 〒136-0071 東京都江東区亀戸6-12-4 ※JR総武線「亀戸」駅徒歩5分、東武亀戸線「亀戸」駅徒歩6分、都営新宿線「西大島」駅徒歩10分、都営バス「亀戸駅通り」徒歩1分 資格 ・普通自動車免許 ・日常会話程度の英語または中国語 給与 前職の経験等を踏まえ、当社の規定により決定 賞与 年2回 (7月・12月）業績・実績に応じる 昇給 年1回 (4月） 福利厚生 各種手当：通勤手当、扶養手当、出張手当、 　　　　　健康診断手当、健康維持補助手当 各種制度：フレックス退勤制度、出産育児休職制度 各種保険：健康保険、厚生年金、雇用保険、労災保険 選考方法 面接回数：2回 選考フロー：書類選考⇒1次面接⇒最終面接⇒内定 休日・休暇 完全週休2日制（土・日）、祝祭日、年末年始、GW、年次有給休暇（初年度10日を4月付与）・慶弔休暇 受動喫煙防止策 敷地内完全禁煙 応募する

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　IC接触探头 IC接触探头 半导体・液晶 作业后的检查 0.65毫米，1.27毫米，2.54毫米间距用于IC检测的其他接触式探头，其它例如SOP，SSOP等。它安装在IC测试处理机上并用。 它耐用，可以低运行成本使用。 电极（针）材质在铍铜上镀金。 除此之外，也可製作钯合金，钨製造。

適格請求書発行事業者登録番号について 　インボイス制度の適格請求書発行事業者登録をいたしました。 登録番号 T9010601024421 　「国税庁インボイス制度適格請求書発行事業者公表サイト 」からもご確認いただけます。

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for IC Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC By using the Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for IC, the internal voltage of the IC can be measured accurately.Picoprobe is for IC voltage measurement which keeps the stray capacitance value of the probe itself to the utmost limit and further bring the impedance close to the infinite value. This minimizes the load on the measuring device and enables measurement to be performed faithfully. Not only Models 35 which is the world's fastest FET probe, but also we prepare many other models corresponding to each measurement mode. Picoprobe is a worldwide standard instrument as a tool for analytical measurement in integrated circuit design field.We will also correspond with adapters etc. so that they can be used with probers of each manufacturer. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioners [Function comparison table for Picoprobe (FET probe)]