GGB社のマイクロ波プローブは他社製のマイクロ波プローブと異なり、触針先端までが同一導線による完全同軸構造により製作されております。 （GGB社特許） グランド、シグナル部の触針先端はエッジコンタクト式となっており、酸化膜や硬度のある接触面に良好な接触が実現できるため、オンウェーハ等のアルミ電極においても低接触抵抗による高精度測定が可能となります。 この触針構造によりあらゆる形体のパッケージやDUTに対応すべく形状（例VPスタイル）を用意しております。 特注対応での非磁気性構造(非磁性)仕様のタイプも製作しております。 マイクロ波用ピコプローブとは 　GGB社のマイクロ波用ピコプローブは他社製のマイクロ波用プローブと異なり、触針先端までが同一導線による完全同軸構造により製作されています。 （GGB社特許） 　 　グランド(G)、シグナル(S)部の触針先端はエッジコンタクト式となっており、酸化膜や硬度のある接触面に良好な接触が実現できるため、オンウェーハ等のアルミ電極においても低接触抵抗による高精度測定が可能です。 　 　この触針構造によりあらゆる形体のパッケージやDUTに対応すべく形状（例VPスタイル）を用意しています。また、 特注対応での非磁気性構造(非磁性)仕様のタイプも製作しています。 　マイクロ波用プローブと共に使用されるDC用マルチコンタクトについては高周波測定における共振等の影響を考慮するため、触針直近にチップコンデンサーや抵抗を配置し取付けるGGB社の特許方式により製作されております。 中村＠NPS

米国GGB社製マイクロ波プローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 ピコプローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。 その他、100μm以下のピッチ、カーエレクト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ) マイクロ波計測 　米国GGB社 製マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 　高周波プローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 　 　板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。その他、100μm以下のピッチ、カーエレクトロニクス用大電流プローブ等もご相談ください。 　 低損失・高再現性・高耐久性を備えており、特許式同軸構造と特許式バイパスキャパシター方式等により独自の性能を確保しています。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー 【主な取扱製品】MODEL 40M,MODEL 40A･50A･67A,MODEL 110H,MODEL 145A 総合カタログ MODEL10カタログ マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 [特長] ■強固な構造とハイパフォーマンス 　ピコプローブのシグナル部分は、コネクター部分から針先まで連続した同軸構造となっています。この連続同軸構造は、信号伝送特性に大変優れていてピーク周波数領域まで確実に信号を伝達させることができます。また、接触中の針先は外部からの震動による共振の影響を受けにくく、針先接触時のオーバーロードに対しても強固な作りとなっています。 ■豊富なスタイル 　ピコプローブは、フラット基板、パッケージ など各種試料形状の測定用に合わせて 数種類のスタイルを用意しております。 ■針当てのやり易さ 　ピコプローブのＤＵＴと接触するグラントの針先は、スプリング性を持つ構造となっています。これに対し固定された信号線用の針先とグランド針部に一定のギャップを持たせ、このギャップを目安に針当てが行えるため、常に安定したコンタクトが行えます。 ■ポイントコンタクト 　ピコプローブの針先は、常に安定した接触が得られるようにポイント形状となっています。 測定物の酸化膜をはじき良好な接触が得られ、また、針先のコンタクト時に生じる位置ずれ誤差を少なくさせ、確実な測定が保証されます。 マイクロ波用ピコプローブをもっと知る RFピコプローブ　MODEL 40A マイクロ波計測 ・高耐久性RFプローブ40GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブシリーズ、GSG、GS、SG、または「デュアル」構成 （デュアル＝1ポジショナーに2プローブ） ・DC～40 GHz　挿入損失0.8 db未満　リターンロス18db以上　測定再現性-80db以上 ・これらのプローブは、25µmから2540µmまでのさまざまなピッチで入手可能 ・マイクロポジショナー用のさまざまな取り付けスタイル ・メス型Kコネクター2.9mm ・BeCu、ニッケルまたはタングステンで入手可能 ・非磁性オプション、高温および高電流／高電圧バージョンについては、お問い合わせください。 定番製品 40A-GSG-125-C 　GGB社のMODEL 40Aマイクロ波プローブは、マイクロ波プロービング性能の新しい標準を打ち立てます。低損失同軸技術を使用し、40GHzまで0.8db以下の挿入損失と18db以上のリターンロスを達成しました。 　ベリリウム銅、タングステン、ニッケルの各チップが個別にスプリング装填されているため、非平面構造のプローブでも信頼性の高いコンタクトが得られます。この信頼性の高い低抵抗コンタクトは、再現性の高い測定を提供する鍵の一つです。 　 　40A型マイクロ波プローブは、正確な位置決めのためにプローブ先端を直接見ることができます。 MODEL40Aは、標準的なマイクロ波プローブステーションで使用するために、様々なアダプターに取り付けることができ、また、プローブカードやマルチコンタクトウェッジのDCプローブニードルで使用するために、薄いブレードに取り付けることができます。カスタムマウントも可能です。 　ピッチ（先端間隔）は、25µmから2540µmまでご指定いただけます。プローブは、接地-信号-接地（G,S,G）、接地-信号（G,S）、信号-接地（S,G）の先端チップで構成できます。 　MODEL40Aへの接続は、3.5mmコネクタ互換のメスKコネクタ（2.9mm）を通して行います。 　13種類のアダプタースタイルから選択。T、C、GR、P、DP、EDP、LP、Q、F、S、DS、VP、またはRVPをご指定ください。用途に適した取付タイプをお選びください。P、DP、EDP、LP、Q、S、DS、VP、RVPの各タイプは、コネクタが45度の角度で後ろを向いており、プローブ上部の作業領域が広くなっています。DP、EDP、DS、VP、および RVP スタイルは、プローブの下に余分なクリアランスが必要な場合に使用します。DP、EDP、DSスタイルのプローブを使用する場合、プローブの取り付け角度が大きくなるため、プローブの位置決めが難しくなります。カスタム取付スタイルも可能です。 RF校正基板 マイクロ波計測 校正基板選択ガイド [特長] 高精度測定を可能にするRFプローブ用校正基板シリーズです ・正確なSOLT、LRL、LRM校正をサポート ・プローブピッチ・レンジは30～2,540µm ・DC～220 GHzのすべてのGGBプローブに適合 ・GSGSG、GSSG、SGSチップ配列に使用可能 ・金メッキパッド　25 mil（635µm）厚のアルミナ基板 定番製品 CS105 ：GSGプローブ用、ピッチ範囲75～250 µm SOLT = ショート・オープン・ロード・スルー LRL = Line-Reflect-Line（TRL=Through-Reflect-Lineに相当する） LRM = Line-Reflect-Match（TRM=Through-Reflect-Matchと同じ意味です） LCP18　　 マイクロ波計測 製品LCP18カタログ.pdf [特長] 　低価格でお求めやすいdc~18GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブです。 チップが独立して動きます。グランドチップとシグナルチップは、互いに独立してZ軸上を上下します。 　PCBやBGAのような大きなパッドやバンプを持つデバイスや、非平面の表面を持つデバイスのテストに最適です。 　プローブは、100µmから2500µmまで25µm間隔で異なるピッチで入手可能です。 ・コネクター部　SMA ・プローブ先端　GSG GS SG ・ポジショナー用の様々な取り付けスタイル　DP　EDP　S　DS ・非磁性オプションについては、お問い合わせください。 ・挿入損失<0.4dB※　（200umピッチのプローブの場合、1250µmピッチで約0.9dB） 定番製品 -GSG-150-DP GSG構成、150µmピッチ、BeCu製チップ、取り付けスタイルDP 250umまでのピッチでは、各先端の接触面積は約40x40um 275umから600umのピッチでは75x75um、625umから3000umのピッチでは150x150umです。 使用により先端が摩耗しても、接触面積の大きさ（例：40x40um）は変わりません。 LCP18は OPT 5を必要とせずに約75Vを扱うことが可能です。 高出力回路用の40KVは標準で約150Vに対応（100W　28GHｚ）OPT 5を追加してより高い電圧を扱うことも可能です。

プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェーハや基板金属薄膜等のシート抵抗、または、抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲測定に対応しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　抵抗率測定器 抵抗率測定器（シート抵抗測定器） 半導体・液晶 前工程（検査） 　プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェハやLCD基板、金属薄膜等のシート抵抗、または、体積抵抗を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲な測定に対応しています。 <用途> 1) シリコンインゴット製造 　➤ウェハ製造工程（膜形成等様々な処理工程）における製品検査用　 2) 液晶パネル（LCD基板）製造：成膜時の製品検査用 3) 幅広い電気導電性部材の製造過程での製品検査用 ※当社の 「4探針プローブ」を用いて測定が可能です。 【関連製品】4探針プローブ Model Σ- ∞ (sigma eight) 変わらない安心と精度、そして無限(∞)の可能性へ 「Sigma-5＋」の確かな実績を継承し、測定の極限へ挑むフラッグシップモデル誕生 sigma-eight 　シリコンウェハ等の抵抗率を正確に測定することができます。 　 　抵抗率測定に関する30年以上のノウハウと技術を活かし設計開発された高精度な抵抗率測定器です。 　半導体基板並びに導電性薄膜基盤等の研究開発・検査工程、または製造ラインにおいての、シート抵抗値や体積抵抗値を高確度に求め、評価することが出来ます。 ※写真は試料台RG-5との組合せです。 完全な上位互換性（安心のシームレス移行） 既存の測定治具（プローバー）や測定プログラムの再設計・大幅変更は不要です。既存環境へそのまま導入していただけます。 「∞（インフィニティ）」がもたらす極限の安定性と高耐久 連続評価試験においても熱ドリフトや接触不良を抑え、再現性の高い測定データを提供し続けます。 極限まで高められた伝送クオリティ 広帯域にわたる低挿入損失（Low Insertion Loss）と優れた反射損失（Return Loss）特性を実現。高周波測定におけるノイズ要因を削ぎ落とし、デバイス本来の特性を鮮明に描き出します。 最新のグローバル環境規制に適合 最新の環境コンプライアンスにも対応し、製造ライン・研究開発の双方で長く安心してお使いいただけます。 Model sigma-5+ [基本仕様] [特長] ・細かい設定が可能なスイッチ機能のインテリジェントパネル ・デスクサイズのコンパクト設計 ・低抵抗〜高抵抗対応のワイド測定レンジ ・整流性による誤差を抑える電流極性切替え測定 ・測定開始毎の自動ゼロ調整機能 ・最適な電流を自動設定するオートレンジ機能 ・試料の厚み補正機能 ・測定値平均値表示とプリンタ平均値演算機能 ・半導体用の温度補正機能 ・各種温度補正係数入力機能 ・データプリンタ用インターフェース付 ・データ接続用インターフェース付 ・試料テーブルの選択が可能 <基本仕様> ■ 薄膜向けハンディタイプ・シート抵抗測定器/抵抗率測定器 ※この製品は現在販売を停止しております ハンディタイプ・シート抵抗測定器SRM-232は４探針プローブを使用して、絶縁物上の導電性薄膜シート抵抗を測定することができます。また、抵抗率測定器PV-628は太陽電池基板等のSi半導体の抵抗率測定が可能です。いずれもの機種もデータセーブ・パソコンへのデータ出力ができ、電源は電池式のオートパワーオフ機能付です。 【カタログ】ハンディタイプ ■ ハンディタイプ ・抵抗率測定器　Model　PV-628 MODEL PV-628は太陽光発電用シリコン等の抵抗率測定に特化させたハンディタイプの4探針法測定器です。電源に電池を使用しているため持ち運びが容易で、測定物の形状や大きさの制限がなく、手軽に測定を行うことができます。 【カタログ】PV-628

​​エヌピイエス株式会社公式サイト | NPS,Inc. | 半導体検査測定機器 | 4探針ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 抵抗率測定器 | 高周波ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | RFﾌﾟﾛｰﾌﾞ | ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 米国GGB社総代理店 ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 高周波プローブ ４探針プローブ ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 1/6 新精密技術を追求する！ 　半導体や電子工業分野で求められる検査測定機器や製造装置の輸出入、製造・販売を行っています。 　「新技術」から生まれる「精密さ」にこだわり、その追求を通じてお客様に最高の価値を提供いたします。 　当社の製品は、半導体や液晶関連など、特に高い精度が要求される分野で広く活用されています。 4-Point Probe N ews お知らせ 26/08/04　TWHM 2026出展のお知らせ 26/07/01　夏季休業のお知らせ 26/06/26　MWE2026(マイクロウェーブ展)出展のご案内 26/04/13　 GW休業のお知らせ 26/01/01　設立55周年のご挨拶と御礼 「トランジスタ技術」「インターフェース」掲載内容について 「Metoree」当社掲載内容について セール品の販売について ※2025年のお知らせ P roducts 製品 抵抗率測定器 ４探針法を用いて金属薄膜等のシート抵抗、または抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。 ４探針プローブ ４探針プローブの取扱い開始から半世紀、抵抗率を測定するための高精度な半導体プローブとして、世界的に認められております。 IC用ピコプローブ 測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。 マイクロ波用ピコプローブ 米国GGB社独自の連続式同軸構造による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。 ➤ 製品一覧はこちら マイクロ波テスト台 マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 プローブニードル パラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。タングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 SEMICON JAPAN 1977-2026 　当社は、半導体製造･検査装置の総合展示会 SEMICON JAPAN（セミコンジャパン）に第１回より出展しています。 Learn More ➤SEMICON JAPAN

通電用コンタクト素材としてパラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のニードルです。 タングステンと同等の機械特性を持ち、ベリリウム銅より優れる電気特性を有しているため、安定した接触が得られます。 太さは0.2mm～0.7mmの間で十数種類用意されております。 その他、LED用にオスミウム合金、通常半導体電極用としてタングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 特に標準在庫品のタングステンニードル,　ブレードニードルは低価格で大変お奨めです。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　プローブニードル プローブニードル 半導体・液晶 後工程（検査） 　通電用コンタクト素材としてパラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。 　タングステンと同等の機械特性を持ち、ベリリウム銅より優れる電気特性を有しているため、安定した接触が得られます。 　太さは0.2mm～0.7mmの間で十数種類用意されております。 　その他、通常半導体電極用としてタングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。特に標準在庫品のタングステンニードル,　ブレードニードルは低価格で大変お奨めです。 ※オスミウム(S)素材のニードルにつきましては、販売を終了しております。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー Pニードル (パラジウム合金針) 　Pニードルは下記含有金属の素材を使用して国内で精密加工しております。 　パラジウムニードルは低摩耗、低接触抵抗、耐久性に優れ、50年以上前から電極素材として用いられており、その素材特性から多くのフィールドで使用されております。 ASTM B540に準拠した電極素材です。 含有金属(約)：パラジウム(35％) 　　　　　　　銀(30％) 　　　　　　　金(10％) 　　　　　　　プラチナ(10％) 　　　　　　　銅(14％) 　　　　　　　他(1％) 個体抵抗率：30μΩcm- 伝導率：5.5（％ l ACS） ヌープ硬度：350-410 溶解温度：1015℃ プローブニードル.pdf T-４ニードル (サブミクロン用) 　様々なプロービングに使用できるように製作されたT-4ニードルです。 　ピコプローブ用のウィスカーニードルを使用しているため、レーザーカッターにより開けられたSiO2上のサブミクロンホールにも回路の損傷なく針当てができます。 　一般的なニードルは軸部分が太いため、軸にかかる負荷が針先に集中し、針先が変形 しやすくなります。 この変形は、DUT への接触時に不具合の原因となります。 　 T-4 ニードルは軸部分が数十ミクロンと細く設計されており、軸が撓むことで 過大な負荷が針先にかからず 安定した接触が可能です。そのため、数ミクロンレベルの配線回路への接触に適して います。 　主にFIB（集束イオンビーム）で作られた集積回路、電極、ミニ電極のポイント測定によく使用されます。その中でも、T-4-10とT-4-22はウィスカー径が細く、曲げ弾性に優れているため、チップ電極へのダメージを軽減し、振動環境下でも電極との接触が良好であるためお客様からの評価が高いモデルです。 　直径0.5mmの軸部は手で曲げることができ、任意の形状に加工して使用できます。1セット5本入りでお求めやすい価格で提供しております。 　T-4ニードルは標準的な市販のマイクロポジショナーで集積回路、パッド、ラインのプロービングに使用できます。各ニードルはGGB社の12Cピコプローブと同じ直径10、22、35、60、125ミクロンのタングステン・ワイヤーを使用しています。 　一部のユーザーから指摘されている10ミクロンと22ミクロンのモデルの利点はタングステン・プロービング・ワイヤーが細く柔軟であるため、集積回路へのダメージを最小限に抑えより長い時間デバイスをプロービングできることです。フレキシブルなT-4ニードルは作業台の振動があっても回路との接触状態を維持します。 　T-4ニードルは静電容量負荷が問題となるような高感度ノードへの使用は推奨されません。代わりに高インピーダンスピコプローブをご使用ください。 T-4ニードル.pdf 突き上げピン 　ICチップなどの部品用の突き上げピンをタングステンカーバイトやピアノ線で低価格にて製作しております。 素材：タングステンカーバイト・ステンレス・ピアノ線等（素材はご相談ください） 　各種素材を均一に研磨加工し、高品質のピンをご提供しております。微小部のカッティング等にもご使用いただけます。

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Company Profile Contact Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, specifications etc. Phone: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp Outline Enlarged View (Google Maps) 5 minutes walk from JR Kameido Station 15 minutes walk from Toei Shinjuku LIne Nishi-Ojima Station Business items (main handled products) 1. 4-point probes and related devices for resistivity measuring instruments such as semiconductors and thin film layers 2. Sheet resistivity measuring instrument for semiconductor, liquid crystal thin film 3. High-performance probe for characterization of semiconductor IC (ULSI, VLSI, etc.) 4. Measurement probe and measurement device for microwave 5. Slide products for measurement, experimental, manual and electric linear/rotating type 6. Probe needle, scrape point 7. Laser interferometer system Management policy We select high-tech equipments and materials indispensable for the advancement of industrial technology in our country widely from domestic and overseas, and provide customers those equipments and information. In addition, we listen to customers' opinions and requests to contribute to the development of industry. As a partner, we carefully see the world trend, so that we help our customers' business more efficiently and achieve cost cutting. We promote consistent management with the motto "We will deliver better products at a lower price with an earlier delivery date". We define our value as the contribution to the development of our customers. President Hayato Nakamura

ICのボンディングツールとして使用されるキャピラリー用の素材を用意しております。 素材はタングステンカーバイトです。ご要望によりカスタム仕様のキャピラリーの製作も承っております。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　キャピラリー素材 キャピラリー素材 その他関連部材 　ICのボンディングツールとして使用されるキャピラリー用の素材を用意しております。 　素材はタングステンカーバイトです。ご要望によりカスタム仕様のキャピラリーの製作も承っております。 　また、セラミック、TC素材を使用したノズル、ワイヤーガイド等のアセンブル製品のカスタム製作も承ります。 例：塗装用超硬ノズル、ハンダボールディスペンサー、ピックアップツール。 <仕様> L=12mm　Dia=1.58mm　d1=1.0mm その他の寸法はご相談下さい。

MTF-100、並びにGT-1100は、マイクロ波基板の測定が行なえる小型で簡易タイプのテスト台です。同軸タイプのRFプローブとオプションによりDCプローブの使用ができ、持ち運びが可能なため測定場所を選ばず計測作業が行なえます。いずれもテスト台としての汎用性を有したラボニーズのシステムです。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波テスト治具 マイクロ波テスト台 マイクロ波計測 　MTF-100、並びにGT-1100は、マイクロ波基板の測定が行なえる小型で簡易タイプのテスト台（プローバー）です。同軸タイプのRFプローブとオプションによりDCプローブの使用ができ、持ち運びが可能なため測定場所を選ばず計測作業が行なえます。いずれもテスト台としての汎用性を有したラボニーズのシステムです。 【関連製品】IC用ピコプローブ ・マイクロ波用ピコプローブ MTF-100 　MTF-100 シリーズは、マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 　小型ながら高精度で強固な構造に設計されており、低損失マイクロ波プローブを2ポートにセットしてのマイクロ波評価テストが行えます。また、小スペース設計により持ち運びができ、測定場所を選びません。 　MTF-100 シリーズに使用するプローブは、微小電極部に対応させるため、シグナルとグランドとのピッチ間隔を50ミクロンから2540ミクロンの範囲で選択でき、ネットワークアナライザのシステムアップにより最大67GHzまでの周波数帯域でテストが行えます。 MTF-100 GT-1100 (4"対応) 　MODEL GT-1100はマイクロ波領域（dc～40GHz）における伝送回路部品の電気特性測定を行なうための低損失マイクロ波プローブと、試料を微動位置決めさせることが可能な真空チャックを標準装備したテーブルトップサイズのテスト台です。オプションのプローブにより（50～110GHz）の測定にも対応することができます。 　MODEL GT-1100は計測に必要となるプローブ等の高性能付属品をセットにしている為、コストパフォーマンス性に優れ研究開発分野においての最適な測定システムとなっています。 GT-1100 ■ 導波管プローブ用テスト台 (GT-3000) ■ チューナー用テスト台 (GT-1502) 　GT-3000、GT-1500シリーズは導波管プローブを使用して効率的に測定が行なえるよう考慮され設計されたテスト台です。 　導波管プローブ（ミリ波帯）とチューナー機器等との接続が最短の位置で行え、損失の低減が可能となります。また、プローブと機器とが同時に動かせるため、導波管プローブを使用しての計測に適しています。カスタムオーダーメイドも歓迎です。

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for IC Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC By using the Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for IC, the internal voltage of the IC can be measured accurately.Picoprobe is for IC voltage measurement which keeps the stray capacitance value of the probe itself to the utmost limit and further bring the impedance close to the infinite value. This minimizes the load on the measuring device and enables measurement to be performed faithfully. Not only Models 35 which is the world's fastest FET probe, but also we prepare many other models corresponding to each measurement mode. Picoprobe is a worldwide standard instrument as a tool for analytical measurement in integrated circuit design field.We will also correspond with adapters etc. so that they can be used with probers of each manufacturer. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioners [Function comparison table for Picoprobe (FET probe)]

我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 Home 产品 关于我们 English 日本語サイト 追求新的精密技术 1/6 我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。 我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。 我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 ➤ 询问 4-needle probe 4-needle probe Microwave Test Stand 4-needle probe 1/5 Product 产品 电阻率测量仪 手动式测量仪，采用四探针法简单而准确地测量金属薄膜等的片状电阻或电阻率。 详细内容 集成电路Pico探头 在测量设备负荷最小的情况下进行测量，从而确保忠实再现数字波形。 详细内容 4-探头 在开始使用四点探头半个世纪后，它们已成为全球公认的测量电阻率的高精度半导体探头。 详细内容 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 　 我们自半导体制造和测试设备综合展览会 「SEMICON JAPAN」 创办以来一直参展。在此，我们对多年来给予我们大力支持的众多客户表示衷心的感谢。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　P/N決定器 P/N決定器 半導體・液晶 前置作業檢查 P / N決定器是一種能夠通過整流方法或熱電勢，容易地判斷矽半導體的PN的類型測試器。 P型 - N型矽晶片可以很容易地判斷，並且可以對樣品例如N上的P進行判斷。 簡單的手動型，結合矽晶片和矽錠，特色是價格低廉。 <如何使用> 對於晶圓：在要檢測的晶圓表面放置在平台上，輕輕按下，不會損壞晶圓，您可以輕鬆判斷PN。 對於鐵錠：只需將熱探針按壓在樣品表面，便可輕鬆判斷PN。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　雷射干涉儀 雷射干涉儀 半導體・液晶 前置作業檢查 半導体・液晶 作業後的檢查 作為EXCEL PRECISION（EXCEL PRECISION，USA）在日本的經銷商，我們代理電射干涉儀設備， 結合使用穩定塞曼效應和光學外差探測/信號處理器的雙頻He - Ne雷射系統，可以測量0.3納米的最小讀數分辨率的高度準確和可靠的測量，並且還可以實現低成本系統。EXCEL PRECISION有限公司作為獨立設計和製造的雷射干涉測量儀器的行業中建立了自己的地位。 我們在全球擁有超過5000台以上的實績。 我們不僅製造標準正規產品，依客戶的要求接受訂製的系統。第三選擇。EXCEL PRECISION公司的雷射干涉儀 您的機器。 會發出怪聲音嗎？ 如果您有EXCEL PRECISION以司的雷射干涉儀，您可以檢查納米級別的精度。 ■1100B 6元素校正系統 1100 B雷射校正系統主要用於機械的質量管理。 一次最多可以檢測到5個元素，並且檢測後形成表格化。 ■1550角度感測器 1550A角度感測器可以測量表面和Z驅動部件的微小位移，不會受到顏色和反射率的影響。