​私たちは、専門知識、技術、技能を持ったバイタリティあふれる経験者の方を求めています。 自由な社風の中であなたの能力を発揮してください。 採用情報 採用情報 　当社の採用情報ページをご覧いただき、誠にありがとうございます。 　私たちは、革新と協力を通じて未来を切り開く、意欲的な人材を求めております。多様なバックグラウンドを持つ社員が一丸となり、挑戦を力に変える環境を整えております。 　あなたの専門性と情熱を活かし、私たちと共に新たな価値を創出する一員となりませんか。皆様のご応募を心よりお待ち申し上げております。 企業名 エヌピイエス株式会社 募集職種・業務内容 営業技術部　２名 　 ・自社製品の電気・電子回路設計・製造技術管理、取扱い製品に関す る 技術的な業務のバックアッ プ。 ※主に半導体部品やマイクロ波部品等の検査測定で使用する器具 ・ 大手電機メーカー、大学、研究機関等のお客様との折衝 勤務時間 9:00-18:00（亀戸本社） 休憩時間は労基法に基づき1時間 研修期間はフレックス可 雇用形態 正社員 勤務地 ＜東京：本社＞ 〒136-0071 東京都江東区亀戸6-12-4 ※JR総武線「亀戸」駅徒歩5分、東武亀戸線「亀戸」駅徒歩6分、都営新宿線「西大島」駅徒歩10分、都営バス「亀戸駅通り」徒歩1分 資格 ・普通自動車免許 ・日常会話程度の英語または中国語 給与 前職の経験等を踏まえ、当社の規定により決定 賞与 年2回 (7月・12月）業績・実績に応じる 昇給 年1回 (4月） 福利厚生 各種手当：通勤手当、扶養手当、出張手当、 　　　　　健康診断手当、健康維持補助手当 各種制度：フレックス退勤制度、出産育児休職制度 各種保険：健康保険、厚生年金、雇用保険、労災保険 選考方法 面接回数：2回 選考フロー：書類選考⇒1次面接⇒最終面接⇒内定 休日・休暇 完全週休2日制（土・日）、祝祭日、年末年始、GW、年次有給休暇（初年度10日を4月付与）・慶弔休暇 受動喫煙防止策 敷地内完全禁煙 応募する

It is a precision slider (XY table) that can be used in a small place as a fine positioning / inspection table. We have various kinds available. There is no blurring and rattling, and it is made to have high rigidity. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Positioning Precision Machinery 　>　X-Y Slider Tables X-Y Slider Tables Positioning Precision Machinery It is a precision slider (XY table) that can be used in a small place as a fine positioning / inspection table. We have various kinds available. There is no blurring and rattling, and it is made to have high rigidity. 　VELMEX, INC. Nonmagnetic XY table (photo is an example)

GGB社製 マイクロ波用RFプローブ　機能比較表 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ 　>　機能比較表 マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 マイクロ波プローブ 校正用基板（マイクロ波プローブ用） 校正用基板（ >110GHz用） 校正用基板（デュアルタイププローブ用）

製品の技術相談・機種選定・仕様など、お気軽にお問い合わせください。 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 NPS株式会社 採用応募フォーム 送信 Send ※このメールアドレスへの特定電子メールの送信を拒否いたします。 電話やメール、当サイトのフォームを利用した当社への売り込みの一切をお断りしています。 特にお問い合わせフォームを利用した売り込みが多くみうけられます。 当社のフォームは当社の既存のお客さまからの連絡や、お悩みのお客さまなどからのお問い合わせを目的として設置したものです。 売り込みはこの目的外の利用であり当社業務の阻害要因となることから、サイトポリシーの記載とおりフォームを利用した売り込みの一切を固く禁止いたします。 お問い合わせフォームを利用して、繰り返し売り込みをおこなう企業様には、しかるべき対応を取らせていただく場合があります。 　 お問い合わせいただき誠にありがとうございます。担当者確認の上、追ってご連絡いたしますので、今しばらくお待ちいただきますようお願いいたします。Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Four point probe Are you having problems with your 4- point probe? NPS can solve that problem for you! In this article, we will focus on the four-point probe. A standard instrument in use for over 40 years. The four-point probe was developed by A&M FELL of the UK in the 1960s as an electrode for measuring the resistivity of semiconductor materials. Later, the company was acquired by Kulick & Soffer, a major U.S. manufacturer of semiconductor equipment, which took notice of its performance and began selling it, and it became a tool widely used worldwide. In Japan, NPS (formerly known as Nakamura Precision Shokai) started selling the product in 1971, and introduced it to semiconductor manufacturers and equipment manufacturers. At that time, it was still difficult to find a simple and stable way to measure the resistivity of silicon wafers, and engineers quickly recognized the FELL probe as an important tool to solve the problem of semiconductor resistivity measurement, along with the development of measuring instruments. After repeated prototyping until the completion of the FELL probe, we established a design concept that predicted the next several decades and a theoretical structure that enabled high-precision measurement, and succeeded in creating a four-pronged probe that could be used with today's diversified objects to be measured. Later, the patented FELL probe became a worldwide standard instrument used by semiconductor and device manufacturers. (There was an episode where the engineers who were involved in the development of the probe created a separate company to market the probe because it was so good even at the prototype level, but in the end, the difference in performance and durability was so great that it could not be used as an industrial tool. Unlike a four-terminal probe, which simply has four needles, a four-prong probe is a high-performance probe created by "the science and technology of semiconductor contact. For example, the internal spring that pressurizes the needle (patented part) was determined from dozens of prototypes, and is a specification that has a basis in performance. For the mechanical part, we adopted the classic ruby guide for needle movement technique, which was the only cutting-edge watchmaking technology at that time 50 years ago, to pursue the accuracy of the hand guide. (Ruby sliding is still used in some of our FELL type probes, but for the sake of accuracy control and functionality, we use parts made with new materials and manufacturing technology for new probes.) For the needle part in particular, which comes into contact with the object to be measured, the tip structure is formed to correspond to the type of object to be measured, taking into consideration the physical and electrical elements. These technical considerations greatly affect the measurement accuracy, durability, measurement capability, and so on. In the 1970s, NPS President Hayato Nakamura spent a long period of time training at A&M FELL's factory in England to learn the manufacturing technology and know-how of four-point probes, and the technology he inherited directly from the engineers at that time is utilized in the current four-point probes. Nakamura@NPS

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　P/N Checker P/N Checker Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) P/N Checker is a reliable tester which distinguishs P-N type of silicon semiconductors by using either rectification method or thermo-electromotive force method. This unit can distinguish a test material between P type and N type by either using a Pin probe or Hot probe. - For wafer: You can check PN by softly pressing the wafer on the stage. - For ingot: You can check PN by softly pressing hot probe on the sample surface. P/N Checker.pdf

エヌピエス株式会社は4探針プローブの取扱いを開始して以来50年以上経つ専門会社です。

弊社はエクセル・プレシジョン（米国EXCEL PRECISION社）の日本における販売代理店として、レーザー干渉計機器を取り扱っております。安定化ゼーマンを採用した2周波He-Neレーザー方式と光ヘテロダイン検出/シグナルプロセッサを組合せ、最小読み取り分解能0.3ナノの高精度で信頼性の高い測長変位計測を可能にし、さらに低コスト化のシステム構築が可能となります。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　レーザー干渉計測器 レーザー干渉計測器 半導体・液晶 前工程（検査） 半導体・液晶 後工程（検査） 工作機械（検査） 　当社はエクセル・プレシジョン （米国EXCEL PRECISION社）の日本における販売代理店として、レーザー干渉計機器を取り扱っております。 　安定化ゼーマンを採用した2周波He-Neレーザー方式と光ヘテロダイン検出/シグナルプロセッサを組合せ、最小読み取り分解能0.3ナノの高精度で信頼性の高い測長変位計測を可能にし、さらに低コスト化のシステム構築が可能です。エクセル・プレシジョン社は独自で設計、製造を行うレーザー干渉計測器のスペシャリストとして業界での地位を確立しており、世界的に5000台以上の実績があります。 　標準品のみならず、お客様のご要望に応じオーダーメイドのシステムも製作しています。 1001 Laser Head 　EXCEL PRECISION 1001 Laser Head シリーズは2周波ヘリウムネオンレーザーシステムで、特に光学干渉計と関連する検出・光学ハードウェア用に設計されています。1001レーザーヘッドの主な用途は、ウェーハ/FPDステッパー、電子ビーム装置、I.C.検査製品、バックエンドステッパー、精密測定機、超精密工作機械向けです。 　レーザーの周波数安定性は、ゼーマン効果の原理を利用することで達成されレーザー管に縦方向の磁場をかけると、ネオンの原子準位が2つのエネルギー準位に分裂します。これら2つの準位の周波数は、基本的に中心波長に対して等間隔であり、印加された磁場の強さに比例してシフトします。したがって、レーザー管は、磁場の強さに比例した周波数差を持つ2つの周波数で発振しています。これらの2つの周波数は、磁場が印加される前に生成された元の周波数に対して対称的に分離されています。測定中、極めて高い精度と再現性を達成することができます。 　1001 Laser Headの高い分割周波数により、測定速度は1.0m/secに達します（分解能に依存）。すべてのエクセル光学製品と互換性があり、最大6軸の測定に対応します（干渉計6個、受光器6個） 1100B 6要素校正システム 　1100B レーザー校正システムは主に工作機械上の精度管理に使用します。テーブルのガタつきを一度に最大5要素まで検知しデータ化できます。 1100Bレーザー.pdf レーザー干渉計システム構築用資料.pdf ■ 1550A 角度センサー 　1550A 角度センサーは面上やZ駆動部の微小変位を色や反射率に左右されず計測することができます。 3DOptix Warehouse 　ブラウザ上で既製の光学部品を使用して光学シミュレーションを実行できるサービスです。設計検討にご活用ください。 3DOptix Warehouse