エヌピイエス株式会社
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> 半導體・電子材料相關 > IC接觸探頭
IC接觸探頭
半導体・液晶 作業後的檢查
0.65毫米,1.27毫米,2.54毫米間距用於IC檢測的其他接觸式探頭,其它例如SOP,SSOP等。它安裝在IC測試處理機上並用。 它耐用,可以低運行成本使用。
電極(針)材質在鈹銅上鍍金。 除此之外,也可製作鈀合金,鎢製造。