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It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Diamond Scribe Diamond Scribe Other Products It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point

4探針プローブの修理に関して 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 旧タイプ4探針プローブ（FELLタイプ）製造中止に伴う交換キャンペーンのお知らせ 　 『4探針プローブ FELLタイプ』の販売と修理・調整を中止 させて いただくこととなりました。 　取扱い中止の主な理由といたしましては、旧タイプ4探針プローブ(FELLタイプ）の構造上、測定不安定要因となる 致命的な不具合 を有していたこと、 創業当時から の設計部品と年代間の部品整合性の不良等の問題も生じており、 修理管理 が困難となっていたことです。 　つきましては、新部材を採用した新規設計による新型4探針プローブのご提供を開始いたしました。 今後の製品安定供給のため、旧タイプから新型4探針プローブへの切替を ご提案させていただいております。旧 タイプの修理・調整のご対応といたしまして、下記内容にて新型4探針プローブと修理相当価格に て交換させていただきます。 　お客様で現在ご使用頂いております旧タイプ４探針プローブを下取りという形を取らせ ていただき、 新型４探針プローブと交換させていただきます。 ・修理調整のご依頼をいただけるお手持ちの4探針プローブを弊社宛にお送りください。 　➤お送りいただいた4探針プローブを新型4探針プローブに「修理交換品」（またはご要望の 名目）にて 　　 お見積書を送付させていただきます。 　➤その後、検査カードと共に新型４探針プローブを発送させていただきます。 旧タイププローブ　 （FELL/JANDEL/MPP/KLA,等） 新型プローブ 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(PE/FP/FR他ケーブル付) お問合せページ

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　IC检测用探针 半导体・液晶 前置作业检查 IC检测用探针 通过使用IC的微探针，可以精确测量IC的内部电压。 美国GGB公司生产的pico探针是一种用于测量IC电压的探针，用于将探针本身的杂散电容值保持在最大限度，并进一步使阻抗接近无限值。 这样可以最大限度地减少测量设备上的负载，并可以忠实地进行测量。 对应于每种测量模式的模型，模型35为世界上最快的FET探头的代表。 Pico探针是作为集成电路设计领域分析测量工具的全球标准仪器。 我们也将与适配器等通信，以便它们可以与每个製造商的探测器一起使用。 【相关产品】微定位器 [功能比较表（FET探针）]

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 半導體・電子材料相關 半導體・液晶 前置作業檢查 電阻率測量儀 P/N決定器 四點探針探測器 雷射干涉儀 ※前後作業的檢查 半導体・液晶 作業後的檢查 IC檢測用探針 微定位器 50Ω同軸探頭 IC接觸探頭 探針

製品の技術相談・機種選定・仕様など、お気軽にお問い合わせください。 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 NPS株式会社 採用応募フォーム 送信 Send ※このメールアドレスへの特定電子メールの送信を拒否いたします。 電話やメール、当サイトのフォームを利用した当社への売り込みの一切をお断りしています。 特にお問い合わせフォームを利用した売り込みが多くみうけられます。 当社のフォームは当社の既存のお客さまからの連絡や、お悩みのお客さまなどからのお問い合わせを目的として設置したものです。 売り込みはこの目的外の利用であり当社業務の阻害要因となることから、サイトポリシーの記載とおりフォームを利用した売り込みの一切を固く禁止いたします。 お問い合わせフォームを利用して、繰り返し売り込みをおこなう企業様には、しかるべき対応を取らせていただく場合があります。 　 お問い合わせいただき誠にありがとうございます。担当者確認の上、追ってご連絡いたしますので、今しばらくお待ちいただきますようお願いいたします。Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

ピコプローブ（Picoprobe）は電気容量値を示す単位ピコファラッド（ｐＦ）のピコ（ｐｉｃｏ）と、オシロスコープで使用するプローブ（Probe）との造語で、米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（ＦＥＴ）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 ​ ピコプローブとは 　ピコプローブ(Picoprobe)は、電気容量値を示す単位「ピコファラッド(pF)」の「ピコ(pico)」 と、オシロスコープで使用する「プローブ(Probe)」 との造語で、米国「GGB Industries, Inc.」 の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（FET）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 　ピコプローブは、IC、CMOS、また、液晶用省電力回路等の内部電圧計測のための高性能FETプローブ（アクティブプローブ）です。 ピコプローブの持つ超低入力容量と高入力抵抗は、高インピーダンス回路に対して低負荷でのプロービングが実現でき、被測定回路に与える影響を最小限にし、波形を忠実に再現することができます。 しかしながら、一般のFETプローブ以上にシビアな性能のため、特殊性を熟知した専門技術者だけが取扱える、プロフェッショナル用のツールです。 　ピコプローブは1970年代、当時の米国ベル研究所でICの設計に携わっていた技術者ボール氏が、自己の専用ツールとして設計製作した電圧測定用プローブをベースに製品開発されたもの です。1980年にGGB Industries, Inc.が設立され、ピコプローブの商品名で世界中に発売が開始されて以来、現在に至るまで40年以上のロングセラー商品となっております。 　当時は入力容量が最小でも1pFという値のプローブしか世の中に存在しておらず、MOSの動作検証テストやIC故障解析で使用するにはかなりの支障がありました。しかし、入力容量0.02pFという驚異的な性能を持つピコプローブの出現によって、IC技術革新に大きく貢献することができました。 　その後、1988年に開発されたGGB社独自の構造を持つマイクロ波用ピコプローブ（米国特許取得）とともに、ピコプローブは電子回路テスト用高性能プローブの代名詞となり、世界的な標準器具としてプロの技術者に広くご使用いただいております。 　クラフトマンシップを大切にするGGBの技術屋が製作するピコプローブ。こだわりを持つプロの技術者におすすめいたします。 > GGB社のホームページへ (ピコプローブは米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。) 中村＠NPS

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　IC檢測用探針 半導体・液晶 作業後的檢查 IC檢測用探針 通過使用IC的微探針，可以精確測量IC的內部電壓。 美國GGB公司生產的pico探針是一種用於測量IC電壓的探針，用於將探針本身的雜散電容值保持在最大限度，並進一步使阻抗接近無限值。 這樣可以最大限度地減少測量設備上的負載，並可以忠實地進行測量。 對應於每種測量模式的模型，模型35為世界上最快的FET探頭的代表。 Pico探針是作為集成電路設計領域分析測量工具的全球標準儀器。 我們也將與適配器等通信，以便它們可以與每個製造商的探測器一起使用。 【相關產品】微定位器 [功能比較表（FET探針）]

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　探針 探針 半導体・液晶 作業後的檢查 它是以鈀和銀為主要成分的貴金屬系列，合金製成的電氣特性檢測用針，作為目前應用的接觸材料。 它具有與鎢相同的機械特性，並且具有優於鈹銅的電氣特性，因此可以獲得穩定的接觸。 提供有0.2毫米到0.7毫米十種的厚度。另外，用於LED的鋨合金，半導體電極，材料都為鎢和碳化鎢。 特別推薦低價格的標準鎢針和刀片針。 【相關產品】微定位器 ■ P針（鈀合金探針） P針在日本使用Paliney 7作為材料進行精密加工。具有低耐磨性，低接觸電阻和耐久性優異的Paliney 7已經被用作電極材料超過50年，並且由於其材料特性而被用於許多領域。Paliney 7是符合ASTM B 540的電極材料。 含金屬（約）：鈀（35％）銀（30％）金（10％）鉑（10％）銅（14％）其他（1％ 獨立電阻率：30μΩcm- 電導率：5.5（％ACS） 硬度：350-410 熔化溫度：1015℃ ■ T針 它是一般探測製造的T-4針。 由於使用了pico探針的晶須針頭，因此可以將針頭放在由激光切割機打開的SiO2上的微米孔上，而不會損壞電路。 φ0.5 mm的軸部分可以用手彎曲，可以通過將其加工成任意形狀來使用。 我們以合理的價格提供一套5瓶裝。 ■ 勾針 IC芯片等部件的上推銷採用碳化鎢和鋼琴絲以低成本製造。 材質：碳化鎢，不銹鋼，鋼琴絲等（材質請諮詢） 我們均勻拋光各種材料並提供高質量的針腳。 它也可以用於需要切割的小零件。

It is a precision slider (XY table) that can be used in a small place as a fine positioning / inspection table. We have various kinds available. There is no blurring and rattling, and it is made to have high rigidity. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Positioning Precision Machinery 　>　X-Y Slider Tables X-Y Slider Tables Positioning Precision Machinery It is a precision slider (XY table) that can be used in a small place as a fine positioning / inspection table. We have various kinds available. There is no blurring and rattling, and it is made to have high rigidity. 　VELMEX, INC. Nonmagnetic XY table (photo is an example)

Since the SC series coaxial probe needle is terminated at the SMA connector, it can be used in a high frequency band. The tungsten needle terminal for the signal line is processed to 5μR and it is easy to attach the microscopic part. You can select the specification with the ground with an option. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　50Ω Coaxial Probe 50Ω Coaxial Probe Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Microwave Measurement Since the SC series coaxial probe needle is terminated at the SMA connector, it can be used in a high frequency band. The tungsten needle terminal for the signal line is processed to 5μR and it is easy to attach the microscopic part. You can select the specification with the ground with an option. 【Related products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioner

MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes.  Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are  required lab systems which have the versatility as test fixtu Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Jig tool for Microwave Testing Jig tool for Microwave Testing Microwave Measurement MTF - 100 and GT - 1100 are compact and simple test stands that can measure microwave substrates. You can use the coaxial type RF probe and the optional DC probes. Since it is easy to carry, you can do measurement work at any measurement location. Both are required lab systems which have the versatility as test fixtures. 【Related products】Picoprobe for I.C ・ Picoprobe for Microwave ■ Simple test stand MTF-100 The MTF-100 series is a test jig for evaluating characteristics by fixing and mounting small circuit boards and parts with microwave transmission lines. It is designed to be small but high precision and strong structure, and microwave evaluation test with low loss microwave probe set to 2 ports can be performed. Moreover, it is a small space design and you can carry around, and you use it anywhere. Probe used for the MTF-100 series select the pitch between the signal and the ground in the range of 50 microns to 2540 microns in order to correspond to the micro - electrode part. You are able to have a test of the frequency band up to 67 GHz by system up of the network analyzer. MTF-100.pdf GT-1100 (4 "compatible) GT-1100.pdf MODEL GT-1100 is a table-size standard test table which equips a low-loss microwave probe for measuring electrical characteristics of transmission circuit components in the microwave range (dc - 40 GHz) and a vacuum chuck that can fine - position the sample. You can conduct a measurement (50 - 110GHz) with optional probes. Because the MODEL GT-1100 is set with high-performance accessories such as probes required for measurement, it is excellent in cost performance and is the optimum measurement system in the research and development field. ■ Test stand for waveguide probe (GT-3000) ■ Test stand for tuner (GT-1502) The GT-3000 and GT-1500 series are test beds designed for efficient measurement using waveguide probes. The connection between the waveguide probe (millimeter wave band) and the tuner equipment etc. can be done at the shortest position, and you can reduce the loss. Also, since you can move the probe and instrument at the same time, it is suitable for the measurement using a waveguide probe. Custom-made is also welcome.

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for IC Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC By using the Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for IC, the internal voltage of the IC can be measured accurately.Picoprobe is for IC voltage measurement which keeps the stray capacitance value of the probe itself to the utmost limit and further bring the impedance close to the infinite value. This minimizes the load on the measuring device and enables measurement to be performed faithfully. Not only Models 35 which is the world's fastest FET probe, but also we prepare many other models corresponding to each measurement mode. Picoprobe is a worldwide standard instrument as a tool for analytical measurement in integrated circuit design field.We will also correspond with adapters etc. so that they can be used with probers of each manufacturer. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioners [Function comparison table for Picoprobe (FET probe)]