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首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　微定位器 微定位器 半导体・液晶 作业后的检查 它是一种微动定位装置，可通过千分尺驱动型进行高精度定位。 安装一个专用适配器，以便安装由美国GGB公司製造的pico探头。 MODEL 800系列是专为微探针设计的高性能微型定位器。 採用本实用新型的定位机构和三轴一体化微型定位系统，可实现高精度探测。 【相关产品】IC检测用探针 ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　P/N Checker P/N Checker Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) P/N Checker is a reliable tester which distinguishs P-N type of silicon semiconductors by using either rectification method or thermo-electromotive force method. This unit can distinguish a test material between P type and N type by either using a Pin probe or Hot probe. - For wafer: You can check PN by softly pressing the wafer on the stage. - For ingot: You can check PN by softly pressing hot probe on the sample surface. P/N Checker.pdf

弊社はエクセル・プレシジョン（米国EXCEL PRECISION社）の日本における販売代理店として、レーザー干渉計機器を取り扱っております。安定化ゼーマンを採用した2周波He-Neレーザー方式と光ヘテロダイン検出/シグナルプロセッサを組合せ、最小読み取り分解能0.3ナノの高精度で信頼性の高い測長変位計測を可能にし、さらに低コスト化のシステム構築が可能となります。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　レーザー干渉計測器 レーザー干渉計測器 半導体・液晶 前工程（検査） 半導体・液晶 後工程（検査） 工作機械（検査） 　当社はエクセル・プレシジョン （米国EXCEL PRECISION社）の日本における販売代理店として、レーザー干渉計機器を取り扱っております。 　安定化ゼーマンを採用した2周波He-Neレーザー方式と光ヘテロダイン検出/シグナルプロセッサを組合せ、最小読み取り分解能0.3ナノの高精度で信頼性の高い測長変位計測を可能にし、さらに低コスト化のシステム構築が可能です。エクセル・プレシジョン社は独自で設計、製造を行うレーザー干渉計測器のスペシャリストとして業界での地位を確立しており、世界的に5000台以上の実績があります。 　標準品のみならず、お客様のご要望に応じオーダーメイドのシステムも製作しています。 1001 Laser Head 　EXCEL PRECISION 1001 Laser Head シリーズは2周波ヘリウムネオンレーザーシステムで、特に光学干渉計と関連する検出・光学ハードウェア用に設計されています。1001レーザーヘッドの主な用途は、ウェーハ/FPDステッパー、電子ビーム装置、I.C.検査製品、バックエンドステッパー、精密測定機、超精密工作機械向けです。 　レーザーの周波数安定性は、ゼーマン効果の原理を利用することで達成されレーザー管に縦方向の磁場をかけると、ネオンの原子準位が2つのエネルギー準位に分裂します。これら2つの準位の周波数は、基本的に中心波長に対して等間隔であり、印加された磁場の強さに比例してシフトします。したがって、レーザー管は、磁場の強さに比例した周波数差を持つ2つの周波数で発振しています。これらの2つの周波数は、磁場が印加される前に生成された元の周波数に対して対称的に分離されています。測定中、極めて高い精度と再現性を達成することができます。 　1001 Laser Headの高い分割周波数により、測定速度は1.0m/secに達します（分解能に依存）。すべてのエクセル光学製品と互換性があり、最大6軸の測定に対応します（干渉計6個、受光器6個） 1100B 6要素校正システム 　1100B レーザー校正システムは主に工作機械上の精度管理に使用します。テーブルのガタつきを一度に最大5要素まで検知しデータ化できます。 1100Bレーザー.pdf レーザー干渉計システム構築用資料.pdf ■ 1550A 角度センサー 　1550A 角度センサーは面上やZ駆動部の微小変位を色や反射率に左右されず計測することができます。 3DOptix Warehouse 　ブラウザ上で既製の光学部品を使用して光学シミュレーションを実行できるサービスです。設計検討にご活用ください。 3DOptix Warehouse

As a distributor in Japan of EXCEL PRECISION (USA EXCEL PRECISION CO., LTD), we deal with laser interferometer equipment. Combining a dual frequency He - Ne laser system employing stabilized Zeeman and an optical heterodyne detection / signal processor, it is possible to do highly accurate and reliable measurement of a Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Laser Interferometry Tools Laser Interferometry Tools Pre-Process Post-Process Machine Tools As a distributor in Japan of EXCEL PRECISION (USA EXCEL PRECISION CO., LTD), we deal with laser interferometer equipment. Combining a dual frequency He - Ne laser system employing stabilized Zeeman and an optical heterodyne detection / signal processor, it is possible to do highly accurate and reliable measurement of a minimum reading resolution of 0.3 nano, and further a low cost system construction. Excel Precision Co., Ltd. has designed and manufactured originally, and established itself as a specialist of laser interference measuring instruments. More than 5000 units have been used worldwide. We manufacture not only standard products but also custom-made systems according to customer's request. Third choice. Excel Precision Laser Interferometer If you have a laser interferometer from Excel Precision, you can check accuracy at the nano level. ■ 1100B 6 element calibration system The 1100 B laser calibration system is mainly used for quality control on machine tools. It enables to detect and dizitize the table rattiling up to 5 elements at one time. ■ 1550 A angle sensor It enables you to measure displacements of the surface and the Z drive part regardless of color and reflectance by using 1550 A angle sensor.

微動位置決め・検査用テーブルとして、ちょっとした所に使用できる、精密スライダー(XYテーブル）です。豊富な種類を用意しております。 ブレ、ガタ等が無く高剛性につくられています。 製品ラインナップ 　>　位置決め精密機械 　>　精密位置決めステージ UniSlide（ユニスライド）精密位置決めステージ 位置決め精密機械 　微動位置決め・検査用テーブルとして使用できる精密スライダー(XYテーブル）です。組み合わせによりXYZ、電導、手動、豊富な種類を用意しております。 ブレ、ガタ等が無く高剛性につくられています。 <製品>　米国VELMEX, INC. Linear Stages【リニアステージシリーズ】 昇降テーブルやXYテーブルなど、さまざまな構成、モデル、サイズをご用意しています。 XY Stages【XYステージシリーズ】 お客様のインデックス、スキャン、固定、位置決め、ゲージング要件に対応する組立済みXYテーブル。 Rotary Stages 【ロータリーシリーズ】 スキャニング、組立、テスト、生産のための正確で連続的な回転運動を提供します。 総合カタログ.pdf 各製品の詳細はこちら➤ Velmex製品の活用例 https://www.velmex.com/Examples/working_examples.html TA測定システム 　Velmex「TA」システムは、研究者が非接触で測長分析を行うために特別に設計されたシステムです。発売以来、Velmex「TA」システムは、米国のendrological research communityの標準となっています。 　TAシステムは、以下のような多目的な用途に使用されています。 - 木の年輪成長測定 - 軟体動物の成長研究 - サンゴへの生態的影響 - プローブ等の位置決め - 精密ボアカメラ検査 - 材料の応力解析 - その他、高精度な非接触測定・位置決めが必要なアプリケーション 耐久性とコンパクト性を向上させながら、手頃な価格で高精度を実現させたシステムとなっております。 ※Velmexのシステムには、顕微鏡や専用の解析ソフトは含まれていません。 機器構成 TA "システムは、以下で構成されています。 1. 早送り付UniSlide®、送りピッチ1mm/回転　 2. リニアエンコーダ（分解能0.001mm） 3. Velmex VRO™　スケールデジタルカウンター 　（リニアエンコーダに接続しコンピュータに測定値を記録するためのインターフェース　VRO-1B ベース付き) オプション品 1. VXM-USB-RS232シリアル・ケーブル 2. VRO-TAB2 リモートリセット・送信用リモート入力モジュール PAP測定システム 　PAP測定システムはXーYの2軸ステージで構成され、応用可能な計測として、 コンクリートやアスファルトの骨材や粒子の組成、気泡や空洞、また、堆積物や土壌中の物質サイズの分析などがあります。 　ステージは手動、または、電動の選択が可能です。 ※Velmexのシステムには、顕微鏡や専用の解析ソフトは含まれていません。

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 公司简介 联繫我们 产品的相关资讯，请联繫我们 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司简介 经营项目（主要产品） 1.用于电阻率测量仪器如半导体和薄膜层的四点探针相关器材 2.半导体，液晶薄膜的片电阻率测量仪 3.用于征半导体IC（ULSI，VLSI等）的高性能探头 4.微波测量探头和测量装置 5.测量，实验，手动和电动，直线旋转式滑动产品 6.探针，划线点 7.激光干涉仪系统 经营理念 我们精心挑选我国工业技术的发展和不可或缺的高科技设备和材料为您服务。 此外，我们会努力听取客户的意见和要求，为近年来的行业发展作出贡献。 作为小生意伙伴，我们将随时注意产业发展趋势，实现合理化，降低成本。 我们将以“更优惠的价格，快速的交货日期提供更优质的服务并且希望我们的客户意识到我们重要性，让我们为社会做出贡献。 代表董事 中村勇人

我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 主頁 產品 公司簡介 English 日本語サイト 追求新的精密技術 1/6 我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。 我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。 我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 ➤ 查詢 4-Point Probe Products 產品 更多資訊 電阻率測量儀器 　手動式測量儀器，使用四探針方法簡單精確地測量金屬薄膜等的薄片電阻或電阻率。 用於集成電路的Pico探針 　可以在測量裝置負載最小的情況下進行測量，從而確保數位波形的忠實再現。 更多資訊 4-探頭針 在開始處理四點式探針半個世紀後，四點式探針已成為全球公認的高精度半導體電阻率測量探針。 更多資訊 更多資訊 微波用Pico探针 　美国GGB公司采用其独特的连续式同轴结构，开发出兼具低损耗与高耐久性的微波设备用测试探针。 微波测试台 　该测试夹具用于将采用微波作为传输介质的小型电路板及零部件等固定安装，并进行特性评估。 更多資訊 精密定位平台 本精密平台可作为微动定位及检测用工作台使用。根据型号不同，提供XYZ轴、电动驱动、手动操作等丰富种类。 更多資訊 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 「SEMICON JAPAN」 是半導體製造與測試設備的綜合展覽會，我們自開展以來一直參展。在此，我們要感謝多年來對我們不離不棄的眾多客戶。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for Microwave Picoprobe for Microwave Microwave Measurement Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for microwave (RF probe) is a test probe for microwave devices combining low loss and high durability by GGB's unique continuous coaxial structure (patented). Also, with multi-contact probes that can be arranged with DC probes, it is now possible to reduce transmission measurements such as transmission by using a hybrid configuration of capacitors and resistors (patented). Picoprobe is widely adopted for engineers sticking to severe data measurement. With the leaf spring type ground chip structure and edge contact method, low contact resistance can be realized and good measurement reproducibility is obtained, and needle tip made of nickel material can be manufactured. Please contact us for pitch of 100 μm or less, large current probe for car electronics etc. It has low loss, high repeatability and high durability, and has its own performance by patented coaxial structure and patented bypass capacitor method etc. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioner [Features] ■ Strong structure and high performance The signal part of the Picoprobe has a continuous coaxial structure from the connector part to the needle tip. This continuous coaxial structure is excellent in signal transmission characteristics and can reliably transmit a signal to the peak frequency region. In addition, the attached needle tip is hardly affected by the resonance caused by external vibration, and is also strong against overloading when attaching to the needle tip. ■ Various styles Several styles are available for the Picoprobe for measuring various sample shapes such as flat board and package. ■ Easy needle probe The tip of the grant attaching to the DUT of the Picoprobe has a spring-like structure. In contrast, a fixed gap is made between the fixed signal line needle tip and the ground needle portion. Because this gap can be used as a guideline for needle guarding, you can always contact in a stable state. ■ Point contact The tip of the Picoprobe has a point shape so that stable contact is always obtained. It ensures the reliable measurement because it repels the oxide film of the object and reduces misalignment error occurring when contacting the needle tip. Function comparison table of picoprobles for microwave

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　探針 探針 半導体・液晶 作業後的檢查 它是以鈀和銀為主要成分的貴金屬系列，合金製成的電氣特性檢測用針，作為目前應用的接觸材料。 它具有與鎢相同的機械特性，並且具有優於鈹銅的電氣特性，因此可以獲得穩定的接觸。 提供有0.2毫米到0.7毫米十種的厚度。另外，用於LED的鋨合金，半導體電極，材料都為鎢和碳化鎢。 特別推薦低價格的標準鎢針和刀片針。 【相關產品】微定位器 ■ P針（鈀合金探針） P針在日本使用Paliney 7作為材料進行精密加工。具有低耐磨性，低接觸電阻和耐久性優異的Paliney 7已經被用作電極材料超過50年，並且由於其材料特性而被用於許多領域。Paliney 7是符合ASTM B 540的電極材料。 含金屬（約）：鈀（35％）銀（30％）金（10％）鉑（10％）銅（14％）其他（1％ 獨立電阻率：30μΩcm- 電導率：5.5（％ACS） 硬度：350-410 熔化溫度：1015℃ ■ T針 它是一般探測製造的T-4針。 由於使用了pico探針的晶須針頭，因此可以將針頭放在由激光切割機打開的SiO2上的微米孔上，而不會損壞電路。 φ0.5 mm的軸部分可以用手彎曲，可以通過將其加工成任意形狀來使用。 我們以合理的價格提供一套5瓶裝。 ■ 勾針 IC芯片等部件的上推銷採用碳化鎢和鋼琴絲以低成本製造。 材質：碳化鎢，不銹鋼，鋼琴絲等（材質請諮詢） 我們均勻拋光各種材料並提供高質量的針腳。 它也可以用於需要切割的小零件。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 公司簡介 聯繫我們 產品的相關資訊，請聯繫我們 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司簡介 經營項目（主要產品） 1.用於電阻率測量儀器如半導體和薄膜層的四點探針相關器材 2.半導體，液晶薄膜的片電阻率測量儀 3.用於半導體IC（ULSI，VLSI等）的高性能探頭 4.微波測量探頭和測量裝置 5.測量，實驗，手動和電動，直線旋轉式滑動產品 6.探針，畫線點 7.雷射干涉儀系統 經營理念 我們精心挑選我國工業技術的發展和不可或缺的高科技設備和材料為您服務。 此外，我們會努力聽取客戶的意見和要求，為近年來的行業發展作出貢獻。 作為小生意夥伴，我們將隨時注意產業發展趨勢，實現合理化，降低成本。 我們將以“更優惠的價格，快速的交貨日期提供更優質的服務並且希望我們的客戶意識到我們重要性，讓我們為社會做出貢獻。 代表董事 中村勇人

It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　IC Contact Probe IC Contact Probe Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. It is durable and can be used at low running cost. Electrode (needle) material is gold plated on beryllium copper. Besides, it is possible to manufacture with palladium alloy and tungsten.

It is a precision slider (XY table) that can be used in a small place as a fine positioning / inspection table. We have various kinds available. There is no blurring and rattling, and it is made to have high rigidity. 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 定位精密机械 > 精密定位平台 UniSlide　精密定位平台 定位精密机械 　本产品为精密滑轨（XY工作台），可作为微动定位及检测用工作台使用。通过组合配置，可提供XYZ三轴、电动驱动、手动操作等丰富型号。结构设计确保无晃动、无松动，具备高刚性特性。 <产品>　美国VELMEX, INC. Nonmagnetic XY table (photo is an example)