サイト内検索

製品の技術相談・機種選定・仕様など、お気軽にお問い合わせください。 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 NPS株式会社 採用応募フォーム 送信 Send ※このメールアドレスへの特定電子メールの送信を拒否いたします。 電話やメール、当サイトのフォームを利用した当社への売り込みの一切をお断りしています。 特にお問い合わせフォームを利用した売り込みが多くみうけられます。 当社のフォームは当社の既存のお客さまからの連絡や、お悩みのお客さまなどからのお問い合わせを目的として設置したものです。 売り込みはこの目的外の利用であり当社業務の阻害要因となることから、サイトポリシーの記載とおりフォームを利用した売り込みの一切を固く禁止いたします。 お問い合わせフォームを利用して、繰り返し売り込みをおこなう企業様には、しかるべき対応を取らせていただく場合があります。 　 お問い合わせいただき誠にありがとうございます。担当者確認の上、追ってご連絡いたしますので、今しばらくお待ちいただきますようお願いいたします。Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Diamond Scribe Diamond Scribe Other Products It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point

Because the SS magnet is made of stainless steel, it is suitable for use in places where rust should not be generated. The detachment can be done easily with the ON / OF lever. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Positioning Precision Machinery 　>　SS Magnet SS Magnet Positioning Precision Machinery Because the SS magnet is made of stainless steel, it is suitable for use in places where rust should not be generated. The detachment can be done easily with the ON / OFF lever. SS Magnet.pdf

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Function comparison ■ Function comparison table of picoprobles for microwave Probe for Microwave Calibration substrate（Probe for Microwave） Calibration substrate（For >110GHz） Calibration substrate（For dual type probe）

It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 金刚石划线器 钻石刮刀 其他相关部件 　尖端采用钻石刀头，适用于切割带氧化膜的硅晶圆、玻璃等材料时的划线和标记作业。 刀柄：钢制 3.175mm × 25mm 或 38mm 尖端半径：5微米尖端，12微米尖端

当社は、半導体製造・検査装置の総合展示会である「セミコンジャパン」に第一回目より出展を行なっております。また、マイクロ波テクノロジーに特化した「マイクロウェーブ展」にも出展しております。 　当社は、半導体製造・検査装置の総合展示会である「セミコンジャパン」に第１回より出展を行なっております。 また、マイクロ波テクノロジーに特化した「マイクロウェーブ展」にも出展しております。 SEMICON JAPAN ■ SEMICON JAPAN 1977 第一回は晴海展示場のドーム館で開催。当時は、ドーム館も埋らない程の出展社数でした。 当時の出展社（敬称略） アステック㈱/ ㈱アドバンテスト/ アプライドマテリアルズジャパン㈱/ 安藤電気㈱/ ウエストボンド社/ エス・シー・セミコンテクノロジー㈱/ 兼松デバイス㈱/ ㈱完エレクトロニクス/キヤノン販売㈱/ サンゴバン・ノートン㈱/ シプレイ・ファーイースト㈱/スピードファム㈱/大日商事㈱/㈱ディスコ/ 大日本スクリーン製造㈱/ テンプトロニクス社/ 東京エレクトロン㈱/ 日本アエラ㈱/ 日本エーディーイー㈱/ 日本エスエスエム㈱/ 日本エムケーエス㈱/ 日本スウェージロック㈱/ ㈱日本マイクロニクス/ 野村マイクロサイエンス㈱/ 伯東㈱/ ㈱ 日立国際電気/ ㈱日立ハイテクノロジーズ/ ㈱フジミインコーポレーテッド/ フロロウェア・バルカージャパン㈱ ➤最新の様子 東京ビッグサイトで開催された「SEMICON JAPAN」当社ブースです。 マイクロウェーブ展 パシフィコ横浜で開催された「マイクロウェーブ展」当社ブースです。

ICのボンディングツールとして使用されるキャピラリー用の素材を用意しております。 素材はタングステンカーバイトです。ご要望によりカスタム仕様のキャピラリーの製作も承っております。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　キャピラリー素材 キャピラリー素材 その他関連部材 　ICのボンディングツールとして使用されるキャピラリー用の素材を用意しております。 　素材はタングステンカーバイトです。ご要望によりカスタム仕様のキャピラリーの製作も承っております。 　また、セラミック、TC素材を使用したノズル、ワイヤーガイド等のアセンブル製品のカスタム製作も承ります。 例：塗装用超硬ノズル、ハンダボールディスペンサー、ピックアップツール。 <仕様> L=12mm　Dia=1.58mm　d1=1.0mm その他の寸法はご相談下さい。

It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　IC Contact Probe IC Contact Probe Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. It is durable and can be used at low running cost. Electrode (needle) material is gold plated on beryllium copper. Besides, it is possible to manufacture with palladium alloy and tungsten.

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 半导体・电子材料相关 半导体・液晶 前置作业检查 电阻率测量仪 P/N决定器 四点探针探测器 激光干涉仪 ※前后作业的检查 半导体・液晶 作业后的检查 IC用的示波器探针 微定位器 50Ω同轴探头 IC接触探头 探针

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　50Ω同軸探頭 50Ω同軸探頭 半導体・液晶 作業後的檢查 由於SC系列同軸探針的終端在SMA連接器上，因此可用於高頻段。 信號線的鎢針端子也容易被使用在加工後的5μR微小連接處，也可以選擇周邊產品的規格。 【相關產品】微定位器

ピコプローブ（Picoprobe）は電気容量値を示す単位ピコファラッド（ｐＦ）のピコ（ｐｉｃｏ）と、オシロスコープで使用するプローブ（Probe）との造語で、米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（ＦＥＴ）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 ​ ピコプローブとは 　ピコプローブ(Picoprobe)は、電気容量値を示す単位「ピコファラッド(pF)」の「ピコ(pico)」 と、オシロスコープで使用する「プローブ(Probe)」 との造語で、米国「GGB Industries, Inc.」 の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（FET）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 　ピコプローブは、IC、CMOS、また、液晶用省電力回路等の内部電圧計測のための高性能FETプローブ（アクティブプローブ）です。 ピコプローブの持つ超低入力容量と高入力抵抗は、高インピーダンス回路に対して低負荷でのプロービングが実現でき、被測定回路に与える影響を最小限にし、波形を忠実に再現することができます。 しかしながら、一般のFETプローブ以上にシビアな性能のため、特殊性を熟知した専門技術者だけが取扱える、プロフェッショナル用のツールです。 　ピコプローブは1970年代、当時の米国ベル研究所でICの設計に携わっていた技術者ボール氏が、自己の専用ツールとして設計製作した電圧測定用プローブをベースに製品開発されたもの です。1980年にGGB Industries, Inc.が設立され、ピコプローブの商品名で世界中に発売が開始されて以来、現在に至るまで40年以上のロングセラー商品となっております。 　当時は入力容量が最小でも1pFという値のプローブしか世の中に存在しておらず、MOSの動作検証テストやIC故障解析で使用するにはかなりの支障がありました。しかし、入力容量0.02pFという驚異的な性能を持つピコプローブの出現によって、IC技術革新に大きく貢献することができました。 　その後、1988年に開発されたGGB社独自の構造を持つマイクロ波用ピコプローブ（米国特許取得）とともに、ピコプローブは電子回路テスト用高性能プローブの代名詞となり、世界的な標準器具としてプロの技術者に広くご使用いただいております。 　クラフトマンシップを大切にするGGBの技術屋が製作するピコプローブ。こだわりを持つプロの技術者におすすめいたします。 > GGB社のホームページへ (ピコプローブは米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。) 中村＠NPS

微動位置決め・検査用テーブルとして、ちょっとした所に使用できる、精密スライダー(XYテーブル）です。豊富な種類を用意しております。 ブレ、ガタ等が無く高剛性につくられています。 製品ラインナップ 　>　位置決め精密機械 　>　精密位置決めステージ UniSlide（ユニスライド）精密位置決めステージ 位置決め精密機械 　微動位置決め・検査用テーブルとして使用できる精密スライダー(XYテーブル）です。組み合わせによりXYZ、電導、手動、豊富な種類を用意しております。 ブレ、ガタ等が無く高剛性につくられています。 <製品>　米国VELMEX, INC. Linear Stages【リニアステージシリーズ】 昇降テーブルやXYテーブルなど、さまざまな構成、モデル、サイズをご用意しています。 XY Stages【XYステージシリーズ】 お客様のインデックス、スキャン、固定、位置決め、ゲージング要件に対応する組立済みXYテーブル。 Rotary Stages 【ロータリーシリーズ】 スキャニング、組立、テスト、生産のための正確で連続的な回転運動を提供します。 総合カタログ.pdf 各製品の詳細はこちら➤ Velmex製品の活用例 https://www.velmex.com/Examples/working_examples.html TA測定システム 　Velmex「TA」システムは、研究者が非接触で測長分析を行うために特別に設計されたシステムです。発売以来、Velmex「TA」システムは、米国のendrological research communityの標準となっています。 　TAシステムは、以下のような多目的な用途に使用されています。 - 木の年輪成長測定 - 軟体動物の成長研究 - サンゴへの生態的影響 - プローブ等の位置決め - 精密ボアカメラ検査 - 材料の応力解析 - その他、高精度な非接触測定・位置決めが必要なアプリケーション 耐久性とコンパクト性を向上させながら、手頃な価格で高精度を実現させたシステムとなっております。 ※Velmexのシステムには、顕微鏡や専用の解析ソフトは含まれていません。 機器構成 TA "システムは、以下で構成されています。 1. 早送り付UniSlide®、送りピッチ1mm/回転　 2. リニアエンコーダ（分解能0.001mm） 3. Velmex VRO™　スケールデジタルカウンター 　（リニアエンコーダに接続しコンピュータに測定値を記録するためのインターフェース　VRO-1B ベース付き) オプション品 1. VXM-USB-RS232シリアル・ケーブル 2. VRO-TAB2 リモートリセット・送信用リモート入力モジュール PAP測定システム 　PAP測定システムはXーYの2軸ステージで構成され、応用可能な計測として、 コンクリートやアスファルトの骨材や粒子の組成、気泡や空洞、また、堆積物や土壌中の物質サイズの分析などがあります。 　ステージは手動、または、電動の選択が可能です。 ※Velmexのシステムには、顕微鏡や専用の解析ソフトは含まれていません。