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当社は、半導体製造・検査装置の総合展示会である「セミコンジャパン」に第一回目より出展を行なっております。また、マイクロ波テクノロジーに特化した「マイクロウェーブ展」にも出展しております。 　当社は、半導体製造・検査装置の総合展示会である「セミコンジャパン」に第１回より出展を行なっております。 また、マイクロ波テクノロジーに特化した「マイクロウェーブ展」にも出展しております。 SEMICON JAPAN ■ SEMICON JAPAN 1977 第一回は晴海展示場のドーム館で開催。当時は、ドーム館も埋らない程の出展社数でした。 当時の出展社（敬称略） アステック㈱/ ㈱アドバンテスト/ アプライドマテリアルズジャパン㈱/ 安藤電気㈱/ ウエストボンド社/ エス・シー・セミコンテクノロジー㈱/ 兼松デバイス㈱/ ㈱完エレクトロニクス/キヤノン販売㈱/ サンゴバン・ノートン㈱/ シプレイ・ファーイースト㈱/スピードファム㈱/大日商事㈱/㈱ディスコ/ 大日本スクリーン製造㈱/ テンプトロニクス社/ 東京エレクトロン㈱/ 日本アエラ㈱/ 日本エーディーイー㈱/ 日本エスエスエム㈱/ 日本エムケーエス㈱/ 日本スウェージロック㈱/ ㈱日本マイクロニクス/ 野村マイクロサイエンス㈱/ 伯東㈱/ ㈱ 日立国際電気/ ㈱日立ハイテクノロジーズ/ ㈱フジミインコーポレーテッド/ フロロウェア・バルカージャパン㈱ ➤最新の様子 東京ビッグサイトで開催された「SEMICON JAPAN」当社ブースです。 マイクロウェーブ展 パシフィコ横浜で開催された「マイクロウェーブ展」当社ブースです。

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Function comparison ■ Function comparison table of picoprobles for microwave Probe for Microwave Calibration substrate（Probe for Microwave） Calibration substrate（For >110GHz） Calibration substrate（For dual type probe）

It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 金刚石划线器 钻石刮刀 其他相关部件 　尖端采用钻石刀头，适用于切割带氧化膜的硅晶圆、玻璃等材料时的划线和标记作业。 刀柄：钢制 3.175mm × 25mm 或 38mm 尖端半径：5微米尖端，12微米尖端

It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Diamond Scribe Diamond Scribe Other Products It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point

Because the SS magnet is made of stainless steel, it is suitable for use in places where rust should not be generated. The detachment can be done easily with the ON / OF lever. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Positioning Precision Machinery 　>　SS Magnet SS Magnet Positioning Precision Machinery Because the SS magnet is made of stainless steel, it is suitable for use in places where rust should not be generated. The detachment can be done easily with the ON / OFF lever. SS Magnet.pdf

It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　IC Contact Probe IC Contact Probe Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. It is durable and can be used at low running cost. Electrode (needle) material is gold plated on beryllium copper. Besides, it is possible to manufacture with palladium alloy and tungsten.

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　IC接觸探頭 IC接觸探頭 半導体・液晶 作業後的檢查 0.65毫米，1.27毫米，2.54毫米間距用於IC檢測的其他接觸式探頭，其它例如SOP，SSOP等。它安裝在IC測試處理機上並用。 它耐用，可以低運行成本使用。 電極（針）材質在鈹銅上鍍金。 除此之外，也可製作鈀合金，鎢製造。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 公司簡介 聯繫我們 產品的相關資訊，請聯繫我們 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司簡介 經營項目（主要產品） 1.用於電阻率測量儀器如半導體和薄膜層的四點探針相關器材 2.半導體，液晶薄膜的片電阻率測量儀 3.用於半導體IC（ULSI，VLSI等）的高性能探頭 4.微波測量探頭和測量裝置 5.測量，實驗，手動和電動，直線旋轉式滑動產品 6.探針，畫線點 7.雷射干涉儀系統 經營理念 我們精心挑選我國工業技術的發展和不可或缺的高科技設備和材料為您服務。 此外，我們會努力聽取客戶的意見和要求，為近年來的行業發展作出貢獻。 作為小生意夥伴，我們將隨時注意產業發展趨勢，實現合理化，降低成本。 我們將以“更優惠的價格，快速的交貨日期提供更優質的服務並且希望我們的客戶意識到我們重要性，讓我們為社會做出貢獻。 代表董事 中村勇人

SSマグネットはステンレス製のため錆の発生を嫌う場所での使用に適しています。 製品ラインナップ 　>　位置決め精密機械 　>　精密治具 精密治具 位置決め精密機械 　SSマグネットはステンレス製のため錆の発生を嫌う場所での使用に適しています。プローブ等の精密検査に最適です。 　着脱はON/OFレバーで簡単に行えます。 SSマグネット.pdf

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　雷射干涉儀 雷射干涉儀 半導體・液晶 前置作業檢查 半導体・液晶 作業後的檢查 作為EXCEL PRECISION（EXCEL PRECISION，USA）在日本的經銷商，我們代理電射干涉儀設備， 結合使用穩定塞曼效應和光學外差探測/信號處理器的雙頻He - Ne雷射系統，可以測量0.3納米的最小讀數分辨率的高度準確和可靠的測量，並且還可以實現低成本系統。EXCEL PRECISION有限公司作為獨立設計和製造的雷射干涉測量儀器的行業中建立了自己的地位。 我們在全球擁有超過5000台以上的實績。 我們不僅製造標準正規產品，依客戶的要求接受訂製的系統。第三選擇。EXCEL PRECISION公司的雷射干涉儀 您的機器。 會發出怪聲音嗎？ 如果您有EXCEL PRECISION以司的雷射干涉儀，您可以檢查納米級別的精度。 ■1100B 6元素校正系統 1100 B雷射校正系統主要用於機械的質量管理。 一次最多可以檢測到5個元素，並且檢測後形成表格化。 ■1550角度感測器 1550A角度感測器可以測量表面和Z驅動部件的微小位移，不會受到顏色和反射率的影響。

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　激光干涉仪 激光干涉仪 半导体・液晶 前置作业检查 半导体・液晶 作业后的检查 作为EXCEL PRECISION（EXCEL PRECISION，USA）在日本的经销商，我们代理激光干涉仪设备， 结合使用稳定塞曼效应和光学外差探测/信号处理器的双频He - Ne激光系统，可以测量0.3纳米的最小读数分辨率的高度准确和可靠的测量，并且还可以实现低成本系统。 EXCEL PRECISION有限公司作为独立设计和製造的激光干涉测量仪器的行业中建立了自己的地位。 我们在全球拥有超过5000台以上的实绩。 我们不仅製造标准正规产品，依客户的要求接受订製的系统。 第三选择。 EXCEL PRECISION公司的激光干涉仪 您的机器。 会发出怪声音吗？ 如果您有EXCEL PRECISION以司的激光干涉仪，您可以检查纳米级别的精度。 ■1100B 6元素校正系统 1100 B激光校正系统主要用于机械的质量管理。 一次最多可以检测到5个元素，并且检测后形成表格化。 ■1550角度感测器 1550A角度感测器可以测量表面和Z驱动部件的微小位移，不会受到颜色和反射率的影响。

プローブって何？ 電子機器分野でプローブと称するものは、電気的測定で使用するための電極となる外部的なコンタクト部を指し一般的に針形状や棒形状のような機能的に通電接続が容易となる形状のものを指します。 プローブとは 　電子機器分野でプローブと称するものは、電気的測定で使用するための電極となる外部的なコンタクト部を指し一般的に針形状や棒形状のような機能的に通電接続が容易となる形状のもの を指します。 　プローブを用いた電気的測定システムをイメージした場合、測定器と比較してプローブは回路的に単純な構成部分となり、ただ単に被測定物と接続させるだけのツールとして捉えられ測定が実行されると想定してしまいます。 　しかしながら、実際に電気的測定を行う場合にはプローブそのものの性能となる物理的な要因や電気的な要因(導電率等が測定の重要なファクター)となる ため、これらを考慮しないと正確な測定は実行されません。 　内部電位が異なるプローブと被測定物との接続は複雑で、特に被測定物が空間電荷層の発生しやすい半導体になると、その要因が整流現象を左右し、測定結果に大きく影響する接続となってしまいます。仮に金属同士のであっても接触時の抵抗が影響して完全な接続（オーミックコンタクト）は実現しません。 そのため、電気的測定ではこれらの要因に対応すべくプローブの選定が必要となります。 　当社では素材の選定や製造技術により最良の接続を目的とする為のプローブをご提供しております。 　 半導体回路内の電気特性検査で使用されるプローブニードル では、金属電極用として接触の安定を図るため貴金属系素材であるパラジウム合金やオスミウム合金を使用し、接触抵抗の高い半導体用やアルミ電極用としてタングステン、タングステンカーバイトを使用して 製作しております。 　主にIC検査で使用されるピコプローブ については電気的な負荷要因の低減と専用の特殊な針先構造により高精度な低負荷測定を実現しております。 　シート抵抗測定用で用いられる4探針プローブ ではシリコン基板ウェーハ、イオン注入層、 エピタキシャル、アルミ等、それぞれのウェーハタイプに対応した専用プローブ（メカニカル）をご用意しています。 　 　これらのコンタクト部となる先端は精密加工技術により、被測定物とテスターとの安定した接続が可能となります。 中村＠NPS