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プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェーハや基板金属薄膜等のシート抵抗、または、抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲測定に対応しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　抵抗率測定器 抵抗率測定器（シート抵抗測定器） 半導体・液晶 前工程（検査） 　プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェハやLCD基板、金属薄膜等のシート抵抗、または、体積抵抗を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲な測定に対応しています。 <用途> 1) シリコンインゴット製造 　➤ウェハ製造工程（膜形成等様々な処理工程）における製品検査用　 2) 液晶パネル（LCD基板）製造：成膜時の製品検査用 3) 幅広い電気導電性部材の製造過程での製品検査用 ※当社の 「4探針プローブ」を用いて測定が可能です。 【関連製品】4探針プローブ Model Σ- ∞ (sigma eight) Model sigma-5+ 　シリコンウェハ等の抵抗率を正確に測定することができます。 　 　抵抗率測定に関する20年以上のノウハウと技術を活かし設計開発された高精度な抵抗率測定器です。 　半導体基板並びに導電性薄膜基盤等の研究開発・検査工程、または製造ラインにおいての、シート抵抗値や体積抵抗値を高確度に求め、評価することが出来ます。 ※写真は試料台RG-5との組合せです。 【カタログ】sigma-5+ [基本仕様] [特長] ・細かい設定が可能なスイッチ機能のインテリジェントパネル ・デスクサイズのコンパクト設計 ・低抵抗〜高抵抗対応のワイド測定レンジ ・整流性による誤差を抑える電流極性切替え測定 ・測定開始毎の自動ゼロ調整機能 ・最適な電流を自動設定するオートレンジ機能 ・試料の厚み補正機能 ・測定値平均値表示とプリンタ平均値演算機能 ・半導体用の温度補正機能 ・各種温度補正係数入力機能 ・データプリンタ用インターフェース付 ・データ接続用インターフェース付 ・試料テーブルの選択が可能 <基本仕様> ■ 薄膜向けハンディタイプ・シート抵抗測定器/抵抗率測定器 ※この製品は現在販売を停止しております ハンディタイプ・シート抵抗測定器SRM-232は４探針プローブを使用して、絶縁物上の導電性薄膜シート抵抗を測定することができます。また、抵抗率測定器PV-628は太陽電池基板等のSi半導体の抵抗率測定が可能です。いずれもの機種もデータセーブ・パソコンへのデータ出力ができ、電源は電池式のオートパワーオフ機能付です。 【カタログ】ハンディタイプ ■ ハンディタイプ ・抵抗率測定器　Model　PV-628 MODEL PV-628は太陽光発電用シリコン等の抵抗率測定に特化させたハンディタイプの4探針法測定器です。電源に電池を使用しているため持ち運びが容易で、測定物の形状や大きさの制限がなく、手軽に測定を行うことができます。 【カタログ】PV-628

米国GGB社製マイクロ波プローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 ピコプローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。 その他、100μm以下のピッチ、カーエレクト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ) マイクロ波計測 　米国GGB社 製マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 　高周波プローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 　 　板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。その他、100μm以下のピッチ、カーエレクトロニクス用大電流プローブ等もご相談ください。 　 低損失・高再現性・高耐久性を備えており、特許式同軸構造と特許式バイパスキャパシター方式等により独自の性能を確保しています。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー マイクロ波用ピコプローブをもっと知る 総合カタログ MODEL10カタログ [特長] ■強固な構造とハイパフォーマンス 　ピコプローブのシグナル部分は、コネクター部分から針先まで連続した同軸構造となっています。この連続同軸構造は、信号伝送特性に大変優れていてピーク周波数領域まで確実に信号を伝達させることができます。また、接触中の針先は外部からの震動による共振の影響を受けにくく、針先接触時のオーバーロードに対しても強固な作りとなっています。 ■豊富なスタイル 　ピコプローブは、フラット基板、パッケージ など各種試料形状の測定用に合わせて 数種類のスタイルを用意しております。 ■針当てのやり易さ 　ピコプローブのＤＵＴと接触するグラントの針先は、スプリング性を持つ構造となっています。これに対し固定された信号線用の針先とグランド針部に一定のギャップを持たせ、このギャップを目安に針当てが行えるため、常に安定したコンタクトが行えます。 ■ポイントコンタクト 　ピコプローブの針先は、常に安定した接触が得られるようにポイント形状となっています。 測定物の酸化膜をはじき良好な接触が得られ、また、針先のコンタクト時に生じる位置ずれ誤差を少なくさせ、確実な測定が保証されます。 マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 LCP18　　 マイクロ波計測 製品LCP18カタログ.pdf [特長] 　低価格でお求めやすいdc~18GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブです。 チップが独立して動きます。グランドチップとシグナルチップは、互いに独立してZ軸上を上下します。 　PCBやBGAのような大きなパッドやバンプを持つデバイスや、非平面の表面を持つデバイスのテストに最適です。 　プローブは、100µmから2500µmまで25µm間隔で異なるピッチで入手可能です。 ・コネクター部　SMA ・プローブ先端　GSG GS SG ・ポジショナー用の様々な取り付けスタイル　DP　EDP　S　DS ・非磁性オプションについては、お問い合わせください。 ・挿入損失<0.4dB※　（200umピッチのプローブの場合、1250µmピッチで約0.9dB） 定番製品 -GSG-150-DP GSG構成、150µmピッチ、BeCu製チップ、取り付けスタイルDP 250umまでのピッチでは、各先端の接触面積は約40x40um 275umから600umのピッチでは75x75um、625umから3000umのピッチでは150x150umです。 使用により先端が摩耗しても、接触面積の大きさ（例：40x40um）は変わりません。 LCP18は OPT 5を必要とせずに約75Vを扱うことが可能です。 高出力回路用の40KVは標準で約150Vに対応（100W　28GHｚ）OPT 5を追加してより高い電圧を扱うことも可能です。 RF校正基板 マイクロ波計測 校正基板選択ガイド [特長] 高精度測定を可能にするRFプローブ用校正基板シリーズです ・正確なSOLT、LRL、LRM校正をサポート ・プローブピッチ・レンジは30～2,540µm ・DC～220 GHzのすべてのGGBプローブに適合 ・GSGSG、GSSG、SGSチップ配列に使用可能 ・金メッキパッド　25 mil（635µm）厚のアルミナ基板 定番製品 CS105 ：GSGプローブ用、ピッチ範囲75～250 µm SOLT = ショート・オープン・ロード・スルー LRL = Line-Reflect-Line（TRL=Through-Reflect-Lineに相当する） LRM = Line-Reflect-Match（TRM=Through-Reflect-Matchと同じ意味です） RFピコプローブ　MODEL 40A マイクロ波計測 ・高耐久性RFプローブ40GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブシリーズ、GSG、GS、SG、または「デュアル」構成 （デュアル＝1ポジショナーに2プローブ） ・DC～40 GHz　挿入損失0.8 db未満　リターンロス18db以上　測定再現性-80db以上 ・これらのプローブは、25µmから2540µmまでのさまざまなピッチで入手可能 ・マイクロポジショナー用のさまざまな取り付けスタイル ・メス型Kコネクター2.9mm ・BeCu、ニッケルまたはタングステンで入手可能 ・非磁性オプション、高温および高電流／高電圧バージョンについては、お問い合わせください。 定番製品 40A-GSG-125-C 　GGB社のMODEL 40Aマイクロ波プローブは、マイクロ波プロービング性能の新しい標準を打ち立てます。低損失同軸技術を使用し、40GHzまで0.8db以下の挿入損失と18db以上のリターンロスを達成しました。 　ベリリウム銅、タングステン、ニッケルの各チップが個別にスプリング装填されているため、非平面構造のプローブでも信頼性の高いコンタクトが得られます。この信頼性の高い低抵抗コンタクトは、再現性の高い測定を提供する鍵の一つです。 　 　40A型マイクロ波プローブは、正確な位置決めのためにプローブ先端を直接見ることができます。 MODEL40Aは、標準的なマイクロ波プローブステーションで使用するために、様々なアダプターに取り付けることができ、また、プローブカードやマルチコンタクトウェッジのDCプローブニードルで使用するために、薄いブレードに取り付けることができます。カスタムマウントも可能です。 　ピッチ（先端間隔）は、25µmから2540µmまでご指定いただけます。プローブは、接地-信号-接地（G,S,G）、接地-信号（G,S）、信号-接地（S,G）の先端チップで構成できます。 　MODEL40Aへの接続は、3.5mmコネクタ互換のメスKコネクタ（2.9mm）を通して行います。 　13種類のアダプタースタイルから選択。T、C、GR、P、DP、EDP、LP、Q、F、S、DS、VP、またはRVPをご指定ください。用途に適した取付タイプをお選びください。P、DP、EDP、LP、Q、S、DS、VP、RVPの各タイプは、コネクタが45度の角度で後ろを向いており、プローブ上部の作業領域が広くなっています。DP、EDP、DS、VP、および RVP スタイルは、プローブの下に余分なクリアランスが必要な場合に使用します。DP、EDP、DSスタイルのプローブを使用する場合、プローブの取り付け角度が大きくなるため、プローブの位置決めが難しくなります。カスタム取付スタイルも可能です。

半導体に関する出前授業を希望される方は、こちらのページよりお問い合わせください。 半導体 小学校出前授業 半導体でつながる。キミの世界、ミライの社会 ――出前授業で未来を届ける―― 未来を動かすのは まだ小さな、あの子の手かもしれない NPSは 小学校向けの 半導体出前授業を行っています。 半導体が支える未来のくらしや ものづくりの楽しさ、働くことの意義を学び 子どもたちが 「自分で考えて、創り出す力」を 育むことができる授業を実践しています。 - 2026.4.1 START - 出前授業　低学年向け　指導計画 身近にある半導体を見つけよう 出前授業　中学年向け　指導計画 電気と半導体 - 東京のものづくり- 出前授業　高学年向け　指導計画 半導体と工業 -技術と未来の発明-

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　50Ω同轴探头 50Ω同轴探头 半导体・液晶 作业后的检查 由于SC系列同轴探针的终端在SMA连接器上，因此可用于高频段。 信号线的钨针端子也容易被使用在加工后的5μR微小连接处，也可以选择周边产品的规格。 【相关产品】微定位器

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 公司简介 联繫我们 产品的相关资讯，请联繫我们 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司简介 经营项目（主要产品） 1.用于电阻率测量仪器如半导体和薄膜层的四点探针相关器材 2.半导体，液晶薄膜的片电阻率测量仪 3.用于征半导体IC（ULSI，VLSI等）的高性能探头 4.微波测量探头和测量装置 5.测量，实验，手动和电动，直线旋转式滑动产品 6.探针，划线点 7.激光干涉仪系统 经营理念 我们精心挑选我国工业技术的发展和不可或缺的高科技设备和材料为您服务。 此外，我们会努力听取客户的意见和要求，为近年来的行业发展作出贡献。 作为小生意伙伴，我们将随时注意产业发展趋势，实现合理化，降低成本。 我们将以“更优惠的价格，快速的交货日期提供更优质的服务并且希望我们的客户意识到我们重要性，让我们为社会做出贡献。 代表董事 中村勇人

会社概要 会社案内 会社概要 地図を拡大して見る 総武線亀戸駅より徒歩5分／都営新宿線西大島駅より徒歩15分 会社案内 会社案内 2025.pdf 営業品目（主な取扱製品） 1. 半導体、薄膜層などの抵抗率測定器用4探針プローブ及び関連機器 2. 半導体、液晶薄膜シート抵抗率測定器 3. 半導体IC(ULSI、VLSIなど)の特性評価用高性能プローブ 4. マイクロ波計測用プローブ及び測定用装置 5. 計測用、実験用、手動及び電動の直線、回転形各種スライド製品 6. プローブニードル、スクライプポイント 7. レーザー干渉計システム 経営方針 　我が国における工業技術の進歩に不可欠なハイテク機器並びに素材等を広く内外から厳選し、お客様に情報とともにご提供させていただきます。 また、近年の産業発展に寄与すべくお客様のご意見やご要望に耳を傾けて最善のご協力するよう努力いたします。 　当社は小回りのきくビジネスパートナーとして、常に世の中の情勢を見極め、合理化とコストダウンに努めてまいります。 　「早い納期でより良いものをより低価格で」をモットーに堅実経営を推進するとともに、お客様の御発展をもって当社の存在意義と繁栄があるものとし、全社一丸となって貢献いたしたいと思っております。 代表取締役　中村　勇人

我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 主頁 產品 公司簡介 English 日本語サイト 追求新的精密技術 1/6 我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。 我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。 我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 ➤ 查詢 4-Point Probe Products 產品 更多資訊 電阻率測量儀器 　手動式測量儀器，使用四探針方法簡單精確地測量金屬薄膜等的薄片電阻或電阻率。 用於集成電路的Pico探針 　可以在測量裝置負載最小的情況下進行測量，從而確保數位波形的忠實再現。 更多資訊 4-探頭針 在開始處理四點式探針半個世紀後，四點式探針已成為全球公認的高精度半導體電阻率測量探針。 更多資訊 更多資訊 微波用Pico探针 　美国GGB公司采用其独特的连续式同轴结构，开发出兼具低损耗与高耐久性的微波设备用测试探针。 微波测试台 　该测试夹具用于将采用微波作为传输介质的小型电路板及零部件等固定安装，并进行特性评估。 更多資訊 精密定位平台 本精密平台可作为微动定位及检测用工作台使用。根据型号不同，提供XYZ轴、电动驱动、手动操作等丰富种类。 更多資訊 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 「SEMICON JAPAN」 是半導體製造與測試設備的綜合展覽會，我們自開展以來一直參展。在此，我們要感謝多年來對我們不離不棄的眾多客戶。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 Home 产品 关于我们 English 日本語サイト 追求新的精密技术 我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。 我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。 我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 ➤ 询问 4-needle probe 4-needle probe Microwave Test Stand 4-needle probe 1/5 Product 产品 电阻率测量仪 手动式测量仪，采用四探针法简单而准确地测量金属薄膜等的片状电阻或电阻率。 详细内容 集成电路Pico探头 在测量设备负荷最小的情况下进行测量，从而确保忠实再现数字波形。 详细内容 4-探头 在开始使用四点探头半个世纪后，它们已成为全球公认的测量电阻率的高精度半导体探头。 详细内容 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 　 我们自半导体制造和测试设备综合展览会 「SEMICON JAPAN」 创办以来一直参展。在此，我们对多年来给予我们大力支持的众多客户表示衷心的感谢。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

4探針プローブの修理に関して 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 旧タイプ4探針プローブ（FELLタイプ）製造中止に伴う交換キャンペーンのお知らせ 　 『4探針プローブ FELLタイプ』の販売と修理・調整を中止 させて いただくこととなりました。 　取扱い中止の主な理由といたしましては、旧タイプ4探針プローブ(FELLタイプ）の構造上、測定不安定要因となる 致命的な不具合 を有していたこと、 創業当時から の設計部品と年代間の部品整合性の不良等の問題も生じており、 修理管理 が困難となっていたことです。 　つきましては、新部材を採用した新規設計による新型4探針プローブのご提供を開始いたしました。 今後の製品安定供給のため、旧タイプから新型4探針プローブへの切替を ご提案させていただいております。旧 タイプの修理・調整のご対応といたしまして、下記内容にて新型4探針プローブと修理相当価格に て交換させていただきます。 　お客様で現在ご使用頂いております旧タイプ４探針プローブを下取りという形を取らせ ていただき、 新型４探針プローブと交換させていただきます。 ・修理調整のご依頼をいただけるお手持ちの4探針プローブを弊社宛にお送りください。 　➤お送りいただいた4探針プローブを新型4探針プローブに「修理交換品」（またはご要望の 名目）にて 　　 お見積書を送付させていただきます。 　➤その後、検査カードと共に新型４探針プローブを発送させていただきます。 旧タイププローブ　 （FELL/JANDEL/MPP/KLA,等） 新型プローブ 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(PE/FP/FR他ケーブル付) お問合せページ

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 半导体・电子材料相关 半导体・液晶 前置作业检查 电阻率测量仪 P/N决定器 四点探针探测器 激光干涉仪 ※前后作业的检查 半导体・液晶 作业后的检查 IC用的示波器探针 微定位器 50Ω同轴探头 IC接触探头 探针

微動位置決め・検査用テーブルとして、ちょっとした所に使用できる、精密スライダー(XYテーブル）です。豊富な種類を用意しております。 ブレ、ガタ等が無く高剛性につくられています。 製品ラインナップ 　>　位置決め精密機械 　>　精密位置決めステージ UniSlide（ユニスライド）精密位置決めステージ 位置決め精密機械 　微動位置決め・検査用テーブルとして使用できる精密スライダー(XYテーブル）です。組み合わせによりXYZ、電導、手動、豊富な種類を用意しております。 ブレ、ガタ等が無く高剛性につくられています。 <製品>　米国VELMEX, INC. Linear Stages【リニアステージシリーズ】 昇降テーブルやXYテーブルなど、さまざまな構成、モデル、サイズをご用意しています。 XY Stages【XYステージシリーズ】 お客様のインデックス、スキャン、固定、位置決め、ゲージング要件に対応する組立済みXYテーブル。 Rotary Stages 【ロータリーシリーズ】 スキャニング、組立、テスト、生産のための正確で連続的な回転運動を提供します。 総合カタログ.pdf 各製品の詳細はこちら➤ Velmex製品の活用例 https://www.velmex.com/Examples/working_examples.html TA測定システム 　Velmex「TA」システムは、研究者が非接触で測長分析を行うために特別に設計されたシステムです。発売以来、Velmex「TA」システムは、米国のendrological research communityの標準となっています。 　TAシステムは、以下のような多目的な用途に使用されています。 - 木の年輪成長測定 - 軟体動物の成長研究 - サンゴへの生態的影響 - プローブ等の位置決め - 精密ボアカメラ検査 - 材料の応力解析 - その他、高精度な非接触測定・位置決めが必要なアプリケーション 耐久性とコンパクト性を向上させながら、手頃な価格で高精度を実現させたシステムとなっております。 ※Velmexのシステムには、顕微鏡や専用の解析ソフトは含まれていません。 機器構成 TA "システムは、以下で構成されています。 1. 早送り付UniSlide®、送りピッチ1mm/回転　 2. リニアエンコーダ（分解能0.001mm） 3. Velmex VRO™　スケールデジタルカウンター 　（リニアエンコーダに接続しコンピュータに測定値を記録するためのインターフェース　VRO-1B ベース付き) オプション品 1. VXM-USB-RS232シリアル・ケーブル 2. VRO-TAB2 リモートリセット・送信用リモート入力モジュール PAP測定システム 　PAP測定システムはXーYの2軸ステージで構成され、応用可能な計測として、 コンクリートやアスファルトの骨材や粒子の組成、気泡や空洞、また、堆積物や土壌中の物質サイズの分析などがあります。 　ステージは手動、または、電動の選択が可能です。 ※Velmexのシステムには、顕微鏡や専用の解析ソフトは含まれていません。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 半導體・電子材料相關 半導體・液晶 前置作業檢查 電阻率測量儀 P/N決定器 四點探針探測器 雷射干涉儀 ※前後作業的檢查 半導体・液晶 作業後的檢查 IC檢測用探針 微定位器 50Ω同軸探頭 IC接觸探頭 探針