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- IC檢測用探針
首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 > 半導體・電子材料相關 > IC檢測用探針 半導体・液晶 作業後的檢查 IC檢測用探針 通過使用IC的微探針,可以精確測量IC的內部電壓。 美國GGB公司生產的pico探針是一種用於測量IC電壓的探針,用於將探針本身的雜散電容值保持在最大限度,並進一步使阻抗接近無限值。 這樣可以最大限度地減少測量設備上的負載,並可以忠實地進行測量。 對應於每種測量模式的模型,模型35為世界上最快的FET探頭的代表。 Pico探針是作為集成電路設計領域分析測量工具的全球標準儀器。 我們也將與適配器等通信,以便它們可以與每個製造商的探測器一起使用。 【相關產品】微定位器 [功能比較表(FET探針)]
- 2026年NEWS
NEWS(2026/04/13更新) GW休業のお知らせ 平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 当社のGW 休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 2026年4月29日(水・祝) ~ 2026 年5月6日(水) 設立55周年のご挨拶と御礼 おかげさまで、エヌピイエス株式会社は2026年をもちまして、設立55周年を迎えることができました。 1971年の創業以来、私たちは半導体関連機器をはじめとする先端技術を通じ、日本のものづくりを支えることを使命として歩んでまいりました。これもひとえに、長年支えてくださったお客様、お取引先様、そして地域の皆様の温かいご支援の賜物と、心より深く感謝申し上げます。 この節目を機に、社員一同、改めて創業の原点に立ち返り、さらなる技術革新とサービスの向上に努めてまいる所存です。今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、お願い申し上げます。
- 4-Point Probe Repair
Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト 製品ラインナップ > 半導体・電子材料関連 > 4探針プローブ 4-Point Probe Repair Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) ■ Repair for 4-Point probe Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Repairable Probe Type NAPSON KLA Tencor MPP FELL Contact us
- マイクロポジショナー
マイクロメーター駆動式により高精度位置決めが可能な微動位置決め装置です。 米国GGB社製RFプローブの設置ができるように専用のアダプターが取付けられています。 なお、MODEL800シリーズは、ピコプローブ専用に設計された高性能マイクロポジショナーです。 実用新案の位置決め機構と3軸一体式マイクロポジショニング方式により高精度プロービングが可能です。 製品ラインナップ > 半導体・電子材料関連 > マイクロポジショナー マイクロポジショナー 半導体・液晶 後工程(検査) マイクロメーター駆動式により高精度位置決めが可能な微動位置決め装置です。 米国GGB社 製ピコプローブの設置ができるように専用のアダプターが取付けられています。 MODEL800シリーズは、ピコプローブ専用に設計された高性能マイクロプローブポジショナ(マニュピレータ)です。 実用新案の位置決め機構と3軸一体式マイクロポジショニング方式により高精度なプロービングが可能です。 【関連製品】IC用ピコプローブ・マイクロ波用ピコプローブ Model 800M Series 重量 約1.5kg MODEL800.pdf Model 800V Series MODEL250.pdf Model 250M 重量 約550g 下記寸法図
- プローブニードル
通電用コンタクト素材としてパラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のニードルです。 タングステンと同等の機械特性を持ち、ベリリウム銅より優れる電気特性を有しているため、安定した接触が得られます。 太さは0.2mm~0.7mmの間で十数種類用意されております。 その他、LED用にオスミウム合金、通常半導体電極用としてタングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 特に標準在庫品のタングステンニードル, ブレードニードルは低価格で大変お奨めです。 製品ラインナップ > 半導体・電子材料関連 > プローブニードル プローブニードル 半導体・液晶 後工程(検査) 通電用コンタクト素材としてパラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。 タングステンと同等の機械特性を持ち、ベリリウム銅より優れる電気特性を有しているため、安定した接触が得られます。 太さは0.2mm~0.7mmの間で十数種類用意されております。 その他、LED用にオスミウム合金、通常半導体電極用としてタングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。特に標準在庫品のタングステンニードル, ブレードニードルは低価格で大変お奨めです。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー Pニードル (パラジウム合金針) Pニードルは素材となるパリネイ7を使用して国内で精密加工しております。 低摩耗、低接触抵抗、耐久性に優れたパリネイ7は50年以上前から電極素材として用いられており、その素材特性から多くのフィールドで使用されております。 パリネイ7はASTM B540に準拠した電極素材です。 含有金属(約):パラジウム(35%) 銀(30%) 金(10%) プラチナ(10%) 銅(14%) 他(1%) 個体抵抗率:30μΩcm- 伝導率:5.5(% l ACS) ヌープ硬度:350-410 溶解温度:1015℃ プローブニードル.pdf T-4ニードル (サブミクロン用) 一般的なプロービングに使用できるように製作されたT-4ニードルです。 ピコプローブ用のウィスカーニードルを使用しているため、レーザーカッターにより開けられたSiO2上のサブミクロンホールにも回路の損傷なく針当てができます。 主にFIB(集束イオンビーム)で作られた集積回路、電極、ミニ電極のポイント測定によく使用されます。その中でも、T-4-10とT-4-22はウィスカー径が細く、曲げ弾性に優れているため、チップ電極へのダメージを軽減し、振動環境下でも電極との接触が良好であるためお客様からの評価が高いモデルです。 直径0.5mmの軸部は手で曲げることができ、任意の形状に加工して使用できます。1セット5本入りでお求めやすい価格で提供しております。 T-4ニードルは標準的な市販のマイクロポジショナーで集積回路、パッド、ラインのプロービングに使用できます。各ニードルはGGB社の12Cピコプローブと同じ直径10、22、35、60、125ミクロンのタングステン・ワイヤーを使用しています。 一部のユーザーから指摘されている10ミクロンと22ミクロンのモデルの利点はタングステン・プロービング・ワイヤーが細く柔軟であるため、集積回路へのダメージを最小限に抑えより長い時間デバイスをプロービングできることです。フレキシブルなT-4ニードルは作業台の振動があっても回路との接触状態を維持します。 T-4ニードルは静電容量負荷が問題となるような高感度ノードへの使用は推奨されません。代わりに高インピーダンスピコプローブをご使用ください。 T-4ニードル.pdf 突き上げピン ICチップなどの部品用の突き上げピンをタングステンカーバイトやピアノ線で低価格にて製作しております。 素材:タングステンカーバイト・ステンレス・ピアノ線等(素材はご相談ください) 各種素材を均一に研磨加工し、高品質のピンをご提供しております。微小部のカッティング等にもご使用いただけます。
- インボイス制度に関して
適格請求書発行事業者登録番号について インボイス制度の適格請求書発行事業者登録をいたしました。 登録番号 T9010601024421 「国税庁インボイス制度適格請求書発行事業者公表サイト 」からもご確認いただけます。
- Contact us
Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, and specifications of our products. 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 Contact us ※Please use this contact form as sending a direct email may be treated as spam. Send Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.
- 採用情報
私たちは、専門知識、技術、技能を持ったバイタリティあふれる経験者の方を求めています。 自由な社風の中であなたの能力を発揮してください。 採用情報 採用情報 当社の採用情報ページをご 覧いただき、誠にありがとうございます。 私たちは、革新と協力を通じて未来を切り開く、意欲的な人材を求めております。多様なバックグラウンドを持つ社員が一丸となり、挑戦を力に変える環境を整えております。 あなたの専門性と情熱を活かし、私たちと共に新たな価値を創出する一員となりませんか。皆様のご応募を心よりお待ち申し上げております。 企業名 エヌピイエス株式会社 募集職種・業務内容 営業技術部 2名 ・自社製品の電気・電子回路設計・製造技術管理、取扱い製品に関す る 技術的な業務のバックアッ プ。 ※主に半導体部品やマイクロ波部品等の検査測定で使用する器具 ・ 大手電機メーカー、大学、研究機関等のお客様との折衝 勤務時間 9:00-18:00(亀戸本社) 休憩時間は労基法に基づき1時間 研修期間はフレックス可 雇用形態 正社員 勤務地 <東京:本社> 〒136-0071 東京都江東区亀戸6-12-4 ※JR総武線「亀戸」駅徒歩5分、東武亀戸線「亀戸」駅徒歩6分、都営新宿線「西大島」駅徒歩10分、都営バス「亀戸駅通り」徒歩1分 資格 ・普通自動車免許 ・日常会話程度の英語または中国語 給与 前職の経験等を踏まえ、当社の規定により決定 賞与 年2回 (7月・12月)業績・実績に応じる 昇給 年1回 (4月) 福利厚生 各種手当:通勤手当、扶養手当、出張手当、 健康診断手当、健康維持補助手当 各種制度:フレックス退勤制度、出産育児休職制度 各種保険:健康保険、厚生年金、雇用保険、労災保険 選考方法 面接回数:2回 選考フロー:書類選考⇒1次面接⇒最終面接⇒内定 休日・休暇 完全週休2日制(土・日)、祝祭日、年末年始、GW、年次有給休暇(初年度10日を4月付与)・慶弔休暇 受動喫煙防止策 敷地内完全禁煙 応募する
- 產品一覧
首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 半導體・電子材料相關 半導體・液晶 前置作業檢查 電阻率測量儀 P/N決定器 四點探針探測器 雷射干涉儀 ※前後作業的檢查 半導体・液晶 作業後的檢查 IC檢測用探針 微定位器 50Ω同軸探頭 IC接觸探頭 探針
- 電阻率測定儀(薄膜電阻測定器)
首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 > 半導體・液晶 前置作業檢查 > 電阻率測定儀(薄膜電阻測定器) 電阻率測定儀(薄膜電阻測定器) 半導體・液晶 前置作業檢查 專業工程師的高性能工具。 它能夠使用四點探針方法輕鬆且高準確度的測量太陽能薄膜電池上的矽導電膜的電阻或電阻率。 它對應於低電阻到高電阻測量。 <用途> 1)矽鐵錠製造→矽晶片製造檢測(包括成膜等各種工方法) 2)液晶面板(LCD)製造:用於成膜時的產品檢查 3)在檢查各種導電材料的製作過程 使用我們公司配置的“四點探針”可以測量。 【相關產品】四點探針法 ■ Model sigma-5+ 我們可以準確地測量矽晶片的電阻率。也對應太陽能電池的探測器。 它是一個利用20年以上的測量技術而設計和開發的高精度電阻率測量儀器。 在半導體基板,導電薄膜基板等的研發和檢測過程中,可以精確的評估薄層電阻和電阻率值。 ※該照片是與樣品架RG-5的組合。 [基本規格] [特點] ·可以正確的設置智慧開關功能面板 ·桌上型尺寸設計 ·低阻力至高阻力的寬範圍測量 ·電流極性切換測量可抑制整流造成的誤差 ·開始測量時自動歸零功能 ·自動量程功能自動設置最佳電流 ·樣品厚度校正功能 ·平均測量值顯示和印刷機平均值計算功能 ·半導體溫度校正功能 ·各種溫度校正的輸入功能 ·與數據印表機接口 ·與數據連接用接口 ·可以選擇樣品表<基本規格> ■手持式·表面電阻測量儀/電阻率測量儀 使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。 ■手持式·電阻率測量儀 使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。
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