先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　ダイヤモンドスクライプ ダイヤモンドスクライプ その他関連部材 　先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 シャンク：Steel 3.175mm　x 25mm or 38mm 先端半径：5-micron point, 12-micron point

GGB社のマイクロ波プローブは他社製のマイクロ波プローブと異なり、触針先端までが同一導線による完全同軸構造により製作されております。 （GGB社特許） グランド、シグナル部の触針先端はエッジコンタクト式となっており、酸化膜や硬度のある接触面に良好な接触が実現できるため、オンウェーハ等のアルミ電極においても低接触抵抗による高精度測定が可能となります。 この触針構造によりあらゆる形体のパッケージやDUTに対応すべく形状（例VPスタイル）を用意しております。 特注対応での非磁気性構造(非磁性)仕様のタイプも製作しております。 マイクロ波用ピコプローブとは 　GGB社のマイクロ波用ピコプローブは他社製のマイクロ波用プローブと異なり、触針先端までが同一導線による完全同軸構造により製作されています。 （GGB社特許） 　 　グランド(G)、シグナル(S)部の触針先端はエッジコンタクト式となっており、酸化膜や硬度のある接触面に良好な接触が実現できるため、オンウェーハ等のアルミ電極においても低接触抵抗による高精度測定が可能です。 　 　この触針構造によりあらゆる形体のパッケージやDUTに対応すべく形状（例VPスタイル）を用意しています。また、 特注対応での非磁気性構造(非磁性)仕様のタイプも製作しています。 　マイクロ波用プローブと共に使用されるDC用マルチコンタクトについては高周波測定における共振等の影響を考慮するため、触針直近にチップコンデンサーや抵抗を配置し取付けるGGB社の特許方式により製作されております。 中村＠NPS

It is a needle for electrical characteristics inspection made with optimum alloy of noble metal type mainly composed of palladium, as the contact material for current application. It has the same mechanical characteristics as tungsten and has superior electrical characteristics to beryllium copper, so stable contact is Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Probe Needle Probe Needle Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is a needle for electrical characteristics inspection made with optimum alloy of noble metal type mainly composed of palladium, as the contact material for current application. It has the same mechanical characteristics as tungsten and has superior electrical characteristics to beryllium copper, so stable contact is obtained. More than ten kinds of thickness are prepared between 0.2 mm and 0.7 mm. In addition, osmium alloy for LED, usually needle for tungsten and tungsten carbide material for semiconductor electrode. Especially the standard stock tungsten needle is very recommended at low price. 【Related products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioner ■ P needle (palladium alloy needle) P needle is precision machined in Japan using Paliney 7 as a material. Paliney 7 is excellent in low wear resistance, low contact resistance and high durability. It has been used as an electrode material for more than 50 years, and it is used in many fields due to its material properties. Paliney 7 is an electrode material conforming to ASTM B 540. Containing metal (approx.): Palladium (35%) Silver (30%) Gold (10%) Platinum (10%) Copper (14%) others (1%) Individual resistivity: 30 μΩcm- Conductivity: 5.5 (% l ACS) Knoop hardness: 350-410 Melting temperature: 1015 ° C ■ T-4 needle (for submicron) T-4 needle was manufactured for general probing. Since the whisker needle for the pico probe is used, the submicron hole on the SiO2 opened by the laser cutter can also be attached without damage of the circuit. A shaft part of φ 0.5 mm can be bent by hand and it can be used by processing it into an arbitrary shape. We offer one set of 5 bottles at an affordable price. ■ Push-up pin We are manufacturing push-up pins for parts such as IC chips with tungsten carbide and piano wire at low price. Material: tungsten carbide, stainless steel, piano wire etc. We polish various materials uniformly and offer high quality pins. It can also be used for cutting small parts.

P/N判定器はシリコン半導体のＰ－Ｎのタイプを整流性方式、または、熱起電力方式により簡単に判定することができるテスターです。 シリコンウェーハのＰタイプ－Ｎタイプが簡単に判定でき、P on N 等の試料の判定も可能です。 ​簡易マニュアルタイプ、ウェーハとインゴット兼用、低価格が特長です。 ​ 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　P/N判定器 P/N判定器 半導体・液晶 前工程（検査） 　P/N判定器はシリコン半導体のＰ－Ｎのタイプを整流性方式、または、熱起電力方式により簡単に判定することができるテスターです。 　シリコンウェーハのＰタイプ－Ｎタイプが簡単に判定でき、P on N 等の試料の判定も可能です。 　簡易マニュアルタイプ、ウェーハとインゴット兼用、低価格が特長です。 <使用方法> 【 ウェーハ用プローブ:PN-01-WP 】 　判定したいウェーハの面をステージにのせ、軽く押さえつけるだけでウェーハにダメージを与えず、簡単にPNの判定ができます。 【 インゴット用プローブ:PN-01-GP】 　ホットプローブを試料面に押し当てるだけで、簡単にPNの判定ができます。 PN判定器

Since the SC series coaxial probe needle is terminated at the SMA connector, it can be used in a high frequency band. The tungsten needle terminal for the signal line is processed to 5μR and it is easy to attach the microscopic part. You can select the specification with the ground with an option. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　50Ω Coaxial Probe 50Ω Coaxial Probe Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Microwave Measurement Since the SC series coaxial probe needle is terminated at the SMA connector, it can be used in a high frequency band. The tungsten needle terminal for the signal line is processed to 5μR and it is easy to attach the microscopic part. You can select the specification with the ground with an option. 【Related products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioner

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Resistivity Processor Sheet Resistivity Measuring Instruments Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) High quality tool for professionals ! Using the 4-point probe method, this device ensures precise measurement of the sheet resistance of metallic thin film as well as semiconductor materials like a solar battery silicon with easy & simple operation. For the following product inspections 1) Processes from silicon to wafer manufacturing 2) Liquid crystal panels (LCD) manufacturing 3) Manufacturing process of wide range of electric conductivity elements. Optional 4-Point Probe is needed for the measurement. 【Related Product】4-Point Probe ■ Model sigma-5+ It ensures a precise measurement of the resistivity of silicon wafers and other relative materials. We also offer you handy type probes of sillicon for solar panels. Sigma-5+ is a high-end resistivity measuring instrument and the reason of the high performance is based on our 20 years+ experience of resistivity measuring. You will be able to get and evaluate the accurate sheet resistivity and resistivity rate in product line. Also, you can use it for the R&D and inspection process of semiconductor subtrate and conductive thin film subtrate. * Sigma-5+ and sample stage in the photo. [Specification] [Features] - Detailed test available through intelligent control panel - Desktop size desing - With wide range of measurement - Automatic exchange of polarity of electricity - Automatic reset-zero adjustment - Automatic range selection - Sample thickness adjustment - Average value output and printout - Special function - correction of temperature (for silicon) - Temperature input correction factor - Interface for the data printer - Interface for data transfer (RS232C) - Stages available: RG-5, RG-12, RGE-12 sigma5+.pdf ■ Handy-type Sheet resistance & Resistivity meters SRM-232 Sheet Resistance Meters are low-cost hand-held sheet resistance testing systems that include a meter and a four-point probe for use in measuring the sheet resistance of applied coatings such as conductive paints, EMI coatings, ITO on glass, etc. We also available PV-628 for the resistivity of the Si wafers, such as solar cells foundation. Each device enables you to output data to computers, and power source has the auto power-off function. ■ Handy-type Resistivity meter Model PV-628 MODEL PV-628 is a handy-type measuring instrument using 4-point probe method and is designed only for silicon of solar power generation. You can use it without considering the shape and size of the object. It's a portable device which works with battery cells.

2025年 NEWS 年末年始休業のお知らせ 　平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 　当社の年末年始休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 　2025年12月27日(土) ～ 2026 年1月4日(日) SEMICON Japan 2025 出展のご案内 　当社は、2025年12月17日（水）から19日（金）まで東京ビッグサイトにて開催されるSEMICON Japan 2025に出展いたします（ブース番号：W2534 ）。 　本展示会では、主に半導体テスト・測定向けの高精度プローブおよび高周波対応ソリューションの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: 高周波プローブ、RFプローブ、4探針プローブなど、半導体製造・検査プロセスを支える業界トップクラスの製品を展示。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社のウェハテスト、高周波特性評価、信頼性試験などの技術的課題に対し、最適なプローブソリューションをご提案いたします。 　 　SEMICON Japanは、半導体製造サプライチェーンが一堂に会する日本最大級のイベントであり、次世代AI、自動車、IoTをはじめとするスマートアプリケーションを支える技術革新の場です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 SEMICON Japan 2025 MWE 2025(マイクロウェーブ展)出展のご案内 　当社 は、2025年11月26日（水）から28日（金）までパシフィコ横浜にて開催されるマイクロウェーブ展（MWE）2025に出展いたします（ブース番号：A-12）。 　本展示会では、主にマイクロ波用プローブの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: マイクロ波用プローブ、高周波プローブなど、業界をリードするソリューションを展示。 実演デモンストレーション: 実際の動作環境下での性能をご覧いただける実機展示を実施予定。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社の技術的課題に対する最適な解決策をご提案。 　マイクロウェーブ展は、産学連携と技術革新の場として、未来の通信技術を形作る重要な機会です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 https://apmc-mwe.org/mwe2025/kigyo/data/A02400.html 夏季休業のお知らせ 　平素より大変お世話になっております。 　誠に勝手ながら、弊社では下記の期間において夏季休業とさせていただきます。お客様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。 【休業期間】 2025年8月12日（火）～2025年8月15日（金） 【休業中の対応について】 　休業期間中のご注文、お問い合わせ等は、2025年8月18日（月）以降に順次対応させていただきます。 　なお、休業期間中のメールやフォームからのお問い合わせは受け付けておりますが、回答は8月18日以降となりますので、予めご了承ください。 　今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。 「Metoree(メトリー)」当社掲載内容について 　産業用製品メーカー比較サービスの「Metoree(メトリー)」に2025年７月１７日から、当社の会社情報と製品情報を掲載していただいております。 　「Metoree(メトリー)」は ZAZA株式会社が運営するエンジニア・研究者・購買担当者の方のための産業用製品メーカー比較検索サービスです。測定器・センサ・プリンティング機械・工具・電気電子部品・建材など7,000以上のカテゴリー、産業用製品メーカー・代理店80,000社の情報が掲載されています。 【Webページ】 Metoree(メトリー) ■ Metoree(メトリー)掲載の製品情報 【Webページ】 抵抗率測定器 Σ-5＋| Metoree マイクロ波用ピコプローブ| Metoree 精密位置決めステージ| Metoree エヌピイエスの半導体検査装置3製品 ・人気ランキング | Metoree 「トランジスタ技術」「インターフェース」(CQ出版社)当社掲載内容について 　月刊「トランジスタ技術」、月刊「インターフェース」2025年1月号から、当社の製品情報と採用情報を掲載していただいております。 　月刊「トランジスタ技術」は実用性を重視したエレクトロニクス技術の専門誌、月刊「インターフェース」はコンピュータ・サイエンス＆テクノロジ専門誌です。 【Webページ】 トランジスタ技術 インターフェース セール品の販売について 下記型番マイクロ波プローブにつきセール価格にて提供致します。 ➤ 40A-GSG-300/40A-GSG-300/D-DP-N　¥130,000　残数2 ➤ 50A-GSG-250-P　¥90,000　残数2 ➤ 40A-GS-550-LP-NM　¥70,000　残数1　　　　 　　※在庫につきましては弊社営業までお問い合わせください。　　 　　　　　　 ➤その他、在庫処分セール品一覧

プローブって何？ 電子機器分野でプローブと称するものは、電気的測定で使用するための電極となる外部的なコンタクト部を指し一般的に針形状や棒形状のような機能的に通電接続が容易となる形状のものを指します。 プローブとは 　電子機器分野でプローブと称するものは、電気的測定で使用するための電極となる外部的なコンタクト部を指し一般的に針形状や棒形状のような機能的に通電接続が容易となる形状のもの を指します。 　プローブを用いた電気的測定システムをイメージした場合、測定器と比較してプローブは回路的に単純な構成部分となり、ただ単に被測定物と接続させるだけのツールとして捉えられ測定が実行されると想定してしまいます。 　しかしながら、実際に電気的測定を行う場合にはプローブそのものの性能となる物理的な要因や電気的な要因(導電率等が測定の重要なファクター)となる ため、これらを考慮しないと正確な測定は実行されません。 　内部電位が異なるプローブと被測定物との接続は複雑で、特に被測定物が空間電荷層の発生しやすい半導体になると、その要因が整流現象を左右し、測定結果に大きく影響する接続となってしまいます。仮に金属同士のであっても接触時の抵抗が影響して完全な接続（オーミックコンタクト）は実現しません。 そのため、電気的測定ではこれらの要因に対応すべくプローブの選定が必要となります。 　当社では素材の選定や製造技術により最良の接続を目的とする為のプローブをご提供しております。 　 半導体回路内の電気特性検査で使用されるプローブニードル では、金属電極用として接触の安定を図るため貴金属系素材であるパラジウム合金やオスミウム合金を使用し、接触抵抗の高い半導体用やアルミ電極用としてタングステン、タングステンカーバイトを使用して 製作しております。 　主にIC検査で使用されるピコプローブ については電気的な負荷要因の低減と専用の特殊な針先構造により高精度な低負荷測定を実現しております。 　シート抵抗測定用で用いられる4探針プローブ ではシリコン基板ウェーハ、イオン注入層、 エピタキシャル、アルミ等、それぞれのウェーハタイプに対応した専用プローブ（メカニカル）をご用意しています。 　 　これらのコンタクト部となる先端は精密加工技術により、被測定物とテスターとの安定した接続が可能となります。 中村＠NPS

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　IC接觸探頭 IC接觸探頭 半導体・液晶 作業後的檢查 0.65毫米，1.27毫米，2.54毫米間距用於IC檢測的其他接觸式探頭，其它例如SOP，SSOP等。它安裝在IC測試處理機上並用。 它耐用，可以低運行成本使用。 電極（針）材質在鈹銅上鍍金。 除此之外，也可製作鈀合金，鎢製造。

マイクロメーター駆動式により高精度位置決めが可能な微動位置決め装置です。 米国GGB社製RFプローブの設置ができるように専用のアダプターが取付けられています。 なお、MODEL800シリーズは、ピコプローブ専用に設計された高性能マイクロポジショナーです。 実用新案の位置決め機構と3軸一体式マイクロポジショニング方式により高精度プロービングが可能です。 ​ 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロポジショナー マイクロポジショナー 半導体・液晶 後工程（検査） 　マイクロメーター駆動式により高精度位置決めが可能な微動位置決め装置です。 米国GGB社 製ピコプローブの設置ができるように専用のアダプターが取付けられています。 MODEL800シリーズは、ピコプローブ専用に設計された高性能マイクロプローブポジショナ（マニュピレータ）です。 実用新案の位置決め機構と3軸一体式マイクロポジショニング方式により高精度なプロービングが可能です。 【関連製品】IC用ピコプローブ・マイクロ波用ピコプローブ Model 800M Series 重量 約1.5kg MODEL800.pdf Model 800V Series MODEL250.pdf Model 250M 重量　約550g　下記寸法図

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Four point probe Are you having problems with your 4- point probe? NPS can solve that problem for you! In this article, we will focus on the four-point probe. A standard instrument in use for over 40 years. The four-point probe was developed by A&M FELL of the UK in the 1960s as an electrode for measuring the resistivity of semiconductor materials. Later, the company was acquired by Kulick & Soffer, a major U.S. manufacturer of semiconductor equipment, which took notice of its performance and began selling it, and it became a tool widely used worldwide. In Japan, NPS (formerly known as Nakamura Precision Shokai) started selling the product in 1971, and introduced it to semiconductor manufacturers and equipment manufacturers. At that time, it was still difficult to find a simple and stable way to measure the resistivity of silicon wafers, and engineers quickly recognized the FELL probe as an important tool to solve the problem of semiconductor resistivity measurement, along with the development of measuring instruments. After repeated prototyping until the completion of the FELL probe, we established a design concept that predicted the next several decades and a theoretical structure that enabled high-precision measurement, and succeeded in creating a four-pronged probe that could be used with today's diversified objects to be measured. Later, the patented FELL probe became a worldwide standard instrument used by semiconductor and device manufacturers. (There was an episode where the engineers who were involved in the development of the probe created a separate company to market the probe because it was so good even at the prototype level, but in the end, the difference in performance and durability was so great that it could not be used as an industrial tool. Unlike a four-terminal probe, which simply has four needles, a four-prong probe is a high-performance probe created by "the science and technology of semiconductor contact. For example, the internal spring that pressurizes the needle (patented part) was determined from dozens of prototypes, and is a specification that has a basis in performance. For the mechanical part, we adopted the classic ruby guide for needle movement technique, which was the only cutting-edge watchmaking technology at that time 50 years ago, to pursue the accuracy of the hand guide. (Ruby sliding is still used in some of our FELL type probes, but for the sake of accuracy control and functionality, we use parts made with new materials and manufacturing technology for new probes.) For the needle part in particular, which comes into contact with the object to be measured, the tip structure is formed to correspond to the type of object to be measured, taking into consideration the physical and electrical elements. These technical considerations greatly affect the measurement accuracy, durability, measurement capability, and so on. In the 1970s, NPS President Hayato Nakamura spent a long period of time training at A&M FELL's factory in England to learn the manufacturing technology and know-how of four-point probes, and the technology he inherited directly from the engineers at that time is utilized in the current four-point probes. Nakamura@NPS

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　P/N Checker P/N Checker Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) P/N Checker is a reliable tester which distinguishs P-N type of silicon semiconductors by using either rectification method or thermo-electromotive force method. This unit can distinguish a test material between P type and N type by either using a Pin probe or Hot probe. - For wafer: You can check PN by softly pressing the wafer on the stage. - For ingot: You can check PN by softly pressing hot probe on the sample surface. P/N Checker.pdf