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As a distributor in Japan of EXCEL PRECISION (USA EXCEL PRECISION CO., LTD), we deal with laser interferometer equipment. Combining a dual frequency He - Ne laser system employing stabilized Zeeman and an optical heterodyne detection / signal processor, it is possible to do highly accurate and reliable measurement of a Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Laser Interferometry Tools Laser Interferometry Tools Pre-Process Post-Process Machine Tools As a distributor in Japan of EXCEL PRECISION (USA EXCEL PRECISION CO., LTD), we deal with laser interferometer equipment. Combining a dual frequency He - Ne laser system employing stabilized Zeeman and an optical heterodyne detection / signal processor, it is possible to do highly accurate and reliable measurement of a minimum reading resolution of 0.3 nano, and further a low cost system construction. Excel Precision Co., Ltd. has designed and manufactured originally, and established itself as a specialist of laser interference measuring instruments. More than 5000 units have been used worldwide. We manufacture not only standard products but also custom-made systems according to customer's request. Third choice. Excel Precision Laser Interferometer If you have a laser interferometer from Excel Precision, you can check accuracy at the nano level. ■ 1100B 6 element calibration system The 1100 B laser calibration system is mainly used for quality control on machine tools. It enables to detect and dizitize the table rattiling up to 5 elements at one time. ■ 1550 A angle sensor It enables you to measure displacements of the surface and the Z drive part regardless of color and reflectance by using 1550 A angle sensor.

先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　ダイヤモンドスクライプ ダイヤモンドスクライプ その他関連部材 　先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 シャンク：Steel 3.175mm　x 25mm or 38mm 先端半径：5-micron point, 12-micron point

It is a precision slider (XY table) that can be used in a small place as a fine positioning / inspection table. We have various kinds available. There is no blurring and rattling, and it is made to have high rigidity. 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 定位精密机械 > 精密定位平台 UniSlide　精密定位平台 定位精密机械 　本产品为精密滑轨（XY工作台），可作为微动定位及检测用工作台使用。通过组合配置，可提供XYZ三轴、电动驱动、手动操作等丰富型号。结构设计确保无晃动、无松动，具备高刚性特性。 <产品>　美国VELMEX, INC. Nonmagnetic XY table (photo is an example)

MTF-100、並びにGT-1100は、マイクロ波基板の測定が行なえる小型で簡易タイプのテスト台です。同軸タイプのRFプローブとオプションによりDCプローブの使用ができ、持ち運びが可能なため測定場所を選ばず計測作業が行なえます。いずれもテスト台としての汎用性を有したラボニーズのシステムです。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波テスト治具 マイクロ波テスト台 マイクロ波計測 　MTF-100、並びにGT-1100は、マイクロ波基板の測定が行なえる小型で簡易タイプのテスト台（プローバー）です。同軸タイプのRFプローブとオプションによりDCプローブの使用ができ、持ち運びが可能なため測定場所を選ばず計測作業が行なえます。いずれもテスト台としての汎用性を有したラボニーズのシステムです。 【関連製品】IC用ピコプローブ ・マイクロ波用ピコプローブ MTF-100 　MTF-100 シリーズは、マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 　小型ながら高精度で強固な構造に設計されており、低損失マイクロ波プローブを2ポートにセットしてのマイクロ波評価テストが行えます。また、小スペース設計により持ち運びができ、測定場所を選びません。 　MTF-100 シリーズに使用するプローブは、微小電極部に対応させるため、シグナルとグランドとのピッチ間隔を50ミクロンから2540ミクロンの範囲で選択でき、ネットワークアナライザのシステムアップにより最大67GHzまでの周波数帯域でテストが行えます。 MTF-100 GT-1100 (4"対応) 　MODEL GT-1100はマイクロ波領域（dc～40GHz）における伝送回路部品の電気特性測定を行なうための低損失マイクロ波プローブと、試料を微動位置決めさせることが可能な真空チャックを標準装備したテーブルトップサイズのテスト台です。オプションのプローブにより（50～110GHz）の測定にも対応することができます。 　MODEL GT-1100は計測に必要となるプローブ等の高性能付属品をセットにしている為、コストパフォーマンス性に優れ研究開発分野においての最適な測定システムとなっています。 GT-1100 ■ 導波管プローブ用テスト台 (GT-3000) ■ チューナー用テスト台 (GT-1502) 　GT-3000、GT-1500シリーズは導波管プローブを使用して効率的に測定が行なえるよう考慮され設計されたテスト台です。 　導波管プローブ（ミリ波帯）とチューナー機器等との接続が最短の位置で行え、損失の低減が可能となります。また、プローブと機器とが同時に動かせるため、導波管プローブを使用しての計測に適しています。カスタムオーダーメイドも歓迎です。

Main Products ･4-point probes and related equipment for resistivity measurement of semiconductors, thin film layers, etc. ･semiconductor and liquid crystal thin film sheet resistivity measurement equipment ･high performance probes for characterization of semiconductor ICs (ULSI, VLSI, etc.) ･microwave measurement probes and measurement equipment ･various types of linear and rotary slides, manual and motorized, for measurement and laboratory use ･probe needles and scripe points Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product List 1. Pre-Process Semiconductors and Electronic Materials Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Resistivity Processor P/N Checker 4-Point Probe Laser Interferometry Tools *Usable for both pre and post process 2. Post-Process Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC Micro Positioner 50Ω Coaxial Probe IC Contact Probe Probe Needle 3. Microwave&Other Microwave Measurement Picoprobe for Microwave Jig tool for Microwave Testing Other Products Capillary Blank Diamond Scribe 4. Positioning Precision Positioning Precision Machinery X-Y Slider Tables SS Magnet

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　IC接觸探頭 IC接觸探頭 半導体・液晶 作業後的檢查 0.65毫米，1.27毫米，2.54毫米間距用於IC檢測的其他接觸式探頭，其它例如SOP，SSOP等。它安裝在IC測試處理機上並用。 它耐用，可以低運行成本使用。 電極（針）材質在鈹銅上鍍金。 除此之外，也可製作鈀合金，鎢製造。

プローブって何？ 電子機器分野でプローブと称するものは、電気的測定で使用するための電極となる外部的なコンタクト部を指し一般的に針形状や棒形状のような機能的に通電接続が容易となる形状のものを指します。 プローブとは 　電子機器分野でプローブと称するものは、電気的測定で使用するための電極となる外部的なコンタクト部を指し一般的に針形状や棒形状のような機能的に通電接続が容易となる形状のもの を指します。 　プローブを用いた電気的測定システムをイメージした場合、測定器と比較してプローブは回路的に単純な構成部分となり、ただ単に被測定物と接続させるだけのツールとして捉えられ測定が実行されると想定してしまいます。 　しかしながら、実際に電気的測定を行う場合にはプローブそのものの性能となる物理的な要因や電気的な要因(導電率等が測定の重要なファクター)となる ため、これらを考慮しないと正確な測定は実行されません。 　内部電位が異なるプローブと被測定物との接続は複雑で、特に被測定物が空間電荷層の発生しやすい半導体になると、その要因が整流現象を左右し、測定結果に大きく影響する接続となってしまいます。仮に金属同士のであっても接触時の抵抗が影響して完全な接続（オーミックコンタクト）は実現しません。 そのため、電気的測定ではこれらの要因に対応すべくプローブの選定が必要となります。 　当社では素材の選定や製造技術により最良の接続を目的とする為のプローブをご提供しております。 　 半導体回路内の電気特性検査で使用されるプローブニードル では、金属電極用として接触の安定を図るため貴金属系素材であるパラジウム合金やオスミウム合金を使用し、接触抵抗の高い半導体用やアルミ電極用としてタングステン、タングステンカーバイトを使用して 製作しております。 　主にIC検査で使用されるピコプローブ については電気的な負荷要因の低減と専用の特殊な針先構造により高精度な低負荷測定を実現しております。 　シート抵抗測定用で用いられる4探針プローブ ではシリコン基板ウェーハ、イオン注入層、 エピタキシャル、アルミ等、それぞれのウェーハタイプに対応した専用プローブ（メカニカル）をご用意しています。 　 　これらのコンタクト部となる先端は精密加工技術により、被測定物とテスターとの安定した接続が可能となります。 中村＠NPS

We specialize in the import, export, manufacturing, and sales of inspection, measurement, andmanufacturing equipment essential for the semiconductor and electronics industries. With a focus on the "precision" born from "new technology," we are committed to delivering the highest value to our customers through relentless pursuit of excellence. Our products are widely utilized in fields requiring exceptional accuracy, such as semiconductors and liquid crystal displays. Home Product About Us English 日本語サイト Microwave Picoprobe Microwave Picoprobe 4 Point probe Microwave Picoprobe 1/6 Pursuing new precision technology! 　We specialize in the import, export, manufacturing, and sales of inspection, measurement, and manufacturing equipment essential for the semiconductor and electronics industries. 　With a focus on the "precision" born from "new technology," we are committed to delivering the highest value to our customers through relentless pursuit of excellence. 　Our products are widely utilized in fields requiring exceptional accuracy, such as semiconductors and liquid crystal displays. ➤ Contact Us 4-Point Probe Products Resistivity measuring instrument This is a manual type measuring instrument that can measure sheet resistance or resistivity of metallic thin films, etc. easily and precisely using the 4-point probe method. 4-Point Probe Half a century has passed since we started handling 4-point probes, and they are recognized worldwide as high-precision semiconductor probes for resistivity measurement. Picoprobe for IC The measurement can be performed with minimal load on the measurement device, thus reproducing digital waveforms with high fidelity. Microwave Picoprobe A test probe for microwave devices that combines low loss and high durability with GGB's unique continuous coaxial construction. Microwave Test Stand This is a test fixture for fixing and mounting small circuit boards and components that use microwaves as transmission paths to evaluate their characteristics. Precision X-Y Slider Table Precision slider that can be used as a table for fine positioning and inspection. XYZ, conductive, manual, and a wide variety of types are available depending on the combination. > Products ➤ Contact Us SEMICON JAPAN 1977-2024 　 We have been exhibiting at SEMICON JAPAN, a comprehensive exhibition for semiconductor manufacturing and testing equipment, since the first exhibition. Learn More ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

エヌピエス株式会社は4探針プローブの取扱いを開始して以来50年以上経つ専門会社です。

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　四点探针探测器 四点探针探测器 [NPS Version] 半导体・液晶 前置作业检查 它是用于测量电阻率的高精度探头。 目前，直流四点探针法是测量导电材料电阻值最可靠的方法。 许多测量工程师认定测量中使用的探头的机械性能极大地影响了测量的准确性。 特别是在测量半导体材料时，会出现精度和耐久性问题。 拥有多年经验和良好记录的NPS 四点探针在全球被公认为高精度探头，并被测量仪器製造商用作标准探头。针部分使用耐用的金属在金属和远端的低导体电阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接触 " 处理 (IP, MT, 某人, 通过执行 EP 等), 保证了多种不同样品的稳定测量。 (日本国内组装产品、调整和售后产品) NPS 是40年来的探针专家, 另外还为探頭、探针修復和测试以及其他公司所做的其他探头提供技术谘询。 (对于 Napson, 其他测量仪器) <主要功能> 高精度·高耐久性·世界标准装备·低价格·短期维修再生（FELL型）从针尖到连接器的连续连接，通过专利的板迭板式弹簧，专用针规格， 採购，装配，性能管理 【相关产品】电阻率测量仪 ■ 四点探针探测器 构成四点探针的每个部件都是由专用加工机器的开发和生产製造的，从製造到出货的品质控制都是由专职技术人员进行，由此可以提供具有高精度和高耐用性产品 。 此外，为了满足国内用户的要求，我们制定了自己的规格并进行组装。我们还提供各种四点探针的维修或改装服务。如果您想了解更多信息，请随时与我们联系。 ■ 轻小型探测器 这是一个手持式测量的四点探针。 它可以用于硅铁锭等。 ■ 0.1mm间隔 MODEL SEP-4是一个四点探针，用于测量针距为0.1 mm间距的薄层电阻。 由于四根针之间的距离小至0.3mm（线性），因此电场能量的影响范围很小，并且即使在面积为5×5mm的小面积的焊盘的情况下，电阻测量也不受电场电力的影响。 可安装并固定在我们的微型定位器800MRF上。 尖端材料 钨(W)，铍铜(BeCu) 尖端形状 扁平(F)，圆形(R) 针距0.1mm（总距离0.3mm）0.3mm（总距离0.6mm）。 0.3mm(总距离0.6mm)引出线60cm香蕉插头等可选装。

It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe design and manufactured by  GGB Industries,Inc(US) can be installed. 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 微定位器 微定位器 半導体・液晶 作業後的檢查 微动定位装置采用千分尺驱动结构，可实现高精度定位。配备专用适配器，可安装美国GGB公司生产的Pico探针。MODEL800系列是专为Pico探针设计的高性能微探针定位器（操纵器）。通过实用新型定位机构与三轴一体化微定位方式，可实现高精度探测。 【相关产品】IC用Pico探针 ·微波用Pico探针 ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series MODEL800.pdf

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Company Profile Contact Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, specifications etc. Phone: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp Outline Enlarged View (Google Maps) 5 minutes walk from JR Kameido Station 15 minutes walk from Toei Shinjuku LIne Nishi-Ojima Station Business items (main handled products) 1. 4-point probes and related devices for resistivity measuring instruments such as semiconductors and thin film layers 2. Sheet resistivity measuring instrument for semiconductor, liquid crystal thin film 3. High-performance probe for characterization of semiconductor IC (ULSI, VLSI, etc.) 4. Measurement probe and measurement device for microwave 5. Slide products for measurement, experimental, manual and electric linear/rotating type 6. Probe needle, scrape point 7. Laser interferometer system Management policy We select high-tech equipments and materials indispensable for the advancement of industrial technology in our country widely from domestic and overseas, and provide customers those equipments and information. In addition, we listen to customers' opinions and requests to contribute to the development of industry. As a partner, we carefully see the world trend, so that we help our customers' business more efficiently and achieve cost cutting. We promote consistent management with the motto "We will deliver better products at a lower price with an earlier delivery date". We define our value as the contribution to the development of our customers. President Hayato Nakamura