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Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for Microwave Picoprobe for Microwave Microwave Measurement Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for microwave (RF probe) is a test probe for microwave devices combining low loss and high durability by GGB's unique continuous coaxial structure (patented). Also, with multi-contact probes that can be arranged with DC probes, it is now possible to reduce transmission measurements such as transmission by using a hybrid configuration of capacitors and resistors (patented). Picoprobe is widely adopted for engineers sticking to severe data measurement. With the leaf spring type ground chip structure and edge contact method, low contact resistance can be realized and good measurement reproducibility is obtained, and needle tip made of nickel material can be manufactured. Please contact us for pitch of 100 μm or less, large current probe for car electronics etc. It has low loss, high repeatability and high durability, and has its own performance by patented coaxial structure and patented bypass capacitor method etc. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioner [Features] ■ Strong structure and high performance The signal part of the Picoprobe has a continuous coaxial structure from the connector part to the needle tip. This continuous coaxial structure is excellent in signal transmission characteristics and can reliably transmit a signal to the peak frequency region. In addition, the attached needle tip is hardly affected by the resonance caused by external vibration, and is also strong against overloading when attaching to the needle tip. ■ Various styles Several styles are available for the Picoprobe for measuring various sample shapes such as flat board and package. ■ Easy needle probe The tip of the grant attaching to the DUT of the Picoprobe has a spring-like structure. In contrast, a fixed gap is made between the fixed signal line needle tip and the ground needle portion. Because this gap can be used as a guideline for needle guarding, you can always contact in a stable state. ■ Point contact The tip of the Picoprobe has a point shape so that stable contact is always obtained. It ensures the reliable measurement because it repels the oxide film of the object and reduces misalignment error occurring when contacting the needle tip. Function comparison table of picoprobles for microwave

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　四点探针探测器 四点探针探测器 [NPS Version] 半导体・液晶 前置作业检查 它是用于测量电阻率的高精度探头。 目前，直流四点探针法是测量导电材料电阻值最可靠的方法。 许多测量工程师认定测量中使用的探头的机械性能极大地影响了测量的准确性。 特别是在测量半导体材料时，会出现精度和耐久性问题。 拥有多年经验和良好记录的NPS 四点探针在全球被公认为高精度探头，并被测量仪器製造商用作标准探头。针部分使用耐用的金属在金属和远端的低导体电阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接触 " 处理 (IP, MT, 某人, 通过执行 EP 等), 保证了多种不同样品的稳定测量。 (日本国内组装产品、调整和售后产品) NPS 是40年来的探针专家, 另外还为探頭、探针修復和测试以及其他公司所做的其他探头提供技术谘询。 (对于 Napson, 其他测量仪器) <主要功能> 高精度·高耐久性·世界标准装备·低价格·短期维修再生（FELL型）从针尖到连接器的连续连接，通过专利的板迭板式弹簧，专用针规格， 採购，装配，性能管理 【相关产品】电阻率测量仪 ■ 四点探针探测器 构成四点探针的每个部件都是由专用加工机器的开发和生产製造的，从製造到出货的品质控制都是由专职技术人员进行，由此可以提供具有高精度和高耐用性产品 。 此外，为了满足国内用户的要求，我们制定了自己的规格并进行组装。我们还提供各种四点探针的维修或改装服务。如果您想了解更多信息，请随时与我们联系。 ■ 轻小型探测器 这是一个手持式测量的四点探针。 它可以用于硅铁锭等。 ■ 0.1mm间隔 MODEL SEP-4是一个四点探针，用于测量针距为0.1 mm间距的薄层电阻。 由于四根针之间的距离小至0.3mm（线性），因此电场能量的影响范围很小，并且即使在面积为5×5mm的小面积的焊盘的情况下，电阻测量也不受电场电力的影响。 可安装并固定在我们的微型定位器800MRF上。 尖端材料 钨(W)，铍铜(BeCu) 尖端形状 扁平(F)，圆形(R) 针距0.1mm（总距离0.3mm）0.3mm（总距离0.6mm）。 0.3mm(总距离0.6mm)引出线60cm香蕉插头等可选装。

Main Products ･4-point probes and related equipment for resistivity measurement of semiconductors, thin film layers, etc. ･semiconductor and liquid crystal thin film sheet resistivity measurement equipment ･high performance probes for characterization of semiconductor ICs (ULSI, VLSI, etc.) ･microwave measurement probes and measurement equipment ･various types of linear and rotary slides, manual and motorized, for measurement and laboratory use ･probe needles and scripe points Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product List 1. Pre-Process Semiconductors and Electronic Materials Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Resistivity Processor P/N Checker 4-Point Probe Laser Interferometry Tools *Usable for both pre and post process 2. Post-Process Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC Micro Positioner 50Ω Coaxial Probe IC Contact Probe Probe Needle 3. Microwave&Other Microwave Measurement Picoprobe for Microwave Jig tool for Microwave Testing Other Products Capillary Blank Diamond Scribe 4. Positioning Precision Positioning Precision Machinery X-Y Slider Tables SS Magnet

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Company Profile Contact Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, specifications etc. Phone: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp Outline Enlarged View (Google Maps) 5 minutes walk from JR Kameido Station 15 minutes walk from Toei Shinjuku LIne Nishi-Ojima Station Business items (main handled products) 1. 4-point probes and related devices for resistivity measuring instruments such as semiconductors and thin film layers 2. Sheet resistivity measuring instrument for semiconductor, liquid crystal thin film 3. High-performance probe for characterization of semiconductor IC (ULSI, VLSI, etc.) 4. Measurement probe and measurement device for microwave 5. Slide products for measurement, experimental, manual and electric linear/rotating type 6. Probe needle, scrape point 7. Laser interferometer system Management policy We select high-tech equipments and materials indispensable for the advancement of industrial technology in our country widely from domestic and overseas, and provide customers those equipments and information. In addition, we listen to customers' opinions and requests to contribute to the development of industry. As a partner, we carefully see the world trend, so that we help our customers' business more efficiently and achieve cost cutting. We promote consistent management with the motto "We will deliver better products at a lower price with an earlier delivery date". We define our value as the contribution to the development of our customers. President Hayato Nakamura

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Resistivity Processor Sheet Resistivity Measuring Instruments Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) High quality tool for professionals ! Using the 4-point probe method, this device ensures precise measurement of the sheet resistance of metallic thin film as well as semiconductor materials like a solar battery silicon with easy & simple operation. For the following product inspections 1) Processes from silicon to wafer manufacturing 2) Liquid crystal panels (LCD) manufacturing 3) Manufacturing process of wide range of electric conductivity elements. Optional 4-Point Probe is needed for the measurement. 【Related Product】4-Point Probe ■ Model sigma-5+ It ensures a precise measurement of the resistivity of silicon wafers and other relative materials. We also offer you handy type probes of sillicon for solar panels. Sigma-5+ is a high-end resistivity measuring instrument and the reason of the high performance is based on our 20 years+ experience of resistivity measuring. You will be able to get and evaluate the accurate sheet resistivity and resistivity rate in product line. Also, you can use it for the R&D and inspection process of semiconductor subtrate and conductive thin film subtrate. * Sigma-5+ and sample stage in the photo. [Specification] [Features] - Detailed test available through intelligent control panel - Desktop size desing - With wide range of measurement - Automatic exchange of polarity of electricity - Automatic reset-zero adjustment - Automatic range selection - Sample thickness adjustment - Average value output and printout - Special function - correction of temperature (for silicon) - Temperature input correction factor - Interface for the data printer - Interface for data transfer (RS232C) - Stages available: RG-5, RG-12, RGE-12 sigma5+.pdf ■ Handy-type Sheet resistance & Resistivity meters SRM-232 Sheet Resistance Meters are low-cost hand-held sheet resistance testing systems that include a meter and a four-point probe for use in measuring the sheet resistance of applied coatings such as conductive paints, EMI coatings, ITO on glass, etc. We also available PV-628 for the resistivity of the Si wafers, such as solar cells foundation. Each device enables you to output data to computers, and power source has the auto power-off function. ■ Handy-type Resistivity meter Model PV-628 MODEL PV-628 is a handy-type measuring instrument using 4-point probe method and is designed only for silicon of solar power generation. You can use it without considering the shape and size of the object. It's a portable device which works with battery cells.

4探針プローブの修理に関して 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 旧タイプ4探針プローブ（FELLタイプ）製造中止に伴う交換キャンペーンのお知らせ 　 『4探針プローブ FELLタイプ』の販売と修理・調整を中止 させて いただくこととなりました。 　取扱い中止の主な理由といたしましては、旧タイプ4探針プローブ(FELLタイプ）の構造上、測定不安定要因となる 致命的な不具合 を有していたこと、 創業当時から の設計部品と年代間の部品整合性の不良等の問題も生じており、 修理管理 が困難となっていたことです。 　つきましては、新部材を採用した新規設計による新型4探針プローブのご提供を開始いたしました。 今後の製品安定供給のため、旧タイプから新型4探針プローブへの切替を ご提案させていただいております。旧 タイプの修理・調整のご対応といたしまして、下記内容にて新型4探針プローブと修理相当価格に て交換させていただきます。 　お客様で現在ご使用頂いております旧タイプ４探針プローブを下取りという形を取らせ ていただき、 新型４探針プローブと交換させていただきます。 ・修理調整のご依頼をいただけるお手持ちの4探針プローブを弊社宛にお送りください。 　➤お送りいただいた4探針プローブを新型4探針プローブに「修理交換品」（またはご要望の 名目）にて 　　 お見積書を送付させていただきます。 　➤その後、検査カードと共に新型４探針プローブを発送させていただきます。 旧タイププローブ　 （FELL/JANDEL/MPP/KLA,等） 新型プローブ 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(PE/FP/FR他ケーブル付) お問合せページ

ピコプローブ（Picoprobe）は電気容量値を示す単位ピコファラッド（ｐＦ）のピコ（ｐｉｃｏ）と、オシロスコープで使用するプローブ（Probe）との造語で、米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（ＦＥＴ）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 ​ ピコプローブとは 　ピコプローブ(Picoprobe)は、電気容量値を示す単位「ピコファラッド(pF)」の「ピコ(pico)」 と、オシロスコープで使用する「プローブ(Probe)」 との造語で、米国「GGB Industries, Inc.」 の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（FET）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 　ピコプローブは、IC、CMOS、また、液晶用省電力回路等の内部電圧計測のための高性能FETプローブ（アクティブプローブ）です。 ピコプローブの持つ超低入力容量と高入力抵抗は、高インピーダンス回路に対して低負荷でのプロービングが実現でき、被測定回路に与える影響を最小限にし、波形を忠実に再現することができます。 しかしながら、一般のFETプローブ以上にシビアな性能のため、特殊性を熟知した専門技術者だけが取扱える、プロフェッショナル用のツールです。 　ピコプローブは1970年代、当時の米国ベル研究所でICの設計に携わっていた技術者ボール氏が、自己の専用ツールとして設計製作した電圧測定用プローブをベースに製品開発されたもの です。1980年にGGB Industries, Inc.が設立され、ピコプローブの商品名で世界中に発売が開始されて以来、現在に至るまで40年以上のロングセラー商品となっております。 　当時は入力容量が最小でも1pFという値のプローブしか世の中に存在しておらず、MOSの動作検証テストやIC故障解析で使用するにはかなりの支障がありました。しかし、入力容量0.02pFという驚異的な性能を持つピコプローブの出現によって、IC技術革新に大きく貢献することができました。 　その後、1988年に開発されたGGB社独自の構造を持つマイクロ波用ピコプローブ（米国特許取得）とともに、ピコプローブは電子回路テスト用高性能プローブの代名詞となり、世界的な標準器具としてプロの技術者に広くご使用いただいております。 　クラフトマンシップを大切にするGGBの技術屋が製作するピコプローブ。こだわりを持つプロの技術者におすすめいたします。 > GGB社のホームページへ (ピコプローブは米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。) 中村＠NPS

GGB社製 マイクロ波用RFプローブ　機能比較表 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ 　>　機能比較表 マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 マイクロ波プローブ 校正用基板（マイクロ波プローブ用） 校正用基板（ >110GHz用） 校正用基板（デュアルタイププローブ用）

製品の技術相談・機種選定・仕様など、お気軽にお問い合わせください。 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 NPS株式会社 採用応募フォーム 送信 Send ※このメールアドレスへの特定電子メールの送信を拒否いたします。 電話やメール、当サイトのフォームを利用した当社への売り込みの一切をお断りしています。 特にお問い合わせフォームを利用した売り込みが多くみうけられます。 当社のフォームは当社の既存のお客さまからの連絡や、お悩みのお客さまなどからのお問い合わせを目的として設置したものです。 売り込みはこの目的外の利用であり当社業務の阻害要因となることから、サイトポリシーの記載とおりフォームを利用した売り込みの一切を固く禁止いたします。 お問い合わせフォームを利用して、繰り返し売り込みをおこなう企業様には、しかるべき対応を取らせていただく場合があります。 　 お問い合わせいただき誠にありがとうございます。担当者確認の上、追ってご連絡いたしますので、今しばらくお待ちいただきますようお願いいたします。Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　微定位器 微定位器 半导体・液晶 作业后的检查 它是一种微动定位装置，可通过千分尺驱动型进行高精度定位。 安装一个专用适配器，以便安装由美国GGB公司製造的pico探头。 MODEL 800系列是专为微探针设计的高性能微型定位器。 採用本实用新型的定位机构和三轴一体化微型定位系统，可实现高精度探测。 【相关产品】IC检测用探针 ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　50Ω同軸探頭 50Ω同軸探頭 半導体・液晶 作業後的檢查 由於SC系列同軸探針的終端在SMA連接器上，因此可用於高頻段。 信號線的鎢針端子也容易被使用在加工後的5μR微小連接處，也可以選擇周邊產品的規格。 【相關產品】微定位器

It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 金刚石划线器 钻石刮刀 其他相关部件 　尖端采用钻石刀头，适用于切割带氧化膜的硅晶圆、玻璃等材料时的划线和标记作业。 刀柄：钢制 3.175mm × 25mm 或 38mm 尖端半径：5微米尖端，12微米尖端