サイト内検索

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 公司简介 联繫我们 产品的相关资讯，请联繫我们 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司简介 经营项目（主要产品） 1.用于电阻率测量仪器如半导体和薄膜层的四点探针相关器材 2.半导体，液晶薄膜的片电阻率测量仪 3.用于征半导体IC（ULSI，VLSI等）的高性能探头 4.微波测量探头和测量装置 5.测量，实验，手动和电动，直线旋转式滑动产品 6.探针，划线点 7.激光干涉仪系统 经营理念 我们精心挑选我国工业技术的发展和不可或缺的高科技设备和材料为您服务。 此外，我们会努力听取客户的意见和要求，为近年来的行业发展作出贡献。 作为小生意伙伴，我们将随时注意产业发展趋势，实现合理化，降低成本。 我们将以“更优惠的价格，快速的交货日期提供更优质的服务并且希望我们的客户意识到我们重要性，让我们为社会做出贡献。 代表董事 中村勇人

抵抗率を測定する時に用いる高精度プローブです。  現在、導電性材料の抵抗値を測定する最も信頼性の高い方法として直流4探針法があります。その測定で使用されるプローブの機械的性能が、測定の精度を大きく左右することは多くの測定技術者が認めるところです。 特に、半導体材料の測定時には精度とともに耐久性が問題となります。 長年の経験と実績を誇るNPS製4探針プローブは高精度プローブとして世界的に認められており、標準プローブとして測定器メーカー各社が採用しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 4探針プローブ 半導体・液晶 前工程（検査） 　抵抗率を測定する時に用いる高精度なプローブです。 現在、導電性材料の抵抗値を測定する最も信頼性の高い方法として4探針法があります。その測定で使用されるプローブの機械的性能が測定精度を大きく左右することは多くの測定技術者が認めるところです。 　特に、接触式の破壊検査における半導体の測定には精度とともに耐久性が課題となります。 　長年の経験と実績を誇るNPS製【MADE IN JAPAN】の４探針プローブは高精度な半導体プローブとして世界的に認められており、標準プローブとして各国の測定器メーカーに採用いただいております。 　 　新規開発のニードルは、接続部に高耐久性ワンピース構造の低抵抗金属を使用することで良好な導電性を保ち、さらにNPS独自の「マイクロエッジコンタクト加工処理」（IP,MT,SB,EP等）により、多様化する試料の安定した測定が保証されます。(日本国内アセンブル品、調整品、および、アフターサービス品) 　NPSは、４探針プローブの取扱いを開始して半世紀が経つ専門会社です。プローブに関する技術相談、プローブ修理・検定等、また他社製プローブの調整も行ないます。（ナプソン、KLA、MPP、共和理研、他メーカー対応） <主な特長> 高精度・高耐久性・世界標準器具・ 低価格・短期修理再生（FELLタイプ）針先からコネクターまで連続結線、特許式のリーフスプリング機構により接触時の変動が極小、試料別針先仕様, 日本国内での部品調達、アセンブル、性能管理 【関連製品】抵抗率測定器（シート抵抗測定器） ４探針プローブをもっと知る 4探針プローブ（NPタイプ） 　ＮPS製の４探針プローブは、各部品を全て日本国内で製造し組み立て調整することで安定した供給と組立精度を実現しました。 1971年創業当時より４探針プローブの取り扱いを始めて以来半導体の発展とともに蓄積されたノウハウが今日の４探針プローブに生かされています。 　 様々な試料に対応できるよう４探針プローブヘッドに独自の調整を行い、4探針法抵抗率測定の高精度化を実現しております。さらに、自社の抵抗率測定器とともに精度管理を行うことで信頼性のある製品をご提供させていただいております。 　 4探針プローブを例えると、機械でいうところのセンサー部分に当たります。 このセンサー部分の性能の良し悪しが測定結果に多大な影響を及ぼすのは言うまでもありません。 　当社又は各社の測定器に対応したコネクターを接続することによりご使用いただけます。 4探針プローブ 総合カタログ 旧タイププローブに関するお知らせ 　４ 探針プローブを構成する各部品は、専用の加工機械の開発・製作から行い、専任の技術スタッフによる製造から出荷までの品質管理を行なうことにより、高精度、高耐久性の４探針プローブの提供を可能としています。また、長年の経験と国内ユーザーからのご要求に対応するため、独自の仕様を設定し、アセンブルを行なっております。 　 ４ 探針プローブに関する技術的な相談も承っております。詳細は弊社営業までお問合せ下さい。 　当社 の4探針プローブを初めてお使いになられるユーザー様にトライアル価格でご提供致します。また各社4探針プローブの修理、 カスタマイズ（部品交換・オーバーホール）のご依頼にも対応しております。 お気軽にお問い合わせください。 主な使用用途 シリコンウェーハ、ITO薄膜等のシート抵抗値、抵抗率による膜厚測定管理 研究目的における体積抵抗率、表面抵抗率（Ω、Ω-cm、Ω/sq） 4探針プローブ　使い切りモデル 4探針プローブの修理に関して スクエアプローブ 4探針プローブヘッド 　この名称は、電極が正方形の形状を形成していることに由来しており、電極の間隔は等しくなっています。標準的な電子材料等のシート抵抗測定においては電極探針が直列の4探針法を用いて行いますが、ここでは電極探針が正方形状に配列されたスクェアプローブによるシート抵抗測定についての資料をご提供いたします。 スクェアプローブを用いたシート抵抗測定資料 K-89PSシリーズ向け取付治具 　専用の取付治具をオプションで販売しております。共和理研製の４探針プローブと同一の測定架台に取り付ける事が可能となります。詳しくは当社営業までお問い合わせください。 4探針プローブヘッド 　低価格で高精度なNPプローブに加えて弊社では修理調整可能な4探針プローブヘッドも製造しております。 　修理可能なモデルの4探針プローブは修理・調整することにより再生使用が可能となります。また、ニードル、ガイド等の消耗部品のみの交換によりランニングコストを抑えることができます。 　NPSは長年、海外製4探針プローブを自社内にて日本規格の精度にリアセンブルを行い販売、修理調整等を行いお客様にご提供させていただいておりました。 しかしながら、旧来の技術で製造された部材ではどうしてもクリアできない不具合が発生するため、精度と品質の向上を図るべく改良設計を弊社で行い、50年以上培ったノウ・ハウを基盤とした高精度4探針プローブの自社製造を行う経緯にいたりました。 TypeA~I TypePE 　プローブの種類は、測定試料の材質、表面状態、形状などに応じて選択します。 【測定サンプル】 推奨する当社の4探針プローブ（NPタイプの場合） 【バルクインゴット・ブロック材】 ➤プローブ型番 NP1-TSB2 (仕様:TC-40uR-200g) 例:先端半径40uR、針圧力200g 【シリコン基板（ラップ、ミラー等）】 ➤プローブ型番 NP1-TSB2 (仕様:TC-40uR-200g) 【エピタキシャル層】　　　　 ➤プローブ型番 NP4-TEP2 (仕様:TC-200uR-200g)　　　　 【エピタキシャル層 (<1µm)】 ➤プローブ型番 NP4-TEP1(仕様:TC-200uR-100g) 【浅い拡散層】 ➤プローブ型番 NP4-TIP1(仕様:TC-200uR-100g) 　　　　　　　 NP4-PMT1(仕様:P-200uR-100g) 【イオン注入層】 (低ドーズ） ➤NP5-TIP1 (仕様:TC-400uR-100g) 　　　　　　　 （高ドーズ） ➤NP4-TIP2(仕様:TC-200uR-200g) 【金属薄膜】 ➤プローブ型番 NP4-TMT1(仕様:TC-200uR-100g) NP4-PMT1(仕様:P-200uR-100g) 【ITO層】 ➤プローブ型番 NP5-TFT1(仕様:TC-400uR-100g) ■ ハンドプローブ 手持ちで簡単に抵抗率測定が行えるハンディタイプの4探針プローブです。 インゴット等に使用可能です。 ハンドプローブ ■ SR-BOX 基準抵抗が内部にセットされている抵抗 BOX でプローブと測定器の簡易チェックが行え ます。基準抵抗器は 1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω の 4 種類で、いずれも 保証精度 ±1％（使用抵抗器 ±0.1％）となります。 SR-BOX 0.1ｍｍピッチ4探針プローブ MODEL SEP-04は、針間隔が0.1mmピッチのシート抵抗測定用4探針プローブです。 針4本の距離が0.3mm(リニア)と微小のため電界エネルギーの影響範囲が小さく、小面積5x5mm のパッドの場合でもエッジから0.5mm付近までは電界電力の影響を受けずにシート抵抗測定をすることができます。 0.1mmピッチ4探針プローブ 弊社マイクロポジショナー 800MRFに取付固定ができます。お手持ちの実体顕微鏡と併用する事で微細な試料の抵抗率測定にご使用いただけます。 探針材質　タングステン（W） ベリリウム銅（BeCu） 探針先形状　フラット（F）　ラウンド（R） 各探針間隔　0.1mm（総距離0.3mm）　0.3mm(総距離0.6mm) リード線　90cm　オプションでバナナプラグ等取り付けが可能です。 ※このプローブは独自仕様となる為下記の仕様表には適合しません 針先の3Dイメージ。 40μR、100μR、150μR、200μR、400μR

It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe design and manufactured by  GGB Industries,Inc(US) can be installed. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Micro Positioner Micro Positioner Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe d esign and manufactured by GGB Industries,Inc (US) can be installed. The MODEL 800 series is a high performance micro positioner specifically designed for pico probe. High precision probing is possible with the positioning mechanism of utility model and 3-axis integral micro positioning system. 【Related products】Picoprobe for IC ・ Picoprobe for Microwave ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series MODEL800.pdf

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for IC Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC By using the Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for IC, the internal voltage of the IC can be measured accurately.Picoprobe is for IC voltage measurement which keeps the stray capacitance value of the probe itself to the utmost limit and further bring the impedance close to the infinite value. This minimizes the load on the measuring device and enables measurement to be performed faithfully. Not only Models 35 which is the world's fastest FET probe, but also we prepare many other models corresponding to each measurement mode. Picoprobe is a worldwide standard instrument as a tool for analytical measurement in integrated circuit design field.We will also correspond with adapters etc. so that they can be used with probers of each manufacturer. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioners [Function comparison table for Picoprobe (FET probe)]

It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe design and manufactured by  GGB Industries,Inc(US) can be installed. 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 微定位器 微定位器 半導体・液晶 作業後的檢查 微动定位装置采用千分尺驱动结构，可实现高精度定位。配备专用适配器，可安装美国GGB公司生产的Pico探针。MODEL800系列是专为Pico探针设计的高性能微探针定位器（操纵器）。通过实用新型定位机构与三轴一体化微定位方式，可实现高精度探测。 【相关产品】IC用Pico探针 ·微波用Pico探针 ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series MODEL800.pdf

Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 4-Point Probe Repair Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) ■ Repair for 4-Point probe Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Repairable Probe Type NAPSON KLA Tencor MPP FELL Contact us

今回はGGB社製のT-4ニードル（別名キャットウィスカーニードル）を取上げてみました。 T-4ニードルは超LSＩや液晶等の微細回路解析を行う技師から”使い勝手が良い”と　とても高評価のプローブニードルです。 もともと低入力容量プローブであるピコプローブの専用ニードルとして開発されたものを一般プロービング用としても使えないかということで考案された製品です。そのため、ピコプローブを使用するフィールドでは多く併用されています。 T-4ニードルとは GGB社製 T-4ニードル（別名キャットウィスカーニードル） 　T-4ニードルは超LSＩや液晶等の微細回路解析を行う技師から「使い勝手が良い」と高評価のプローブニードルです。 　「低入力容量プローブであるピコプローブの専用ニードルとして開発されたものを、一般プロービング用としても使えないか」 ということで考案された製品です。そのため、ピコプローブを使用するフィールドでは多く併用されています。 　サブミクロン級電子回路の研究開発・検査解析等における電源供給、電圧、電流測定を目的とした電気特性検査では、人間が直接微細回路へアプローチするための針当て（コンタクト）作業が必要となります。（一般的にこれらの作業を総称してプロービングと言います。） 　このプロービングの際に一般的なサイズのφ0.5ｍｍのプローブニードルを用いた場合、その先端半径が小さいものでも0.5～1μＲ程あるため、コンタクトが可能となるエリアの制限と物理的な問題が生じてしまいます。 　この問題は、Φ0.5mm程の太い軸部が顕微鏡の視界を妨げることや、過大圧力による回路損傷、ニードル先端の曲がり、等が発生してプロービングの不具合原因ともなります。 　T-4ニードルは変形自在のΦ0.5mmワイヤーに、コンタクト素材となる髪の毛より細い極小（5μ、10μ、20μ、35μ、60μ）のタングステンワイヤー（キャットウィスカー部）を接続して製作しているため、タングステンワイヤー独自の柔軟性が適正なバネ圧力となり過剰な負荷が低減され、回路へのコンタクトを安定させることができます。 　極小径のワイヤーに対し先端のテーパー部分はさらに細くなっているため、パシベーション剥離後のレーザースポットにも容易にコンタクトができます。 　IC開発が盛んな1980年代、技師達は当時まだ1μmレベルの回路にコンタクトが可能なニードルが存在していなかったため、金のボンディングワイヤーを手で引延し切断してその伸びて尖った部分をニードルの変わりとして利用しICの解析を行っていました。 　その技師達の苦労をヒントにT-4ニードルが誕生しました。プロービングは顕微鏡下で行いますが職人技の作業となります。 中村＠NPS 写真左がT-4ニードルのタングステンワイヤー部 右は一般プローブニードル

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　四點探針 四點探針探測器 [NPS Version] 半導體・液晶 前置作業檢查 它是用於測量電阻率的高精度探頭。 目前，直流四點探針法是測量導電材料電阻值最可靠的方法。 許多測量工程師認定測量中使用的探頭的機械性能極大地影響了測量的準確性。 特別是在測量半導體材料時，會出現精度和耐久性問題。 擁有多年經驗和良好記錄的NPS 四點探針在全球被公認為高精度探頭，並被測量儀器製造商用作標準探頭。針部分使用耐用的金屬在金屬和遠端的低導體電阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接觸 " 處理 (IP, MT, 某人, 通過執行 EP 等), 保證了多種不同樣品的穩定測量。 (日本國內組裝產品、調整和售後產品) NPS 是40年來的探針專家, 另外還為探頭、探針修復和測試以及其他公司所做的其他探針提供技術諮詢。 (對於 Napson, 其他測量儀器) <主要功能> 高精度·高耐久性·世界標準裝備·低價格·短期維修再生（FELL型）從針尖到連接器的連續連接，通過專利的板叠板式弹簧，專用針規格， 採購，裝配，性能管理 【相關產品】電阻率測量儀 ■ 四點探針探測器 構成四點探針的每個部件都是由專用加工機器的開發和生產製造的，從製造到出貨的品質控制都是由專職技術人員進行，由此可以提供具有高精度和高耐用性產品 。 此外，為了滿足國內用戶的要求，我們制定了自己的規格並進行組裝。此外，我们还可以灵活应对各种厂家的4点探针的维修和定制（部件更换和大修）要求。 请随时与我们联系以获取更多信息。 ■ 袖珍型探測器 這是一個手持式測量的四點探針。它可以用於矽鐵錠等 ■ 0.1mm間隔 MODEL SEP-4是一個四點探針，用於測量針距為0.1 mm間距的薄層電阻。 由於四根針之間的距離小至0.3mm（線性），因此電場能量的影響範圍很小，並且即使在面積為5×5mm的小面積的焊盤的情況下，電阻測量也不受電場電力的影響。

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Company Profile Contact Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, specifications etc. Phone: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp Outline Enlarged View (Google Maps) 5 minutes walk from JR Kameido Station 15 minutes walk from Toei Shinjuku LIne Nishi-Ojima Station Business items (main handled products) 1. 4-point probes and related devices for resistivity measuring instruments such as semiconductors and thin film layers 2. Sheet resistivity measuring instrument for semiconductor, liquid crystal thin film 3. High-performance probe for characterization of semiconductor IC (ULSI, VLSI, etc.) 4. Measurement probe and measurement device for microwave 5. Slide products for measurement, experimental, manual and electric linear/rotating type 6. Probe needle, scrape point 7. Laser interferometer system Management policy We select high-tech equipments and materials indispensable for the advancement of industrial technology in our country widely from domestic and overseas, and provide customers those equipments and information. In addition, we listen to customers' opinions and requests to contribute to the development of industry. As a partner, we carefully see the world trend, so that we help our customers' business more efficiently and achieve cost cutting. We promote consistent management with the motto "We will deliver better products at a lower price with an earlier delivery date". We define our value as the contribution to the development of our customers. President Hayato Nakamura

4-point probe is a high accuracy probe for measurement of resistivity. DC Four Point Probe systems is one of the most reliable methods for resistivity or sheet resistance measuring of conductive materials. It is a well known fact among engineers that the quality of the probing apparatus greatly affe Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　4-Point Probe 4-Point Probe [NPS Version] Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) NPS 4-point probes are manufactured and assembled in Japan to ensure stable supply and measurement accuracy. A 4-point probe is like the sensor part of a machine. Needless to say, the performance of this sensor part affects the measurement results. The reliability of our 4-point probes has been recognized by many users. We have our own measuring instruments available, but other manufacturers' resistance measuring instruments can also be used. (In this case, a banana plug or similar device must be attached as a connector. The newly developed needle has a one-piece structure made of highly durable metal, and uses a low-resistance metal for the connection part to maintain good electrical conductivity, We ensure the accurate measurement of variety samples by conducting NPS's unique "Micro-edge contact" treatment. (IP=Ion implantation wafer, MT=Metal wafer, SB=Substrate silicon wafer, EP=Epitaxial wafer etc. for types of wafers ) We possesses a lot of experiences and solid accomplishments in this field. high accuracy, hight durability, world standard instrument, quick repair, unique design, etc. 【Related products】Sheet Resistance Measuring Instruments ■ 4-point probe 4-POINT PROBE with no fatal flaws！ More than half a century has passed since the first 4-point probe head was introduced to the world, and today it has become a universal standard in semiconductor inspection. With over 50 years of sales experience in Japan, NPS four probe heads have evolved to become higher-performance probes than the commonly sold four probe heads. We offer highly reproducible four probe heads that are compatible with NAPSON, MPP, JANDEL, KLA, and other point probes and overcome technical shortcomings. If you are not satisfied with your current four point probe head , please try our four point probe heads. The new 4-point probes have the following features. Major improvements and features: Accuracy improvement Durability improvement Cost reduction improvement of fatal defects of conventional products) Made in Japan and Japan Quality. Technical information ■ 4-Point Probe Please ask us about the 4-point probe ! Because we have 50 years of handling experience. Each part constituting the 4-point probe is made from the development and production of dedicated processing machines. By doing quality control from manufacturing to shipping by full-time technical staff, it is possible to provide high-precision, high-durability 4-point probes. In addition, in order to respond to requests from domestic users and with years of our experience, we set up our own specifications and assemble them. The NP type which NPS supplies is 4-point probe of the world highest quality. We also offer repair or modification of various 4-point probes. Please feel free to contact us for more information. Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. Repairable Probe Type Napson　 KLA Tencor MPP FELL About Repair ■Square probe 4-point probe head The name is derived from the square shape of the electrodes, which are equally spaced. Standard sheet resistance measurement of electronic materials is performed using the four probe method with electrode tips in series, but here we provide information on sheet resistance measurement using square probes with electrode tips arranged in a square shape. ■ Hand-Probe It is a handy type 4-point probe which can be easily measured on hand. It can be used for ingots etc. ■ 0.1mm Pitch MODEL SEP-4 is a 4-point probe for measuring sheet resistance with a needle spacing of 0.1 mm pitch. Since the distance between the four needles is as small as 0.3 mm (linear), the influence range of electric field energy is small, and even in the case of a pad with a small area of 5 × 5 mm, sheet resistance measurement is not affected by electric field power from the edge to around 0.5 mm. Can be mounted and fixed to our micro positioner 800MRF. Tip material Tungsten (W), Beryllium copper (BeCu) Tip shape Flat (F), Round (R) Needle spacing 0.1 mm (total distance 0.3 mm) or 0.3 mm (0.6 mm) Lead wire 90cm Banana plug, etc. can be attached as an option. ■ Reference Sample We also provide standard samples to check if the 4-point probes currently in use are functioning properly. When measuring by the DC four point probe method, regular probe maintenance and calibration are essential. A standard sample can help with this. This sample is not a traceable standard, it is a reference sample. Accessories include a protective case and a certificate of measurement of sample. Specification Chromium Thin Film　 Film thickness 1000Å Square about 1inch(25mmx25mm) Surface resistivity is 23Ω/□ Data from 5 repeatability measurements of the center of a r eference sample.(Measured with a standard 1mm pitch 4 probe) Reference samples are measured under the same conditions when shipped. 4-Point Probe Various specifications Wiring Diagrams Various compatible models (our specifications)

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关 　>　电阻率测量仪 电阻率测定仪(薄膜电阻测定器) 半导体・液晶 前置作业检查 专业工程师的高性能工具。 它能够使用四点探针方法轻松且高准确度的测量太阳能薄膜电池上的矽导电膜的电阻或电阻率。 它对应于低电阻到高电阻测量。 <用途> 1）硅铁锭製造→硅晶片製造检测（包括成膜等各种工方法） 2）液晶面板（LCD）製造：用于成膜时的产品检查 3）在检查各种导电材料的製作过程 使用我们公司配置的“四点探针”可以测量。 【相关产品】四点探针探测器 ■ Model sigma-5+ 我们可以准确地测量矽芯片的电阻率。也对应太阳能电池的探测器。 它是一个利用20年以上的测量技术而设计和开发的高精度电阻率测量仪器。 在半导体基板，导电薄膜基板等的研发和检测过程中，可以精确的评估薄层电阻和电阻率值。 ※该照片是与样品架RG-5的组合。 [基本规格] [特点] ·可以正确的设置智能开关功能面板 ·小型的桌面尺寸设计 ·阻力小~阻力高的宽范围测量 ·电流极性切换测量可抑制整流造成的误差 ·开始测量时自动调零功能 ·自动量程功能自动设置最佳电流 ·样品厚度校正功能 ·平均测量值显示和印刷机平均值计算功能 ·半导体温度校正功能 ·各种温度校正的输入功能 ·与数据打印机接口 ·与数据连接用接口 ·可以选择样品表<基本规格> ■手持式·表面电阻测量仪/电阻率测量仪 使用四探针于方便型 SRM-232 可测量绝缘材料上金属薄膜的板电阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 测量硅晶片的电阻率, 如也可以测量太阳能电池基板。 每个设备都允许您将资料输出到电脑, 并且电源具有自动断电功能。 ■方便型·电阻率测量仪 MODEL PV-628是一款专门用于太阳能发电硅等电阻率测量的便携式四点探针测量仪器。 由于电池用作电源，因此携带方便，对待测物体的形状和大小没有限制，使测量变得简单。

先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　ダイヤモンドスクライプ ダイヤモンドスクライプ その他関連部材 　先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 シャンク：Steel 3.175mm　x 25mm or 38mm 先端半径：5-micron point, 12-micron point