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首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　四点探针探测器 四点探针探测器 [NPS Version] 半导体・液晶 前置作业检查 它是用于测量电阻率的高精度探头。 目前，直流四点探针法是测量导电材料电阻值最可靠的方法。 许多测量工程师认定测量中使用的探头的机械性能极大地影响了测量的准确性。 特别是在测量半导体材料时，会出现精度和耐久性问题。 拥有多年经验和良好记录的NPS 四点探针在全球被公认为高精度探头，并被测量仪器製造商用作标准探头。针部分使用耐用的金属在金属和远端的低导体电阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接触 " 处理 (IP, MT, 某人, 通过执行 EP 等), 保证了多种不同样品的稳定测量。 (日本国内组装产品、调整和售后产品) NPS 是40年来的探针专家, 另外还为探頭、探针修復和测试以及其他公司所做的其他探头提供技术谘询。 (对于 Napson, 其他测量仪器) <主要功能> 高精度·高耐久性·世界标准装备·低价格·短期维修再生（FELL型）从针尖到连接器的连续连接，通过专利的板迭板式弹簧，专用针规格， 採购，装配，性能管理 【相关产品】电阻率测量仪 ■ 四点探针探测器 构成四点探针的每个部件都是由专用加工机器的开发和生产製造的，从製造到出货的品质控制都是由专职技术人员进行，由此可以提供具有高精度和高耐用性产品 。 此外，为了满足国内用户的要求，我们制定了自己的规格并进行组装。我们还提供各种四点探针的维修或改装服务。如果您想了解更多信息，请随时与我们联系。 ■ 轻小型探测器 这是一个手持式测量的四点探针。 它可以用于硅铁锭等。 ■ 0.1mm间隔 MODEL SEP-4是一个四点探针，用于测量针距为0.1 mm间距的薄层电阻。 由于四根针之间的距离小至0.3mm（线性），因此电场能量的影响范围很小，并且即使在面积为5×5mm的小面积的焊盘的情况下，电阻测量也不受电场电力的影响。 可安装并固定在我们的微型定位器800MRF上。 尖端材料 钨(W)，铍铜(BeCu) 尖端形状 扁平(F)，圆形(R) 针距0.1mm（总距离0.3mm）0.3mm（总距离0.6mm）。 0.3mm(总距离0.6mm)引出线60cm香蕉插头等可选装。

It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe design and manufactured by  GGB Industries,Inc(US) can be installed. 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 微定位器 微定位器 半導体・液晶 作業後的檢查 微动定位装置采用千分尺驱动结构，可实现高精度定位。配备专用适配器，可安装美国GGB公司生产的Pico探针。MODEL800系列是专为Pico探针设计的高性能微探针定位器（操纵器）。通过实用新型定位机构与三轴一体化微定位方式，可实现高精度探测。 【相关产品】IC用Pico探针 ·微波用Pico探针 ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series MODEL800.pdf

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Company Profile Contact Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, specifications etc. Phone: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp Outline Enlarged View (Google Maps) 5 minutes walk from JR Kameido Station 15 minutes walk from Toei Shinjuku LIne Nishi-Ojima Station Business items (main handled products) 1. 4-point probes and related devices for resistivity measuring instruments such as semiconductors and thin film layers 2. Sheet resistivity measuring instrument for semiconductor, liquid crystal thin film 3. High-performance probe for characterization of semiconductor IC (ULSI, VLSI, etc.) 4. Measurement probe and measurement device for microwave 5. Slide products for measurement, experimental, manual and electric linear/rotating type 6. Probe needle, scrape point 7. Laser interferometer system Management policy We select high-tech equipments and materials indispensable for the advancement of industrial technology in our country widely from domestic and overseas, and provide customers those equipments and information. In addition, we listen to customers' opinions and requests to contribute to the development of industry. As a partner, we carefully see the world trend, so that we help our customers' business more efficiently and achieve cost cutting. We promote consistent management with the motto "We will deliver better products at a lower price with an earlier delivery date". We define our value as the contribution to the development of our customers. President Hayato Nakamura

弊社はエクセル・プレシジョン（米国EXCEL PRECISION社）の日本における販売代理店として、レーザー干渉計機器を取り扱っております。安定化ゼーマンを採用した2周波He-Neレーザー方式と光ヘテロダイン検出/シグナルプロセッサを組合せ、最小読み取り分解能0.3ナノの高精度で信頼性の高い測長変位計測を可能にし、さらに低コスト化のシステム構築が可能となります。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　レーザー干渉計測器 レーザー干渉計測器 半導体・液晶 前工程（検査） 半導体・液晶 後工程（検査） 工作機械（検査） 　当社はエクセル・プレシジョン （米国EXCEL PRECISION社）の日本における販売代理店として、レーザー干渉計機器を取り扱っております。 　安定化ゼーマンを採用した2周波He-Neレーザー方式と光ヘテロダイン検出/シグナルプロセッサを組合せ、最小読み取り分解能0.3ナノの高精度で信頼性の高い測長変位計測を可能にし、さらに低コスト化のシステム構築が可能です。エクセル・プレシジョン社は独自で設計、製造を行うレーザー干渉計測器のスペシャリストとして業界での地位を確立しており、世界的に5000台以上の実績があります。 　標準品のみならず、お客様のご要望に応じオーダーメイドのシステムも製作しています。 1001 Laser Head 　EXCEL PRECISION 1001 Laser Head シリーズは2周波ヘリウムネオンレーザーシステムで、特に光学干渉計と関連する検出・光学ハードウェア用に設計されています。1001レーザーヘッドの主な用途は、ウェーハ/FPDステッパー、電子ビーム装置、I.C.検査製品、バックエンドステッパー、精密測定機、超精密工作機械向けです。 　レーザーの周波数安定性は、ゼーマン効果の原理を利用することで達成されレーザー管に縦方向の磁場をかけると、ネオンの原子準位が2つのエネルギー準位に分裂します。これら2つの準位の周波数は、基本的に中心波長に対して等間隔であり、印加された磁場の強さに比例してシフトします。したがって、レーザー管は、磁場の強さに比例した周波数差を持つ2つの周波数で発振しています。これらの2つの周波数は、磁場が印加される前に生成された元の周波数に対して対称的に分離されています。測定中、極めて高い精度と再現性を達成することができます。 　1001 Laser Headの高い分割周波数により、測定速度は1.0m/secに達します（分解能に依存）。すべてのエクセル光学製品と互換性があり、最大6軸の測定に対応します（干渉計6個、受光器6個） 1100B 6要素校正システム 　1100B レーザー校正システムは主に工作機械上の精度管理に使用します。テーブルのガタつきを一度に最大5要素まで検知しデータ化できます。 1100Bレーザー.pdf レーザー干渉計システム構築用資料.pdf ■ 1550A 角度センサー 　1550A 角度センサーは面上やZ駆動部の微小変位を色や反射率に左右されず計測することができます。 3DOptix Warehouse 　ブラウザ上で既製の光学部品を使用して光学シミュレーションを実行できるサービスです。設計検討にご活用ください。 3DOptix Warehouse

在庫処分セール品一覧 弊社在庫品に限り特別価格にて提供致します。 ※在庫がなくなり次第終了となります。 【Velmex社製スライダー】 ・U4005GM　 ¥40,000　残数1 ・U4005GGMO ¥54,000　残数1 ・A6009K1　 ¥40,000　残数1 ・B9012K1　 ¥64,000　残数1 ・A1506Q1-NM ¥20,000　残数2 ・A4007TS ￥28,000　残数1 ・B2904K1-SP　 ¥24,000　残数1 【GGB社製ピコプローブチップ】 ・18C-1-10 　　　¥12,811 残数8 ・18C-1-20 SOLD ・18C-1-50 SOLD ・18C-2-10 SOLD ・18C-2-20 SOLD ・12C-1-35 SOLD ・12C-2-60 SOLD ・12C-4-10HV 　 ¥4,826 残数3 ・12C-4-125 SOLD ・T-7-35 SOLD ・T-7-60-2uR SOLD ・T-7-175-R-200 　 ¥3,063 残数1 ・T-7-175-2-R-8mm ¥3,090 残数5 ・T-7-175-L-200 　 ¥2,978 残数3 ・10-5K-125-Pd-2-R-500 SOLD ・10-50T-10-W-1 SOLD ・10-50T-175-W-2-L-500 SOLD ・10-250-125-Pd-2-R-500 SOLD ・10-500-125-Pd-2R-500 SOLD ・10-500-175-W-2-R-280 SOLD ・10-50/30-60-W-2-R-250 SOLD ・10-50/30-60-W-2-L-250 SOLD ・10-25/30-60-W-2-R-1000(1.2mm) SOLD ・10-2.5K-125-W-1 SOLD ・10-2.5K-125-W-2-R-200 SOLD ・10-2.5K-125-W-2-R-100 SOLD ・10-2.5K-125-W-2-R-150 SOLD ・10-47/30-125-BeCu-2-S-L-250 SOLD 【4 探針プローブヘッド （旧型）】 ・JS-TC-100-100g　 単価¥40,000　残数1　厚い金属膜向け ・JS-TC-100-200g 　単価¥40,000　残数2　厚い金属膜向け ・JS-TC-600-.635　 単価¥40,000　残数1　　ITO向け ・JS-TC-600-200g　 単価¥40,000　残数2　　ITO向け ・JS-TC-600-100g　 単価¥40,000　残数5　　ITO向け ・JS-TC-400-.635-100g　単価¥40,000　残数3　薄膜向け 【精密プローブ針】

製品の技術相談・機種選定・仕様など、お気軽にお問い合わせください。 製品の技術相談・機種選定・仕様など、お気軽にお問い合わせください。 TEL： 03-3684-2548 FAX： 03-3684-2287 E-mail: sales「@」nps-i.co.jp 直接メールを送る際は「」を外してお問い合わせください 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 お問い合わせ Contact us 送信 Send ※このメールアドレスへの特定電子メールの送信を拒否いたします。 電話やメール、当サイトのフォームを利用した当社への売り込みの一切をお断りしています。 特にお問い合わせフォームを利用した売り込みが多くみうけられます。 当社のフォームは当社の既存のお客さまからの連絡や、お悩みのお客さまなどからのお問い合わせを目的として設置したものです。 売り込みはこの目的外の利用であり当社業務の阻害要因となることから、サイトポリシーの記載とおりフォームを利用した売り込みの一切を固く禁止いたします。 お問い合わせフォームを利用して、繰り返し売り込みをおこなう企業様には、しかるべき対応を取らせていただく場合があります。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 公司簡介 聯繫我們 產品的相關資訊，請聯繫我們 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司簡介 經營項目（主要產品） 1.用於電阻率測量儀器如半導體和薄膜層的四點探針相關器材 2.半導體，液晶薄膜的片電阻率測量儀 3.用於半導體IC（ULSI，VLSI等）的高性能探頭 4.微波測量探頭和測量裝置 5.測量，實驗，手動和電動，直線旋轉式滑動產品 6.探針，畫線點 7.雷射干涉儀系統 經營理念 我們精心挑選我國工業技術的發展和不可或缺的高科技設備和材料為您服務。 此外，我們會努力聽取客戶的意見和要求，為近年來的行業發展作出貢獻。 作為小生意夥伴，我們將隨時注意產業發展趨勢，實現合理化，降低成本。 我們將以“更優惠的價格，快速的交貨日期提供更優質的服務並且希望我們的客戶意識到我們重要性，讓我們為社會做出貢獻。 代表董事 中村勇人

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・液晶 前置作業檢查 　>　電阻率測定儀(薄膜電阻測定器) 電阻率測定儀(薄膜電阻測定器) 半導體・液晶 前置作業檢查 專業工程師的高性能工具。 它能夠使用四點探針方法輕鬆且高準確度的測量太陽能薄膜電池上的矽導電膜的電阻或電阻率。 它對應於低電阻到高電阻測量。 <用途> 1）矽鐵錠製造→矽晶片製造檢測（包括成膜等各種工方法） 2）液晶面板（LCD）製造：用於成膜時的產品檢查 3）在檢查各種導電材料的製作過程 使用我們公司配置的“四點探針”可以測量。 【相關產品】四點探針法 ■ Model sigma-5+ 我們可以準確地測量矽晶片的電阻率。也對應太陽能電池的探測器。 它是一個利用20年以上的測量技術而設計和開發的高精度電阻率測量儀器。 在半導體基板，導電薄膜基板等的研發和檢測過程中，可以精確的評估薄層電阻和電阻率值。 ※該照片是與樣品架RG-5的組合。 [基本規格] [特點] ·可以正確的設置智慧開關功能面板 ·桌上型尺寸設計 ·低阻力至高阻力的寬範圍測量 ·電流極性切換測量可抑制整流造成的誤差 ·開始測量時自動歸零功能 ·自動量程功能自動設置最佳電流 ·樣品厚度校正功能 ·平均測量值顯示和印刷機平均值計算功能 ·半導體溫度校正功能 ·各種溫度校正的輸入功能 ·與數據印表機接口 ·與數據連接用接口 ·可以選擇樣品表<基本規格> ■手持式·表面電阻測量儀/電阻率測量儀 使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。 ■手持式·電阻率測量儀 使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　激光干涉仪 激光干涉仪 半导体・液晶 前置作业检查 半导体・液晶 作业后的检查 作为EXCEL PRECISION（EXCEL PRECISION，USA）在日本的经销商，我们代理激光干涉仪设备， 结合使用稳定塞曼效应和光学外差探测/信号处理器的双频He - Ne激光系统，可以测量0.3纳米的最小读数分辨率的高度准确和可靠的测量，并且还可以实现低成本系统。 EXCEL PRECISION有限公司作为独立设计和製造的激光干涉测量仪器的行业中建立了自己的地位。 我们在全球拥有超过5000台以上的实绩。 我们不仅製造标准正规产品，依客户的要求接受订製的系统。 第三选择。 EXCEL PRECISION公司的激光干涉仪 您的机器。 会发出怪声音吗？ 如果您有EXCEL PRECISION以司的激光干涉仪，您可以检查纳米级别的精度。 ■1100B 6元素校正系统 1100 B激光校正系统主要用于机械的质量管理。 一次最多可以检测到5个元素，并且检测后形成表格化。 ■1550角度感测器 1550A角度感测器可以测量表面和Z驱动部件的微小位移，不会受到颜色和反射率的影响。

As a distributor in Japan of EXCEL PRECISION (USA EXCEL PRECISION CO., LTD), we deal with laser interferometer equipment. Combining a dual frequency He - Ne laser system employing stabilized Zeeman and an optical heterodyne detection / signal processor, it is possible to do highly accurate and reliable measurement of a Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Laser Interferometry Tools Laser Interferometry Tools Pre-Process Post-Process Machine Tools As a distributor in Japan of EXCEL PRECISION (USA EXCEL PRECISION CO., LTD), we deal with laser interferometer equipment. Combining a dual frequency He - Ne laser system employing stabilized Zeeman and an optical heterodyne detection / signal processor, it is possible to do highly accurate and reliable measurement of a minimum reading resolution of 0.3 nano, and further a low cost system construction. Excel Precision Co., Ltd. has designed and manufactured originally, and established itself as a specialist of laser interference measuring instruments. More than 5000 units have been used worldwide. We manufacture not only standard products but also custom-made systems according to customer's request. Third choice. Excel Precision Laser Interferometer If you have a laser interferometer from Excel Precision, you can check accuracy at the nano level. ■ 1100B 6 element calibration system The 1100 B laser calibration system is mainly used for quality control on machine tools. It enables to detect and dizitize the table rattiling up to 5 elements at one time. ■ 1550 A angle sensor It enables you to measure displacements of the surface and the Z drive part regardless of color and reflectance by using 1550 A angle sensor.

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Picoprobe for Microwave Picoprobe for Microwave Microwave Measurement Picoprobe (design and manufactured by GGB Industries,Inc. ) for microwave (RF probe) is a test probe for microwave devices combining low loss and high durability by GGB's unique continuous coaxial structure (patented). Also, with multi-contact probes that can be arranged with DC probes, it is now possible to reduce transmission measurements such as transmission by using a hybrid configuration of capacitors and resistors (patented). Picoprobe is widely adopted for engineers sticking to severe data measurement. With the leaf spring type ground chip structure and edge contact method, low contact resistance can be realized and good measurement reproducibility is obtained, and needle tip made of nickel material can be manufactured. Please contact us for pitch of 100 μm or less, large current probe for car electronics etc. It has low loss, high repeatability and high durability, and has its own performance by patented coaxial structure and patented bypass capacitor method etc. 【Related Products】Jig tool for Microwave Testing ・ Micro Positioner [Features] ■ Strong structure and high performance The signal part of the Picoprobe has a continuous coaxial structure from the connector part to the needle tip. This continuous coaxial structure is excellent in signal transmission characteristics and can reliably transmit a signal to the peak frequency region. In addition, the attached needle tip is hardly affected by the resonance caused by external vibration, and is also strong against overloading when attaching to the needle tip. ■ Various styles Several styles are available for the Picoprobe for measuring various sample shapes such as flat board and package. ■ Easy needle probe The tip of the grant attaching to the DUT of the Picoprobe has a spring-like structure. In contrast, a fixed gap is made between the fixed signal line needle tip and the ground needle portion. Because this gap can be used as a guideline for needle guarding, you can always contact in a stable state. ■ Point contact The tip of the Picoprobe has a point shape so that stable contact is always obtained. It ensures the reliable measurement because it repels the oxide film of the object and reduces misalignment error occurring when contacting the needle tip. Function comparison table of picoprobles for microwave

P/N判定器はシリコン半導体のＰ－Ｎのタイプを整流性方式、または、熱起電力方式により簡単に判定することができるテスターです。 シリコンウェーハのＰタイプ－Ｎタイプが簡単に判定でき、P on N 等の試料の判定も可能です。 ​簡易マニュアルタイプ、ウェーハとインゴット兼用、低価格が特長です。 ​ 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　P/N判定器 P/N判定器 半導体・液晶 前工程（検査） 　P/N判定器はシリコン半導体のＰ－Ｎのタイプを整流性方式、または、熱起電力方式により簡単に判定することができるテスターです。 　シリコンウェーハのＰタイプ－Ｎタイプが簡単に判定でき、P on N 等の試料の判定も可能です。 　簡易マニュアルタイプ、ウェーハとインゴット兼用、低価格が特長です。 <使用方法> 【 ウェーハ用プローブ:PN-01-WP 】 　判定したいウェーハの面をステージにのせ、軽く押さえつけるだけでウェーハにダメージを与えず、簡単にPNの判定ができます。 【 インゴット用プローブ:PN-01-GP】 　ホットプローブを試料面に押し当てるだけで、簡単にPNの判定ができます。 PN判定器