首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・液晶 前置作業檢查 　>　電阻率測定儀(薄膜電阻測定器) 電阻率測定儀(薄膜電阻測定器) 半導體・液晶 前置作業檢查 專業工程師的高性能工具。 它能夠使用四點探針方法輕鬆且高準確度的測量太陽能薄膜電池上的矽導電膜的電阻或電阻率。 它對應於低電阻到高電阻測量。 <用途> 1）矽鐵錠製造→矽晶片製造檢測（包括成膜等各種工方法） 2）液晶面板（LCD）製造：用於成膜時的產品檢查 3）在檢查各種導電材料的製作過程 使用我們公司配置的“四點探針”可以測量。 【相關產品】四點探針法 ■ Model sigma-5+ 我們可以準確地測量矽晶片的電阻率。也對應太陽能電池的探測器。 它是一個利用20年以上的測量技術而設計和開發的高精度電阻率測量儀器。 在半導體基板，導電薄膜基板等的研發和檢測過程中，可以精確的評估薄層電阻和電阻率值。 ※該照片是與樣品架RG-5的組合。 [基本規格] [特點] ·可以正確的設置智慧開關功能面板 ·桌上型尺寸設計 ·低阻力至高阻力的寬範圍測量 ·電流極性切換測量可抑制整流造成的誤差 ·開始測量時自動歸零功能 ·自動量程功能自動設置最佳電流 ·樣品厚度校正功能 ·平均測量值顯示和印刷機平均值計算功能 ·半導體溫度校正功能 ·各種溫度校正的輸入功能 ·與數據印表機接口 ·與數據連接用接口 ·可以選擇樣品表<基本規格> ■手持式·表面電阻測量儀/電阻率測量儀 使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。 ■手持式·電阻率測量儀 使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。

Please feel free to contact us for technical consultation, model selection, and specifications of our products. 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 Contact us ※Please use this contact form as sending a direct email may be treated as spam. Send 　 Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 主頁 產品 公司簡介 English 日本語サイト 追求新的精密技術 1/6 我們進口、出口、製造和銷售半導體和電子產業所需的檢測設備和製造設備。 我們致力於 「新技術 」所帶來的 「精準度」，並透過我們的追求，為客戶提供最高的價值。 我們的產品廣泛應用於半導體和液晶相關領域等對精度要求特別高的領域。 ➤ 查詢 4-Point Probe Products 產品 更多資訊 電阻率測量儀器 　手動式測量儀器，使用四探針方法簡單精確地測量金屬薄膜等的薄片電阻或電阻率。 用於集成電路的Pico探針 　可以在測量裝置負載最小的情況下進行測量，從而確保數位波形的忠實再現。 更多資訊 4-探頭針 在開始處理四點式探針半個世紀後，四點式探針已成為全球公認的高精度半導體電阻率測量探針。 更多資訊 更多資訊 微波用Pico探针 　美国GGB公司采用其独特的连续式同轴结构，开发出兼具低损耗与高耐久性的微波设备用测试探针。 微波测试台 　该测试夹具用于将采用微波作为传输介质的小型电路板及零部件等固定安装，并进行特性评估。 更多資訊 精密定位平台 本精密平台可作为微动定位及检测用工作台使用。根据型号不同，提供XYZ轴、电动驱动、手动操作等丰富种类。 更多資訊 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 「SEMICON JAPAN」 是半導體製造與測試設備的綜合展覽會，我們自開展以來一直參展。在此，我們要感謝多年來對我們不離不棄的眾多客戶。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　P/N决定器 P/N决定器 半导体・液晶 前置作业检查 P / N决定器是一种能够通过整流方法或热电动势，容易地判断硅半导体的PN的类型测试器。 P型 - N型硅晶片可以很容易地判断，并且可以对样品例如N上的P进行判断。 简单的手动型，结合硅晶片和硅锭，特色是价格低廉。 <如何使用> ・对于晶圆：将要确定的晶圆表面放置在平台上，轻轻按下，不会损坏晶圆，您可以轻鬆判断PN。 ・对于铁锭：只需将热探针按压在样品表面，便可轻鬆判断PN。

　我が国における工業技術の進歩に不可欠なハイテク機器並びに素材等を広く内外から厳選し、お客様に情報とともにご提供させていただきます。また、近年の産業発展に寄与すべくお客様のご意見やご要望に耳を傾けて最善のご協力するよう努力いたします。 　当社は小回りのきくビジネスパートナーとして、常に世の中の情勢を見極め、合理化とコストダウンに努めてまいります。 会社案内 会社概要 地図を拡大して見る 総武線亀戸駅より徒歩5分／都営新宿線西大島駅より徒歩15分 会社案内 会社案内 2025.pdf 営業品目（主な取扱製品） 1. 半導体、薄膜層などの抵抗率測定器用4探針プローブ及び関連機器 2. 半導体、液晶薄膜シート抵抗率測定器 3. 半導体IC(ULSI、VLSIなど)の特性評価用高性能プローブ 4. マイクロ波計測用プローブ及び測定用装置 5. 計測用、実験用、手動及び電動の直線、回転形各種スライド製品 6. プローブニードル、スクライプポイント 7. レーザー干渉計システム 経営方針 　我が国における工業技術の進歩に不可欠なハイテク機器並びに素材等を広く内外から厳選し、お客様に情報とともにご提供させていただきます。 また、近年の産業発展に寄与すべくお客様のご意見やご要望に耳を傾けて最善のご協力するよう努力いたします。 　当社は小回りのきくビジネスパートナーとして、常に世の中の情勢を見極め、合理化とコストダウンに努めてまいります。 　「早い納期でより良いものをより低価格で」をモットーに堅実経営を推進するとともに、お客様の御発展をもって当社の存在意義と繁栄があるものとし、全社一丸となって貢献いたしたいと思っております。 代表取締役　中村　勇人

プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェーハや基板金属薄膜等のシート抵抗、または、抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲測定に対応しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　抵抗率測定器 抵抗率測定器（シート抵抗測定器） 半導体・液晶 前工程（検査） 　プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェハやLCD基板、金属薄膜等のシート抵抗、または、体積抵抗を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲な測定に対応しています。 <用途> 1) シリコンインゴット製造 　➤ウェハ製造工程（膜形成等様々な処理工程）における製品検査用　 2) 液晶パネル（LCD基板）製造：成膜時の製品検査用 3) 幅広い電気導電性部材の製造過程での製品検査用 ※当社の 「4探針プローブ」を用いて測定が可能です。 【関連製品】4探針プローブ Model Σ- ∞ (sigma eight) 変わらない安心と精度、そして無限(∞)の可能性へ 「Sigma-5＋」の確かな実績を継承し、測定の極限へ挑むフラッグシップモデル誕生 sigma-eight 　シリコンウェハ等の抵抗率を正確に測定することができます。 　 　抵抗率測定に関する30年以上のノウハウと技術を活かし設計開発された高精度な抵抗率測定器です。 　半導体基板並びに導電性薄膜基盤等の研究開発・検査工程、または製造ラインにおいての、シート抵抗値や体積抵抗値を高確度に求め、評価することが出来ます。 ※写真は試料台RG-5との組合せです。 完全な上位互換性（安心のシームレス移行） 既存の測定治具（プローバー）や測定プログラムの再設計・大幅変更は不要です。既存環境へそのまま導入していただけます。 「∞（インフィニティ）」がもたらす極限の安定性と高耐久 連続評価試験においても熱ドリフトや接触不良を抑え、再現性の高い測定データを提供し続けます。 極限まで高められた伝送クオリティ 広帯域にわたる低挿入損失（Low Insertion Loss）と優れた反射損失（Return Loss）特性を実現。高周波測定におけるノイズ要因を削ぎ落とし、デバイス本来の特性を鮮明に描き出します。 最新のグローバル環境規制に適合 最新の環境コンプライアンスにも対応し、製造ライン・研究開発の双方で長く安心してお使いいただけます。 Model sigma-5+ [基本仕様] [特長] ・細かい設定が可能なスイッチ機能のインテリジェントパネル ・デスクサイズのコンパクト設計 ・低抵抗〜高抵抗対応のワイド測定レンジ ・整流性による誤差を抑える電流極性切替え測定 ・測定開始毎の自動ゼロ調整機能 ・最適な電流を自動設定するオートレンジ機能 ・試料の厚み補正機能 ・測定値平均値表示とプリンタ平均値演算機能 ・半導体用の温度補正機能 ・各種温度補正係数入力機能 ・データプリンタ用インターフェース付 ・データ接続用インターフェース付 ・試料テーブルの選択が可能 <基本仕様> ■ 薄膜向けハンディタイプ・シート抵抗測定器/抵抗率測定器 ※この製品は現在販売を停止しております ハンディタイプ・シート抵抗測定器SRM-232は４探針プローブを使用して、絶縁物上の導電性薄膜シート抵抗を測定することができます。また、抵抗率測定器PV-628は太陽電池基板等のSi半導体の抵抗率測定が可能です。いずれもの機種もデータセーブ・パソコンへのデータ出力ができ、電源は電池式のオートパワーオフ機能付です。 【カタログ】ハンディタイプ ■ ハンディタイプ ・抵抗率測定器　Model　PV-628 MODEL PV-628は太陽光発電用シリコン等の抵抗率測定に特化させたハンディタイプの4探針法測定器です。電源に電池を使用しているため持ち運びが容易で、測定物の形状や大きさの制限がなく、手軽に測定を行うことができます。 【カタログ】PV-628

米国GGB社製マイクロ波プローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 ピコプローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。 その他、100μm以下のピッチ、カーエレクト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ) マイクロ波計測 　米国GGB社 製マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 　高周波プローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 　 　板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。その他、100μm以下のピッチ、カーエレクトロニクス用大電流プローブ等もご相談ください。 　 低損失・高再現性・高耐久性を備えており、特許式同軸構造と特許式バイパスキャパシター方式等により独自の性能を確保しています。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー 【主な取扱製品】MODEL 40M,MODEL 40A･50A･67A,MODEL 110H,MODEL 145A 総合カタログ MODEL10カタログ マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 [特長] ■強固な構造とハイパフォーマンス 　ピコプローブのシグナル部分は、コネクター部分から針先まで連続した同軸構造となっています。この連続同軸構造は、信号伝送特性に大変優れていてピーク周波数領域まで確実に信号を伝達させることができます。また、接触中の針先は外部からの震動による共振の影響を受けにくく、針先接触時のオーバーロードに対しても強固な作りとなっています。 ■豊富なスタイル 　ピコプローブは、フラット基板、パッケージ など各種試料形状の測定用に合わせて 数種類のスタイルを用意しております。 ■針当てのやり易さ 　ピコプローブのＤＵＴと接触するグラントの針先は、スプリング性を持つ構造となっています。これに対し固定された信号線用の針先とグランド針部に一定のギャップを持たせ、このギャップを目安に針当てが行えるため、常に安定したコンタクトが行えます。 ■ポイントコンタクト 　ピコプローブの針先は、常に安定した接触が得られるようにポイント形状となっています。 測定物の酸化膜をはじき良好な接触が得られ、また、針先のコンタクト時に生じる位置ずれ誤差を少なくさせ、確実な測定が保証されます。 マイクロ波用ピコプローブをもっと知る RFピコプローブ　MODEL 40A マイクロ波計測 ・高耐久性RFプローブ40GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブシリーズ、GSG、GS、SG、または「デュアル」構成 （デュアル＝1ポジショナーに2プローブ） ・DC～40 GHz　挿入損失0.8 db未満　リターンロス18db以上　測定再現性-80db以上 ・これらのプローブは、25µmから2540µmまでのさまざまなピッチで入手可能 ・マイクロポジショナー用のさまざまな取り付けスタイル ・メス型Kコネクター2.9mm ・BeCu、ニッケルまたはタングステンで入手可能 ・非磁性オプション、高温および高電流／高電圧バージョンについては、お問い合わせください。 定番製品 40A-GSG-125-C 　GGB社のMODEL 40Aマイクロ波プローブは、マイクロ波プロービング性能の新しい標準を打ち立てます。低損失同軸技術を使用し、40GHzまで0.8db以下の挿入損失と18db以上のリターンロスを達成しました。 　ベリリウム銅、タングステン、ニッケルの各チップが個別にスプリング装填されているため、非平面構造のプローブでも信頼性の高いコンタクトが得られます。この信頼性の高い低抵抗コンタクトは、再現性の高い測定を提供する鍵の一つです。 　 　40A型マイクロ波プローブは、正確な位置決めのためにプローブ先端を直接見ることができます。 MODEL40Aは、標準的なマイクロ波プローブステーションで使用するために、様々なアダプターに取り付けることができ、また、プローブカードやマルチコンタクトウェッジのDCプローブニードルで使用するために、薄いブレードに取り付けることができます。カスタムマウントも可能です。 　ピッチ（先端間隔）は、25µmから2540µmまでご指定いただけます。プローブは、接地-信号-接地（G,S,G）、接地-信号（G,S）、信号-接地（S,G）の先端チップで構成できます。 　MODEL40Aへの接続は、3.5mmコネクタ互換のメスKコネクタ（2.9mm）を通して行います。 　13種類のアダプタースタイルから選択。T、C、GR、P、DP、EDP、LP、Q、F、S、DS、VP、またはRVPをご指定ください。用途に適した取付タイプをお選びください。P、DP、EDP、LP、Q、S、DS、VP、RVPの各タイプは、コネクタが45度の角度で後ろを向いており、プローブ上部の作業領域が広くなっています。DP、EDP、DS、VP、および RVP スタイルは、プローブの下に余分なクリアランスが必要な場合に使用します。DP、EDP、DSスタイルのプローブを使用する場合、プローブの取り付け角度が大きくなるため、プローブの位置決めが難しくなります。カスタム取付スタイルも可能です。 RF校正基板 マイクロ波計測 校正基板選択ガイド [特長] 高精度測定を可能にするRFプローブ用校正基板シリーズです ・正確なSOLT、LRL、LRM校正をサポート ・プローブピッチ・レンジは30～2,540µm ・DC～220 GHzのすべてのGGBプローブに適合 ・GSGSG、GSSG、SGSチップ配列に使用可能 ・金メッキパッド　25 mil（635µm）厚のアルミナ基板 定番製品 CS105 ：GSGプローブ用、ピッチ範囲75～250 µm SOLT = ショート・オープン・ロード・スルー LRL = Line-Reflect-Line（TRL=Through-Reflect-Lineに相当する） LRM = Line-Reflect-Match（TRM=Through-Reflect-Matchと同じ意味です） LCP18　　 マイクロ波計測 製品LCP18カタログ.pdf [特長] 　低価格でお求めやすいdc~18GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブです。 チップが独立して動きます。グランドチップとシグナルチップは、互いに独立してZ軸上を上下します。 　PCBやBGAのような大きなパッドやバンプを持つデバイスや、非平面の表面を持つデバイスのテストに最適です。 　プローブは、100µmから2500µmまで25µm間隔で異なるピッチで入手可能です。 ・コネクター部　SMA ・プローブ先端　GSG GS SG ・ポジショナー用の様々な取り付けスタイル　DP　EDP　S　DS ・非磁性オプションについては、お問い合わせください。 ・挿入損失<0.4dB※　（200umピッチのプローブの場合、1250µmピッチで約0.9dB） 定番製品 -GSG-150-DP GSG構成、150µmピッチ、BeCu製チップ、取り付けスタイルDP 250umまでのピッチでは、各先端の接触面積は約40x40um 275umから600umのピッチでは75x75um、625umから3000umのピッチでは150x150umです。 使用により先端が摩耗しても、接触面積の大きさ（例：40x40um）は変わりません。 LCP18は OPT 5を必要とせずに約75Vを扱うことが可能です。 高出力回路用の40KVは標準で約150Vに対応（100W　28GHｚ）OPT 5を追加してより高い電圧を扱うことも可能です。

We prepare material for capillary used as IC bonding tool. The material is tungsten carbide. We also accept custom made capillary production on request. We can also produce assemblies such as ceramic, nozzle using TC material, wire guide etc. It is also used for coating carbide nozzles and pickup tools. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Capillary Blank Capillary Blank Other Products We prepare material for capillary used as IC bonding tool. The material is tungsten carbide. We also accept custom made capillary production on request. We can also produce assemblies such as ceramic, nozzle using TC material, wire guide etc. It is also used for coating carbide nozzles and pickup tools. L = 12 mm Dia = 1.58 mm d 1 = 1.0 mm

4探針プローブの修理に関して 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 旧タイプ4探針プローブ（FELLタイプ）製造中止に伴う交換キャンペーンのお知らせ 　 『4探針プローブ FELLタイプ』の販売と修理・調整を中止 させて いただくこととなりました。 　取扱い中止の主な理由といたしましては、旧タイプ4探針プローブ(FELLタイプ）の構造上、測定不安定要因となる 致命的な不具合 を有していたこと、 創業当時から の設計部品と年代間の部品整合性の不良等の問題も生じており、 修理管理 が困難となっていたことです。 　つきましては、新部材を採用した新規設計による新型4探針プローブのご提供を開始いたしました。 今後の製品安定供給のため、旧タイプから新型4探針プローブへの切替を ご提案させていただいております。旧 タイプの修理・調整のご対応といたしまして、下記内容にて新型4探針プローブと修理相当価格に て交換させていただきます。 　お客様で現在ご使用頂いております旧タイプ４探針プローブを下取りという形を取らせ ていただき、 新型４探針プローブと交換させていただきます。 ・修理調整のご依頼をいただけるお手持ちの4探針プローブを弊社宛にお送りください。 　➤お送りいただいた4探針プローブを新型4探針プローブに「修理交換品」（またはご要望の 名目）にて 　　 お見積書を送付させていただきます。 　➤その後、検査カードと共に新型４探針プローブを発送させていただきます。 旧タイププローブ　 （FELL/JANDEL/MPP/KLA,等） 新型プローブ 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(PE/FP/FR他ケーブル付) お問合せページ

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト We have participated in SEMICON Japan which is a comprehensive exhibition of semiconductor manufacturing and inspection equipment from the first time. We appriciate for our customers who have taken care of us for many years. We have also participated in an exhibision "Microwave Exhibition" speciallized in microwave technology. SEMICON JAPAN ■ SEMICON JAPAN 1977 The first meeting was held at Dome Hall of Harumi Exhibition Hall. Exhibitors at the time Astec Co., Ltd. / Advantest Corporation / Applied Materials Japan Co., Ltd. / Ando Electric Co., Ltd. / Westbond Company / SDC Semicon Technology Co., Ltd. / Kanematsu Device Co., Ltd. / Complete Electronics / Canon Sales Co., Ltd. / Saint-Gobain Norton Corporation / Shipley · Far East Co., Ltd. / Japan Speedfam Co., Ltd. / Dainichisei Corporation / Disco / Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. / Tempronics Corporation / Tokyo Electron Co., Ltd. / Japan AERA Co., Ltd. / Japan AD Inc. / Japanese SMS Co., Ltd. / Japan MKS Corporation / Japan Swagelok Corporation / Nippon Micronics Co., Ltd. / Nomura Micro Science Co., Ltd. / Hakuto Co., Ltd. / Hitachi Kokusai Electric / Hitachi High-Technologies Corporation / Fujimi Incorporated / Fluoroware · Valkar Japan Co., Ltd. ■ Latest appearance It is our booth at SEMICON JAPAN held at Tokyo Big Sight. Microwave Exhibition It is our booth at Microwave Exhibition held at Pacifico Yokohama.

弊社取扱製品の技術情報です。 技術情報 製品解説 ・ プローブ ・ ピコプローブ ・ マイクロ波ピコプローブ ・ ４探針プローブ ・ T-4ニードル その他情報 ・ 半導体は砂からできている？半導体とは ・ FETプローブ <外部リンク> ・ 米国GGB社 (GGB Industries, Inc.)　<外部リンク> ・ 米国Excel Precision社 (Excel Precision. Co.)　<外部リンク> ・ 米国Velmex社 (Velmex, Inc.)　<外部リンク> ・ I−Laboratory　<外部リンク>

SCシリーズ同軸プローブニードルは、SMAコネクターを終端しているので高周波帯域での使用が可能です。信号線用のタングステン製ニードル端子は、５μRに加工されていて微小部への接触も容易にできます。オプションによりグランド付きの仕様も選択ができます。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　50Ω同軸プローブ 50Ω同軸プローブ 半導体・液晶 後工程（検査） マイクロ波計測 　SCシリーズ同軸プローブニードルは、SMAコネクターを終端しているので高周波帯域での使用が可能です。信号線用のタングステン製ニードル端子は、精密加工されていて微小部への接触も容易にできます。オプションによりグランド付きの仕様も選択ができます。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー SCシリーズ.pdf SC-50 フランジ無し仕様 SC-50シリーズ 50Ω同軸プローブ　ご注文時にの長さ（L）を指定してください