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首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　P/N决定器 P/N决定器 半导体・液晶 前置作业检查 P / N决定器是一种能够通过整流方法或热电动势，容易地判断硅半导体的PN的类型测试器。 P型 - N型硅晶片可以很容易地判断，并且可以对样品例如N上的P进行判断。 简单的手动型，结合硅晶片和硅锭，特色是价格低廉。 <如何使用> ・对于晶圆：将要确定的晶圆表面放置在平台上，轻轻按下，不会损坏晶圆，您可以轻鬆判断PN。 ・对于铁锭：只需将热探针按压在样品表面，便可轻鬆判断PN。

Main Products ･4-point probes and related equipment for resistivity measurement of semiconductors, thin film layers, etc. ･semiconductor and liquid crystal thin film sheet resistivity measurement equipment ･high performance probes for characterization of semiconductor ICs (ULSI, VLSI, etc.) ･microwave measurement probes and measurement equipment ･various types of linear and rotary slides, manual and motorized, for measurement and laboratory use ･probe needles and scripe points Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product List 1. Pre-Process Semiconductors and Electronic Materials Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Resistivity Processor P/N Checker 4-Point Probe Laser Interferometry Tools *Usable for both pre and post process 2. Post-Process Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) Picoprobe for IC Micro Positioner 50Ω Coaxial Probe IC Contact Probe Probe Needle 3. Microwave&Other Microwave Measurement Picoprobe for Microwave Jig tool for Microwave Testing Other Products Capillary Blank Diamond Scribe 4. Positioning Precision Positioning Precision Machinery X-Y Slider Tables SS Magnet

弊社はエクセル・プレシジョン（米国EXCEL PRECISION社）の日本における販売代理店として、レーザー干渉計機器を取り扱っております。安定化ゼーマンを採用した2周波He-Neレーザー方式と光ヘテロダイン検出/シグナルプロセッサを組合せ、最小読み取り分解能0.3ナノの高精度で信頼性の高い測長変位計測を可能にし、さらに低コスト化のシステム構築が可能となります。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　レーザー干渉計測器 レーザー干渉計測器 半導体・液晶 前工程（検査） 半導体・液晶 後工程（検査） 工作機械（検査） 　当社はエクセル・プレシジョン （米国EXCEL PRECISION社）の日本における販売代理店として、レーザー干渉計機器を取り扱っております。 　安定化ゼーマンを採用した2周波He-Neレーザー方式と光ヘテロダイン検出/シグナルプロセッサを組合せ、最小読み取り分解能0.3ナノの高精度で信頼性の高い測長変位計測を可能にし、さらに低コスト化のシステム構築が可能です。エクセル・プレシジョン社は独自で設計、製造を行うレーザー干渉計測器のスペシャリストとして業界での地位を確立しており、世界的に5000台以上の実績があります。 　標準品のみならず、お客様のご要望に応じオーダーメイドのシステムも製作しています。 1001 Laser Head 　EXCEL PRECISION 1001 Laser Head シリーズは2周波ヘリウムネオンレーザーシステムで、特に光学干渉計と関連する検出・光学ハードウェア用に設計されています。1001レーザーヘッドの主な用途は、ウェーハ/FPDステッパー、電子ビーム装置、I.C.検査製品、バックエンドステッパー、精密測定機、超精密工作機械向けです。 　レーザーの周波数安定性は、ゼーマン効果の原理を利用することで達成されレーザー管に縦方向の磁場をかけると、ネオンの原子準位が2つのエネルギー準位に分裂します。これら2つの準位の周波数は、基本的に中心波長に対して等間隔であり、印加された磁場の強さに比例してシフトします。したがって、レーザー管は、磁場の強さに比例した周波数差を持つ2つの周波数で発振しています。これらの2つの周波数は、磁場が印加される前に生成された元の周波数に対して対称的に分離されています。測定中、極めて高い精度と再現性を達成することができます。 　1001 Laser Headの高い分割周波数により、測定速度は1.0m/secに達します（分解能に依存）。すべてのエクセル光学製品と互換性があり、最大6軸の測定に対応します（干渉計6個、受光器6個） 1100B 6要素校正システム 　1100B レーザー校正システムは主に工作機械上の精度管理に使用します。テーブルのガタつきを一度に最大5要素まで検知しデータ化できます。 1100Bレーザー.pdf レーザー干渉計システム構築用資料.pdf ■ 1550A 角度センサー 　1550A 角度センサーは面上やZ駆動部の微小変位を色や反射率に左右されず計測することができます。 3DOptix Warehouse 　ブラウザ上で既製の光学部品を使用して光学シミュレーションを実行できるサービスです。設計検討にご活用ください。 3DOptix Warehouse

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　四点探针探测器 四点探针探测器 [NPS Version] 半导体・液晶 前置作业检查 它是用于测量电阻率的高精度探头。 目前，直流四点探针法是测量导电材料电阻值最可靠的方法。 许多测量工程师认定测量中使用的探头的机械性能极大地影响了测量的准确性。 特别是在测量半导体材料时，会出现精度和耐久性问题。 拥有多年经验和良好记录的NPS 四点探针在全球被公认为高精度探头，并被测量仪器製造商用作标准探头。针部分使用耐用的金属在金属和远端的低导体电阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接触 " 处理 (IP, MT, 某人, 通过执行 EP 等), 保证了多种不同样品的稳定测量。 (日本国内组装产品、调整和售后产品) NPS 是40年来的探针专家, 另外还为探頭、探针修復和测试以及其他公司所做的其他探头提供技术谘询。 (对于 Napson, 其他测量仪器) <主要功能> 高精度·高耐久性·世界标准装备·低价格·短期维修再生（FELL型）从针尖到连接器的连续连接，通过专利的板迭板式弹簧，专用针规格， 採购，装配，性能管理 【相关产品】电阻率测量仪 ■ 四点探针探测器 构成四点探针的每个部件都是由专用加工机器的开发和生产製造的，从製造到出货的品质控制都是由专职技术人员进行，由此可以提供具有高精度和高耐用性产品 。 此外，为了满足国内用户的要求，我们制定了自己的规格并进行组装。我们还提供各种四点探针的维修或改装服务。如果您想了解更多信息，请随时与我们联系。 ■ 轻小型探测器 这是一个手持式测量的四点探针。 它可以用于硅铁锭等。 ■ 0.1mm间隔 MODEL SEP-4是一个四点探针，用于测量针距为0.1 mm间距的薄层电阻。 由于四根针之间的距离小至0.3mm（线性），因此电场能量的影响范围很小，并且即使在面积为5×5mm的小面积的焊盘的情况下，电阻测量也不受电场电力的影响。 可安装并固定在我们的微型定位器800MRF上。 尖端材料 钨(W)，铍铜(BeCu) 尖端形状 扁平(F)，圆形(R) 针距0.1mm（总距离0.3mm）0.3mm（总距离0.6mm）。 0.3mm(总距离0.6mm)引出线60cm香蕉插头等可选装。

We specialize in the import, export, manufacturing, and sales of inspection, measurement, andmanufacturing equipment essential for the semiconductor and electronics industries. With a focus on the "precision" born from "new technology," we are committed to delivering the highest value to our customers through relentless pursuit of excellence. Our products are widely utilized in fields requiring exceptional accuracy, such as semiconductors and liquid crystal displays. Home Product About Us English 日本語サイト Microwave Picoprobe Microwave Picoprobe 4 Point probe Microwave Picoprobe 1/6 Pursuing new precision technology! 　We specialize in the import, export, manufacturing, and sales of inspection, measurement, and manufacturing equipment essential for the semiconductor and electronics industries. 　With a focus on the "precision" born from "new technology," we are committed to delivering the highest value to our customers through relentless pursuit of excellence. 　Our products are widely utilized in fields requiring exceptional accuracy, such as semiconductors and liquid crystal displays. ➤ Contact Us 4-Point Probe Products Resistivity measuring instrument This is a manual type measuring instrument that can measure sheet resistance or resistivity of metallic thin films, etc. easily and precisely using the 4-point probe method. 4-Point Probe Half a century has passed since we started handling 4-point probes, and they are recognized worldwide as high-precision semiconductor probes for resistivity measurement. Picoprobe for IC The measurement can be performed with minimal load on the measurement device, thus reproducing digital waveforms with high fidelity. Microwave Picoprobe A test probe for microwave devices that combines low loss and high durability with GGB's unique continuous coaxial construction. Microwave Test Stand This is a test fixture for fixing and mounting small circuit boards and components that use microwaves as transmission paths to evaluate their characteristics. Precision X-Y Slider Table Precision slider that can be used as a table for fine positioning and inspection. XYZ, conductive, manual, and a wide variety of types are available depending on the combination. > Products ➤ Contact Us SEMICON JAPAN 1977-2024 　 We have been exhibiting at SEMICON JAPAN, a comprehensive exhibition for semiconductor manufacturing and testing equipment, since the first exhibition. Learn More ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 半导体・电子材料相关 半导体・液晶 前置作业检查 电阻率测量仪 P/N决定器 四点探针探测器 激光干涉仪 ※前后作业的检查 半导体・液晶 作业后的检查 IC用的示波器探针 微定位器 50Ω同轴探头 IC接触探头 探针

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　50Ω同軸探頭 50Ω同軸探頭 半導体・液晶 作業後的檢查 由於SC系列同軸探針的終端在SMA連接器上，因此可用於高頻段。 信號線的鎢針端子也容易被使用在加工後的5μR微小連接處，也可以選擇周邊產品的規格。 【相關產品】微定位器

ピコプローブ（Picoprobe）は電気容量値を示す単位ピコファラッド（ｐＦ）のピコ（ｐｉｃｏ）と、オシロスコープで使用するプローブ（Probe）との造語で、米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（ＦＥＴ）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 ​ ピコプローブとは 　ピコプローブ(Picoprobe)は、電気容量値を示す単位「ピコファラッド(pF)」の「ピコ(pico)」 と、オシロスコープで使用する「プローブ(Probe)」 との造語で、米国「GGB Industries, Inc.」 の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（FET）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 　ピコプローブは、IC、CMOS、また、液晶用省電力回路等の内部電圧計測のための高性能FETプローブ（アクティブプローブ）です。 ピコプローブの持つ超低入力容量と高入力抵抗は、高インピーダンス回路に対して低負荷でのプロービングが実現でき、被測定回路に与える影響を最小限にし、波形を忠実に再現することができます。 しかしながら、一般のFETプローブ以上にシビアな性能のため、特殊性を熟知した専門技術者だけが取扱える、プロフェッショナル用のツールです。 　ピコプローブは1970年代、当時の米国ベル研究所でICの設計に携わっていた技術者ボール氏が、自己の専用ツールとして設計製作した電圧測定用プローブをベースに製品開発されたもの です。1980年にGGB Industries, Inc.が設立され、ピコプローブの商品名で世界中に発売が開始されて以来、現在に至るまで40年以上のロングセラー商品となっております。 　当時は入力容量が最小でも1pFという値のプローブしか世の中に存在しておらず、MOSの動作検証テストやIC故障解析で使用するにはかなりの支障がありました。しかし、入力容量0.02pFという驚異的な性能を持つピコプローブの出現によって、IC技術革新に大きく貢献することができました。 　その後、1988年に開発されたGGB社独自の構造を持つマイクロ波用ピコプローブ（米国特許取得）とともに、ピコプローブは電子回路テスト用高性能プローブの代名詞となり、世界的な標準器具としてプロの技術者に広くご使用いただいております。 　クラフトマンシップを大切にするGGBの技術屋が製作するピコプローブ。こだわりを持つプロの技術者におすすめいたします。 > GGB社のホームページへ (ピコプローブは米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。) 中村＠NPS

微動位置決め・検査用テーブルとして、ちょっとした所に使用できる、精密スライダー(XYテーブル）です。豊富な種類を用意しております。 ブレ、ガタ等が無く高剛性につくられています。 製品ラインナップ 　>　位置決め精密機械 　>　精密位置決めステージ UniSlide（ユニスライド）精密位置決めステージ 位置決め精密機械 　微動位置決め・検査用テーブルとして使用できる精密スライダー(XYテーブル）です。組み合わせによりXYZ、電導、手動、豊富な種類を用意しております。 ブレ、ガタ等が無く高剛性につくられています。 <製品>　米国VELMEX, INC. Linear Stages【リニアステージシリーズ】 昇降テーブルやXYテーブルなど、さまざまな構成、モデル、サイズをご用意しています。 XY Stages【XYステージシリーズ】 お客様のインデックス、スキャン、固定、位置決め、ゲージング要件に対応する組立済みXYテーブル。 Rotary Stages 【ロータリーシリーズ】 スキャニング、組立、テスト、生産のための正確で連続的な回転運動を提供します。 総合カタログ.pdf 各製品の詳細はこちら➤ Velmex製品の活用例 https://www.velmex.com/Examples/working_examples.html TA測定システム 　Velmex「TA」システムは、研究者が非接触で測長分析を行うために特別に設計されたシステムです。発売以来、Velmex「TA」システムは、米国のendrological research communityの標準となっています。 　TAシステムは、以下のような多目的な用途に使用されています。 - 木の年輪成長測定 - 軟体動物の成長研究 - サンゴへの生態的影響 - プローブ等の位置決め - 精密ボアカメラ検査 - 材料の応力解析 - その他、高精度な非接触測定・位置決めが必要なアプリケーション 耐久性とコンパクト性を向上させながら、手頃な価格で高精度を実現させたシステムとなっております。 ※Velmexのシステムには、顕微鏡や専用の解析ソフトは含まれていません。 機器構成 TA "システムは、以下で構成されています。 1. 早送り付UniSlide®、送りピッチ1mm/回転　 2. リニアエンコーダ（分解能0.001mm） 3. Velmex VRO™　スケールデジタルカウンター 　（リニアエンコーダに接続しコンピュータに測定値を記録するためのインターフェース　VRO-1B ベース付き) オプション品 1. VXM-USB-RS232シリアル・ケーブル 2. VRO-TAB2 リモートリセット・送信用リモート入力モジュール PAP測定システム 　PAP測定システムはXーYの2軸ステージで構成され、応用可能な計測として、 コンクリートやアスファルトの骨材や粒子の組成、気泡や空洞、また、堆積物や土壌中の物質サイズの分析などがあります。 　ステージは手動、または、電動の選択が可能です。 ※Velmexのシステムには、顕微鏡や専用の解析ソフトは含まれていません。

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 公司简介 联繫我们 产品的相关资讯，请联繫我们 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司简介 经营项目（主要产品） 1.用于电阻率测量仪器如半导体和薄膜层的四点探针相关器材 2.半导体，液晶薄膜的片电阻率测量仪 3.用于征半导体IC（ULSI，VLSI等）的高性能探头 4.微波测量探头和测量装置 5.测量，实验，手动和电动，直线旋转式滑动产品 6.探针，划线点 7.激光干涉仪系统 经营理念 我们精心挑选我国工业技术的发展和不可或缺的高科技设备和材料为您服务。 此外，我们会努力听取客户的意见和要求，为近年来的行业发展作出贡献。 作为小生意伙伴，我们将随时注意产业发展趋势，实现合理化，降低成本。 我们将以“更优惠的价格，快速的交货日期提供更优质的服务并且希望我们的客户意识到我们重要性，让我们为社会做出贡献。 代表董事 中村勇人

抵抗率を測定する時に用いる高精度プローブです。  現在、導電性材料の抵抗値を測定する最も信頼性の高い方法として直流4探針法があります。その測定で使用されるプローブの機械的性能が、測定の精度を大きく左右することは多くの測定技術者が認めるところです。 特に、半導体材料の測定時には精度とともに耐久性が問題となります。 長年の経験と実績を誇るNPS製4探針プローブは高精度プローブとして世界的に認められており、標準プローブとして測定器メーカー各社が採用しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 4探針プローブ 半導体・液晶 前工程（検査） 　抵抗率を測定する時に用いる高精度なプローブです。 現在、導電性材料の抵抗値を測定する最も信頼性の高い方法として4探針法があります。その測定で使用されるプローブの機械的性能が測定精度を大きく左右することは多くの測定技術者が認めるところです。 　特に、接触式の破壊検査における半導体の測定には精度とともに耐久性が課題となります。 　長年の経験と実績を誇るNPS製【MADE IN JAPAN】の４探針プローブは高精度な半導体プローブとして世界的に認められており、標準プローブとして各国の測定器メーカーに採用いただいております。 　 　新規開発のニードルは、接続部に高耐久性ワンピース構造の低抵抗金属を使用することで良好な導電性を保ち、さらにNPS独自の「マイクロエッジコンタクト加工処理」（IP,MT,SB,EP等）により、多様化する試料の安定した測定が保証されます。(日本国内アセンブル品、調整品、および、アフターサービス品) 　NPSは、４探針プローブの取扱いを開始して半世紀が経つ専門会社です。プローブに関する技術相談、プローブ修理・検定等、また他社製プローブの調整も行ないます。（ナプソン、KLA、MPP、共和理研、他メーカー対応） <主な特長> 高精度・高耐久性・世界標準器具・ 低価格・短期修理再生（FELLタイプ）針先からコネクターまで連続結線、特許式のリーフスプリング機構により接触時の変動が極小、試料別針先仕様, 日本国内での部品調達、アセンブル、性能管理 【関連製品】抵抗率測定器（シート抵抗測定器） ４探針プローブをもっと知る 4探針プローブ（NPタイプ） 　ＮPS製の４探針プローブは、各部品を全て日本国内で製造し組み立て調整することで安定した供給と組立精度を実現しました。 1971年創業当時より４探針プローブの取り扱いを始めて以来半導体の発展とともに蓄積されたノウハウが今日の４探針プローブに生かされています。 　 様々な試料に対応できるよう４探針プローブヘッドに独自の調整を行い、4探針法抵抗率測定の高精度化を実現しております。さらに、自社の抵抗率測定器とともに精度管理を行うことで信頼性のある製品をご提供させていただいております。 　 4探針プローブを例えると、機械でいうところのセンサー部分に当たります。 このセンサー部分の性能の良し悪しが測定結果に多大な影響を及ぼすのは言うまでもありません。 　当社又は各社の測定器に対応したコネクターを接続することによりご使用いただけます。 4探針プローブ 総合カタログ 旧タイププローブに関するお知らせ 　４ 探針プローブを構成する各部品は、専用の加工機械の開発・製作から行い、専任の技術スタッフによる製造から出荷までの品質管理を行なうことにより、高精度、高耐久性の４探針プローブの提供を可能としています。また、長年の経験と国内ユーザーからのご要求に対応するため、独自の仕様を設定し、アセンブルを行なっております。 　 ４ 探針プローブに関する技術的な相談も承っております。詳細は弊社営業までお問合せ下さい。 　当社 の4探針プローブを初めてお使いになられるユーザー様にトライアル価格でご提供致します。また各社4探針プローブの修理、 カスタマイズ（部品交換・オーバーホール）のご依頼にも対応しております。 お気軽にお問い合わせください。 主な使用用途 シリコンウェーハ、ITO薄膜等のシート抵抗値、抵抗率による膜厚測定管理 研究目的における体積抵抗率、表面抵抗率（Ω、Ω-cm、Ω/sq） 4探針プローブ　使い切りモデル 4探針プローブの修理に関して スクエアプローブ 4探針プローブヘッド 　この名称は、電極が正方形の形状を形成していることに由来しており、電極の間隔は等しくなっています。標準的な電子材料等のシート抵抗測定においては電極探針が直列の4探針法を用いて行いますが、ここでは電極探針が正方形状に配列されたスクェアプローブによるシート抵抗測定についての資料をご提供いたします。 スクェアプローブを用いたシート抵抗測定資料 K-89PSシリーズ向け取付治具 　専用の取付治具をオプションで販売しております。共和理研製の４探針プローブと同一の測定架台に取り付ける事が可能となります。詳しくは当社営業までお問い合わせください。 4探針プローブヘッド 　低価格で高精度なNPプローブに加えて弊社では修理調整可能な4探針プローブヘッドも製造しております。 　修理可能なモデルの4探針プローブは修理・調整することにより再生使用が可能となります。また、ニードル、ガイド等の消耗部品のみの交換によりランニングコストを抑えることができます。 　NPSは長年、海外製4探針プローブを自社内にて日本規格の精度にリアセンブルを行い販売、修理調整等を行いお客様にご提供させていただいておりました。 しかしながら、旧来の技術で製造された部材ではどうしてもクリアできない不具合が発生するため、精度と品質の向上を図るべく改良設計を弊社で行い、50年以上培ったノウ・ハウを基盤とした高精度4探針プローブの自社製造を行う経緯にいたりました。 TypeA~I TypePE 　プローブの種類は、測定試料の材質、表面状態、形状などに応じて選択します。 【測定サンプル】 推奨する当社の4探針プローブ（NPタイプの場合） 【バルクインゴット・ブロック材】 ➤プローブ型番 NP1-TSB2 (仕様:TC-40uR-200g) 例:先端半径40uR、針圧力200g 【シリコン基板（ラップ、ミラー等）】 ➤プローブ型番 NP1-TSB2 (仕様:TC-40uR-200g) 【エピタキシャル層】　　　　 ➤プローブ型番 NP4-TEP2 (仕様:TC-200uR-200g)　　　　 【エピタキシャル層 (<1µm)】 ➤プローブ型番 NP4-TEP1(仕様:TC-200uR-100g) 【浅い拡散層】 ➤プローブ型番 NP4-TIP1(仕様:TC-200uR-100g) 　　　　　　　 NP4-PMT1(仕様:P-200uR-100g) 【イオン注入層】 (低ドーズ） ➤NP5-TIP1 (仕様:TC-400uR-100g) 　　　　　　　 （高ドーズ） ➤NP4-TIP2(仕様:TC-200uR-200g) 【金属薄膜】 ➤プローブ型番 NP4-TMT1(仕様:TC-200uR-100g) NP4-PMT1(仕様:P-200uR-100g) 【ITO層】 ➤プローブ型番 NP5-TFT1(仕様:TC-400uR-100g) ■ ハンドプローブ 手持ちで簡単に抵抗率測定が行えるハンディタイプの4探針プローブです。 インゴット等に使用可能です。 ハンドプローブ ■ SR-BOX 基準抵抗が内部にセットされている抵抗 BOX でプローブと測定器の簡易チェックが行え ます。基準抵抗器は 1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω の 4 種類で、いずれも 保証精度 ±1％（使用抵抗器 ±0.1％）となります。 SR-BOX 0.1ｍｍピッチ4探針プローブ MODEL SEP-04は、針間隔が0.1mmピッチのシート抵抗測定用4探針プローブです。 針4本の距離が0.3mm(リニア)と微小のため電界エネルギーの影響範囲が小さく、小面積5x5mm のパッドの場合でもエッジから0.5mm付近までは電界電力の影響を受けずにシート抵抗測定をすることができます。 0.1mmピッチ4探針プローブ 弊社マイクロポジショナー 800MRFに取付固定ができます。お手持ちの実体顕微鏡と併用する事で微細な試料の抵抗率測定にご使用いただけます。 探針材質　タングステン（W） ベリリウム銅（BeCu） 探針先形状　フラット（F）　ラウンド（R） 各探針間隔　0.1mm（総距離0.3mm）　0.3mm(総距離0.6mm) リード線　90cm　オプションでバナナプラグ等取り付けが可能です。 ※このプローブは独自仕様となる為下記の仕様表には適合しません 針先の3Dイメージ。 40μR、100μR、150μR、200μR、400μR

It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe design and manufactured by  GGB Industries,Inc(US) can be installed. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Micro Positioner Micro Positioner Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe d esign and manufactured by GGB Industries,Inc (US) can be installed. The MODEL 800 series is a high performance micro positioner specifically designed for pico probe. High precision probing is possible with the positioning mechanism of utility model and 3-axis integral micro positioning system. 【Related products】Picoprobe for IC ・ Picoprobe for Microwave ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series MODEL800.pdf