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首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　四點探針 四點探針探測器 [NPS Version] 半導體・液晶 前置作業檢查 它是用於測量電阻率的高精度探頭。 目前，直流四點探針法是測量導電材料電阻值最可靠的方法。 許多測量工程師認定測量中使用的探頭的機械性能極大地影響了測量的準確性。 特別是在測量半導體材料時，會出現精度和耐久性問題。 擁有多年經驗和良好記錄的NPS 四點探針在全球被公認為高精度探頭，並被測量儀器製造商用作標準探頭。針部分使用耐用的金屬在金屬和遠端的低導體電阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接觸 " 處理 (IP, MT, 某人, 通過執行 EP 等), 保證了多種不同樣品的穩定測量。 (日本國內組裝產品、調整和售後產品) NPS 是40年來的探針專家, 另外還為探頭、探針修復和測試以及其他公司所做的其他探針提供技術諮詢。 (對於 Napson, 其他測量儀器) <主要功能> 高精度·高耐久性·世界標準裝備·低價格·短期維修再生（FELL型）從針尖到連接器的連續連接，通過專利的板叠板式弹簧，專用針規格， 採購，裝配，性能管理 【相關產品】電阻率測量儀 ■ 四點探針探測器 構成四點探針的每個部件都是由專用加工機器的開發和生產製造的，從製造到出貨的品質控制都是由專職技術人員進行，由此可以提供具有高精度和高耐用性產品 。 此外，為了滿足國內用戶的要求，我們制定了自己的規格並進行組裝。此外，我们还可以灵活应对各种厂家的4点探针的维修和定制（部件更换和大修）要求。 请随时与我们联系以获取更多信息。 ■ 袖珍型探測器 這是一個手持式測量的四點探針。它可以用於矽鐵錠等 ■ 0.1mm間隔 MODEL SEP-4是一個四點探針，用於測量針距為0.1 mm間距的薄層電阻。 由於四根針之間的距離小至0.3mm（線性），因此電場能量的影響範圍很小，並且即使在面積為5×5mm的小面積的焊盤的情況下，電阻測量也不受電場電力的影響。

2025年 NEWS 年末年始休業のお知らせ 　平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 　当社の年末年始休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 　2025年12月27日(土) ～ 2026 年1月4日(日) SEMICON Japan 2025 出展のご案内 　当社は、2025年12月17日（水）から19日（金）まで東京ビッグサイトにて開催されるSEMICON Japan 2025に出展いたします（ブース番号：W2534 ）。 　本展示会では、主に半導体テスト・測定向けの高精度プローブおよび高周波対応ソリューションの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: 高周波プローブ、RFプローブ、4探針プローブなど、半導体製造・検査プロセスを支える業界トップクラスの製品を展示。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社のウェハテスト、高周波特性評価、信頼性試験などの技術的課題に対し、最適なプローブソリューションをご提案いたします。 　 　SEMICON Japanは、半導体製造サプライチェーンが一堂に会する日本最大級のイベントであり、次世代AI、自動車、IoTをはじめとするスマートアプリケーションを支える技術革新の場です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 SEMICON Japan 2025 MWE 2025(マイクロウェーブ展)出展のご案内 　当社 は、2025年11月26日（水）から28日（金）までパシフィコ横浜にて開催されるマイクロウェーブ展（MWE）2025に出展いたします（ブース番号：A-12）。 　本展示会では、主にマイクロ波用プローブの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: マイクロ波用プローブ、高周波プローブなど、業界をリードするソリューションを展示。 実演デモンストレーション: 実際の動作環境下での性能をご覧いただける実機展示を実施予定。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社の技術的課題に対する最適な解決策をご提案。 　マイクロウェーブ展は、産学連携と技術革新の場として、未来の通信技術を形作る重要な機会です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【当社ブース情報】 https://apmc-mwe.org/mwe2025/kigyo/data/A02400.html 夏季休業のお知らせ 　平素より大変お世話になっております。 　誠に勝手ながら、弊社では下記の期間において夏季休業とさせていただきます。お客様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。 【休業期間】 2025年8月12日（火）～2025年8月15日（金） 【休業中の対応について】 　休業期間中のご注文、お問い合わせ等は、2025年8月18日（月）以降に順次対応させていただきます。 　なお、休業期間中のメールやフォームからのお問い合わせは受け付けておりますが、回答は8月18日以降となりますので、予めご了承ください。 　今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。 「Metoree(メトリー)」当社掲載内容について 　産業用製品メーカー比較サービスの「Metoree(メトリー)」に2025年７月１７日から、当社の会社情報と製品情報を掲載していただいております。 　「Metoree(メトリー)」は ZAZA株式会社が運営するエンジニア・研究者・購買担当者の方のための産業用製品メーカー比較検索サービスです。測定器・センサ・プリンティング機械・工具・電気電子部品・建材など7,000以上のカテゴリー、産業用製品メーカー・代理店80,000社の情報が掲載されています。 【Webページ】 Metoree(メトリー) ■ Metoree(メトリー)掲載の製品情報 【Webページ】 抵抗率測定器 Σ-5＋| Metoree マイクロ波用ピコプローブ| Metoree 精密位置決めステージ| Metoree エヌピイエスの半導体検査装置3製品 ・人気ランキング | Metoree 「トランジスタ技術」「インターフェース」(CQ出版社)当社掲載内容について 　月刊「トランジスタ技術」、月刊「インターフェース」2025年1月号から、当社の製品情報と採用情報を掲載していただいております。 　月刊「トランジスタ技術」は実用性を重視したエレクトロニクス技術の専門誌、月刊「インターフェース」はコンピュータ・サイエンス＆テクノロジ専門誌です。 【Webページ】 トランジスタ技術 インターフェース セール品の販売について 下記型番マイクロ波プローブにつきセール価格にて提供致します。 ➤ 40A-GSG-300/40A-GSG-300/D-DP-N　¥130,000　残数2 ➤ 50A-GSG-250-P　¥90,000　残数2 ➤ 40A-GS-550-LP-NM　¥70,000　残数1　　　　 　　※在庫につきましては弊社営業までお問い合わせください。　　 　　　　　　 ➤その他、在庫処分セール品一覧

当社は、半導体製造・検査装置の総合展示会である「セミコンジャパン」に第一回目より出展を行なっております。また、マイクロ波テクノロジーに特化した「マイクロウェーブ展」にも出展しております。 　当社は、半導体製造・検査装置の総合展示会である「セミコンジャパン」に第１回より出展を行なっております。 また、マイクロ波テクノロジーに特化した「マイクロウェーブ展」にも出展しております。 SEMICON JAPAN ■ SEMICON JAPAN 1977 第一回は晴海展示場のドーム館で開催。当時は、ドーム館も埋らない程の出展社数でした。 当時の出展社（敬称略） アステック㈱/ ㈱アドバンテスト/ アプライドマテリアルズジャパン㈱/ 安藤電気㈱/ ウエストボンド社/ エス・シー・セミコンテクノロジー㈱/ 兼松デバイス㈱/ ㈱完エレクトロニクス/キヤノン販売㈱/ サンゴバン・ノートン㈱/ シプレイ・ファーイースト㈱/スピードファム㈱/大日商事㈱/㈱ディスコ/ 大日本スクリーン製造㈱/ テンプトロニクス社/ 東京エレクトロン㈱/ 日本アエラ㈱/ 日本エーディーイー㈱/ 日本エスエスエム㈱/ 日本エムケーエス㈱/ 日本スウェージロック㈱/ ㈱日本マイクロニクス/ 野村マイクロサイエンス㈱/ 伯東㈱/ ㈱ 日立国際電気/ ㈱日立ハイテクノロジーズ/ ㈱フジミインコーポレーテッド/ フロロウェア・バルカージャパン㈱ ➤最新の様子 東京ビッグサイトで開催された「SEMICON JAPAN」当社ブースです。 マイクロウェーブ展 パシフィコ横浜で開催された「マイクロウェーブ展」当社ブースです。

半導体は、スマートフォンやパソコン、車、さらにはAIや自動運転を支える現代の重要な技術です。このページでは、半導体とは何か、どのように動くのか、どこで使われ、なぜ大切なのかを初心者向けに分かりやすく説明します。最後まで読めば、半導体の魅力がきっと分かります。​ 半導体とは？詳しく解説 　半導体は、スマートフォンやパソコン、車、さらにはAIや自動運転を支える現代の重要な技術です。このページでは、半導体とは何か、どのように動くのか、どこで使われ、なぜ大切なのかを分かりやすく説明します。最後まで読めば、半導体の魅力がきっと分かります。 １ 半導体って何？ 　半導体という言葉は、一般的に使われる場合と、物理学で使われる場合とで意味合いが異なります。一般的に半導体について述べられるときは、電子部品としての半導体デバイス全般 のことを指します。それに対し、物理学で使われている本来の意味での半導体は、物質の電気の流れやすさ を表します。 ２ 半導体デバイスについて 　半導体デバイスは、IC (Integrated Circuit:集積回路)と非IC に分けられます。 　ICの種類 　・ロジック …演算を行う　「ロジックIC、ASICなど」 　・メモリ …記憶を行う　「DRAM、フラッシュメモリなど」 　・マイクロ …演算と記憶　「マイコン、プロセッサなど」 　・アナログ …信号増幅や変換　「AD/DC コンバータなど」 　非ICの種類 　・オプト …発光・受光　「発光ダイオード、レーザーなど」 　・ディスクリート …トランジスタ単体のこと　「パワー半導体」 　・センサー …温湿度や圧力、加速度などを検出　「圧力センサー、加速度センサー」 ３ 物理学としての半導体 　物質には電気を通す導体と、電気を通さない絶縁体(不導体)があります。その中間にあるのが半導体です。電気の流やすさが、導体と絶縁体の中間(半ば)の物質です。また、電気の流れやすさは電気抵抗率で表されます。電気抵抗率は「Ωcm (オームセンチメートル) 」の単位で示され、電気を流しやすい物質ほど抵抗の数値が小さくなります。 　・導体 …金、銀、銅、鉄、アルミニウムなど 　・半導体 …シリコン、ゲルマニウム、セレン、ガリウムヒ素など 　・絶縁体 …ガラス、ゴム、プラスティック、ダイヤモンド、油など ➤ 抵抗率測定器 ４ 半導体は砂からできている？ 　半導体の主な原料はシリコン(Siケイ素)です。直近の半導体不足を考えると、シリコンはなかなか手に入らないのでは？と感じるかと思いますが、そうではありません。シリコンの原料は地球上のどこにでもある「砂」です。砂以外でも水や岩石、植物などの形でも存在しています。 　砂の中にはガラスと同じ、小粒の酸化シリコンが大量に含まれており、この砂を大量の水素などで還元することで多結晶、さらに多結晶シリコンを精製して単結晶シリコンに仕上げます。 　シリコンバレーのコンピュータ博物館にあるインテルのブースでは、「砂の絵」と「ICチップの絵」が大きく飾られています。 ５ 半導体の性質 　単結晶シリコンは、シリコン原子が規則正しく並んだ構造で、別の物質を含んでいません。しかし、シリコン原子100％の単結晶を製造することは技術的に難しく、実際のシリコンウェハは「99.999999999%」のシリコン原子で構成されています。これをイレブンナインと言います。 100％ではありませんが、1000億個のシリコン原子に1つ別の原子がある状態です。純金の99.99%に比べても非常に高純度です。 　この単結晶シリコンは、電気をほとんど通しません。あえて不純物を加えることで、電気を流せるようになります。その半導体は添加する不純物により性質が変わります。 　ｐ型半導体 …元素周期表13族のボロンやインジウムを添加 　ｎ型半導体 …元素周期表15族のリンやヒ素を添加 　 ➤ ｐ/ｎ判定機 ６ 半導体の機能 　 半導体の機能は、大きく３つに分類することができます。 　・ 増幅機能 …半導体が小さな電気信号を大きくする。 　・ スイッチ機能 …半導体が電気を流したり止めたりする。 　・ 変換機能 …光や力などを電気に変換する。 ７ 半導体はどうやって作られる？ 　半導体は、驚くほど精密な工程で作られます。主な工程は４つです。 設計 …設計エンジニアが半導体を搭載する製品に合わせて、電力やサイズなどを設計する。 シリコンウェハ製造 …シリコンインゴットをスライスして、シリコンウェハを製造する。 前工程 …シリコンウェハ上に半導体チップを作りこんでいく。 後工程 …ウェハの半導体チップを切り分け、基盤となるリードフレームに貼り付け完成。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　 ➤ もっと詳しく ８ 半導体の歴史 　半導体の歴史は、技術の進化とともに大きく発展してきました。主なマイルストーンを紹介します。 1947年：ベル研究所 で最初のトランジスタが発明されました。これが半導体の始まりです。 1958年：集積回路（IC）が発明され、複数のトランジスタを1つのチップに統合しました。 1971年：インテルが最初のマイクロプロセッサ「4004」を発売。パソコンの時代が始まりました。 2000年代～：ナノテクノロジーの進化で、チップはさらに小さく高性能になりました。 ９ 半導体の未来 　半導体は、未来のテクノロジーをさらに加速させます。注目のトレンドを紹介します。 AIと機械 Ricciardo：AI専用の半導体（例：GoogleのTPU）が、データ処理を高速化します。 量子コンピューティング：従来の半導体を超える超高速計算が期待されています。 5GとIoT：高速通信とスマート家電の普及で、半導体の需要が急増します。 環境対応：省エネ型半導体が、持続可能な社会を支えます。 　ただし、半導体不足や地政学的なリスクなど課題もあります。各国は自国での半導体生産を強化しており、日本を含めて半導体業界は大きな転換期を迎えています。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 ➤ もっと詳しく まとめ:半導体は未来を切り開く 　半導体は、スマホや車からAI、量子コンピュータまで、私たちの生活と未来を支える重要な技術です。このページで、半導体の仕組みや重要性が少しでも伝わったでしょうか？もっと知りたい方は、最新の技術ニュースや業界レポートをチェックしてみてください

P/N判定器はシリコン半導体のＰ－Ｎのタイプを整流性方式、または、熱起電力方式により簡単に判定することができるテスターです。 シリコンウェーハのＰタイプ－Ｎタイプが簡単に判定でき、P on N 等の試料の判定も可能です。 ​簡易マニュアルタイプ、ウェーハとインゴット兼用、低価格が特長です。 ​ 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　P/N判定器 P/N判定器 半導体・液晶 前工程（検査） 　P/N判定器はシリコン半導体のＰ－Ｎのタイプを整流性方式、または、熱起電力方式により簡単に判定することができるテスターです。 　シリコンウェーハのＰタイプ－Ｎタイプが簡単に判定でき、P on N 等の試料の判定も可能です。 　簡易マニュアルタイプ、ウェーハとインゴット兼用、低価格が特長です。 <使用方法> 【 ウェーハ用プローブ:PN-01-WP 】 　判定したいウェーハの面をステージにのせ、軽く押さえつけるだけでウェーハにダメージを与えず、簡単にPNの判定ができます。 【 インゴット用プローブ:PN-01-GP】 　ホットプローブを試料面に押し当てるだけで、簡単にPNの判定ができます。 PN判定器

先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　ダイヤモンドスクライプ ダイヤモンドスクライプ その他関連部材 　先端のダイヤモンドチップにより酸化膜付きのシリコンウェーハやガラス等をカットする際のケガキやマーキング用に使用できます。 シャンク：Steel 3.175mm　x 25mm or 38mm 先端半径：5-micron point, 12-micron point

It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe design and manufactured by  GGB Industries,Inc(US) can be installed. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Micro Positioner Micro Positioner Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe d esign and manufactured by GGB Industries,Inc (US) can be installed. The MODEL 800 series is a high performance micro positioner specifically designed for pico probe. High precision probing is possible with the positioning mechanism of utility model and 3-axis integral micro positioning system. 【Related products】Picoprobe for IC ・ Picoprobe for Microwave ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series MODEL800.pdf

It is a precision slider (XY table) that can be used in a small place as a fine positioning / inspection table. We have various kinds available. There is no blurring and rattling, and it is made to have high rigidity. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Positioning Precision Machinery 　>　X-Y Slider Tables X-Y Slider Tables Positioning Precision Machinery It is a precision slider (XY table) that can be used in a small place as a fine positioning / inspection table. We have various kinds available. There is no blurring and rattling, and it is made to have high rigidity. 　VELMEX, INC. Nonmagnetic XY table (photo is an example)

我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 Home 产品 关于我们 English 日本語サイト 追求新的精密技术 我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。 我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。 我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 ➤ 询问 4-needle probe 4-needle probe Microwave Test Stand 4-needle probe 1/5 Product 产品 电阻率测量仪 手动式测量仪，采用四探针法简单而准确地测量金属薄膜等的片状电阻或电阻率。 详细内容 集成电路Pico探头 在测量设备负荷最小的情况下进行测量，从而确保忠实再现数字波形。 详细内容 4-探头 在开始使用四点探头半个世纪后，它们已成为全球公认的测量电阻率的高精度半导体探头。 详细内容 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 　 我们自半导体制造和测试设备综合展览会 「SEMICON JAPAN」 创办以来一直参展。在此，我们对多年来给予我们大力支持的众多客户表示衷心的感谢。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　IC接触探头 IC接触探头 半导体・液晶 作业后的检查 0.65毫米，1.27毫米，2.54毫米间距用于IC检测的其他接触式探头，其它例如SOP，SSOP等。它安装在IC测试处理机上并用。 它耐用，可以低运行成本使用。 电极（针）材质在铍铜上镀金。 除此之外，也可製作钯合金，钨製造。

米国GGB社製マイクロ波プローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 ピコプローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。 その他、100μm以下のピッチ、カーエレクト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ) マイクロ波計測 　米国GGB社 製マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 　高周波プローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 　 　板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。その他、100μm以下のピッチ、カーエレクトロニクス用大電流プローブ等もご相談ください。 　 低損失・高再現性・高耐久性を備えており、特許式同軸構造と特許式バイパスキャパシター方式等により独自の性能を確保しています。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー 【主な取扱製品】MODEL 40M,MODEL 40A･50A･67A,MODEL 110H,MODEL 145A 総合カタログ MODEL10カタログ マイクロ波用ピコプローブをもっと知る [特長] ■強固な構造とハイパフォーマンス 　ピコプローブのシグナル部分は、コネクター部分から針先まで連続した同軸構造となっています。この連続同軸構造は、信号伝送特性に大変優れていてピーク周波数領域まで確実に信号を伝達させることができます。また、接触中の針先は外部からの震動による共振の影響を受けにくく、針先接触時のオーバーロードに対しても強固な作りとなっています。 ■豊富なスタイル 　ピコプローブは、フラット基板、パッケージ など各種試料形状の測定用に合わせて 数種類のスタイルを用意しております。 ■針当てのやり易さ 　ピコプローブのＤＵＴと接触するグラントの針先は、スプリング性を持つ構造となっています。これに対し固定された信号線用の針先とグランド針部に一定のギャップを持たせ、このギャップを目安に針当てが行えるため、常に安定したコンタクトが行えます。 ■ポイントコンタクト 　ピコプローブの針先は、常に安定した接触が得られるようにポイント形状となっています。 測定物の酸化膜をはじき良好な接触が得られ、また、針先のコンタクト時に生じる位置ずれ誤差を少なくさせ、確実な測定が保証されます。 マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 LCP18　　 マイクロ波計測 製品LCP18カタログ.pdf [特長] 　低価格でお求めやすいdc~18GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブです。 チップが独立して動きます。グランドチップとシグナルチップは、互いに独立してZ軸上を上下します。 　PCBやBGAのような大きなパッドやバンプを持つデバイスや、非平面の表面を持つデバイスのテストに最適です。 　プローブは、100µmから2500µmまで25µm間隔で異なるピッチで入手可能です。 ・コネクター部　SMA ・プローブ先端　GSG GS SG ・ポジショナー用の様々な取り付けスタイル　DP　EDP　S　DS ・非磁性オプションについては、お問い合わせください。 ・挿入損失<0.4dB※　（200umピッチのプローブの場合、1250µmピッチで約0.9dB） 定番製品 -GSG-150-DP GSG構成、150µmピッチ、BeCu製チップ、取り付けスタイルDP 250umまでのピッチでは、各先端の接触面積は約40x40um 275umから600umのピッチでは75x75um、625umから3000umのピッチでは150x150umです。 使用により先端が摩耗しても、接触面積の大きさ（例：40x40um）は変わりません。 LCP18は OPT 5を必要とせずに約75Vを扱うことが可能です。 高出力回路用の40KVは標準で約150Vに対応（100W　28GHｚ）OPT 5を追加してより高い電圧を扱うことも可能です。 RF校正基板 マイクロ波計測 校正基板選択ガイド [特長] 高精度測定を可能にするRFプローブ用校正基板シリーズです ・正確なSOLT、LRL、LRM校正をサポート ・プローブピッチ・レンジは30～2,540µm ・DC～220 GHzのすべてのGGBプローブに適合 ・GSGSG、GSSG、SGSチップ配列に使用可能 ・金メッキパッド　25 mil（635µm）厚のアルミナ基板 定番製品 CS105 ：GSGプローブ用、ピッチ範囲75～250 µm SOLT = ショート・オープン・ロード・スルー LRL = Line-Reflect-Line（TRL=Through-Reflect-Lineに相当する） LRM = Line-Reflect-Match（TRM=Through-Reflect-Matchと同じ意味です） RFピコプローブ　MODEL 40A マイクロ波計測 ・高耐久性RFプローブ40GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブシリーズ、GSG、GS、SG、または「デュアル」構成 （デュアル＝1ポジショナーに2プローブ） ・DC～40 GHz　挿入損失0.8 db未満　リターンロス18db以上　測定再現性-80db以上 ・これらのプローブは、25µmから2540µmまでのさまざまなピッチで入手可能 ・マイクロポジショナー用のさまざまな取り付けスタイル ・メス型Kコネクター2.9mm ・BeCu、ニッケルまたはタングステンで入手可能 ・非磁性オプション、高温および高電流／高電圧バージョンについては、お問い合わせください。 定番製品 40A-GSG-125-C 　GGB社のMODEL 40Aマイクロ波プローブは、マイクロ波プロービング性能の新しい標準を打ち立てます。低損失同軸技術を使用し、40GHzまで0.8db以下の挿入損失と18db以上のリターンロスを達成しました。 　ベリリウム銅、タングステン、ニッケルの各チップが個別にスプリング装填されているため、非平面構造のプローブでも信頼性の高いコンタクトが得られます。この信頼性の高い低抵抗コンタクトは、再現性の高い測定を提供する鍵の一つです。 　 　40A型マイクロ波プローブは、正確な位置決めのためにプローブ先端を直接見ることができます。 MODEL40Aは、標準的なマイクロ波プローブステーションで使用するために、様々なアダプターに取り付けることができ、また、プローブカードやマルチコンタクトウェッジのDCプローブニードルで使用するために、薄いブレードに取り付けることができます。カスタムマウントも可能です。 　ピッチ（先端間隔）は、25µmから2540µmまでご指定いただけます。プローブは、接地-信号-接地（G,S,G）、接地-信号（G,S）、信号-接地（S,G）の先端チップで構成できます。 　MODEL40Aへの接続は、3.5mmコネクタ互換のメスKコネクタ（2.9mm）を通して行います。 　13種類のアダプタースタイルから選択。T、C、GR、P、DP、EDP、LP、Q、F、S、DS、VP、またはRVPをご指定ください。用途に適した取付タイプをお選びください。P、DP、EDP、LP、Q、S、DS、VP、RVPの各タイプは、コネクタが45度の角度で後ろを向いており、プローブ上部の作業領域が広くなっています。DP、EDP、DS、VP、および RVP スタイルは、プローブの下に余分なクリアランスが必要な場合に使用します。DP、EDP、DSスタイルのプローブを使用する場合、プローブの取り付け角度が大きくなるため、プローブの位置決めが難しくなります。カスタム取付スタイルも可能です。

MTF-100、並びにGT-1100は、マイクロ波基板の測定が行なえる小型で簡易タイプのテスト台です。同軸タイプのRFプローブとオプションによりDCプローブの使用ができ、持ち運びが可能なため測定場所を選ばず計測作業が行なえます。いずれもテスト台としての汎用性を有したラボニーズのシステムです。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波テスト治具 マイクロ波テスト台 マイクロ波計測 　MTF-100、並びにGT-1100は、マイクロ波基板の測定が行なえる小型で簡易タイプのテスト台（プローバー）です。同軸タイプのRFプローブとオプションによりDCプローブの使用ができ、持ち運びが可能なため測定場所を選ばず計測作業が行なえます。いずれもテスト台としての汎用性を有したラボニーズのシステムです。 【関連製品】IC用ピコプローブ ・マイクロ波用ピコプローブ MTF-100 　MTF-100 シリーズは、マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 　小型ながら高精度で強固な構造に設計されており、低損失マイクロ波プローブを2ポートにセットしてのマイクロ波評価テストが行えます。また、小スペース設計により持ち運びができ、測定場所を選びません。 　MTF-100 シリーズに使用するプローブは、微小電極部に対応させるため、シグナルとグランドとのピッチ間隔を50ミクロンから2540ミクロンの範囲で選択でき、ネットワークアナライザのシステムアップにより最大67GHzまでの周波数帯域でテストが行えます。 MTF-100 GT-1100 (4"対応) 　MODEL GT-1100はマイクロ波領域（dc～40GHz）における伝送回路部品の電気特性測定を行なうための低損失マイクロ波プローブと、試料を微動位置決めさせることが可能な真空チャックを標準装備したテーブルトップサイズのテスト台です。オプションのプローブにより（50～110GHz）の測定にも対応することができます。 　MODEL GT-1100は計測に必要となるプローブ等の高性能付属品をセットにしている為、コストパフォーマンス性に優れ研究開発分野においての最適な測定システムとなっています。 GT-1100 ■ 導波管プローブ用テスト台 (GT-3000) ■ チューナー用テスト台 (GT-1502) 　GT-3000、GT-1500シリーズは導波管プローブを使用して効率的に測定が行なえるよう考慮され設計されたテスト台です。 　導波管プローブ（ミリ波帯）とチューナー機器等との接続が最短の位置で行え、損失の低減が可能となります。また、プローブと機器とが同時に動かせるため、導波管プローブを使用しての計測に適しています。カスタムオーダーメイドも歓迎です。