It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Diamond Scribe Diamond Scribe Other Products It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point

It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　IC Contact Probe IC Contact Probe Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. It is durable and can be used at low running cost. Electrode (needle) material is gold plated on beryllium copper. Besides, it is possible to manufacture with palladium alloy and tungsten.

NEWS(2026/08/04更新) TWHM2026出展のお知らせ 　8月に島根県松江市で行われるTopical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM 2026)に出展します。 【16th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics】 　日時：2026年8月24日(月)～27日(木) 　場所：ホテル一畑（〒690-0852 島根県松江市千鳥町30） 【TWHM情報】 　TWHM2026 夏季休業のお知らせ 　平素より大変お世話になっております。 　誠に勝手ながら、弊社では下記の期間において夏季休業とさせていただきます。お客様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。 【休業期間】 202６年8月1０日（月）～2025年8月1４日（金） 【休業中の対応について】 　休業期間中のご注文、お問い合わせ等は、202６年8月1７日（月）以降に順次対応させていただきます。 　なお、休業期間中のメールやフォームからのお問い合わせは受け付けておりますが、回答は8月1７日以降となりますので、予めご了承ください。 　今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。 MWE 2026(マイクロウェーブ展)出展のご案内 　当社 は、本年も202６年11月2５日（水）から2７日（金）までパシフィコ横浜にて開催されるマイクロウェーブ展（MWE）202６に出展いたします。 　本展示会では、主にマイクロ波用プローブの最新技術をご紹介いたします。 先進技術の展示: マイクロ波用プローブ、高周波プローブなど、業界をリードするソリューションを展示。 実演デモンストレーション: 実際の動作環境下での性能をご覧いただける実機展示を実施予定。 技術相談: 弊社専門エンジニアが、貴社の技術的課題に対する最適な解決策をご提案。 　マイクロウェーブ展は、産学連携と技術革新の場として、未来の通信技術を形作る重要な機会です。当社ブースにて、皆様のご来場を心よりお待ち申し上げます。 【MWE情報】 MWE 2026 GW休業のお知らせ 　平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。 　当社のGW 休業の日程を下記の通りご案内致します。何かとご不便、ご迷惑をおかけ致しますが、ご理解賜りますよう宜しくお願い申し上げます。 　2026年4月29日(水･祝) ～ 2026 年5月6日(水) 設立55周年のご挨拶と御礼 　おかげさまで、エヌピイエス株式会社は2026年をもちまして、設立55周年を迎えることができました。 　1971年の創業以来、私たちは半導体関連機器をはじめとする先端技術を通じ、日本のものづくりを支えることを使命として歩んでまいりました。これもひとえに、長年支えてくださったお客様、お取引先様、そして地域の皆様の温かいご支援の賜物と、心より深く感謝申し上げます。 　 　この節目を機に、社員一同、改めて創業の原点に立ち返り、さらなる技術革新とサービスの向上に努めてまいる所存です。今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、お願い申し上げます。

主な取扱製品 1. 半導体、薄膜層などの抵抗率測定器用4探針プローブ及び関連機器 2. 半導体、液晶薄膜シート抵抗率測定器 3. 半導体IC(ULSI、VLSIなど)の特性評価用高性能プローブ 4. マイクロ波計測用プローブ及び測定用装置 5. 計測用、実験用、手動及び電動の直線、回転形各種スライド製品 6. プローブニードル、スクライプポイント 7. レーザー干渉計システム 製品 アンカー：半導体電子材料関連 半導体・電子材料関連 半導体・液晶 前工程（検査） アンカー：前工程 抵抗率測定器 4探針プローブ P/N判定器 レーザー干渉計測器 ※前・後工程両方で使用 半導体・液晶 後工程（検査） アンカー：後工程 IC用ピコプローブ 50Ω同軸プローブ マイクロポジショナー プローブニードル アンカー：マイクロ波計測・関連部材 マイクロ波計測 マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波テスト台 その他関連部材 キャピラリー素材 ダイヤモンドスクライプ アンカー：位置決め精密機械 位置決め精密機械 精密XYスライダーテーブル 精密治具SSマグネット

米国GGB社製マイクロ波プローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 ピコプローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。 その他、100μm以下のピッチ、カーエレクト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ) マイクロ波計測 　米国GGB社 製マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 　高周波プローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 　 　板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。その他、100μm以下のピッチ、カーエレクトロニクス用大電流プローブ等もご相談ください。 　 低損失・高再現性・高耐久性を備えており、特許式同軸構造と特許式バイパスキャパシター方式等により独自の性能を確保しています。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー 【主な取扱製品】MODEL 40M,MODEL 40A･50A･67A,MODEL 110H,MODEL 145A 総合カタログ MODEL10カタログ マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 [特長] ■強固な構造とハイパフォーマンス 　ピコプローブのシグナル部分は、コネクター部分から針先まで連続した同軸構造となっています。この連続同軸構造は、信号伝送特性に大変優れていてピーク周波数領域まで確実に信号を伝達させることができます。また、接触中の針先は外部からの震動による共振の影響を受けにくく、針先接触時のオーバーロードに対しても強固な作りとなっています。 ■豊富なスタイル 　ピコプローブは、フラット基板、パッケージ など各種試料形状の測定用に合わせて 数種類のスタイルを用意しております。 ■針当てのやり易さ 　ピコプローブのＤＵＴと接触するグラントの針先は、スプリング性を持つ構造となっています。これに対し固定された信号線用の針先とグランド針部に一定のギャップを持たせ、このギャップを目安に針当てが行えるため、常に安定したコンタクトが行えます。 ■ポイントコンタクト 　ピコプローブの針先は、常に安定した接触が得られるようにポイント形状となっています。 測定物の酸化膜をはじき良好な接触が得られ、また、針先のコンタクト時に生じる位置ずれ誤差を少なくさせ、確実な測定が保証されます。 マイクロ波用ピコプローブをもっと知る RFピコプローブ　MODEL 40A マイクロ波計測 ・高耐久性RFプローブ40GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブシリーズ、GSG、GS、SG、または「デュアル」構成 （デュアル＝1ポジショナーに2プローブ） ・DC～40 GHz　挿入損失0.8 db未満　リターンロス18db以上　測定再現性-80db以上 ・これらのプローブは、25µmから2540µmまでのさまざまなピッチで入手可能 ・マイクロポジショナー用のさまざまな取り付けスタイル ・メス型Kコネクター2.9mm ・BeCu、ニッケルまたはタングステンで入手可能 ・非磁性オプション、高温および高電流／高電圧バージョンについては、お問い合わせください。 定番製品 40A-GSG-125-C 　GGB社のMODEL 40Aマイクロ波プローブは、マイクロ波プロービング性能の新しい標準を打ち立てます。低損失同軸技術を使用し、40GHzまで0.8db以下の挿入損失と18db以上のリターンロスを達成しました。 　ベリリウム銅、タングステン、ニッケルの各チップが個別にスプリング装填されているため、非平面構造のプローブでも信頼性の高いコンタクトが得られます。この信頼性の高い低抵抗コンタクトは、再現性の高い測定を提供する鍵の一つです。 　 　40A型マイクロ波プローブは、正確な位置決めのためにプローブ先端を直接見ることができます。 MODEL40Aは、標準的なマイクロ波プローブステーションで使用するために、様々なアダプターに取り付けることができ、また、プローブカードやマルチコンタクトウェッジのDCプローブニードルで使用するために、薄いブレードに取り付けることができます。カスタムマウントも可能です。 　ピッチ（先端間隔）は、25µmから2540µmまでご指定いただけます。プローブは、接地-信号-接地（G,S,G）、接地-信号（G,S）、信号-接地（S,G）の先端チップで構成できます。 　MODEL40Aへの接続は、3.5mmコネクタ互換のメスKコネクタ（2.9mm）を通して行います。 　13種類のアダプタースタイルから選択。T、C、GR、P、DP、EDP、LP、Q、F、S、DS、VP、またはRVPをご指定ください。用途に適した取付タイプをお選びください。P、DP、EDP、LP、Q、S、DS、VP、RVPの各タイプは、コネクタが45度の角度で後ろを向いており、プローブ上部の作業領域が広くなっています。DP、EDP、DS、VP、および RVP スタイルは、プローブの下に余分なクリアランスが必要な場合に使用します。DP、EDP、DSスタイルのプローブを使用する場合、プローブの取り付け角度が大きくなるため、プローブの位置決めが難しくなります。カスタム取付スタイルも可能です。 RF校正基板 マイクロ波計測 校正基板選択ガイド [特長] 高精度測定を可能にするRFプローブ用校正基板シリーズです ・正確なSOLT、LRL、LRM校正をサポート ・プローブピッチ・レンジは30～2,540µm ・DC～220 GHzのすべてのGGBプローブに適合 ・GSGSG、GSSG、SGSチップ配列に使用可能 ・金メッキパッド　25 mil（635µm）厚のアルミナ基板 定番製品 CS105 ：GSGプローブ用、ピッチ範囲75～250 µm SOLT = ショート・オープン・ロード・スルー LRL = Line-Reflect-Line（TRL=Through-Reflect-Lineに相当する） LRM = Line-Reflect-Match（TRM=Through-Reflect-Matchと同じ意味です） LCP18　　 マイクロ波計測 製品LCP18カタログ.pdf [特長] 　低価格でお求めやすいdc~18GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブです。 チップが独立して動きます。グランドチップとシグナルチップは、互いに独立してZ軸上を上下します。 　PCBやBGAのような大きなパッドやバンプを持つデバイスや、非平面の表面を持つデバイスのテストに最適です。 　プローブは、100µmから2500µmまで25µm間隔で異なるピッチで入手可能です。 ・コネクター部　SMA ・プローブ先端　GSG GS SG ・ポジショナー用の様々な取り付けスタイル　DP　EDP　S　DS ・非磁性オプションについては、お問い合わせください。 ・挿入損失<0.4dB※　（200umピッチのプローブの場合、1250µmピッチで約0.9dB） 定番製品 -GSG-150-DP GSG構成、150µmピッチ、BeCu製チップ、取り付けスタイルDP 250umまでのピッチでは、各先端の接触面積は約40x40um 275umから600umのピッチでは75x75um、625umから3000umのピッチでは150x150umです。 使用により先端が摩耗しても、接触面積の大きさ（例：40x40um）は変わりません。 LCP18は OPT 5を必要とせずに約75Vを扱うことが可能です。 高出力回路用の40KVは標準で約150Vに対応（100W　28GHｚ）OPT 5を追加してより高い電圧を扱うことも可能です。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　IC檢測用探針 半導体・液晶 作業後的檢查 IC檢測用探針 通過使用IC的微探針，可以精確測量IC的內部電壓。 美國GGB公司生產的pico探針是一種用於測量IC電壓的探針，用於將探針本身的雜散電容值保持在最大限度，並進一步使阻抗接近無限值。 這樣可以最大限度地減少測量設備上的負載，並可以忠實地進行測量。 對應於每種測量模式的模型，模型35為世界上最快的FET探頭的代表。 Pico探針是作為集成電路設計領域分析測量工具的全球標準儀器。 我們也將與適配器等通信，以便它們可以與每個製造商的探測器一起使用。 【相關產品】微定位器 [功能比較表（FET探針）]

​私たちは、専門知識、技術、技能を持ったバイタリティあふれる経験者の方を求めています。 自由な社風の中であなたの能力を発揮してください。 採用情報 採用情報 　当社の採用情報ページをご覧いただき、誠にありがとうございます。 　私たちは、革新と協力を通じて未来を切り開く、意欲的な人材を求めております。多様なバックグラウンドを持つ社員が一丸となり、挑戦を力に変える環境を整えております。 　あなたの専門性と情熱を活かし、私たちと共に新たな価値を創出する一員となりませんか。皆様のご応募を心よりお待ち申し上げております。 企業名 エヌピイエス株式会社 募集職種・業務内容 営業技術部　２名 　 ・自社製品の電気・電子回路設計・製造技術管理、取扱い製品に関す る 技術的な業務のバックアッ プ。 ※主に半導体部品やマイクロ波部品等の検査測定で使用する器具 ・ 大手電機メーカー、大学、研究機関等のお客様との折衝 勤務時間 9:00-18:00（亀戸本社） 休憩時間は労基法に基づき1時間 研修期間はフレックス可 雇用形態 正社員 勤務地 ＜東京：本社＞ 〒136-0071 東京都江東区亀戸6-12-4 ※JR総武線「亀戸」駅徒歩5分、東武亀戸線「亀戸」駅徒歩6分、都営新宿線「西大島」駅徒歩10分、都営バス「亀戸駅通り」徒歩1分 資格 ・普通自動車免許 ・日常会話程度の英語または中国語 給与 前職の経験等を踏まえ、当社の規定により決定 賞与 年2回 (7月・12月）業績・実績に応じる 昇給 年1回 (4月） 福利厚生 各種手当：通勤手当、扶養手当、出張手当、 　　　　　健康診断手当、健康維持補助手当 各種制度：フレックス退勤制度、出産育児休職制度 各種保険：健康保険、厚生年金、雇用保険、労災保険 選考方法 面接回数：2回 選考フロー：書類選考⇒1次面接⇒最終面接⇒内定 休日・休暇 完全週休2日制（土・日）、祝祭日、年末年始、GW、年次有給休暇（初年度10日を4月付与）・慶弔休暇 受動喫煙防止策 敷地内完全禁煙 応募する

我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 Home 产品 关于我们 English 日本語サイト 追求新的精密技术 1/6 我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。 我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。 我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 ➤ 询问 4-needle probe 4-needle probe Microwave Test Stand 4-needle probe 1/5 Product 产品 电阻率测量仪 手动式测量仪，采用四探针法简单而准确地测量金属薄膜等的片状电阻或电阻率。 详细内容 集成电路Pico探头 在测量设备负荷最小的情况下进行测量，从而确保忠实再现数字波形。 详细内容 4-探头 在开始使用四点探头半个世纪后，它们已成为全球公认的测量电阻率的高精度半导体探头。 详细内容 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 　 我们自半导体制造和测试设备综合展览会 「SEMICON JAPAN」 创办以来一直参展。在此，我们对多年来给予我们大力支持的众多客户表示衷心的感谢。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　P/N決定器 P/N決定器 半導體・液晶 前置作業檢查 P / N決定器是一種能夠通過整流方法或熱電勢，容易地判斷矽半導體的PN的類型測試器。 P型 - N型矽晶片可以很容易地判斷，並且可以對樣品例如N上的P進行判斷。 簡單的手動型，結合矽晶片和矽錠，特色是價格低廉。 <如何使用> 對於晶圓：在要檢測的晶圓表面放置在平台上，輕輕按下，不會損壞晶圓，您可以輕鬆判斷PN。 對於鐵錠：只需將熱探針按壓在樣品表面，便可輕鬆判斷PN。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　雷射干涉儀 雷射干涉儀 半導體・液晶 前置作業檢查 半導体・液晶 作業後的檢查 作為EXCEL PRECISION（EXCEL PRECISION，USA）在日本的經銷商，我們代理電射干涉儀設備， 結合使用穩定塞曼效應和光學外差探測/信號處理器的雙頻He - Ne雷射系統，可以測量0.3納米的最小讀數分辨率的高度準確和可靠的測量，並且還可以實現低成本系統。EXCEL PRECISION有限公司作為獨立設計和製造的雷射干涉測量儀器的行業中建立了自己的地位。 我們在全球擁有超過5000台以上的實績。 我們不僅製造標準正規產品，依客戶的要求接受訂製的系統。第三選擇。EXCEL PRECISION公司的雷射干涉儀 您的機器。 會發出怪聲音嗎？ 如果您有EXCEL PRECISION以司的雷射干涉儀，您可以檢查納米級別的精度。 ■1100B 6元素校正系統 1100 B雷射校正系統主要用於機械的質量管理。 一次最多可以檢測到5個元素，並且檢測後形成表格化。 ■1550角度感測器 1550A角度感測器可以測量表面和Z驅動部件的微小位移，不會受到顏色和反射率的影響。

It can be used for marking when cutting a silicon wafer or an oxide-coated silicon wafer with a diamond tip at the tip. Shank: Steel 3.175 mm x 25 mm or 38 mm Tip radius: 5-micron point, 12-micron point 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 金刚石划线器 钻石刮刀 其他相关部件 　尖端采用钻石刀头，适用于切割带氧化膜的硅晶圆、玻璃等材料时的划线和标记作业。 刀柄：钢制 3.175mm × 25mm 或 38mm 尖端半径：5微米尖端，12微米尖端

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 半导体・电子材料相关 半导体・液晶 前置作业检查 电阻率测量仪 P/N决定器 四点探针探测器 激光干涉仪 ※前后作业的检查 半导体・液晶 作业后的检查 IC用的示波器探针 微定位器 50Ω同轴探头 IC接触探头 探针