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4-point probe is a high accuracy probe for measurement of resistivity. DC Four Point Probe systems is one of the most reliable methods for resistivity or sheet resistance measuring of conductive materials. It is a well known fact among engineers that the quality of the probing apparatus greatly affe Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　4-Point Probe 4-Point Probe [NPS Version] Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) NPS 4-point probes are manufactured and assembled in Japan to ensure stable supply and measurement accuracy. A 4-point probe is like the sensor part of a machine. Needless to say, the performance of this sensor part affects the measurement results. The reliability of our 4-point probes has been recognized by many users. We have our own measuring instruments available, but other manufacturers' resistance measuring instruments can also be used. (In this case, a banana plug or similar device must be attached as a connector. The newly developed needle has a one-piece structure made of highly durable metal, and uses a low-resistance metal for the connection part to maintain good electrical conductivity, We ensure the accurate measurement of variety samples by conducting NPS's unique "Micro-edge contact" treatment. (IP=Ion implantation wafer, MT=Metal wafer, SB=Substrate silicon wafer, EP=Epitaxial wafer etc. for types of wafers ) We possesses a lot of experiences and solid accomplishments in this field. high accuracy, hight durability, world standard instrument, quick repair, unique design, etc. 【Related products】Sheet Resistance Measuring Instruments ■ 4-point probe 4-POINT PROBE with no fatal flaws！ More than half a century has passed since the first 4-point probe head was introduced to the world, and today it has become a universal standard in semiconductor inspection. With over 50 years of sales experience in Japan, NPS four probe heads have evolved to become higher-performance probes than the commonly sold four probe heads. We offer highly reproducible four probe heads that are compatible with NAPSON, MPP, JANDEL, KLA, and other point probes and overcome technical shortcomings. If you are not satisfied with your current four point probe head , please try our four point probe heads. The new 4-point probes have the following features. Major improvements and features: Accuracy improvement Durability improvement Cost reduction improvement of fatal defects of conventional products) Made in Japan and Japan Quality. Technical information ■ 4-Point Probe Please ask us about the 4-point probe ! Because we have 50 years of handling experience. Each part constituting the 4-point probe is made from the development and production of dedicated processing machines. By doing quality control from manufacturing to shipping by full-time technical staff, it is possible to provide high-precision, high-durability 4-point probes. In addition, in order to respond to requests from domestic users and with years of our experience, we set up our own specifications and assemble them. The NP type which NPS supplies is 4-point probe of the world highest quality. We also offer repair or modification of various 4-point probes. Please feel free to contact us for more information. Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. Repairable Probe Type Napson　 KLA Tencor MPP FELL About Repair ■Square probe 4-point probe head The name is derived from the square shape of the electrodes, which are equally spaced. Standard sheet resistance measurement of electronic materials is performed using the four probe method with electrode tips in series, but here we provide information on sheet resistance measurement using square probes with electrode tips arranged in a square shape. ■ Hand-Probe It is a handy type 4-point probe which can be easily measured on hand. It can be used for ingots etc. ■ 0.1mm Pitch MODEL SEP-4 is a 4-point probe for measuring sheet resistance with a needle spacing of 0.1 mm pitch. Since the distance between the four needles is as small as 0.3 mm (linear), the influence range of electric field energy is small, and even in the case of a pad with a small area of 5 × 5 mm, sheet resistance measurement is not affected by electric field power from the edge to around 0.5 mm. Can be mounted and fixed to our micro positioner 800MRF. Tip material Tungsten (W), Beryllium copper (BeCu) Tip shape Flat (F), Round (R) Needle spacing 0.1 mm (total distance 0.3 mm) or 0.3 mm (0.6 mm) Lead wire 90cm Banana plug, etc. can be attached as an option. ■ Reference Sample We also provide standard samples to check if the 4-point probes currently in use are functioning properly. When measuring by the DC four point probe method, regular probe maintenance and calibration are essential. A standard sample can help with this. This sample is not a traceable standard, it is a reference sample. Accessories include a protective case and a certificate of measurement of sample. Specification Chromium Thin Film　 Film thickness 1000Å Square about 1inch(25mmx25mm) Surface resistivity is 23Ω/□ Data from 5 repeatability measurements of the center of a r eference sample.(Measured with a standard 1mm pitch 4 probe) Reference samples are measured under the same conditions when shipped. 4-Point Probe Various specifications Wiring Diagrams Various compatible models (our specifications)

Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 4-Point Probe Repair Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) ■ Repair for 4-Point probe Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Repairable Probe Type NAPSON KLA Tencor MPP FELL Contact us

半導体は、スマートフォンやパソコン、車、さらにはAIや自動運転を支える現代の重要な技術です。このページでは、半導体とは何か、どのように動くのか、どこで使われ、なぜ大切なのかを初心者向けに分かりやすく説明します。最後まで読めば、半導体の魅力がきっと分かります。​ 半導体とは？詳しく解説 　半導体は、スマートフォンやパソコン、車、さらにはAIや自動運転を支える現代の重要な技術です。このページでは、半導体とは何か、どのように動くのか、どこで使われ、なぜ大切なのかを分かりやすく説明します。最後まで読めば、半導体の魅力がきっと分かります。 １ 半導体って何？ 　半導体という言葉は、一般的に使われる場合と、物理学で使われる場合とで意味合いが異なります。一般的に半導体について述べられるときは、電子部品としての半導体デバイス全般 のことを指します。それに対し、物理学で使われている本来の意味での半導体は、物質の電気の流れやすさ を表します。 ２ 半導体デバイスについて 　半導体デバイスは、IC (Integrated Circuit:集積回路)と非IC に分けられます。 　ICの種類 　・ロジック …演算を行う　「ロジックIC、ASICなど」 　・メモリ …記憶を行う　「DRAM、フラッシュメモリなど」 　・マイクロ …演算と記憶　「マイコン、プロセッサなど」 　・アナログ …信号増幅や変換　「AD/DC コンバータなど」 　非ICの種類 　・オプト …発光・受光　「発光ダイオード、レーザーなど」 　・ディスクリート …トランジスタ単体のこと　「パワー半導体」 　・センサー …温湿度や圧力、加速度などを検出　「圧力センサー、加速度センサー」 ３ 物理学としての半導体 　物質には電気を通す導体と、電気を通さない絶縁体(不導体)があります。その中間にあるのが半導体です。電気の流やすさが、導体と絶縁体の中間(半ば)の物質です。また、電気の流れやすさは電気抵抗率で表されます。電気抵抗率は「Ωcm (オームセンチメートル) 」の単位で示され、電気を流しやすい物質ほど抵抗の数値が小さくなります。 　・導体 …金、銀、銅、鉄、アルミニウムなど 　・半導体 …シリコン、ゲルマニウム、セレン、ガリウムヒ素など 　・絶縁体 …ガラス、ゴム、プラスティック、ダイヤモンド、油など ➤ 抵抗率測定器 ４ 半導体は砂からできている？ 　半導体の主な原料はシリコン(Siケイ素)です。直近の半導体不足を考えると、シリコンはなかなか手に入らないのでは？と感じるかと思いますが、そうではありません。シリコンの原料は地球上のどこにでもある「砂」です。砂以外でも水や岩石、植物などの形でも存在しています。 　砂の中にはガラスと同じ、小粒の酸化シリコンが大量に含まれており、この砂を大量の水素などで還元することで多結晶、さらに多結晶シリコンを精製して単結晶シリコンに仕上げます。 　シリコンバレーのコンピュータ博物館にあるインテルのブースでは、「砂の絵」と「ICチップの絵」が大きく飾られています。 ５ 半導体の性質 　単結晶シリコンは、シリコン原子が規則正しく並んだ構造で、別の物質を含んでいません。しかし、シリコン原子100％の単結晶を製造することは技術的に難しく、実際のシリコンウェハは「99.999999999%」のシリコン原子で構成されています。これをイレブンナインと言います。 100％ではありませんが、1000億個のシリコン原子に1つ別の原子がある状態です。純金の99.99%に比べても非常に高純度です。 　この単結晶シリコンは、電気をほとんど通しません。あえて不純物を加えることで、電気を流せるようになります。その半導体は添加する不純物により性質が変わります。 　ｐ型半導体 …元素周期表13族のボロンやインジウムを添加 　ｎ型半導体 …元素周期表15族のリンやヒ素を添加 　 ➤ ｐ/ｎ判定機 ６ 半導体の機能 　 半導体の機能は、大きく３つに分類することができます。 　・ 増幅機能 …半導体が小さな電気信号を大きくする。 　・ スイッチ機能 …半導体が電気を流したり止めたりする。 　・ 変換機能 …光や力などを電気に変換する。 ７ 半導体はどうやって作られる？ 　半導体は、驚くほど精密な工程で作られます。主な工程は４つです。 設計 …設計エンジニアが半導体を搭載する製品に合わせて、電力やサイズなどを設計する。 シリコンウェハ製造 …シリコンインゴットをスライスして、シリコンウェハを製造する。 前工程 …シリコンウェハ上に半導体チップを作りこんでいく。 後工程 …ウェハの半導体チップを切り分け、基盤となるリードフレームに貼り付け完成。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　 ➤ もっと詳しく ８ 半導体の歴史 　半導体の歴史は、技術の進化とともに大きく発展してきました。主なマイルストーンを紹介します。 1947年：ベル研究所 で最初のトランジスタが発明されました。これが半導体の始まりです。 1958年：集積回路（IC）が発明され、複数のトランジスタを1つのチップに統合しました。 1971年：インテルが最初のマイクロプロセッサ「4004」を発売。パソコンの時代が始まりました。 2000年代～：ナノテクノロジーの進化で、チップはさらに小さく高性能になりました。 ９ 半導体の未来 　半導体は、未来のテクノロジーをさらに加速させます。注目のトレンドを紹介します。 AIと機械 Ricciardo：AI専用の半導体（例：GoogleのTPU）が、データ処理を高速化します。 量子コンピューティング：従来の半導体を超える超高速計算が期待されています。 5GとIoT：高速通信とスマート家電の普及で、半導体の需要が急増します。 環境対応：省エネ型半導体が、持続可能な社会を支えます。 　ただし、半導体不足や地政学的なリスクなど課題もあります。各国は自国での半導体生産を強化しており、日本を含めて半導体業界は大きな転換期を迎えています。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 ➤ もっと詳しく まとめ:半導体は未来を切り開く 　半導体は、スマホや車からAI、量子コンピュータまで、私たちの生活と未来を支える重要な技術です。このページで、半導体の仕組みや重要性が少しでも伝わったでしょうか？もっと知りたい方は、最新の技術ニュースや業界レポートをチェックしてみてください

今回はGGB社製のT-4ニードル（別名キャットウィスカーニードル）を取上げてみました。 T-4ニードルは超LSＩや液晶等の微細回路解析を行う技師から”使い勝手が良い”と　とても高評価のプローブニードルです。 もともと低入力容量プローブであるピコプローブの専用ニードルとして開発されたものを一般プロービング用としても使えないかということで考案された製品です。そのため、ピコプローブを使用するフィールドでは多く併用されています。 T-4ニードルとは GGB社製 T-4ニードル（別名キャットウィスカーニードル） 　T-4ニードルは超LSＩや液晶等の微細回路解析を行う技師から「使い勝手が良い」と高評価のプローブニードルです。 　「低入力容量プローブであるピコプローブの専用ニードルとして開発されたものを、一般プロービング用としても使えないか」 ということで考案された製品です。そのため、ピコプローブを使用するフィールドでは多く併用されています。 　サブミクロン級電子回路の研究開発・検査解析等における電源供給、電圧、電流測定を目的とした電気特性検査では、人間が直接微細回路へアプローチするための針当て（コンタクト）作業が必要となります。（一般的にこれらの作業を総称してプロービングと言います。） 　このプロービングの際に一般的なサイズのφ0.5ｍｍのプローブニードルを用いた場合、その先端半径が小さいものでも0.5～1μＲ程あるため、コンタクトが可能となるエリアの制限と物理的な問題が生じてしまいます。 　この問題は、Φ0.5mm程の太い軸部が顕微鏡の視界を妨げることや、過大圧力による回路損傷、ニードル先端の曲がり、等が発生してプロービングの不具合原因ともなります。 　T-4ニードルは変形自在のΦ0.5mmワイヤーに、コンタクト素材となる髪の毛より細い極小（5μ、10μ、20μ、35μ、60μ）のタングステンワイヤー（キャットウィスカー部）を接続して製作しているため、タングステンワイヤー独自の柔軟性が適正なバネ圧力となり過剰な負荷が低減され、回路へのコンタクトを安定させることができます。 　極小径のワイヤーに対し先端のテーパー部分はさらに細くなっているため、パシベーション剥離後のレーザースポットにも容易にコンタクトができます。 　IC開発が盛んな1980年代、技師達は当時まだ1μmレベルの回路にコンタクトが可能なニードルが存在していなかったため、金のボンディングワイヤーを手で引延し切断してその伸びて尖った部分をニードルの変わりとして利用しICの解析を行っていました。 　その技師達の苦労をヒントにT-4ニードルが誕生しました。プロービングは顕微鏡下で行いますが職人技の作業となります。 中村＠NPS 写真左がT-4ニードルのタングステンワイヤー部 右は一般プローブニードル

It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　IC Contact Probe IC Contact Probe Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. It is durable and can be used at low running cost. Electrode (needle) material is gold plated on beryllium copper. Besides, it is possible to manufacture with palladium alloy and tungsten.

​私たちは、専門知識、技術、技能を持ったバイタリティあふれる経験者の方を求めています。 自由な社風の中であなたの能力を発揮してください。 採用情報 採用情報 　当社の採用情報ページをご覧いただき、誠にありがとうございます。 　私たちは、革新と協力を通じて未来を切り開く、意欲的な人材を求めております。多様なバックグラウンドを持つ社員が一丸となり、挑戦を力に変える環境を整えております。 　あなたの専門性と情熱を活かし、私たちと共に新たな価値を創出する一員となりませんか。皆様のご応募を心よりお待ち申し上げております。 企業名 エヌピイエス株式会社 募集職種・業務内容 営業技術部　２名 　 ・自社製品の電気・電子回路設計・製造技術管理、取扱い製品に関す る 技術的な業務のバックアッ プ。 ※主に半導体部品やマイクロ波部品等の検査測定で使用する器具 ・ 大手電機メーカー、大学、研究機関等のお客様との折衝 勤務時間 9:00-18:00（亀戸本社） 休憩時間は労基法に基づき1時間 研修期間はフレックス可 雇用形態 正社員 勤務地 ＜東京：本社＞ 〒136-0071 東京都江東区亀戸6-12-4 ※JR総武線「亀戸」駅徒歩5分、東武亀戸線「亀戸」駅徒歩6分、都営新宿線「西大島」駅徒歩10分、都営バス「亀戸駅通り」徒歩1分 資格 ・普通自動車免許 ・日常会話程度の英語または中国語 給与 前職の経験等を踏まえ、当社の規定により決定 賞与 年2回 (7月・12月）業績・実績に応じる 昇給 年1回 (4月） 福利厚生 各種手当：通勤手当、扶養手当、出張手当、 　　　　　健康診断手当、健康維持補助手当 各種制度：フレックス退勤制度、出産育児休職制度 各種保険：健康保険、厚生年金、雇用保険、労災保険 選考方法 面接回数：2回 選考フロー：書類選考⇒1次面接⇒最終面接⇒内定 休日・休暇 完全週休2日制（土・日）、祝祭日、年末年始、GW、年次有給休暇（初年度10日を4月付与）・慶弔休暇 受動喫煙防止策 敷地内完全禁煙 応募する

We prepare material for capillary used as IC bonding tool. The material is tungsten carbide. We also accept custom made capillary production on request. We can also produce assemblies such as ceramic, nozzle using TC material, wire guide etc. It is also used for coating carbide nozzles and pickup tools. 首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 毛细管材料 毛细管材料 其他相关部件 　我们备有用于IC键合工具的毛细管专用材料。 　材料为碳化钨。可根据需求定制规格的毛细管。 　同时承接陶瓷、TC材料制成的喷嘴、导线导管等组装产品的定制加工。 例：涂装用超硬喷嘴、焊球分配器、拾取工具。 <规格> 长度L=12mm　直径Dia=1.58mm　d1=1.0mm 其他尺寸请垂询。

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 公司简介 联繫我们 产品的相关资讯，请联繫我们 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司简介 经营项目（主要产品） 1.用于电阻率测量仪器如半导体和薄膜层的四点探针相关器材 2.半导体，液晶薄膜的片电阻率测量仪 3.用于征半导体IC（ULSI，VLSI等）的高性能探头 4.微波测量探头和测量装置 5.测量，实验，手动和电动，直线旋转式滑动产品 6.探针，划线点 7.激光干涉仪系统 经营理念 我们精心挑选我国工业技术的发展和不可或缺的高科技设备和材料为您服务。 此外，我们会努力听取客户的意见和要求，为近年来的行业发展作出贡献。 作为小生意伙伴，我们将随时注意产业发展趋势，实现合理化，降低成本。 我们将以“更优惠的价格，快速的交货日期提供更优质的服务并且希望我们的客户意识到我们重要性，让我们为社会做出贡献。 代表董事 中村勇人

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト We have participated in SEMICON Japan which is a comprehensive exhibition of semiconductor manufacturing and inspection equipment from the first time. We appriciate for our customers who have taken care of us for many years. We have also participated in an exhibision "Microwave Exhibition" speciallized in microwave technology. SEMICON JAPAN ■ SEMICON JAPAN 1977 The first meeting was held at Dome Hall of Harumi Exhibition Hall. Exhibitors at the time Astec Co., Ltd. / Advantest Corporation / Applied Materials Japan Co., Ltd. / Ando Electric Co., Ltd. / Westbond Company / SDC Semicon Technology Co., Ltd. / Kanematsu Device Co., Ltd. / Complete Electronics / Canon Sales Co., Ltd. / Saint-Gobain Norton Corporation / Shipley · Far East Co., Ltd. / Japan Speedfam Co., Ltd. / Dainichisei Corporation / Disco / Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. / Tempronics Corporation / Tokyo Electron Co., Ltd. / Japan AERA Co., Ltd. / Japan AD Inc. / Japanese SMS Co., Ltd. / Japan MKS Corporation / Japan Swagelok Corporation / Nippon Micronics Co., Ltd. / Nomura Micro Science Co., Ltd. / Hakuto Co., Ltd. / Hitachi Kokusai Electric / Hitachi High-Technologies Corporation / Fujimi Incorporated / Fluoroware · Valkar Japan Co., Ltd. ■ Latest appearance It is our booth at SEMICON JAPAN held at Tokyo Big Sight. Microwave Exhibition It is our booth at Microwave Exhibition held at Pacifico Yokohama.

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　四點探針 四點探針探測器 [NPS Version] 半導體・液晶 前置作業檢查 它是用於測量電阻率的高精度探頭。 目前，直流四點探針法是測量導電材料電阻值最可靠的方法。 許多測量工程師認定測量中使用的探頭的機械性能極大地影響了測量的準確性。 特別是在測量半導體材料時，會出現精度和耐久性問題。 擁有多年經驗和良好記錄的NPS 四點探針在全球被公認為高精度探頭，並被測量儀器製造商用作標準探頭。針部分使用耐用的金屬在金屬和遠端的低導體電阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接觸 " 處理 (IP, MT, 某人, 通過執行 EP 等), 保證了多種不同樣品的穩定測量。 (日本國內組裝產品、調整和售後產品) NPS 是40年來的探針專家, 另外還為探頭、探針修復和測試以及其他公司所做的其他探針提供技術諮詢。 (對於 Napson, 其他測量儀器) <主要功能> 高精度·高耐久性·世界標準裝備·低價格·短期維修再生（FELL型）從針尖到連接器的連續連接，通過專利的板叠板式弹簧，專用針規格， 採購，裝配，性能管理 【相關產品】電阻率測量儀 ■ 四點探針探測器 構成四點探針的每個部件都是由專用加工機器的開發和生產製造的，從製造到出貨的品質控制都是由專職技術人員進行，由此可以提供具有高精度和高耐用性產品 。 此外，為了滿足國內用戶的要求，我們制定了自己的規格並進行組裝。此外，我们还可以灵活应对各种厂家的4点探针的维修和定制（部件更换和大修）要求。 请随时与我们联系以获取更多信息。 ■ 袖珍型探測器 這是一個手持式測量的四點探針。它可以用於矽鐵錠等 ■ 0.1mm間隔 MODEL SEP-4是一個四點探針，用於測量針距為0.1 mm間距的薄層電阻。 由於四根針之間的距離小至0.3mm（線性），因此電場能量的影響範圍很小，並且即使在面積為5×5mm的小面積的焊盤的情況下，電阻測量也不受電場電力的影響。

SCシリーズ同軸プローブニードルは、SMAコネクターを終端しているので高周波帯域での使用が可能です。信号線用のタングステン製ニードル端子は、５μRに加工されていて微小部への接触も容易にできます。オプションによりグランド付きの仕様も選択ができます。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　50Ω同軸プローブ 50Ω同軸プローブ 半導体・液晶 後工程（検査） マイクロ波計測 　SCシリーズ同軸プローブニードルは、SMAコネクターを終端しているので高周波帯域での使用が可能です。信号線用のタングステン製ニードル端子は、精密加工されていて微小部への接触も容易にできます。オプションによりグランド付きの仕様も選択ができます。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー SCシリーズ.pdf SC-50 フランジ無し仕様 SC-50シリーズ 50Ω同軸プローブ　ご注文時にの長さ（L）を指定してください

SSマグネットはステンレス製のため錆の発生を嫌う場所での使用に適しています。 製品ラインナップ 　>　位置決め精密機械 　>　精密治具 精密治具 位置決め精密機械 　SSマグネットはステンレス製のため錆の発生を嫌う場所での使用に適しています。プローブ等の精密検査に最適です。 　着脱はON/OFレバーで簡単に行えます。 SSマグネット.pdf