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四點探針探測器 [NPS Version]
半導體・液晶 前置作業檢查

它是用於測量電阻率的高精度探頭。
目前,直流四點探針法是測量導電材料電阻值最可靠的方法。 許多測量工程師認定測量中使用的探頭的機械性能極大地影響了測量的準確性。

特別是在測量半導體材料時,會出現精度和耐久性問題。 擁有多年經驗和良好記錄的NPS 四點探針在全球被公認為高精度探頭,並被測量儀器製造商用作標準探頭。針部分使用耐用的金屬在金屬和遠端的低導體電阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接觸 " 處理 (IP, MT, 某人, 通過執行 EP 等), 保證了多種不同樣品的穩定測量。 (日本國內組裝產品、調整和售後產品) NPS 是40年來的探針專家, 另外還為探頭、探針修復和測試以及其他公司所做的其他探針提供技術諮詢。 (對於 Napson, 其他測量儀器)

<主要功能>
高精度·高耐久性·世界標準裝備·低價格·短期維修再生(FELL型)從針尖到連接器的連續連接,通過專利的板叠板式弹簧,專用針規格, 採購,裝配,性能管理
【相關產品】電阻率測量儀

■ 四點探針探測器
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■ 袖珍型探測器
構成四點探針的每個部件都是由專用加工機器的開發和生產製造的,從製造到出貨的品質控制都是由專職技術人員進行,由此可以提供具有高精度和高耐用性產品 。 此外,為了滿足國內用戶的要求,我們制定了自己的規格並進行組裝。此外,我们还可以灵活应对各种厂家的4点探针的维修和定制(部件更换和大修)要求。 请随时与我们联系以获取更多信息。
這是一個手持式測量的四點探針。它可以用於矽鐵錠等
■ 0.1mm間隔
MODEL SEP-4是一個四點探針,用於測量針距為0.1 mm間距的薄層電阻。 由於四根針之間的距離小至0.3mm(線性),因此電場能量的影響範圍很小,並且即使在面積為5×5mm的小面積的焊盤的情況下,電阻測量也不受電場電力的影響。
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