产品一覧 > ​半导体・电子材料相关 > 四点探针探测器
四点探针探测器 [NPS Version]

它是用于测量电阻率的高精度探头。

目前,直流四点探针法是测量导电材料电阻值最可靠的方法。 许多测量工程师认定测量中使用的探头的机械性能极大地影响了测量的准确性。

特别是在测量半导体材料时,会出现精度和耐久性问题。 拥有多年经验和良好记录的NPS 四点探针在全球被公认为高精度探头,并被测量仪器製造商用作标准探头。针部分使用耐用的金属在金属和远端的低导体电阻, 和 NPS 自己的 "Microedge 接触 " 处理 (IP, MT, 某人, 通过执行 EP 等), 保证了多种不同样品的稳定测量。 (日本国内组装产品、调整和售后产品) NPS 是40年来的探针专家, 另外还为探頭、探针修復和测试以及其他公司所做的其他探头提供技术谘询。 (对于 Napson, 其他测量仪器)

<主要功能>

高精度·高耐久性·世界标准装备·低价格·短期维修再生(FELL型)从针尖到连接器的连续连接,通过专利的板迭板式弹簧,专用针规格, 採购,装配,性能管理

【相关产品】电阻率测量仪

■ 四点探针探测器
构成四点探针的每个部件都是由专用加工机器的开发和生产製造的,从製造到出货的品质控制都是由专职技术人员进行,由此可以提供具有高精度和高耐用性产品 。 此外,为了满足国内用户的要求,我们制定了自己的规格并进行组装。
■ 轻小型探测器
这是一个手持式测量的四点探针。 它可以用于硅铁锭等。
■ 0.1mm间隔
MODEL SEP-4是一个四点探针,用于测量针距为0.1 mm间距的薄层电阻。 由于四根针之间的距离小至0.3mm(线性),因此电场能量的影响范围很小,并且即使在面积为5×5mm的小面积的焊盘的情况下,电阻测量也不受电场电力的影响。