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It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　IC Contact Probe IC Contact Probe Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is the contact probe which is mounted on an IC test handler and can be used for such as SOP, SSOP in addition to 0.65 mm, 1.27 mm, 2.54 mm pitch and etc. It is durable and can be used at low running cost. Electrode (needle) material is gold plated on beryllium copper. Besides, it is possible to manufacture with palladium alloy and tungsten.

​​エヌピイエス株式会社公式サイト | NPS,Inc. | 半導体検査測定機器 | 4探針ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 抵抗率測定器 | 高周波ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | RFﾌﾟﾛｰﾌﾞ | ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 米国GGB社総代理店 ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 高周波プローブ ４探針プローブ ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 1/6 新精密技術を追求する！ 　半導体や電子工業分野で求められる検査測定機器や製造装置の輸出入、製造・販売を行っています。 　「新技術」から生まれる「精密さ」にこだわり、その追求を通じてお客様に最高の価値を提供いたします。 　当社の製品は、半導体や液晶関連など、特に高い精度が要求される分野で広く活用されています。 4-Point Probe N ews お知らせ 26/07/01　夏季休業のお知らせ 26/06/26　MWE2026(マイクロウェーブ展)出展のご案内 26/04/13　 GW休業のお知らせ 26/01/01　設立55周年のご挨拶と御礼 「トランジスタ技術」「インターフェース」掲載内容について 「Metoree」当社掲載内容について セール品の販売について ※2025年のお知らせ P roducts 製品 抵抗率測定器 ４探針法を用いて金属薄膜等のシート抵抗、または抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。 ４探針プローブ ４探針プローブの取扱い開始から半世紀、抵抗率を測定するための高精度な半導体プローブとして、世界的に認められております。 IC用ピコプローブ 測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。 マイクロ波用ピコプローブ 米国GGB社独自の連続式同軸構造による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。 ➤ 製品一覧はこちら マイクロ波テスト台 マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 プローブニードル パラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。タングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 SEMICON JAPAN 1977-2026 　当社は、半導体製造･検査装置の総合展示会 SEMICON JAPAN（セミコンジャパン）に第１回より出展しています。 Learn More ➤SEMICON JAPAN

Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 4-Point Probe Repair Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) ■ Repair for 4-Point probe Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Repairable Probe Type NAPSON KLA Tencor MPP FELL Contact us

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　探針 探針 半導体・液晶 作業後的檢查 它是以鈀和銀為主要成分的貴金屬系列，合金製成的電氣特性檢測用針，作為目前應用的接觸材料。 它具有與鎢相同的機械特性，並且具有優於鈹銅的電氣特性，因此可以獲得穩定的接觸。 提供有0.2毫米到0.7毫米十種的厚度。另外，用於LED的鋨合金，半導體電極，材料都為鎢和碳化鎢。 特別推薦低價格的標準鎢針和刀片針。 【相關產品】微定位器 ■ P針（鈀合金探針） P針在日本使用Paliney 7作為材料進行精密加工。具有低耐磨性，低接觸電阻和耐久性優異的Paliney 7已經被用作電極材料超過50年，並且由於其材料特性而被用於許多領域。Paliney 7是符合ASTM B 540的電極材料。 含金屬（約）：鈀（35％）銀（30％）金（10％）鉑（10％）銅（14％）其他（1％ 獨立電阻率：30μΩcm- 電導率：5.5（％ACS） 硬度：350-410 熔化溫度：1015℃ ■ T針 它是一般探測製造的T-4針。 由於使用了pico探針的晶須針頭，因此可以將針頭放在由激光切割機打開的SiO2上的微米孔上，而不會損壞電路。 φ0.5 mm的軸部分可以用手彎曲，可以通過將其加工成任意形狀來使用。 我們以合理的價格提供一套5瓶裝。 ■ 勾針 IC芯片等部件的上推銷採用碳化鎢和鋼琴絲以低成本製造。 材質：碳化鎢，不銹鋼，鋼琴絲等（材質請諮詢） 我們均勻拋光各種材料並提供高質量的針腳。 它也可以用於需要切割的小零件。

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Four point probe Are you having problems with your 4- point probe? NPS can solve that problem for you! In this article, we will focus on the four-point probe. A standard instrument in use for over 40 years. The four-point probe was developed by A&M FELL of the UK in the 1960s as an electrode for measuring the resistivity of semiconductor materials. Later, the company was acquired by Kulick & Soffer, a major U.S. manufacturer of semiconductor equipment, which took notice of its performance and began selling it, and it became a tool widely used worldwide. In Japan, NPS (formerly known as Nakamura Precision Shokai) started selling the product in 1971, and introduced it to semiconductor manufacturers and equipment manufacturers. At that time, it was still difficult to find a simple and stable way to measure the resistivity of silicon wafers, and engineers quickly recognized the FELL probe as an important tool to solve the problem of semiconductor resistivity measurement, along with the development of measuring instruments. After repeated prototyping until the completion of the FELL probe, we established a design concept that predicted the next several decades and a theoretical structure that enabled high-precision measurement, and succeeded in creating a four-pronged probe that could be used with today's diversified objects to be measured. Later, the patented FELL probe became a worldwide standard instrument used by semiconductor and device manufacturers. (There was an episode where the engineers who were involved in the development of the probe created a separate company to market the probe because it was so good even at the prototype level, but in the end, the difference in performance and durability was so great that it could not be used as an industrial tool. Unlike a four-terminal probe, which simply has four needles, a four-prong probe is a high-performance probe created by "the science and technology of semiconductor contact. For example, the internal spring that pressurizes the needle (patented part) was determined from dozens of prototypes, and is a specification that has a basis in performance. For the mechanical part, we adopted the classic ruby guide for needle movement technique, which was the only cutting-edge watchmaking technology at that time 50 years ago, to pursue the accuracy of the hand guide. (Ruby sliding is still used in some of our FELL type probes, but for the sake of accuracy control and functionality, we use parts made with new materials and manufacturing technology for new probes.) For the needle part in particular, which comes into contact with the object to be measured, the tip structure is formed to correspond to the type of object to be measured, taking into consideration the physical and electrical elements. These technical considerations greatly affect the measurement accuracy, durability, measurement capability, and so on. In the 1970s, NPS President Hayato Nakamura spent a long period of time training at A&M FELL's factory in England to learn the manufacturing technology and know-how of four-point probes, and the technology he inherited directly from the engineers at that time is utilized in the current four-point probes. Nakamura@NPS

We prepare material for capillary used as IC bonding tool. The material is tungsten carbide. We also accept custom made capillary production on request. We can also produce assemblies such as ceramic, nozzle using TC material, wire guide etc. It is also used for coating carbide nozzles and pickup tools. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Capillary Blank Capillary Blank Other Products We prepare material for capillary used as IC bonding tool. The material is tungsten carbide. We also accept custom made capillary production on request. We can also produce assemblies such as ceramic, nozzle using TC material, wire guide etc. It is also used for coating carbide nozzles and pickup tools. L = 12 mm Dia = 1.58 mm d 1 = 1.0 mm

GGB社製 マイクロ波用RFプローブ　機能比較表 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ 　>　機能比較表 マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 マイクロ波プローブ 校正用基板（マイクロ波プローブ用） 校正用基板（ >110GHz用） 校正用基板（デュアルタイププローブ用）

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　微定位器 微定位器 半导体・液晶 作业后的检查 它是一种微动定位装置，可通过千分尺驱动型进行高精度定位。 安装一个专用适配器，以便安装由美国GGB公司製造的pico探头。 MODEL 800系列是专为微探针设计的高性能微型定位器。 採用本实用新型的定位机构和三轴一体化微型定位系统，可实现高精度探测。 【相关产品】IC检测用探针 ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series

製品の技術相談・機種選定・仕様など、お気軽にお問い合わせください。 送信時に"Please fill in required fields."と表示される場合には、対象箇所をご入力ください。 NPS株式会社 採用応募フォーム 送信 Send ※このメールアドレスへの特定電子メールの送信を拒否いたします。 電話やメール、当サイトのフォームを利用した当社への売り込みの一切をお断りしています。 特にお問い合わせフォームを利用した売り込みが多くみうけられます。 当社のフォームは当社の既存のお客さまからの連絡や、お悩みのお客さまなどからのお問い合わせを目的として設置したものです。 売り込みはこの目的外の利用であり当社業務の阻害要因となることから、サイトポリシーの記載とおりフォームを利用した売り込みの一切を固く禁止いたします。 お問い合わせフォームを利用して、繰り返し売り込みをおこなう企業様には、しかるべき対応を取らせていただく場合があります。 　 お問い合わせいただき誠にありがとうございます。担当者確認の上、追ってご連絡いたしますので、今しばらくお待ちいただきますようお願いいたします。Thank you very much for your inquiry. We will contact you as soon as possible after confirming with the person in charge.

ピコプローブ（Picoprobe）は電気容量値を示す単位ピコファラッド（ｐＦ）のピコ（ｐｉｃｏ）と、オシロスコープで使用するプローブ（Probe）との造語で、米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（ＦＥＴ）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 ​ ピコプローブとは 　ピコプローブ(Picoprobe)は、電気容量値を示す単位「ピコファラッド(pF)」の「ピコ(pico)」 と、オシロスコープで使用する「プローブ(Probe)」 との造語で、米国「GGB Industries, Inc.」 の登録商標です。既に半導体回路設計のフィールドにおいては高性能低入力容量（FET）プローブ＝ピコプローブとして認知いただいております。 　ピコプローブは、IC、CMOS、また、液晶用省電力回路等の内部電圧計測のための高性能FETプローブ（アクティブプローブ）です。 ピコプローブの持つ超低入力容量と高入力抵抗は、高インピーダンス回路に対して低負荷でのプロービングが実現でき、被測定回路に与える影響を最小限にし、波形を忠実に再現することができます。 しかしながら、一般のFETプローブ以上にシビアな性能のため、特殊性を熟知した専門技術者だけが取扱える、プロフェッショナル用のツールです。 　ピコプローブは1970年代、当時の米国ベル研究所でICの設計に携わっていた技術者ボール氏が、自己の専用ツールとして設計製作した電圧測定用プローブをベースに製品開発されたもの です。1980年にGGB Industries, Inc.が設立され、ピコプローブの商品名で世界中に発売が開始されて以来、現在に至るまで40年以上のロングセラー商品となっております。 　当時は入力容量が最小でも1pFという値のプローブしか世の中に存在しておらず、MOSの動作検証テストやIC故障解析で使用するにはかなりの支障がありました。しかし、入力容量0.02pFという驚異的な性能を持つピコプローブの出現によって、IC技術革新に大きく貢献することができました。 　その後、1988年に開発されたGGB社独自の構造を持つマイクロ波用ピコプローブ（米国特許取得）とともに、ピコプローブは電子回路テスト用高性能プローブの代名詞となり、世界的な標準器具としてプロの技術者に広くご使用いただいております。 　クラフトマンシップを大切にするGGBの技術屋が製作するピコプローブ。こだわりを持つプロの技術者におすすめいたします。 > GGB社のホームページへ (ピコプローブは米国GGB Industries, Inc.の登録商標です。) 中村＠NPS

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 半导体・电子材料相关 半导体・液晶 前置作业检查 电阻率测量仪 P/N决定器 四点探针探测器 激光干涉仪 ※前后作业的检查 半导体・液晶 作业后的检查 IC用的示波器探针 微定位器 50Ω同轴探头 IC接触探头 探针

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　50Ω同軸探頭 50Ω同軸探頭 半導体・液晶 作業後的檢查 由於SC系列同軸探針的終端在SMA連接器上，因此可用於高頻段。 信號線的鎢針端子也容易被使用在加工後的5μR微小連接處，也可以選擇周邊產品的規格。 【相關產品】微定位器