サイト内検索

​​エヌピイエス株式会社公式サイト | NPS,Inc. | 半導体検査測定機器 | 4探針ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 抵抗率測定器 | 高周波ﾌﾟﾛｰﾌﾞ | RFﾌﾟﾛｰﾌﾞ | ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ | 米国GGB社総代理店 ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 高周波プローブ ４探針プローブ ﾏｲｸﾛ波用ﾋﾟｺﾌﾟﾛｰﾌﾞ 1/6 新精密技術を追求する！ 　半導体や電子工業分野で求められる検査測定機器や製造装置の輸出入、製造・販売を行っています。 　「新技術」から生まれる「精密さ」にこだわり、その追求を通じてお客様に最高の価値を提供いたします。 　当社の製品は、半導体や液晶関連など、特に高い精度が要求される分野で広く活用されています。 4-Point Probe N ews お知らせ 26/07/01　夏季休業のお知らせ 26/06/26　MWE2026(マイクロウェーブ展)出展のご案内 26/04/13　 GW休業のお知らせ 26/01/01　設立55周年のご挨拶と御礼 「トランジスタ技術」「インターフェース」掲載内容について 「Metoree」当社掲載内容について セール品の販売について ※2025年のお知らせ P roducts 製品 抵抗率測定器 ４探針法を用いて金属薄膜等のシート抵抗、または抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。 ４探針プローブ ４探針プローブの取扱い開始から半世紀、抵抗率を測定するための高精度な半導体プローブとして、世界的に認められております。 IC用ピコプローブ 測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。 マイクロ波用ピコプローブ 米国GGB社独自の連続式同軸構造による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。 ➤ 製品一覧はこちら マイクロ波テスト台 マイクロ波を伝送路とする小型回路基板や部品などを固定装着して、特性評価を行うためのテスト用冶具です。 プローブニードル パラジウムと銀を主体とした貴金属系で最適な合金を用いて作られた電気特性検査用のプローブ針です。タングステン、タングステンカーバイト素材のニードルもございます。 SEMICON JAPAN 1977-2026 　当社は、半導体製造･検査装置の総合展示会 SEMICON JAPAN（セミコンジャパン）に第１回より出展しています。 Learn More ➤SEMICON JAPAN

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 半导体・电子材料相关 半导体・液晶 前置作业检查 电阻率测量仪 P/N决定器 四点探针探测器 激光干涉仪 ※前后作业的检查 半导体・液晶 作业后的检查 IC用的示波器探针 微定位器 50Ω同轴探头 IC接触探头 探针

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　50Ω同軸探頭 50Ω同軸探頭 半導体・液晶 作業後的檢查 由於SC系列同軸探針的終端在SMA連接器上，因此可用於高頻段。 信號線的鎢針端子也容易被使用在加工後的5μR微小連接處，也可以選擇周邊產品的規格。 【相關產品】微定位器

It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe design and manufactured by  GGB Industries,Inc(US) can be installed. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Micro Positioner Micro Positioner Post-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) It is a micromotion positioning device that enables high precision positioning by micrometer driven type. A dedicated adapter is installed so that Picoprobe d esign and manufactured by GGB Industries,Inc (US) can be installed. The MODEL 800 series is a high performance micro positioner specifically designed for pico probe. High precision probing is possible with the positioning mechanism of utility model and 3-axis integral micro positioning system. 【Related products】Picoprobe for IC ・ Picoprobe for Microwave ■ Model 800M Series ■ Model 800V Series MODEL800.pdf

首页 产品 公司简介 English 日本語サイト 产品阵容 > 半导体·电子材料相关 > 微波用Pico探针 微波用Pico探针（射频探针） 微波测量 美国GGB公司生产的微波用Pico探针（RF探针）是采用GGB公司独创的连续式同轴结构（已获专利）的微波器件测试探针，兼具低损耗与高耐久性。此外，其多触点探针可与直流探针组合使用，通过电容器与电阻的混合结构（已获专利）实现了发射等低损耗测量。 　该高频探针深受追求严苛测量数据的技术人员青睐。 　板簧式接地片结构与边缘接触方式实现了低接触电阻与优异的测量重复性，同时可定制镍材质针尖。此外，100μm以下间距规格及车载电子设备用大电流探针等定制需求亦可垂询。 产品兼具低损耗、高复现性与高耐久性，通过专利同轴结构与专利旁路电容方案等技术确保卓越性能。 【相关产品】微波测试治具·微定位器 [特点] ■坚固结构与高性能 　Pico探针的信号部分采用从连接器到针尖的连续同轴结构。这种连续同轴结构具有卓越的信号传输特性，能够将信号可靠地传输至峰值频率范围。此外，接触中的针尖不易受外部振动引起的共振影响，其结构设计在针尖接触时的过载情况下也具有极强的抗性。 ■多样化探针款式 　为适配平面基板、封装件等各类样品形态的测量需求，Pico探针提供多种款式选择。 ■便捷的针尖定位 　与被测物接触的接地针尖采用弹簧结构，通过与固定信号线针尖及接地针部保持恒定间隙，可依据该间隙进行精准定位，确保接触始终稳定。 ■点接触设计 　Pico探针针尖采用点接触结构，确保稳定接触。该设计能有效排斥被测物氧化层，实现良好接触，同时显著降低接触时产生的位置偏差误差，保障测量精度。 微波用Pico探针功能对比表

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　P/N決定器 P/N決定器 半導體・液晶 前置作業檢查 P / N決定器是一種能夠通過整流方法或熱電勢，容易地判斷矽半導體的PN的類型測試器。 P型 - N型矽晶片可以很容易地判斷，並且可以對樣品例如N上的P進行判斷。 簡單的手動型，結合矽晶片和矽錠，特色是價格低廉。 <如何使用> 對於晶圓：在要檢測的晶圓表面放置在平台上，輕輕按下，不會損壞晶圓，您可以輕鬆判斷PN。 對於鐵錠：只需將熱探針按壓在樣品表面，便可輕鬆判斷PN。

首頁 製品 公司簡介 English 日本語サイト 產品一覧 　>　半導體・電子材料相關　>　IC檢測用探針 半導体・液晶 作業後的檢查 IC檢測用探針 通過使用IC的微探針，可以精確測量IC的內部電壓。 美國GGB公司生產的pico探針是一種用於測量IC電壓的探針，用於將探針本身的雜散電容值保持在最大限度，並進一步使阻抗接近無限值。 這樣可以最大限度地減少測量設備上的負載，並可以忠實地進行測量。 對應於每種測量模式的模型，模型35為世界上最快的FET探頭的代表。 Pico探針是作為集成電路設計領域分析測量工具的全球標準儀器。 我們也將與適配器等通信，以便它們可以與每個製造商的探測器一起使用。 【相關產品】微定位器 [功能比較表（FET探針）]

今回はGGB社製のT-4ニードル（別名キャットウィスカーニードル）を取上げてみました。 T-4ニードルは超LSＩや液晶等の微細回路解析を行う技師から”使い勝手が良い”と　とても高評価のプローブニードルです。 もともと低入力容量プローブであるピコプローブの専用ニードルとして開発されたものを一般プロービング用としても使えないかということで考案された製品です。そのため、ピコプローブを使用するフィールドでは多く併用されています。 T-4ニードルとは GGB社製 T-4ニードル（別名キャットウィスカーニードル） 　T-4ニードルは超LSＩや液晶等の微細回路解析を行う技師から「使い勝手が良い」と高評価のプローブニードルです。 　「低入力容量プローブであるピコプローブの専用ニードルとして開発されたものを、一般プロービング用としても使えないか」 ということで考案された製品です。そのため、ピコプローブを使用するフィールドでは多く併用されています。 　サブミクロン級電子回路の研究開発・検査解析等における電源供給、電圧、電流測定を目的とした電気特性検査では、人間が直接微細回路へアプローチするための針当て（コンタクト）作業が必要となります。（一般的にこれらの作業を総称してプロービングと言います。） 　このプロービングの際に一般的なサイズのφ0.5ｍｍのプローブニードルを用いた場合、その先端半径が小さいものでも0.5～1μＲ程あるため、コンタクトが可能となるエリアの制限と物理的な問題が生じてしまいます。 　この問題は、Φ0.5mm程の太い軸部が顕微鏡の視界を妨げることや、過大圧力による回路損傷、ニードル先端の曲がり、等が発生してプロービングの不具合原因ともなります。 　T-4ニードルは変形自在のΦ0.5mmワイヤーに、コンタクト素材となる髪の毛より細い極小（5μ、10μ、20μ、35μ、60μ）のタングステンワイヤー（キャットウィスカー部）を接続して製作しているため、タングステンワイヤー独自の柔軟性が適正なバネ圧力となり過剰な負荷が低減され、回路へのコンタクトを安定させることができます。 　極小径のワイヤーに対し先端のテーパー部分はさらに細くなっているため、パシベーション剥離後のレーザースポットにも容易にコンタクトができます。 　IC開発が盛んな1980年代、技師達は当時まだ1μmレベルの回路にコンタクトが可能なニードルが存在していなかったため、金のボンディングワイヤーを手で引延し切断してその伸びて尖った部分をニードルの変わりとして利用しICの解析を行っていました。 　その技師達の苦労をヒントにT-4ニードルが誕生しました。プロービングは顕微鏡下で行いますが職人技の作業となります。 中村＠NPS 写真左がT-4ニードルのタングステンワイヤー部 右は一般プローブニードル

ICのボンディングツールとして使用されるキャピラリー用の素材を用意しております。 素材はタングステンカーバイトです。ご要望によりカスタム仕様のキャピラリーの製作も承っております。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　キャピラリー素材 キャピラリー素材 その他関連部材 　ICのボンディングツールとして使用されるキャピラリー用の素材を用意しております。 　素材はタングステンカーバイトです。ご要望によりカスタム仕様のキャピラリーの製作も承っております。 　また、セラミック、TC素材を使用したノズル、ワイヤーガイド等のアセンブル製品のカスタム製作も承ります。 例：塗装用超硬ノズル、ハンダボールディスペンサー、ピックアップツール。 <仕様> L=12mm　Dia=1.58mm　d1=1.0mm その他の寸法はご相談下さい。

Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 4-Point Probe Repair Pre-Process of Semiconductors and Liquid Crystal (Inspection) ■ Repair for 4-Point probe Repair, Reconditioning, and Adjustment of Four-Point Probes Currently used 4-point probes can be repaired and adjusted for reuse. In addition, running costs can be reduced by replacing only consumables such as needles and guides. For details, please contact our sales department. Repairable Probe Type NAPSON KLA Tencor MPP FELL Contact us

P/N判定器はシリコン半導体のＰ－Ｎのタイプを整流性方式、または、熱起電力方式により簡単に判定することができるテスターです。 シリコンウェーハのＰタイプ－Ｎタイプが簡単に判定でき、P on N 等の試料の判定も可能です。 ​簡易マニュアルタイプ、ウェーハとインゴット兼用、低価格が特長です。 ​ 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　P/N判定器 P/N判定器 半導体・液晶 前工程（検査） 　P/N判定器はシリコン半導体のＰ－Ｎのタイプを整流性方式、または、熱起電力方式により簡単に判定することができるテスターです。 　シリコンウェーハのＰタイプ－Ｎタイプが簡単に判定でき、P on N 等の試料の判定も可能です。 　簡易マニュアルタイプ、ウェーハとインゴット兼用、低価格が特長です。 <使用方法> 【 ウェーハ用プローブ:PN-01-WP 】 　判定したいウェーハの面をステージにのせ、軽く押さえつけるだけでウェーハにダメージを与えず、簡単にPNの判定ができます。 【 インゴット用プローブ:PN-01-GP】 　ホットプローブを試料面に押し当てるだけで、簡単にPNの判定ができます。 PN判定器

在庫処分セール品一覧 弊社在庫品に限り特別価格にて提供致します。 ※在庫がなくなり次第終了となります。 【Velmex社製スライダー】 ・U4005GM　 ¥40,000　残数1 ・U4005GGMO ¥54,000　残数1 ・A6009K1　 ¥40,000　残数1 ・B9012K1　 ¥64,000　残数1 ・A1506Q1-NM ¥20,000　残数2 ・A4007TS ￥28,000　残数1 ・B2904K1-SP　 ¥24,000　残数1 【GGB社製ピコプローブチップ】 ・18C-1-10 　　　¥12,811 残数8 ・18C-1-20 SOLD ・18C-1-50 SOLD ・18C-2-10 SOLD ・18C-2-20 SOLD ・12C-1-35 SOLD ・12C-2-60 SOLD ・12C-4-10HV 　 ¥4,826 残数3 ・12C-4-125 SOLD ・T-7-35 SOLD ・T-7-60-2uR SOLD ・T-7-175-R-200 　 ¥3,063 残数1 ・T-7-175-2-R-8mm ¥3,090 残数5 ・T-7-175-L-200 　 ¥2,978 残数3 ・10-5K-125-Pd-2-R-500 SOLD ・10-50T-10-W-1 SOLD ・10-50T-175-W-2-L-500 SOLD ・10-250-125-Pd-2-R-500 SOLD ・10-500-125-Pd-2R-500 SOLD ・10-500-175-W-2-R-280 SOLD ・10-50/30-60-W-2-R-250 SOLD ・10-50/30-60-W-2-L-250 SOLD ・10-25/30-60-W-2-R-1000(1.2mm) SOLD ・10-2.5K-125-W-1 SOLD ・10-2.5K-125-W-2-R-200 SOLD ・10-2.5K-125-W-2-R-100 SOLD ・10-2.5K-125-W-2-R-150 SOLD ・10-47/30-125-BeCu-2-S-L-250 SOLD 【4 探針プローブヘッド （旧型）】 ・JS-TC-100-100g　 単価¥40,000　残数1　厚い金属膜向け ・JS-TC-100-200g 　単価¥40,000　残数2　厚い金属膜向け ・JS-TC-600-.635　 単価¥40,000　残数1　　ITO向け ・JS-TC-600-200g　 単価¥40,000　残数2　　ITO向け ・JS-TC-600-100g　 単価¥40,000　残数5　　ITO向け ・JS-TC-400-.635-100g　単価¥40,000　残数3　薄膜向け 【精密プローブ針】