プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェーハや基板金属薄膜等のシート抵抗、または、抵抗率を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲測定に対応しています。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　抵抗率測定器 抵抗率測定器（シート抵抗測定器） 半導体・液晶 前工程（検査） 　プロ技術者のための高性能ツール。 ４探針法を用いて太陽電池用シリコンウェハやLCD基板、金属薄膜等のシート抵抗、または、体積抵抗を簡単で高精度に測定できるマニュアルタイプの計測器です。低抵抗 ～ 高抵抗の広範囲な測定に対応しています。 <用途> 1) シリコンインゴット製造 　➤ウェハ製造工程（膜形成等様々な処理工程）における製品検査用　 2) 液晶パネル（LCD基板）製造：成膜時の製品検査用 3) 幅広い電気導電性部材の製造過程での製品検査用 ※当社の 「4探針プローブ」を用いて測定が可能です。 【関連製品】4探針プローブ Model Σ- ∞ (sigma eight) 変わらない安心と精度、そして無限(∞)の可能性へ 「Sigma-5＋」の確かな実績を継承し、測定の極限へ挑むフラッグシップモデル誕生 sigma-eight 　シリコンウェハ等の抵抗率を正確に測定することができます。 　 　抵抗率測定に関する30年以上のノウハウと技術を活かし設計開発された高精度な抵抗率測定器です。 　半導体基板並びに導電性薄膜基盤等の研究開発・検査工程、または製造ラインにおいての、シート抵抗値や体積抵抗値を高確度に求め、評価することが出来ます。 ※写真は試料台RG-5との組合せです。 完全な上位互換性（安心のシームレス移行） 既存の測定治具（プローバー）や測定プログラムの再設計・大幅変更は不要です。既存環境へそのまま導入していただけます。 「∞（インフィニティ）」がもたらす極限の安定性と高耐久 連続評価試験においても熱ドリフトや接触不良を抑え、再現性の高い測定データを提供し続けます。 極限まで高められた伝送クオリティ 広帯域にわたる低挿入損失（Low Insertion Loss）と優れた反射損失（Return Loss）特性を実現。高周波測定におけるノイズ要因を削ぎ落とし、デバイス本来の特性を鮮明に描き出します。 最新のグローバル環境規制に適合 最新の環境コンプライアンスにも対応し、製造ライン・研究開発の双方で長く安心してお使いいただけます。 Model sigma-5+ [基本仕様] [特長] ・細かい設定が可能なスイッチ機能のインテリジェントパネル ・デスクサイズのコンパクト設計 ・低抵抗〜高抵抗対応のワイド測定レンジ ・整流性による誤差を抑える電流極性切替え測定 ・測定開始毎の自動ゼロ調整機能 ・最適な電流を自動設定するオートレンジ機能 ・試料の厚み補正機能 ・測定値平均値表示とプリンタ平均値演算機能 ・半導体用の温度補正機能 ・各種温度補正係数入力機能 ・データプリンタ用インターフェース付 ・データ接続用インターフェース付 ・試料テーブルの選択が可能 <基本仕様> ■ 薄膜向けハンディタイプ・シート抵抗測定器/抵抗率測定器 ※この製品は現在販売を停止しております ハンディタイプ・シート抵抗測定器SRM-232は４探針プローブを使用して、絶縁物上の導電性薄膜シート抵抗を測定することができます。また、抵抗率測定器PV-628は太陽電池基板等のSi半導体の抵抗率測定が可能です。いずれもの機種もデータセーブ・パソコンへのデータ出力ができ、電源は電池式のオートパワーオフ機能付です。 【カタログ】ハンディタイプ ■ ハンディタイプ ・抵抗率測定器　Model　PV-628 MODEL PV-628は太陽光発電用シリコン等の抵抗率測定に特化させたハンディタイプの4探針法測定器です。電源に電池を使用しているため持ち運びが容易で、測定物の形状や大きさの制限がなく、手軽に測定を行うことができます。 【カタログ】PV-628

米国GGB社製マイクロ波プローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 ピコプローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。 その他、100μm以下のピッチ、カーエレクト 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　マイクロ波用ピコプローブ マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ) マイクロ波計測 　米国GGB社 製マイクロ波用ピコプローブ(RFプローブ)は、GGB社独自の連続式同軸構造（特許取得済）による低損失と高耐久性を兼ね備えたマイクロ波デバイス用テストプローブです。また、DCプローブとの配置が可能なマルチコンタクトプローブではキャパシターや抵抗のハイブリッド構成（特許取得済）により発信等の低減化測定が可能となりました。 　高周波プローブは計測上のシビアなデータにもこだわる技術者の方に多く採用されています。 　 　板バネ式のグランドチップ構造とエッジコンタクト方式により、低接触抵抗の実現と良好な測定再現性が得られ、ニッケル材質の針先も製作可能です。その他、100μm以下のピッチ、カーエレクトロニクス用大電流プローブ等もご相談ください。 　 低損失・高再現性・高耐久性を備えており、特許式同軸構造と特許式バイパスキャパシター方式等により独自の性能を確保しています。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー 【主な取扱製品】MODEL 40M,MODEL 40A･50A･67A,MODEL 110H,MODEL 145A 総合カタログ MODEL10カタログ マイクロ波用ピコプローブ　機能比較表 [特長] ■強固な構造とハイパフォーマンス 　ピコプローブのシグナル部分は、コネクター部分から針先まで連続した同軸構造となっています。この連続同軸構造は、信号伝送特性に大変優れていてピーク周波数領域まで確実に信号を伝達させることができます。また、接触中の針先は外部からの震動による共振の影響を受けにくく、針先接触時のオーバーロードに対しても強固な作りとなっています。 ■豊富なスタイル 　ピコプローブは、フラット基板、パッケージ など各種試料形状の測定用に合わせて 数種類のスタイルを用意しております。 ■針当てのやり易さ 　ピコプローブのＤＵＴと接触するグラントの針先は、スプリング性を持つ構造となっています。これに対し固定された信号線用の針先とグランド針部に一定のギャップを持たせ、このギャップを目安に針当てが行えるため、常に安定したコンタクトが行えます。 ■ポイントコンタクト 　ピコプローブの針先は、常に安定した接触が得られるようにポイント形状となっています。 測定物の酸化膜をはじき良好な接触が得られ、また、針先のコンタクト時に生じる位置ずれ誤差を少なくさせ、確実な測定が保証されます。 マイクロ波用ピコプローブをもっと知る RFピコプローブ　MODEL 40A マイクロ波計測 ・高耐久性RFプローブ40GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブシリーズ、GSG、GS、SG、または「デュアル」構成 （デュアル＝1ポジショナーに2プローブ） ・DC～40 GHz　挿入損失0.8 db未満　リターンロス18db以上　測定再現性-80db以上 ・これらのプローブは、25µmから2540µmまでのさまざまなピッチで入手可能 ・マイクロポジショナー用のさまざまな取り付けスタイル ・メス型Kコネクター2.9mm ・BeCu、ニッケルまたはタングステンで入手可能 ・非磁性オプション、高温および高電流／高電圧バージョンについては、お問い合わせください。 定番製品 40A-GSG-125-C 　GGB社のMODEL 40Aマイクロ波プローブは、マイクロ波プロービング性能の新しい標準を打ち立てます。低損失同軸技術を使用し、40GHzまで0.8db以下の挿入損失と18db以上のリターンロスを達成しました。 　ベリリウム銅、タングステン、ニッケルの各チップが個別にスプリング装填されているため、非平面構造のプローブでも信頼性の高いコンタクトが得られます。この信頼性の高い低抵抗コンタクトは、再現性の高い測定を提供する鍵の一つです。 　 　40A型マイクロ波プローブは、正確な位置決めのためにプローブ先端を直接見ることができます。 MODEL40Aは、標準的なマイクロ波プローブステーションで使用するために、様々なアダプターに取り付けることができ、また、プローブカードやマルチコンタクトウェッジのDCプローブニードルで使用するために、薄いブレードに取り付けることができます。カスタムマウントも可能です。 　ピッチ（先端間隔）は、25µmから2540µmまでご指定いただけます。プローブは、接地-信号-接地（G,S,G）、接地-信号（G,S）、信号-接地（S,G）の先端チップで構成できます。 　MODEL40Aへの接続は、3.5mmコネクタ互換のメスKコネクタ（2.9mm）を通して行います。 　13種類のアダプタースタイルから選択。T、C、GR、P、DP、EDP、LP、Q、F、S、DS、VP、またはRVPをご指定ください。用途に適した取付タイプをお選びください。P、DP、EDP、LP、Q、S、DS、VP、RVPの各タイプは、コネクタが45度の角度で後ろを向いており、プローブ上部の作業領域が広くなっています。DP、EDP、DS、VP、および RVP スタイルは、プローブの下に余分なクリアランスが必要な場合に使用します。DP、EDP、DSスタイルのプローブを使用する場合、プローブの取り付け角度が大きくなるため、プローブの位置決めが難しくなります。カスタム取付スタイルも可能です。 RF校正基板 マイクロ波計測 校正基板選択ガイド [特長] 高精度測定を可能にするRFプローブ用校正基板シリーズです ・正確なSOLT、LRL、LRM校正をサポート ・プローブピッチ・レンジは30～2,540µm ・DC～220 GHzのすべてのGGBプローブに適合 ・GSGSG、GSSG、SGSチップ配列に使用可能 ・金メッキパッド　25 mil（635µm）厚のアルミナ基板 定番製品 CS105 ：GSGプローブ用、ピッチ範囲75～250 µm SOLT = ショート・オープン・ロード・スルー LRL = Line-Reflect-Line（TRL=Through-Reflect-Lineに相当する） LRM = Line-Reflect-Match（TRM=Through-Reflect-Matchと同じ意味です） LCP18　　 マイクロ波計測 製品LCP18カタログ.pdf [特長] 　低価格でお求めやすいdc~18GHzまでのRFマイクロ波アプリケーション用プローブです。 チップが独立して動きます。グランドチップとシグナルチップは、互いに独立してZ軸上を上下します。 　PCBやBGAのような大きなパッドやバンプを持つデバイスや、非平面の表面を持つデバイスのテストに最適です。 　プローブは、100µmから2500µmまで25µm間隔で異なるピッチで入手可能です。 ・コネクター部　SMA ・プローブ先端　GSG GS SG ・ポジショナー用の様々な取り付けスタイル　DP　EDP　S　DS ・非磁性オプションについては、お問い合わせください。 ・挿入損失<0.4dB※　（200umピッチのプローブの場合、1250µmピッチで約0.9dB） 定番製品 -GSG-150-DP GSG構成、150µmピッチ、BeCu製チップ、取り付けスタイルDP 250umまでのピッチでは、各先端の接触面積は約40x40um 275umから600umのピッチでは75x75um、625umから3000umのピッチでは150x150umです。 使用により先端が摩耗しても、接触面積の大きさ（例：40x40um）は変わりません。 LCP18は OPT 5を必要とせずに約75Vを扱うことが可能です。 高出力回路用の40KVは標準で約150Vに対応（100W　28GHｚ）OPT 5を追加してより高い電圧を扱うことも可能です。

We prepare material for capillary used as IC bonding tool. The material is tungsten carbide. We also accept custom made capillary production on request. We can also produce assemblies such as ceramic, nozzle using TC material, wire guide etc. It is also used for coating carbide nozzles and pickup tools. Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト Product list 　>　Semiconductors and Electronic Materials 　>　Capillary Blank Capillary Blank Other Products We prepare material for capillary used as IC bonding tool. The material is tungsten carbide. We also accept custom made capillary production on request. We can also produce assemblies such as ceramic, nozzle using TC material, wire guide etc. It is also used for coating carbide nozzles and pickup tools. L = 12 mm Dia = 1.58 mm d 1 = 1.0 mm

4探針プローブの修理に関して 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　4探針プローブ 旧タイプ4探針プローブ（FELLタイプ）製造中止に伴う交換キャンペーンのお知らせ 　 『4探針プローブ FELLタイプ』の販売と修理・調整を中止 させて いただくこととなりました。 　取扱い中止の主な理由といたしましては、旧タイプ4探針プローブ(FELLタイプ）の構造上、測定不安定要因となる 致命的な不具合 を有していたこと、 創業当時から の設計部品と年代間の部品整合性の不良等の問題も生じており、 修理管理 が困難となっていたことです。 　つきましては、新部材を採用した新規設計による新型4探針プローブのご提供を開始いたしました。 今後の製品安定供給のため、旧タイプから新型4探針プローブへの切替を ご提案させていただいております。旧 タイプの修理・調整のご対応といたしまして、下記内容にて新型4探針プローブと修理相当価格に て交換させていただきます。 　お客様で現在ご使用頂いております旧タイプ４探針プローブを下取りという形を取らせ ていただき、 新型４探針プローブと交換させていただきます。 ・修理調整のご依頼をいただけるお手持ちの4探針プローブを弊社宛にお送りください。 　➤お送りいただいた4探針プローブを新型4探針プローブに「修理交換品」（またはご要望の 名目）にて 　　 お見積書を送付させていただきます。 　➤その後、検査カードと共に新型４探針プローブを発送させていただきます。 旧タイププローブ　 （FELL/JANDEL/MPP/KLA,等） 新型プローブ 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(PE/FP/FR他ケーブル付) お問合せページ

Home Products About Us SEMICON Japan 日本語サイト We have participated in SEMICON Japan which is a comprehensive exhibition of semiconductor manufacturing and inspection equipment from the first time. We appriciate for our customers who have taken care of us for many years. We have also participated in an exhibision "Microwave Exhibition" speciallized in microwave technology. SEMICON JAPAN ■ SEMICON JAPAN 1977 The first meeting was held at Dome Hall of Harumi Exhibition Hall. Exhibitors at the time Astec Co., Ltd. / Advantest Corporation / Applied Materials Japan Co., Ltd. / Ando Electric Co., Ltd. / Westbond Company / SDC Semicon Technology Co., Ltd. / Kanematsu Device Co., Ltd. / Complete Electronics / Canon Sales Co., Ltd. / Saint-Gobain Norton Corporation / Shipley · Far East Co., Ltd. / Japan Speedfam Co., Ltd. / Dainichisei Corporation / Disco / Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. / Tempronics Corporation / Tokyo Electron Co., Ltd. / Japan AERA Co., Ltd. / Japan AD Inc. / Japanese SMS Co., Ltd. / Japan MKS Corporation / Japan Swagelok Corporation / Nippon Micronics Co., Ltd. / Nomura Micro Science Co., Ltd. / Hakuto Co., Ltd. / Hitachi Kokusai Electric / Hitachi High-Technologies Corporation / Fujimi Incorporated / Fluoroware · Valkar Japan Co., Ltd. ■ Latest appearance It is our booth at SEMICON JAPAN held at Tokyo Big Sight. Microwave Exhibition It is our booth at Microwave Exhibition held at Pacifico Yokohama.

弊社取扱製品の技術情報です。 技術情報 製品解説 ・ プローブ ・ ピコプローブ ・ マイクロ波ピコプローブ ・ ４探針プローブ ・ T-4ニードル その他情報 ・ 半導体は砂からできている？半導体とは ・ FETプローブ <外部リンク> ・ 米国GGB社 (GGB Industries, Inc.)　<外部リンク> ・ 米国Excel Precision社 (Excel Precision. Co.)　<外部リンク> ・ 米国Velmex社 (Velmex, Inc.)　<外部リンク> ・ I−Laboratory　<外部リンク>

SCシリーズ同軸プローブニードルは、SMAコネクターを終端しているので高周波帯域での使用が可能です。信号線用のタングステン製ニードル端子は、５μRに加工されていて微小部への接触も容易にできます。オプションによりグランド付きの仕様も選択ができます。 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　50Ω同軸プローブ 50Ω同軸プローブ 半導体・液晶 後工程（検査） マイクロ波計測 　SCシリーズ同軸プローブニードルは、SMAコネクターを終端しているので高周波帯域での使用が可能です。信号線用のタングステン製ニードル端子は、精密加工されていて微小部への接触も容易にできます。オプションによりグランド付きの仕様も選択ができます。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー SCシリーズ.pdf SC-50 フランジ無し仕様 SC-50シリーズ 50Ω同軸プローブ　ご注文時にの長さ（L）を指定してください

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 公司简介 联繫我们 产品的相关资讯，请联繫我们 TEL: +81-3-3684-2548 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp 公司简介 经营项目（主要产品） 1.用于电阻率测量仪器如半导体和薄膜层的四点探针相关器材 2.半导体，液晶薄膜的片电阻率测量仪 3.用于征半导体IC（ULSI，VLSI等）的高性能探头 4.微波测量探头和测量装置 5.测量，实验，手动和电动，直线旋转式滑动产品 6.探针，划线点 7.激光干涉仪系统 经营理念 我们精心挑选我国工业技术的发展和不可或缺的高科技设备和材料为您服务。 此外，我们会努力听取客户的意见和要求，为近年来的行业发展作出贡献。 作为小生意伙伴，我们将随时注意产业发展趋势，实现合理化，降低成本。 我们将以“更优惠的价格，快速的交货日期提供更优质的服务并且希望我们的客户意识到我们重要性，让我们为社会做出贡献。 代表董事 中村勇人

首页 制品 公司简介 English 日本語サイト 产品一覧 　>　半导体・电子材料相关　>　50Ω同轴探头 50Ω同轴探头 半导体・液晶 作业后的检查 由于SC系列同轴探针的终端在SMA连接器上，因此可用于高频段。 信号线的钨针端子也容易被使用在加工后的5μR微小连接处，也可以选择周边产品的规格。 【相关产品】微定位器

エヌピイエス株式会社では、小学校向けの半導体出前授業を無償で実施しております。 半導体KIDS 半導体 小学校出前授業 半導体でつながる。キミの世界、ミライの社会 ――出前授業で未来を届ける―― 未来を動かすのは まだ小さな、あの子の手かもしれない エヌピイエス株式会社では 小学校向けの 半導体出前授業を行っています。 半導体が支える未来のくらしや ものづくりの楽しさ、働くことの意義を学び 子どもたちが 「自分で考えて、創り出す力」を 育むことができる授業を実践しています。 - 2026.9.1 START - 実践事例 お申込み 出前授業　中学年向け　指導計画 身近にある半導体を見つけよう 出前授業　高学年向け　指導計画 半導体と工業 -技術と未来の発明-

我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 Home 产品 关于我们 English 日本語サイト 追求新的精密技术 1/6 我们进口、出口、制造和销售半导体和电子行业所需的检查和测量设备以及制造设备。 我们致力于 “新技术 ”带来的 “精度”，并通过我们的追求为客户提供最高价值。 我们的产品广泛应用于对精度要求特别高的领域，如半导体和液晶相关领域。 ➤ 询问 4-needle probe 4-needle probe Microwave Test Stand 4-needle probe 1/5 Product 产品 电阻率测量仪 手动式测量仪，采用四探针法简单而准确地测量金属薄膜等的片状电阻或电阻率。 详细内容 集成电路Pico探头 在测量设备负荷最小的情况下进行测量，从而确保忠实再现数字波形。 详细内容 4-探头 在开始使用四点探头半个世纪后，它们已成为全球公认的测量电阻率的高精度半导体探头。 详细内容 > Products SEMICON JAPAN 1977-2024 　 我们自半导体制造和测试设备综合展览会 「SEMICON JAPAN」 创办以来一直参展。在此，我们对多年来给予我们大力支持的众多客户表示衷心的感谢。 ➤ SEMICON JAPAN Copyright © NPS Inc. All Rights Reserved. Address: Kameido 6-12-4, Koto-ku, Tokyo, 136-0071, JAPAN / TEL: +81-3-3684-2548 / FAX: +81-3-3684-2287 / E-Mail: sales@nps-i.co.jp

IC用ピコプローブを使用することで、ICの内部電圧を正確に測定する事ができます。 米国GGB社製ピコプローブは、プローブ自体の浮遊容量値を極限まで小さく抑え、さらにインピーダンスを無限大の値に近づけ設計されたIC電圧測定用プローブです。これにより測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。世界最高速FETプローブのMODEL35を代表として、各測定モードに対応したモデルが用意されております。 ピコプローブは、集積回路設計フィールドでの解析測定用ツールとして世界的な標準器具となっております。 各メーカーのプローバでご使用いただけるよう、ア 製品ラインナップ 　>　半導体・電子材料関連 　>　IC用ピコプローブ 半導体・液晶 後工程（検査） IC用ピコプローブ 　IC用ピコプローブを使用することで、ICの内部電圧を正確に測定し、精度の高いデータを取得する事ができます。 　米国GGB社 製ピコプローブは、プローブ自体の浮遊容量値を極限まで小さく抑え、さらにインピーダンスを無限大の値に近づけ設計されたIC電圧測定用プローブです。これにより測定デバイスに与える負荷を最小限にして計測が行なえるため、デジタル波形を忠実に再現することができます。世界最高速FETプローブのMODEL35を代表として、各測定モードに対応したモデルが用意されております。 　ピコプローブは、集積回路設計フィールドでの解析測定用ツールとして世界的な標準器具となっております。 　各メーカーのプローバーでご使用いただけるよう、アダプター等の対応もさせていただいております。 【関連製品】マイクロ波テスト治具 ・マイクロポジショナー 【取扱製品】Model-7,Model-10,Model-12C,Model-18C,19C,Model28/29,Model34A,Model35 ピコプローブをもっと知る IC用ピコプローブ　カタログ一覧 model_35 model_34A model_28/29 model_18C/19C model_12C model_10 model_7 ピコプローブ比較表 35専用電源PS-3 専用電源PS-2 [ピコプローブ機能比較表（FETプローブ）]