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電阻率測定儀(薄膜電阻測定器)
專業工程師的高性能工具。
它能夠使用四點探針方法輕鬆且高準確度的測量太陽能薄膜電池上的矽導電膜的電阻或電阻率。 它對應於低電阻到高電阻測量。
<用途>
1）矽鐵錠製造→矽晶片製造檢測（包括成膜等各種工方法）
2）液晶面板（LCD）製造：用於成膜時的產品檢查
3）在檢查各種導電材料的製作過程
使用我們公司配置的“四點探針”可以測量。
【相關產品】四點探針法
■ Model sigma-5+
我們可以準確地測量矽晶片的電阻率。也對應太陽能電池的探測器。
它是一個利用20年以上的測量技術而設計和開發的高精度電阻率測量儀器。
在半導體基板，導電薄膜基板等的研發和檢測過程中，可以精確的評估薄層電阻和電阻率值。
※該照片是與樣品架RG-5的組合。
[基本規格]
[特點]
·可以正確的設置智慧開關功能面板
·桌上型尺寸設計
·低阻力至高阻力的寬範圍測量
·電流極性切換測量可抑制整流造成的誤差
·開始測量時自動歸零功能
·自動量程功能自動設置最佳電流
·樣品厚度校正功能
·平均測量值顯示和印刷機平均值計算功能
·半導體溫度校正功能
·各種溫度校正的輸入功能
·與數據印表機接口
·與數據連接用接口
·可以選擇樣品表<基本規格>
■手持式·表面電阻測量儀/電阻率測量儀
使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。
■手持式·電阻率測量儀
使用四探針於方便型 SRM-232 可測量絕緣材料上金屬薄膜的板電阻 (0 ~ 95ω/) 。 PV-628 測量矽晶片的電阻率, 如也可以測量太陽能電池基板。 每個設備都允許您將資料輸出到電腦, 並且電源具有自動斷電功能。
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